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湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀推薦咨詢

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-05-09

D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,,其應(yīng)用范圍、數(shù)據(jù)質(zhì)量,、靈活性和可升級(jí)性毫不打折扣,。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,,適用于所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用。與D8ADVANCE完全兼容,,它具有面向未來(lái)的所有靈活性,。面對(duì)新應(yīng)用,您隨時(shí)都能對(duì)它輕松完成升級(jí),,從而適應(yīng)未來(lái)實(shí)驗(yàn)室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應(yīng)用需求:相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射(GID)X射線反射分析(XRR)小角X射線散射(SAXS)對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析D8 DISCOVER系列是市面上準(zhǔn)確,、功能強(qiáng)大和靈活的X射線衍射解決方案。湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀推薦咨詢

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那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來(lái)表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計(jì)算石墨化度G[1]:式中:0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,,nm;0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,nm,。為實(shí)際石墨試樣(002)晶面間距,,nm。實(shí)例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位,,需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,用硅作為內(nèi)標(biāo)物,,加入待測(cè)石墨樣品中,,在瑪瑙研缽中混合研磨均勻。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),,應(yīng)用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來(lái)鋰電池的快速發(fā)展,進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過(guò)煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來(lái)獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。南京微區(qū)衍射檢測(cè)分析定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測(cè)定 微米大小X射線束局部分析,。

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X射線反射率測(cè)定引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)是一種表面表征技術(shù),是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具,。通過(guò)分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù),。XRR的特點(diǎn):1無(wú)損檢測(cè)2對(duì)樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒(méi)有要求,,不論是單晶膜、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測(cè)試3XRR適用于納米薄膜,,要求厚度小于500nm4晶面膜,,表面粗糙度一般不超過(guò)5nm5多層膜之間要求有密度差

X射線粉末衍射(XRPD)技術(shù)是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,,直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡(jiǎn)單地實(shí)施常見(jiàn)的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,,并測(cè)定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸,、微應(yīng)變、無(wú)序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修,,由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。可在數(shù)秒內(nèi),,輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn),,從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,同事縮短重新匹配的時(shí)間,。

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蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見(jiàn)的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石,。根據(jù)中國(guó)藥典,,蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應(yīng)用場(chǎng)合,,它都是值得您選擇的探測(cè)器:高的計(jì)數(shù)率,、動(dòng)態(tài)范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976c)整個(gè)角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證,。D8衍射儀系列平臺(tái)的D8ADVANCE,,是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實(shí)驗(yàn)室X射線衍射的2D檢測(cè)器,。杭州超晶格檢測(cè)分析

配備了UMC樣品臺(tái)的DISCOVER,,優(yōu)勢(shì)在于對(duì)大型機(jī)械零件殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀推薦咨詢

對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),,它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),,提供無(wú)序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中,,您可以通過(guò)Bragg衍射峰,,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長(zhǎng)程有序),通過(guò)漫散射,,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序),。就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修納米粒度和形狀,。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量XRD衍射儀推薦咨詢

標(biāo)簽: XRD衍射儀 顯微CT