其中,，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) ,、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為,，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導(dǎo)芯片設(shè)計,；基于Base規(guī)范,，PCI-SIG還會 再定義對于板卡設(shè)計的要求，比如板卡的機械尺寸、電氣性能要求,，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范,，用以指導(dǎo)服務(wù)器、計算機和插卡等系統(tǒng)設(shè)計人員的開 發(fā),。除了針對金手指連接類型的板卡,，針對一些新型的連接方式，如M.2,、U.2等,，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。pcie4.0和pcie2.0區(qū)別,？數(shù)字信號PCI-E測試產(chǎn)品介紹

在測試通道數(shù)方面,，傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試,。由于測試通道和RefClk都是 差分通道,，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接，但是由于會引入額外的噪聲,，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動,。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法,，即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試,，這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質(zhì)量測試組網(wǎng)圖,，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG數(shù)字信號PCI-E測試產(chǎn)品介紹pcie物理層面檢測,pcie時序測試,；

測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬：41.25ps+0/—2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：46mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV主板RX測試眼寬：45ps+0/-2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：50mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV 校準(zhǔn)時，信號的參數(shù)分析和調(diào)整需要反復(fù)進行,，人工操作非常耗時耗力,。為了解決這個 問題，接收端容限測試時也會使用自動測試軟件,，這個軟件可以提供設(shè)置和連接向?qū)?、控?誤碼儀和示波器完成自動校準(zhǔn)、發(fā)出訓(xùn)練碼型把被測件設(shè)置成環(huán)回狀態(tài),，并自動進行環(huán)回數(shù) 據(jù)的誤碼率統(tǒng)計,。圖4 . 18是典型自動校準(zhǔn)和接收容限測試軟件的界面，以及相應(yīng)的測試

隨著數(shù)據(jù)速率的提高,，芯片中的預(yù)加重和均衡功能也越來越復(fù)雜,。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡單的去加重(De-emphasis)技術(shù)，即信號的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號時對跳變比特(信號中的高頻成分)加大幅度發(fā)送,，這樣可以部分補償傳輸線路對高 頻成分的衰減,，從而得到比較好的眼圖,。在1代中采用了-3.5dB的去加重，2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重,。對于3代和4代技術(shù)來說,，由于信號速率更高，需要采用更加 復(fù)雜的去加重技術(shù),，因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發(fā)送以外,，在跳變比特的前 1個比特也要增大幅度發(fā)送，這個增大的幅度通常叫作Preshoot,。為了應(yīng)對復(fù)雜的鏈路環(huán)境，PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么,？

對于PCIe來說,，由于長鏈路時的損耗很大,，因此接收端的裕量很小。為了掌握實際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實際接收到的信號質(zhì)量,，在PCIe3.0時代，有些芯片廠商會用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號質(zhì)量,，但這個功能不是強制的,。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中,，規(guī)范把 接收端的信號質(zhì)量掃描功能作為強制要求,，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進行二維的誤碼率掃描,，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點時刻以及垂直方向的信號判決閾值,，多個cpu socket的系統(tǒng)時，如何枚舉的,？智能化多端口矩陣測試PCI-E測試銷售價格

如何區(qū)分pci和pci-e(如何區(qū)分pci和pcie) ,？數(shù)字信號PCI-E測試產(chǎn)品介紹

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式,，以提供更多的連接靈 活性,。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考,。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差,，同時由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些數(shù)字信號PCI-E測試產(chǎn)品介紹

深圳市力恩科技有限公司目前已成為一家集產(chǎn)品研發(fā),、生產(chǎn),、銷售相結(jié)合的貿(mào)易型企業(yè),。公司成立于2014-04-03，自成立以來一直秉承自我研發(fā)與技術(shù)引進相結(jié)合的科技發(fā)展戰(zhàn)略,。公司主要產(chǎn)品有實驗室配套,，誤碼儀，協(xié)議分析儀,，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等,，公司工程技術(shù)人員、行政管理人員,、產(chǎn)品制造及售后服務(wù)人員均有多年行業(yè)經(jīng)驗,。并與上下游企業(yè)保持密切的合作關(guān)系?？藙诘录辛艘慌?jīng)驗豐富的技術(shù)及管理專業(yè)人才,，能為客戶提供良好的售前、售中及售后服務(wù),，并能根據(jù)用戶需求,，定制產(chǎn)品和配套整體解決方案。我們本著客戶滿意的原則為客戶提供實驗室配套,，誤碼儀,，協(xié)議分析儀，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品售前服務(wù),，為客戶提供周到的售后服務(wù),。價格低廉優(yōu)惠，服務(wù)周到,，歡迎您的來電,！