克服信號完整性問題隨著數(shù)據(jù)傳輸速度的提高,，信號完整性對于通道設備和互連產(chǎn)品越來越重要,。為了確保您的設備具有出色的信號完整性，首先您要確定好希望獲得的仿真結(jié)果,，然后再將其與實際測量結(jié)果進行比較,。接下來,，結(jié)合信號分析技術(shù)（例如在示波器上顯示的眼圖）和仿真軟件，即可找到導致信號衰減的根本原因,。下一步就是確定合適的解決方案,，使用軟件和硬件來建立可靠的信號完整性工作流程,。必須使用高質(zhì)量的矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）,，設置校準參考面以執(zhí)行S參數(shù)測量,，設置去嵌入?yún)⒖济嬉哉_移除夾具,。測量結(jié)果將會包括準確的S參數(shù)和可靠的DUT特性,。盡早解決信號完整性問題，您就可以優(yōu)化電路設計,，保證優(yōu)異的設備性能和出色的價格優(yōu)勢,。信號完整性測試項目可以分為幾大類；黑龍江信號完整性測試多端口矩陣測試

    當今的電子設計工程師可以分成兩種,，一種是已經(jīng)遇到了信號完整性問題,，一種是將要遇到信號完整性問題。對于未來的電子設備,，頻率越來越高,，射頻元器件越來越小,，越來越集中化,、模塊化,。因此電磁信號未來也會變得越來越密集，所以提前學習信號完整性和電源完整性相關(guān)的知識可能對于我們對于電路的設計更有益處吧,。對信號完整性和電源完整性分析中常常分為五類問題：1、單信號線網(wǎng)的三種退化（反射、電抗,，損耗）反射：一般都是由于阻抗不連續(xù)引起的,，即沒有阻抗匹配,。反射系數(shù)=ZL-ZO/(ZL+ZO)，其中ZO叫做特性阻抗,，一般情況下中都為50Ω。為啥是50Ω,，75Ω的的傳輸損耗小,，33Ω的信道容量大,，所以選擇了他們的中間數(shù)50Ω。下圖為點對電拓撲結(jié)構(gòu)四種常用端接,。 黑龍江信號完整性測試多端口矩陣測試信號接口一致性高速信號完整性測試,；

信號完整性分析數(shù)據(jù)中心利用發(fā)射系統(tǒng)和接收系統(tǒng)之間的通道,，可以準確有效地傳遞有價值的信息,。如果通道性能不佳，就可能會導致信號完整性問題,，并且影響所傳數(shù)據(jù)的正確解讀,。因此,，在開發(fā)通道設備和互連產(chǎn)品時，確保高度的信號完整性非常關(guān)鍵,。測試,、識別和解決導致設備信號完整性問題的根源，就成了工程師面臨的巨大挑戰(zhàn),。本文介紹了一些仿真和測量建議,，旨在幫助您設計出具有優(yōu)異信號完整性的設備。處理器（CPU）可將信息發(fā)送到發(fā)光二極管顯示器,，它是一個典型的數(shù)字通信通道示例,。該通道—CPU與顯示器之間的所有介質(zhì)—包括互連設備,，例如顯卡,、線纜和板載視頻處理器。每臺設備以及它們在通道中的連接都會干擾CPU的數(shù)據(jù)傳輸。信號完整性問題可能包括串擾,、時延、振鈴和電磁干擾,。盡早解決信號完整性問題,，可以讓您開發(fā)出可靠性更高的高性能的產(chǎn)品，也有助于降低成本,。

根據(jù)經(jīng)驗,，如果比特率為BR,，信號帶寬為BW，那么比較高正弦波頻率分量大約為BW=0.5xBR,，或BR=2xBW,。BW由能通過互連傳送的比較高頻率信號決定，并且其衰減仍低于SerDes可以補償?shù)闹?。使用低端的SerDes時,，可接受的插入損耗可能為-10分貝，我們能從圖30的屏幕上讀取的8英寸長微帶線的帶寬約為12GHz。這樣操作就能在遠高于20Gbps的比特率進行。但是,，這只能用于8英寸長的寬幅導體,。在較長的背板或母板上,，有連接器,、子卡和過孔，傳輸特性不會如此清晰,。

帶兩個子卡的母板上24英寸互連的插入損耗和回波損耗,。所示為一個典型的母板上24英寸長帶狀線互連的TDR/TDT響應。此例中,，SMA加載將TDR電纜與小卡連接,，穿過連接器、過孔場,，返回穿過連接器,，然后進入TDR的第二通道。綠線是作為S21顯示的插入損耗,。對于這種互連而言，-10分貝的插入損耗帶寬為2.7GHz,，比較大傳輸比特率約為5Gbps,，使用低端SerDes驅(qū)動器和接收機。 單根傳輸線的信號完整性問題,？

確定信號衰減的根本原因描述給定設備的頻率特性時,，工程師可以使用S參數(shù)作為標準?；ミB的S參數(shù)（無論是在時域還是在頻域中進行測量）了互連的特征模型,。該參數(shù)涵蓋了信號從進入一個端口到離開另一個端口時的所有特性信息。為了確定信號衰減的根本原因,，重要的是先要確定您對S參數(shù)的期望值,。將期望值與測量值進行比較，有助于識別導致信號完整性衰減的通道區(qū)域,。接下來,，您需要更深入地研究被測設備和設備之間的連接，以便確定根本原因,。對于差分通道,，可以使用混合模式S參數(shù)進行分析。常見的S參數(shù)是與電磁干擾有關(guān)的差分回波損耗（SDD11）、差分插入損耗（SDD21）和差分至共模轉(zhuǎn)換（SCD21）,。在分析傳輸質(zhì)量時,，還需要重點考慮反射因素。每當出現(xiàn)瞬時阻抗變化時,，信號就會被反射,。反射會使返回的原始信號出現(xiàn)延遲（如下圖2所示），并與原始信號結(jié)合而產(chǎn)生相消干擾,。信號完整性的一些基本概念,？黑龍江信號完整性測試多端口矩陣測試

常見的信號完整性測試常用的三種測試；黑龍江信號完整性測試多端口矩陣測試

SI設計的特點1）不同是工程有不同的設計重點,，要根據(jù)具體的工程進行有針對性的SI設計,。對于局部總線，關(guān)注的是信號本身的質(zhì)量,，對反射,、串擾、電源濾波等幾個方面簡單的設計就能讓電路正常工作,；在高速同步總線（如DDR）中,，只關(guān)注反射串擾電源等基本問題還不夠。等等,。2）SI設計不能片面地追求某一方面的指標,，而弱化其他潛在風險。3）SI設計不是簡單地解決孤立問題,，眾多問題及其影響相互糾纏在一起,，需要系統(tǒng)化的設計，反復權(quán)衡,，平衡各種要求,，找到可行的解決方案。-->信號完整性中,，需要掌握的現(xiàn)象描述：振鈴,、上沖、下沖,、過沖,、串擾、共阻抗,、共模,、電感、回路電感,、單位長度電感,、回路面積、容性負載、寄生電容,、衰減,、損耗、諧振,、反射,、地彈、阻抗突變,、殘樁,、模態(tài)轉(zhuǎn)換、抖動,、誤碼率等,。黑龍江信號完整性測試多端口矩陣測試

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