克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),，以成為高數(shù)信號(hào)傳輸測(cè)試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測(cè)試領(lǐng)域10年以上,。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀,、協(xié)議分析儀,、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具,。堅(jiān)持以專業(yè)的技術(shù)人員,，嚴(yán)格按照行業(yè)測(cè)試規(guī)范，配備高性能的權(quán)能測(cè)試設(shè)備,，提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù),?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供具深度的專業(yè)知識(shí)及一系列認(rèn)證測(cè)試、預(yù)認(rèn)證測(cè)試及錯(cuò)誤排除信號(hào)完整性測(cè)試,、多端口矩陣測(cè)試,、HDMI測(cè)試、USB測(cè)試,，PCI-E測(cè)試等方面測(cè)試服務(wù),。PCI-E硬件測(cè)試方法有那些辦法；廣東智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試

由于每對(duì)數(shù)據(jù)線和參考時(shí)鐘都是差分的,，所以主  板的測(cè)試需要同時(shí)占用4個(gè)示波器通道,，也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測(cè)試時(shí)示波器能夠  4個(gè)通道同時(shí)工作且達(dá)到25GHz帶寬。而對(duì)于插卡的測(cè)試來(lái)說(shuō),，只需要把差分的數(shù)據(jù)通道  引入示波器進(jìn)行測(cè)試就可以了,，示波器能夠2個(gè)通道同時(shí)工作并達(dá)到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機(jī)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試環(huán)境,。無(wú)論是對(duì)于發(fā)射機(jī)測(cè)試,，還是對(duì)于后面要介紹到的接收機(jī)容限測(cè)試來(lái)說(shuō)，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測(cè)試中,，都需要用到ISI板,。ISI板上的Trace線有幾十對(duì)，每相鄰線對(duì) 間的插損相差0.5dB左右,。由于測(cè)試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可能會(huì)不一致,， 所以需要通過(guò)配合合適的ISI線對(duì),，使得ISI板上的Trace線加上測(cè)試電纜、測(cè)試夾具,、轉(zhuǎn)接  頭等模擬出來(lái)的整個(gè)測(cè)試鏈路的插損滿足測(cè)試要求,。比如，對(duì)于插卡的測(cè)試來(lái)說(shuō),，對(duì)應(yīng)的主  板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測(cè)試夾具,、連接器、轉(zhuǎn)接頭,、測(cè)  試電纜等的損耗應(yīng)該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過(guò)分析軟件進(jìn)行模擬),。 為了滿足這個(gè)要求，比較好的方法是使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)事先進(jìn)行鏈路標(biāo)定,。廣東智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試高速串行技術(shù)(二)之(PCIe中的基本概念),；

Cle4.0測(cè)試的CBB4和CLB4夾具無(wú)論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，都需要被測(cè)件工作在特定速率的某些Preset下,，要通過(guò)測(cè)試夾具控制被測(cè)件切換到需要的設(shè)置狀態(tài),。具體方法是：在被測(cè)件插入測(cè)試夾具并且上電以后,，可以通過(guò)測(cè)試夾具上的切換開(kāi)關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測(cè)試碼型。在切換測(cè)試夾具上的Toggle開(kāi)關(guān)時(shí),，正常的PCle4.0的被測(cè)件依次會(huì)輸出2.5Gbps,、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB,、8GbpsP0,、8GbpsP1、8GbpsP2,、8GbpsP3,、8GbpsP4、8Gbps

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測(cè)試中,，為了把被測(cè)主板或插卡的PCIe信號(hào)從金手指連接器引出,，PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專門(mén)的PCIe5.0測(cè)試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類(lèi)似,，也是包含了CLB板,、CBB板以及專門(mén)模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到對(duì)應(yīng)位寬的CLB板,；插卡的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到CBB板,；而在接收容限測(cè)試中，由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn),，整套夾具都可能會(huì)使用到,。21是PCIe5.0的測(cè)試夾具組成。PCI-e 3.0簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試方法,；

對(duì)于PCIe來(lái)說(shuō),，由于長(zhǎng)鏈路時(shí)的損耗很大，因此接收端的裕量很小,。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量,，在PCIe3.0時(shí)代，有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來(lái)掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量,，但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的,。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求,，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能,。 簡(jiǎn)單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描，即通過(guò)調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值,，如果被測(cè)件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,，如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析？廣東智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試

PCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測(cè)試；廣東智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供,，會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù),、均衡以及眼圖、抖 動(dòng)的分析,。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個(gè)不同幅度的CTLE均衡,，而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整，所以SigTest軟件會(huì)遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化,，并 根據(jù)眼高,、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 結(jié)果,。SigTest需要用戶手動(dòng)設(shè)置示波器采樣,、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析,，測(cè)試效率 比較低,，而且對(duì)于不熟練的測(cè)試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測(cè)試結(jié)果的不一致，測(cè)試項(xiàng)目 也主要限于信號(hào)質(zhì)量與Preset相關(guān)的項(xiàng)目,。為了提高PCIe測(cè)試的效率和測(cè)試項(xiàng)目覆蓋 率,，有些示波器廠商提供了相應(yīng)的自動(dòng)化測(cè)試軟件。廣東智能化多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試