溫始地送風(fēng)風(fēng)盤 —— 革新家居空氣享受的藝術(shù)品
溫始·未來生活新定義 —— 智能調(diào)濕新風(fēng)機(jī)
秋季舒適室內(nèi)感,,五恒系統(tǒng)如何做到,?
大眾對五恒系統(tǒng)的常見問題解答?
五恒空調(diào)系統(tǒng)基本概要
如何締造一個(gè)舒適的室內(nèi)生態(tài)氣候系統(tǒng)
舒適室內(nèi)環(huán)境除濕的意義
暖通發(fā)展至今,,怎樣選擇當(dāng)下產(chǎn)品
怎樣的空調(diào)系統(tǒng)ZUi值得你的選擇,?
五恒系統(tǒng)下的門窗藝術(shù):打造高效節(jié)能與舒適并存的居住空間
PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測試中,為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出,,PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專門的PCIe5.0測試夾具,。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似,也是包含了CLB板,、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板,。主板的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到對應(yīng)位寬的CLB板;插卡的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到CBB板,;而在接收容限測試中,,由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn),整套夾具都可能會使用到,。21是PCIe5.0的測試夾具組成,。PCIE3.0和PCIE4.0應(yīng)該如何選擇?自動化PCI-E測試市場價(jià)
PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外,,還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式,,以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下,,主板會給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考,。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差,同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時(shí)鐘的抖動可以互 相抵消,,所以對于參考時(shí)鐘的抖動要求可以稍寬松一些電氣性能測試PCI-E測試方案PCI Express物理層接口(PIPE),;
PCIe4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試發(fā)射機(jī)質(zhì)量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件,,對于PCIe的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試來說,主要是用寬帶示波器捕獲其發(fā)出的信號并驗(yàn)證其信號質(zhì)量滿足規(guī)范要求,。按照目前規(guī)范中的要求,,PCIe3.0的一致性測試需要至少12.5GHz帶寬的示波器;而對于PCIe4.0來說,,由于數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,所以測試需要的示波器帶寬應(yīng)為25GHz或以上,。如果要進(jìn)行主板的測試,測試規(guī)范推薦Dual-Port(雙口)的測試方式,,即把被測的數(shù)據(jù)通道和參考時(shí)鐘同時(shí)接入示波器,,這樣在進(jìn)行抖動分析時(shí)就可以把一部分參考時(shí)鐘中的抖動抵消掉,對于參考時(shí)鐘Jitter的要求可以放松一些,。
由于每對數(shù)據(jù)線和參考時(shí)鐘都是差分的,,所以主 板的測試需要同時(shí)占用4個(gè)示波器通道,,也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測試時(shí)示波器能夠 4個(gè)通道同時(shí)工作且達(dá)到25GHz帶寬,。而對于插卡的測試來說,只需要把差分的數(shù)據(jù)通道 引入示波器進(jìn)行測試就可以了,,示波器能夠2個(gè)通道同時(shí)工作并達(dá)到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機(jī)信號質(zhì)量測試環(huán)境,。無論是對于發(fā)射機(jī)測試,,還是對于后面要介紹到的接收機(jī)容限測試來說,在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中,,都需要用到ISI板,。ISI板上的Trace線有幾十對,每相鄰線對 間的插損相差0.5dB左右,。由于測試中用戶使用的電纜,、連接器的插損都可能會不一致, 所以需要通過配合合適的ISI線對,,使得ISI板上的Trace線加上測試電纜,、測試夾具、轉(zhuǎn)接 頭等模擬出來的整個(gè)測試鏈路的插損滿足測試要求,。比如,,對于插卡的測試來說,對應(yīng)的主 板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測試夾具,、連接器,、轉(zhuǎn)接頭、測 試電纜等的損耗應(yīng)該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過分析軟件進(jìn)行模擬),。 為了滿足這個(gè)要求,,比較好的方法是使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)事先進(jìn)行鏈路標(biāo)定。PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么?
雖然在編碼方式和芯片內(nèi)部做了很多工作,,但是傳輸鏈路的損耗仍然是巨大的挑戰(zhàn),特 別是當(dāng)采用比較便宜的PCB板材時(shí),,就不得不適當(dāng)減少傳輸距離和鏈路上的連接器數(shù)量,。 在PCIe3.0的8Gbps速率下,還有可能用比較便宜的FR4板材在大約20英寸的傳輸距離 加2個(gè)連接器實(shí)現(xiàn)可靠信號傳輸,。在PCle4.0的16Gbps速率下,,整個(gè)16Gbps鏈路的損耗 需要控制在-28dB @8GHz以內(nèi),其中主板上芯片封裝,、PCB/過孔走線,、連接器的損耗總 預(yù)算為-20dB@8GHz,而插卡上芯片封裝、PCB/過孔走線的損耗總預(yù)算為-8dB@8GHz,。
整個(gè)鏈路的長度需要控制在12英寸以內(nèi),,并且鏈路上只能有一個(gè)連接器。如果需要支持更 長的傳輸距離或者鏈路上有更多的連接器,,則需要在鏈路中插入Re-timer芯片對信號進(jìn)行 重新整形和中繼,。圖4.6展示了典型的PCle4.0的鏈路模型以及鏈路損耗的預(yù)算,圖中各 個(gè)部分的鏈路預(yù)算對于設(shè)計(jì)和測試都非常重要,,對于測試部分的影響后面會具體介紹,。 走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎?電氣性能測試PCI-E測試方案
pcie物理層面檢測,pcie時(shí)序測試,;自動化PCI-E測試市場價(jià)
關(guān)于各測試項(xiàng)目的具體描述如下:·項(xiàng)目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號質(zhì)量,,針對2.5Gbps、5Gbps,、8Gbps,、16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號中的脈沖寬度抖動,,針對16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確,,針對8Gbps和16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:驗(yàn)證插卡能根據(jù)鏈路命令設(shè)置成正確的初始Prest值,,針對8Gbps和16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.5Add-inCardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗(yàn)證插卡對于鏈路協(xié)商的響應(yīng)時(shí)間,,針對8Gbps和16Gbps速率,。自動化PCI-E測試市場價(jià)