DDR測試按照存儲(chǔ)信息方式的不同,，隨機(jī)存儲(chǔ)器又分為靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器SRAM(StaticRAM)和動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器DRAM(DynamicRAM)。SRAM運(yùn)行速度較快,、時(shí)延小,、控制簡單，但是SRAM每比特的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)需要多個(gè)晶體管,，不容易實(shí)現(xiàn)大的存儲(chǔ)容量,，主要用于一些對時(shí)延和速度有要求但又不需要太大容量的場合，如一些CPU芯片內(nèi)置的緩存等,。DRAM的時(shí)延比SRAM大,，而且需要定期的刷新，控制電路相對復(fù)雜,。但是由于DRAM每比特?cái)?shù)據(jù)存儲(chǔ)只需要一個(gè)晶體管,，因此具有集成度高、功耗低,、容量大,、成本低等特點(diǎn)，目前已經(jīng)成為大容量RAM的主流,，典型的如現(xiàn)在的PC,、服務(wù)器、嵌入式系統(tǒng)上用的大容量內(nèi)存都是DRAM,。DDR測試信號問題排查,；智能化多端口矩陣測試DDR測試PCI-E測試

DDR測試信號和協(xié)議測試

DDR4一致性測試工作臺(tái)（用示波器中的一致性測試軟件分析DDR仿真波形）對DDR5來說，設(shè)計(jì)更為復(fù)雜,，仿真軟件需要幫助用戶通過應(yīng)用IBIS模型針對基于DDR5顆?；駾IMM的系統(tǒng)進(jìn)行仿真驗(yàn)證，比如仿真驅(qū)動(dòng)能力,、隨機(jī)抖動(dòng)/確定性抖動(dòng),、寄生電容、片上端接ODT,、信號上升/下降時(shí)間,、AGC(自動(dòng)增益控制)功能、4tapsDFE(4抽頭判決反饋均衡)等,。

克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) 智能化多端口矩陣測試DDR測試PCI-E測試DDR4規(guī)范里關(guān)于信號建立,；

4）將Vref的去耦電容靠近Vref管腳擺放,；Vtt的去耦電容擺放在遠(yuǎn)的一個(gè)SDRAM外端；VDD的去耦電容需要靠近器件擺放,。小電容值的去耦電容需要更靠近器件擺放,。正確的去耦設(shè)計(jì)中，并不是所有的去耦電容都是靠近器件擺放的,。所有的去耦電容的管腳都需要扇出后走線,，這樣可以減少阻抗，通常,，兩端段的扇出走線會(huì)垂直于電容布線,。5）當(dāng)切換平面層時(shí)，盡量做到長度匹配和加入一些地過孔,，這些事先應(yīng)該在EDA工具里進(jìn)行很好的仿真,。通常，在時(shí)域分析來看,，差分線的正負(fù)兩根線要做到延時(shí)匹配,，保證其誤差在+/-2ps，而其它的信號要做到+/-10ps,。

DDR測試

大部分的DRAM都是在一個(gè)同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫,，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同,，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) ,。SDR  SDRAM只在時(shí)鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時(shí)鐘的上升和下降 沿都會(huì)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣,。采用DDR方式的好處是時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的,，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。 DDR4關(guān)于信號建立保持是的定義,；

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由于DDR4的數(shù)據(jù)速率會(huì)達(dá)到3.2GT/s以上,，DDR5的數(shù)據(jù)速率更高，所以對邏輯分析儀的要求也很高,，需要狀態(tài)采樣時(shí)鐘支持1.6GHz以上且在雙采樣模式下支持3.2Gbps以上的數(shù)據(jù)速率,。圖5.22是基于高速邏輯分析儀的DDR4/5協(xié)議測試系統(tǒng)。圖中是通過DIMM條的適配器夾具把上百路信號引到邏輯分析儀,，相應(yīng)的適配器要經(jīng)過嚴(yán)格測試,，確保在其標(biāo)稱的速率下不會(huì)因?yàn)樾盘栙|(zhì)量問題對協(xié)議測試結(jié)果造成影響。目前的邏輯分析儀可以支持4Gbps以上信號的采集和分析,。 DDR4信號質(zhì)量自動(dòng)測試軟件報(bào)告,；智能化多端口矩陣測試DDR測試PCI-E測試

DDR壓力測試的內(nèi)容有那些；智能化多端口矩陣測試DDR測試PCI-E測試

DDR5發(fā)送端測試隨著信號速率的提升,，SerDes技術(shù)開始在DDR5中采用,，如會(huì)采用DFE均衡器改善接收誤碼率,，另外DDR總線在發(fā)展過程中引入訓(xùn)練機(jī)制，不再是簡單的要求信號間的建立保持時(shí)間,，在DDR4的時(shí)始使用眼圖的概念,，在DDR5時(shí)代，引入抖動(dòng)成分概念,，從成因上區(qū)分解Rj,，Dj等，對芯片或系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供更具體的依據(jù),；在抖動(dòng)的參數(shù)分析上,，也增加了一些新的抖動(dòng)定義參數(shù),，并有嚴(yán)苛的測量指標(biāo),。針對這些要求，提供了完整的解決方案,。UXR示波器,，配合D9050DDRC發(fā)射機(jī)一致性軟件，及高阻RC探頭MX0023A,，及Interposer,，可以實(shí)現(xiàn)對DDR信號的精確表征。智能化多端口矩陣測試DDR測試PCI-E測試