DDR測試按照存儲信息方式的不同,，隨機存儲器又分為靜態(tài)隨機存儲器SRAM(StaticRAM)和動態(tài)隨機存儲器DRAM(DynamicRAM),。SRAM運行速度較快、時延小,、控制簡單,，但是SRAM每比特的數(shù)據(jù)存儲需要多個晶體管，不容易實現(xiàn)大的存儲容量,，主要用于一些對時延和速度有要求但又不需要太大容量的場合,，如一些CPU芯片內(nèi)置的緩存等。DRAM的時延比SRAM大,，而且需要定期的刷新,，控制電路相對復雜。但是由于DRAM每比特數(shù)據(jù)存儲只需要一個晶體管,，因此具有集成度高,、功耗低、容量大,、成本低等特點,，目前已經(jīng)成為大容量RAM的主流，典型的如現(xiàn)在的PC,、服務器,、嵌入式系統(tǒng)上用的大容量內(nèi)存都是DRAM,。DDR4信號質(zhì)量自動測試軟件報告；HDMI測試DDR測試協(xié)議測試方法

只在TOP和BOTTOM層進行了布線,，存儲器由兩片的SDRAM以菊花鏈的方式所構成。而在DIMM的案例里,，只有一個不帶緩存的DIMM被使用,。對TOP/BOTTOM層布線的一個閃照圖和信號完整性仿真圖。

ADDRESS和CLOCK網(wǎng)絡,，右邊的是DATA和DQS網(wǎng)絡,，其時鐘頻率在800 MHz，數(shù)據(jù)通信率為1600Mbps

ADDRESS和CLOCK網(wǎng)絡,，右邊的是DATA和DQS網(wǎng)絡,，其時鐘頻率在400 MHz，數(shù)據(jù)通信率為800Mbps

ADDRESS和CLOCK網(wǎng)絡,，右邊的是DATA和DQS網(wǎng)絡

個經(jīng)過比較過的數(shù)據(jù)信號眼圖,，一個是仿真的結果，而另一個是實際測量的,。在上面的所有案例里,，波形的完整性的完美程度都是令人興奮的。

11.結論本文,，針對DDR2/DDR3的設計,，SI和PI的各種相關因素都做了的介紹。對于在4層板里設計800Mbps的DDR2和DDR3是可行的,，但是對于DDR3-1600Mbps是具有很大的挑戰(zhàn)性,。 電氣性能測試DDR測試DDR測試DDR有那些測試解決方案；

DDR測試

測試軟件運行后,，示波器會自動設置時基,、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進行測量并匯總成一個測試報告,，測試報告中列出了測試的項目,、是否通過、spec的要求,、實測值,、margin等。圖5.17是自動測試軟件進行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子,。信號質(zhì)量的測試還可以輔助用戶進行內(nèi)存參數(shù)的配置,，比如高速的DDR芯片都提供有ODT(OnDieTermination)的功能，用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,，并分析對信號質(zhì)量的影響,。除了一致性測試以外,，DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個關鍵參數(shù)測試失敗后,，可以針對這個參數(shù)進行Debug,。此時，測試軟件會捕獲,、存儲一段時間的波形并進行參數(shù)統(tǒng)計,，根據(jù)統(tǒng)計結果可以查找到參數(shù)違規(guī)時對應的波形位置，

4）將Vref的去耦電容靠近Vref管腳擺放,；Vtt的去耦電容擺放在遠的一個SDRAM外端,；VDD的去耦電容需要靠近器件擺放。小電容值的去耦電容需要更靠近器件擺放,。正確的去耦設計中,，并不是所有的去耦電容都是靠近器件擺放的。所有的去耦電容的管腳都需要扇出后走線,，這樣可以減少阻抗,，通常，兩端段的扇出走線會垂直于電容布線,。5）當切換平面層時,，盡量做到長度匹配和加入一些地過孔，這些事先應該在EDA工具里進行很好的仿真,。通常,，在時域分析來看，差分線的正負兩根線要做到延時匹配,，保證其誤差在+/-2ps,，而其它的信號要做到+/-10ps。DDR內(nèi)存條電路原理圖,；

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DDR5的接收端容限測試

前面我們在介紹USB3.0,、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線由于接收端放置有均衡器，因此需要進行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣信號下的表現(xiàn),。對于DDR來說,，DDR4及之前的總線接收端還相對比較簡單，只是做一些匹配,、時延,、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時代(圖5.19),由于信號速率更高,，因此接收端也開始采用很多高速串行總線中使用的可變增益調(diào)整以及均衡器技術,，這也使得DDR5測試中必須關注接收均衡器的影響，這是之前的DDR測試中不曾涉及的,。 DDR信號質(zhì)量的測試方法,、測試裝置與測試設備與流程,；HDMI測試DDR測試協(xié)議測試方法

DDR測試信號問題排查；HDMI測試DDR測試協(xié)議測試方法

DDR測試

要注意的是,，由于DDR的總線上存在內(nèi)存控制器和內(nèi)存顆粒兩種主要芯片,，所以DDR的信號質(zhì)量測試理論上也應該同時涉及這兩類芯片的測試。但是由于JEDEC只規(guī)定了對于內(nèi)存顆粒這一側的信號質(zhì)量的要求,，因此DDR的自動測試軟件也只對這一側的信號質(zhì)量進行測試,。對于內(nèi)存控制器一側的信號質(zhì)量來說，不同控制器芯片廠商有不同的要求,，目前沒有統(tǒng)一的規(guī)范，因此其信號質(zhì)量的測試還只能使用手動的方法,。這時用戶可以在內(nèi)存控制器一側選擇測試點,，并借助合適的信號讀/寫分離手段來進行手動測試。 HDMI測試DDR測試協(xié)議測試方法