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通信MIPI測試測試流程

來源: 發(fā)布時間:2025-04-06

移動產/處理器接口MIPI(mobileindustryprocessorinter-face)是為移動應用處理器制定開放標準,,旨在為移動設備內部的攝像頭,、顯示屏、射頻,,基帶等提供標準化接口,。它使這些設備的接口既能增加帶寬,提高性能,,同時又能降低成本,、復雜度、功耗以及電磁干擾,。MIPI并不是一個單一的接口或協(xié)議,,而是包含了一套協(xié)議和標準,以滿足各種子系統(tǒng)獨特的需求,。D-PHY提供了主機和從機之間的同步物理連接,。一個典型的DPHY配置包含一個時鐘通道模塊和一至四個數據通道模塊。D-PHY采用差分信號與另一端的D-PHY連通以高速傳輸圖像數據,,低速傳輸控制與狀態(tài)信息則采用單端信號進行,。數據線的LP信號質量測試;通信MIPI測試測試流程

通信MIPI測試測試流程,MIPI測試

終端電阻的校準,,需要通過如圖3所示的RTUN模塊來實現,。它的原理是利用片外精細電阻對片內電阻進行校準?;鶞孰娐樊a生的基準電壓vba(1.2V)經過buffer在片外6.04K電阻上產生電流,,用同樣大小的電流ires流經片內電阻產生電壓與rex-tv(1.2V)進行比較,觀察比較器的輸出,。通過setrd來控制W這三個開關,,從000到111掃描,再從111到000掃描,,改變片內電阻大小,,觀察比較器輸出cmpout信號的變化,從而得到使得片內電阻接近6.04K的控制字,。圖2中的比較器終端電阻采用與該模塊相同類型的電阻,,以及成比例的電阻關系。當RTUN模塊完成校準后,得到的控制字setrd同時控制比較器的終端電阻,,從而使得比較器終端電阻接近100歐姆,。通信MIPI測試測試流程MIPI-DSI接口電路構架;

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MIPI物理層一致性測試

MIPI物理層一致性測試是一種用于檢測MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測試方法。MIPI物理層包括電氣規(guī)范和信令協(xié)議,,這些規(guī)范確保了MIPI接口在不同設備之間的互通性和穩(wěn)定性,。在MIPI物理層一致性測試中,測試設備會模擬各種情景和條件下的MIPI信號傳輸,,并使用示波器等工具進行測量和分析,,以確定MIPI接口是否符合MIPI聯盟制定的物理層標準和規(guī)范。這些測試通常包括以下方面:1.電氣測試:檢驗MIPI信號的電氣參數是否符合規(guī)范,,包括差分阻抗,、峰峰電壓等;2.時序測試:測試MIPI接口的信號時序是否符合規(guī)范,,包括時鐘頻率,、數據延遲、數據速率等,;3.信號完整性測試:檢查MIPI信號傳輸的可靠性和穩(wěn)定性,,包括檢測信號波形的噪聲、抖動,、失真等,。通過MIPI物理層一致性測試,,可以幫助廠商確保其MIPI產品的物理層性能和穩(wěn)定性符合MIPI聯盟的標準和規(guī)范,,從而提高產品的可靠性和互通性。

MIPI聯盟,,即移動產業(yè)處理器接口(MobileIndustryProcessorInterface,簡稱MIPI)聯盟,,是MIPI聯盟發(fā)起的為移動應用處理器制定的開放標準和一個規(guī)范。

主要是手機內部的接口(攝像頭,、顯示屏接口,、射頻/基帶接口)等標準化,從而減少手機內部接口的復雜程度及增加設計的靈活性,。MIPI聯盟下面有不同的工作組,,分別定義的一系列手機內部接口標準,比如攝像頭接口CSI,、顯示器接口DSI,、射頻接口DigRF、麥克風/喇叭接口SLIMBUS等,,優(yōu)點:更低功耗,,更高數據傳輸數量和更小的PCB占位空間,并且專為移動設備進行的優(yōu)化,因而更加適合移動設備的使用,。工作組:MIPI聯盟下的工作組,,負責具體事務;Camera工作組,;DeviceDescriptorBlock工作組,;DigRF工作組Display工作組高速同步接口工作組;接口管理框架工作組,;低速多點鏈接工作組,;NAND軟件工作組;軟件工作組,;系統(tǒng)電源管理工作組,;檢測與調試工作組;統(tǒng)一協(xié)議工作組,; 什么是MIPI物理層一致性測試,;

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MIPI是一個比較新的標準,其規(guī)范也在不斷修改和改進,,目前比較成熟的接口應用有DSI(顯示接口)和CSI(攝像頭接口),。CSI/DSI分別是指其承載的是針對Camera或Display應用,都有復雜的協(xié)議結構,。以DSI為例,,其協(xié)議層結構如下:

CSI/DSI的物理層(PhyLayer)由專門的WorkGroup負責制定,其目前的標準是D-PHY,。D-PHY采用1對源同步的差分時鐘和1~4對差分數據線來進行數據傳輸,。數據傳輸采用DDR方式,即在時鐘的上下邊沿都有數據傳輸,。

D-PHY的物理層支持HS(HighSpeed)和LP(LowPower)兩種工作模式,。HS模式下采用低壓差分信號,功耗較大,,但是可以傳輸很高的數據速率(數據速率為80M~1Gbps),;LP模式下采用單端信號,數據速率很低(<10Mbps),,但是相應的功耗也很低,。兩種模式的結合保證了MIPI總線在需要傳輸大量數據(如圖像)時可以高速傳輸,而在不需要大數據量傳輸時又能夠減少功耗,。

CSI接口

CSI-2是一個單或雙向差分串行界面,,包含時鐘和數據信號。CSI-2的層次結構:CSI-2由應用層,、協(xié)議層,、物理層組成,。

協(xié)議層包含三層:

像素/字節(jié)打包/解包層,

LLP(LowLevelProtocol)層,, MIPI-DSI接口IP設計模擬部分采用定制方法;通信MIPI測試測試流程

時序測試:測試MIPI接口的信號時序是否符合規(guī)范,,包括時鐘頻率、數據延遲,、數據速率等,;通信MIPI測試測試流程

(3)HS信號電平判決和建立/保持時間容限(GROUP3:HS-RXVOLTAGEANDSETUP/HOLDREQUIREMENTS):其中包含了被測件對于HS信號共模電壓、差分電壓,、單端電壓,、共模噪聲、建立/保持時間的容限測試等,。(TestIDs:2.3.1,,2.3.2,2.3.3,2.3.4,2.3.5,,2.3.6,,2.3.7.2.3.8)

(4)HS信號時序容限測試(GROUP4:HS-RXTIMERREQUIREMENTS):其中包含了對于HS和LP間狀態(tài)切換時的一系列時序參數的容限測試。(TestIDs;2.4.1,,2.4.22.4.3,,2.4.4,2.4.5,,2.4.6,2.4.7,2.4.8,2.4.9,2.4.10,2.4.11)

D-PHY的接收端測試中,,需要用到多通道的碼型發(fā)生以產生多通道的D-PHY的信號,碼型發(fā)生器需要在軟件的控制下改變HS/LP信號的電平,、偏置,、注入噪聲、改變時序關系等,。圖13.13是以Agilent公司的81250并行誤碼儀平臺構建的一套D-PHY信號的接收容限測試系統(tǒng),。 通信MIPI測試測試流程