DDR系統(tǒng)設(shè)計過程，以及將實際的設(shè)計需求和DDR規(guī)范中的主要性能指標相結(jié)合,，我們以一個實際的設(shè)計分析實例來說明,，如何在一個DDR系統(tǒng)設(shè)計中,，解讀并使用DDR規(guī)范中的參數(shù)，應(yīng)用到實際的系統(tǒng)設(shè)計中,。某項目中,，對DDR系統(tǒng)的功能模塊細化框圖。在這個系統(tǒng)中,，對DDR的設(shè)計需求如下,。

整個DDR功能模塊由四個512MB的DDR芯片組成,，選用Micron的DDR存諸芯片MT46V64M8BN-75。每個DDR芯片是8位數(shù)據(jù)寬度,，構(gòu)成32位寬的2GBDDR存諸單元,，地址空間為Add<13..0>，分四個Bank,，尋址信號為BA<1..0>,。 DDR4 一致性測試平臺插件。DDR一致性測試規(guī)格尺寸

由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量,。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進行眼圖測試,，但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質(zhì)量的方法,，所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質(zhì)量,。而對于DDR4的信號來說，由于時間和幅度的余量更小,，必須考慮隨機抖動和隨機噪聲帶來的誤碼率的影響,，而不是做簡單的建立/保  持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中,，就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加  生成眼圖,，并根據(jù)誤碼率要求進行隨機成分的外推，然后與要求的小信號張開窗口(類似  模板)進行比較,。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料： JEDEC     STANDARD    DDR4     SDRAM,JESD79-4),。安徽DDR一致性測試推薦貨源尋找能夠滿足您的 DDR 和存儲器需求的特定解決方案。

由于DDR5工作時鐘比較高到3.2GHz,系統(tǒng)裕量很小,，因此信號的 隨機和確定性抖動對于數(shù)據(jù)的正確傳輸至關(guān)重要，需要考慮熱噪聲引入的RJ,、電源噪聲引 入的PJ,、傳輸通道損耗帶來的DJ等影響,。DDR5的測試項目比DDR4也更加復(fù)雜,。比如 其新增了nUI抖動測試項目，并且需要像很多高速串行總線一樣對抖動進行分解并評估 RJ,、DJ等不同分量的影響,。另外，由于高速的DDR5芯片內(nèi)部都有均衡器芯片，因此實際 進行信號波形測試時也需要考慮模擬均衡器對信號的影響,。圖5.16展示了典型的DDR5 和LPDDR5測試軟件的使用界面和一部分測試結(jié)果,。

除了DDR以外，近些年隨著智能移動終端的發(fā)展,，由DDR技術(shù)演變過來的LPDDR (Low-Power DDR,低功耗DDR)也發(fā)展很快,。LPDDR主要針對功耗敏感的應(yīng)用場景，相 對于同一代技術(shù)的DDR來說會采用更低的工作電壓,，而更低的工作電壓可以直接減少器 件的功耗,。比如LPDDR4的工作電壓為1. 1V,比標準的DDR4的1.2V工作電壓要低一 些，有些廠商還提出了更低功耗的內(nèi)存技術(shù),，比如三星公司推出的LPDDR4x技術(shù),，更是把 外部I/O的電壓降到了0.6V。但是要注意的是,，更低的工作電壓對于電源紋波和串?dāng)_噪 聲會更敏感,，其電路設(shè)計的挑戰(zhàn)性更大。除了降低工作電壓以外,，LPDDR還會采用一些額 外的技術(shù)來節(jié)省功耗，比如根據(jù)外界溫度自動調(diào)整刷新頻率(DRAM在低溫下需要較少刷 新),、部分陣列可以自刷新,，以及一些對低功耗的支持。同時,，LPDDR的芯片一般體積更 小,，因此占用的PCB空間更小。DDR4 總線物理層仿真測試和協(xié)議層的測試方案,；

每個DDR芯片獨享DOS,，DM信號;四片DDR芯片共享RAS#，CAS#,，CS#,，WE#控制信號。

DDR工作頻率為133MHz,。

DDR 控制器選用Xilinx公司的 FPGA,，型號為XC2VP30 6FF1152C

得到這個設(shè)計需求之后，我們首先要進行器件選型,，然后根據(jù)所選的器件,，準備相關(guān)的設(shè)計資料。一般來講,，對于經(jīng)過選型的器件,，為了使用這個器件進行相關(guān)設(shè)計，需要有如下資料,。

器件數(shù)據(jù)手冊Datasheet:這個是必須要有的,。如果沒有器件手冊,，是沒有辦法進行設(shè)計的(一般經(jīng)過選型的器件，設(shè)計工程師一定會有數(shù)據(jù)手冊),。 DDR,、DDR2、DDR3 和 DDR4 設(shè)計與測試解決方案,；DDR一致性測試規(guī)格尺寸

4代DDR之間有什么區(qū)別,？DDR一致性測試規(guī)格尺寸

為了進行更簡單的讀寫分離，Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能,，可以通過區(qū)域（Zone）定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開,。

根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時間不同，Agilent獨有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個信號必須通過的區(qū)域的方式方便地分離出讀,、寫數(shù)據(jù),，并進一步進行眼圖的測試。

信號的眼圖,。用同樣的方法可以把讀信號的眼圖分離出來,。

除了形成眼圖外，我們還可以利用示波器的模板測量功能對眼圖進行定量分析,，

用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個模板對讀,、寫信號進行模板測試，如 果模板測試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段,。 DDR一致性測試規(guī)格尺寸