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X射線衍射照相法的原理是什么？照相法以光源發(fā)出的特征X射線照射多晶樣品,，并用底片記錄衍射花樣,。根據(jù)樣品與底片的相對(duì)位置,，照相法可以分為德拜法,、聚焦法其中德拜法應(yīng)用為普遍,。當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有 X射線衍射分析相同數(shù)量級(jí),，故由不同原子散射的X射線相互干涉,，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度,，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),。這就是X射線衍射的基本原理。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng),。奧林巴斯XRD費(fèi)用哪家便宜x射線粉末衍射儀, 針對(duì)于測(cè)試樣品為粉末;x射線衍射儀...

X射線衍射儀是利用衍射原理,，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力,，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析,，定量分析,。廣泛應(yīng)用于冶金、石油,、化工,、科研、航空航天,、教學(xué),、材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。研究和發(fā)展先進(jìn)材料,，這項(xiàng)工作涉及研究各種物質(zhì)的特性和使用,，如金屬，陶瓷和塑料,，應(yīng)用范圍從空間科學(xué)和**科技到消費(fèi)類(lèi)產(chǎn)品,。X射線衍射（XRD）是研究先進(jìn)材料的主要技術(shù)，包括下列功能：相的識(shí)別和定量,，相的結(jié)晶度判定,，晶體結(jié)構(gòu)，晶體取向和織構(gòu),，極圖等,。這些功能的非環(huán)境條件影響也同XRD技術(shù)一起經(jīng)常研究。搜索可針對(duì)各種樣品類(lèi)型,，從粉末到各種形狀和尺寸的固體材料,，液體和半導(dǎo)體晶片。專(zhuān)業(yè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)為材料科學(xué)應(yīng)用提供一系列解決方案,。x衍射定...

便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)儀器X射線發(fā)生器,，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射能級(jí)0.5mRad/H；樣品振動(dòng)系統(tǒng),，測(cè)量角度范圍：5°—55°,，微量樣品室：小可檢測(cè)樣品量15mg，掃描方式：全譜掃描,；探測(cè)器,，探測(cè)效率：98%，XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM),，XRF 分辨率230eV,；冷卻系統(tǒng)：制冷方式：2D Peltier 電子制冷，儀器制冷效率：儀器正常工作持續(xù)8時(shí)機(jī)箱溫度不超過(guò)35℃,；數(shù)據(jù)庫(kù)：PDF2由國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)中心提供,，至少包含3000多種礦物30000多個(gè)礦物數(shù)據(jù)。 尋找衍射儀的專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)廠家,。歡迎來(lái)電咨詢上海...

閃爍檢測(cè)器是各種晶體X射線衍射工作中通用性能好的檢測(cè)器,。它的主要優(yōu)點(diǎn)是：對(duì)于晶體X射線衍射使用的X射線均具有很高甚至達(dá)到100%的量子效率；使用壽命長(zhǎng),，穩(wěn)定性好,；此外，它和PC一樣,，具有很短的分辨時(shí)間（10-7秒數(shù)量級(jí)）,，因而實(shí)際上不必考慮由于檢測(cè)器本身的限制所帶來(lái)的計(jì)數(shù)損失；它和PC一樣,，對(duì)晶體衍射工作使用的軟X射線也有一定的能量分辨本領(lǐng),。因此通常X射線粉末衍射儀配用的是閃爍檢測(cè)器。粉末衍射儀的一種工作方式,。試樣每轉(zhuǎn)動(dòng)一步（固定的Δθ）就停下來(lái),，測(cè)量記錄系統(tǒng)開(kāi)始測(cè)量該位置上的衍射強(qiáng)度。強(qiáng)度的測(cè)量也有兩種方式：定時(shí)計(jì)數(shù)方式和定數(shù)計(jì)時(shí)方式,。然后試樣再轉(zhuǎn)過(guò)一步,，再進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)量。衍射儀的價(jià)格分析,。歡...

衍射又稱(chēng)為繞射,，光線照射到物體邊沿后通過(guò)散射繼續(xù)在空間發(fā)射的現(xiàn)象。如果采用單色平行光,，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果,。相干波在空間某處相遇后，因位相不同,，相互之間產(chǎn)生干涉作用,，引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象,。 衍射的條件，一是相干波,，二是光柵,。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，表示著衍射方向和強(qiáng)度,。根據(jù)衍射花紋可以反過(guò)來(lái)推測(cè)光源和光珊的情況,。 為了使光能產(chǎn)生明顯的偏向，必須使“光柵間隔”具有與光的波長(zhǎng)相同的數(shù)量級(jí),。用于可見(jiàn)光譜的光柵每毫米要刻有約100到500條線 ,。X射線衍射儀的基本構(gòu)造介紹：物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射,、紅外光譜,、穆斯堡爾譜等方法，但是XRD是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如...

x射線衍射在金屬學(xué)中的應(yīng)用 x射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后,，很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu),，出現(xiàn)了許多具有重大意義的結(jié)果。如（a.westgren）(1922年)證明α,、β和δ鐵都是立方結(jié)構(gòu)，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉(zhuǎn)變實(shí)質(zhì)上是由體心立方晶體轉(zhuǎn)變?yōu)槊嫘牧⒎骄w,，從而終否定了β-fe硬化理論,。隨后,在用x射線測(cè)定眾多金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)的同時(shí)，在相圖測(cè)定以及在固態(tài)相變和范性形變研究等領(lǐng)域中均取得了豐碩的成果,。XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射,，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。X射線衍射儀可以讓用戶迅速及時(shí)且充滿自信地做出決策,。上海奧林巴斯X...

X射線衍射儀技術(shù),。利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過(guò)處理得到衍射圖譜,。分析其衍射圖譜,，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段,。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法,。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型,、分子內(nèi)成鍵方式,、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜,。X射線衍射方法具有不損傷樣品,、無(wú)污染,、快捷、測(cè)量精度高,、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn),并擁有“眼”來(lái)看晶體內(nèi)部是否存在缺陷（位錯(cuò)）和晶格缺陷等,。上海澤權(quán)衍射儀值得信賴(lài)。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán),！嘉興衍射儀...

X射線粉末衍射儀, 針對(duì)于測(cè)試樣品為粉末;X射線衍射儀 , 包括粉末衍射,、單晶衍射、高溫衍射儀等等 !X射線衍射儀包含X射線粉末衍射儀!由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù).單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu).粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析.X射線粉末衍射可以:1,判斷物質(zhì)是否為晶體.2,判斷是何種晶體物質(zhì).3,判斷物質(zhì)的晶型.4,計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力.5,定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例.6,計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù).7,和其他專(zhuān)業(yè)相結(jié)合會(huì)有更普遍的用途,。衍射儀怎么選,？上海澤權(quán)告訴您。安徽奧林巴斯XR...

X射線是利用衍射原理,，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),，織構(gòu)及應(yīng)力。對(duì)物質(zhì)進(jìn)行物相分析,、定性分析,、定量分析。X射線單晶體衍射儀(X-raysinglecrystaldiffractometer),。本儀器分析的對(duì)象是一粒單晶體,，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團(tuán)均是周期排列的,。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射,，由對(duì)衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu),。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的,，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì),。隨著X射線衍射儀被普遍應(yīng)用在各個(gè)學(xué)科領(lǐng)域,，已深入石油勘探、采礦鉆井...

射線衍射分析（X-ray diffraction,，簡(jiǎn)稱(chēng)XRD）,，是利用晶體形成的X射線衍射，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法,。將具有一定波長(zhǎng)的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí),，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng),，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象,。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染,、快捷,、測(cè)量精度高,、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。由于晶體中原子是周期排列的,，其周期性可用點(diǎn)陣表示,。而一個(gè)三維點(diǎn)陣可簡(jiǎn)單地用一個(gè)由八個(gè)相鄰點(diǎn)構(gòu)成的平行六面體（稱(chēng)晶胞）在三維方向重復(fù)得到。一個(gè)晶胞形狀由它的三個(gè)邊（a,b,c）及它們間的夾角（...

X-射線衍射儀（X-RayDiffractomer）是采用輻射探測(cè)器和測(cè)角儀來(lái)記錄衍射峰位置及強(qiáng)度的分析儀器,。我們常用的衍射儀X射線衍射儀主要由X射線發(fā)生器,、衍射測(cè)角儀、輻射探測(cè)器,、測(cè)量電路,、控制操作和運(yùn)行軟件的電子計(jì)算機(jī)系統(tǒng)組成，中心部件是測(cè)角儀,。XRD的樣品一般都是粉末樣,，要求樣品顆粒度小于300目，壓成十分平整的平面,。XRD是研究材料的晶體結(jié)構(gòu)及物相分析不可或缺的有力工具,，有助于我們探究同成份不同相的材料性能差異，找到獲得預(yù)想性能的物質(zhì),。由于XRD具有所需樣品數(shù)量少,、對(duì)樣品的破壞性微小、對(duì)結(jié)構(gòu)和缺陷靈敏,，能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等特點(diǎn),，在冶金、機(jī)械,、地質(zhì)、化工,、礦物,、陶瓷、建材,、耐...

衍射又稱(chēng)為繞射,，波遇到障礙物或小孔后通過(guò)散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象,，一切波都會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象,。 如果采用單色平行光，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果,。相干波在空間某處相遇后,，因位相不同，相互之間產(chǎn)生干涉作用,，引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象,。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋,，表示著衍射方向（角度）和強(qiáng)度。x射線照射晶體,，電子受迫振動(dòng)產(chǎn)生相干散射,；同一原子內(nèi)各電子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶體內(nèi)各原子呈周期排列，因而各原子散射波問(wèn)也存在固定的位相關(guān)系而產(chǎn)生干涉作用,，在某些方向上發(fā)生相長(zhǎng)干涉,，即形成了衍射波．由此可知，衍射的本質(zhì)是晶體中各原子相干散射波疊加(合成)的結(jié)果．衍射和干涉其物...

衍射儀也稱(chēng)X射線發(fā)生器,、探測(cè)器X射線發(fā)生器,，是進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)所不可缺少的、重要的設(shè)備之一,，其優(yōu)劣會(huì)嚴(yán)重影響X射線衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量,。X射線發(fā)生器是進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)所不可缺少的、重要的設(shè)備之一,，其優(yōu)劣會(huì)嚴(yán)重影響X射線衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量,。探測(cè)器是用來(lái)記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設(shè)備中不可或缺的重要部件之一,。早先被普遍使用的是照相底片,，由于它吸收率低，大量X射線會(huì)透過(guò)而不被吸收,；它的計(jì)數(shù)線性范圍不大,，強(qiáng)衍射不易測(cè)準(zhǔn)；而且,，還會(huì)起“霧”,；又由于要有暗室用化學(xué)法進(jìn)行顯影、定影,、沖洗,、曬干等一套繁瑣的過(guò)程，因此被性能更好的光子計(jì)數(shù)器所取代,。計(jì)數(shù)器探測(cè)器不需化學(xué)處理,，可以通過(guò)電子電路直接記錄衍射的光子數(shù)，方...

X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器,，普遍應(yīng)用于各大,、專(zhuān)院校，科研院所及廠礦企業(yè),。作為X射線衍射儀（XRD）家族中一款顛覆性的產(chǎn)品,，與傳統(tǒng)臺(tái)式XRD相比較，X射線衍射儀（XRD）具有以下優(yōu)勢(shì): 1.便攜式機(jī)體小,，2.自動(dòng)化使用樣品振動(dòng)裝置,，使用簡(jiǎn)單3.集成性使用透射幾何衍射技術(shù)及高靈敏度CCD探測(cè)器4. 微量化檢測(cè)檢測(cè)樣品只需15mg,尤其適合刑偵,、環(huán)境、管道腐蝕等難于收集樣品的檢測(cè)分析,。5.無(wú)線傳輸采用WIFI無(wú)線連接,，可遠(yuǎn)程操控及傳輸采集的數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集的現(xiàn)場(chǎng)性和數(shù)據(jù)處理的及時(shí)性,。 衍射儀法以其方便,、快捷、準(zhǔn)確和可以自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理等特點(diǎn)在許多...

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射,，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法,。將具有一定波長(zhǎng)的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí)，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射,，散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng),，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長(zhǎng),；θ是衍射角,；d是結(jié)晶面間隔；n是整數(shù),。波長(zhǎng)λ可用已知的X射線衍射角測(cè)定,，進(jìn)而求得面間隔，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài),。將求出的衍射X射線強(qiáng)度和面間隔與已知的表對(duì)照,，即可確定試樣結(jié)晶的物質(zhì)結(jié)構(gòu)，此即定性分析,。從衍射X射線強(qiáng)度的比較,，可進(jìn)行定量分析。選擇衍射儀有哪些...

使用粉末多晶衍射儀測(cè)量單晶體樣品時(shí)得到的X射線衍射譜,，相對(duì)于與所測(cè)單晶體同種類(lèi)的多晶樣品的X射線衍射譜來(lái)說(shuō),，它的譜圖特征可能是：衍射峰數(shù)量可能會(huì)變少，峰強(qiáng)度會(huì)有變化:有的會(huì)變強(qiáng),、有的會(huì)變?nèi)酰蝗绻麥y(cè)試時(shí)單晶樣品不旋轉(zhuǎn),，有些峰可能就根本不出現(xiàn),，因?yàn)槠湔丈浣桥缮?θ滿足不了布拉格公式而發(fā)生衍射；其峰強(qiáng)弱依賴(lài)于單晶樣品在譜儀樣品架上的作固定安裝的立體角參數(shù),。若將一束單色X射線照射到一粒靜止的單晶體上,，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射,。要使各晶面族都發(fā)生衍射,，常用的方法就是轉(zhuǎn)動(dòng)晶體,。轉(zhuǎn)動(dòng)中各晶面族時(shí)刻改變著與入射線的交角，會(huì)在某個(gè)時(shí)候符合布拉格方...

x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射,，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波,，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射,。對(duì)于晶體材料,，當(dāng)待測(cè)晶體與入射束呈不同角度時(shí)，那些滿足布拉格衍射的晶面就會(huì)被檢測(cè)出來(lái),，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰,。對(duì)于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長(zhǎng)程有序,，只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序,，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理,，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析,，定性分析,，定量分析。普遍應(yīng)用于冶金,，科研,，教學(xué)，材料生產(chǎn)...

X射線衍射儀技術(shù)通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,，分析其衍射圖譜,，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段,。因此,，X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普遍應(yīng)用。那大家對(duì)于X射線衍射(XRD)相關(guān)術(shù)語(yǔ)又了解多少呢,？粉末衍射儀是目前研究粉末的X射線衍射常用而又方便的設(shè)備,。它的光路系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用聚焦光束型的衍射幾何，一般使用普通的閃爍檢測(cè)器或正比計(jì)數(shù)管檢測(cè)器以電子學(xué)方法進(jìn)行衍射強(qiáng)度的測(cè)量,；衍射角的測(cè)量則通過(guò)一臺(tái)精密的機(jī)械測(cè)角儀來(lái)實(shí)現(xiàn),。便攜式X射線衍射儀的基本構(gòu)造你真的了解嗎？溫州衍射儀批發(fā)商多晶X射線衍射儀，也稱(chēng)粉末衍射儀,，通常用于測(cè)量粉末...

衍射儀是進(jìn)行X射線分析的重要設(shè)備,，主要由X射線發(fā)生器、測(cè)角儀(測(cè)量角度2θ的裝置),、記錄儀(測(cè)量X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)裝置)和水冷卻系統(tǒng)組成,。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。X射線發(fā)生器主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成,，它是產(chǎn)生X射線的裝置(產(chǎn)生X射線的裝置),，由X光管發(fā)射出的X射線包括連續(xù)X射線光譜和特征X射線光譜，連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對(duì)稱(chēng)性和進(jìn)行晶體定向的勞埃法,，特征X射線用于進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進(jìn)行物相鑒定的粉末法,。衍射儀除了基本功能外，可快速配置各種附件,，具有較強(qiáng)的分析能力,。江蘇奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD批發(fā)價(jià)格X射線衍射分析可以獲得哪些實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)? 通常做的是...

X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng), 調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度,。 （2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶,、粉末、多晶或微晶的固體塊,。 （3）射線檢測(cè)器　檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù),。 （4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有特用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。X射線衍射儀是利用衍射原理,，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物...

通過(guò)儀器分析測(cè)試,，對(duì)鈦白粉產(chǎn)品進(jìn)行更加直觀的表征分析,，X射線衍射儀（XRD）與X熒光光譜儀（XRF）對(duì)于鈦白粉產(chǎn)品的研究提供了一個(gè)客觀的基礎(chǔ)，為鈦白粉生產(chǎn)過(guò)程中的工藝控制,，產(chǎn)品應(yīng)用的品質(zhì)提高提供了更加準(zhǔn)確,、快速的評(píng)價(jià)手段。X射線衍射儀和X熒光光譜儀為鈦白粉產(chǎn)品的進(jìn)一步研究提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持,，其分析測(cè)試結(jié)果重復(fù)性好,、再現(xiàn)性強(qiáng)、人為因素少,，在鈦白粉分析中有著非常多方面的應(yīng)用空間,。X射線衍射儀無(wú)法檢測(cè)出來(lái)，這就可以說(shuō)明X射線衍射儀對(duì)樣品的分析不多方面,，還需要進(jìn)一步進(jìn)行分析,。通過(guò)分析元素組成與物質(zhì)組成,，二者的結(jié)果可以互相驗(yàn)證,，從而使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確,。歡迎致電上海澤權(quán)咨詢衍射儀。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)...

x射線衍射在金屬學(xué)中的應(yīng)用 x射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后,，很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu),，出現(xiàn)了許多具有重大意義的結(jié)果。如韋斯特格倫（a.westgren）(1922年)證明α,、β和δ鐵都是立方結(jié)構(gòu),，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉(zhuǎn)變實(shí)質(zhì)上是由體心立方晶體轉(zhuǎn)變?yōu)槊嫘牧⒎骄w，從而終否定了β-fe硬化理論,。隨后,在用x射線測(cè)定眾多金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)的同時(shí),，在相圖測(cè)定以及在固態(tài)相變和范性形變研究等領(lǐng)域中均取得了豐碩的成果。X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析,定量分析,。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀廠家直銷(xiāo)多晶X射線衍射儀,，也稱(chēng)粉末衍...

X射線粉末衍射儀的注意點(diǎn):X射線衍射分析法又被稱(chēng)為粉末X射線衍射分析法，利用此法時(shí)要先把樣品制成很細(xì)的粉末,，再對(duì)粉末進(jìn)行壓片制樣.它有很多優(yōu)點(diǎn),，例如：粉末X射線衍射分析法是一種非破壞性的分析方法，特別適合做物相分析,；可以測(cè)定一些晶態(tài)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)參數(shù)和晶體結(jié)構(gòu),；同時(shí)也可以測(cè)定非晶態(tài)物質(zhì)，因此,，它是物理學(xué)中一種非常重要的實(shí)驗(yàn)方法,。X射線粉末衍射分析法是研究物質(zhì)材料結(jié)構(gòu)和成分分析的主要方法，具有無(wú)污染,、不損壞樣品的特點(diǎn),，為近代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展做出了巨大的貢獻(xiàn)，是重要的材料分析技術(shù)之一,。作為便捷的分析測(cè)試儀器,，X射線粉末衍射儀被普遍應(yīng)用于材料生產(chǎn)研究、礦物,、藥物等各個(gè)領(lǐng)域,。衍射儀怎么選？上海澤權(quán)告訴您,。安...

X射線粉末衍射儀的注意點(diǎn)：影響衍射環(huán)質(zhì)量的主要因素是樣品的取樣性偏差,，即晶體的晶癖特征（如針狀或片狀）導(dǎo)致某些方向被過(guò)度衍射，而其他方向衍射不足,；用通俗語(yǔ)言描述即,，片狀晶體在測(cè)量盤(pán)中呈現(xiàn)“躺著/睡著的姿勢(shì)”，衍射角集中于水平角度，而在縱向上有所欠缺,。此類(lèi)晶體通?？审w現(xiàn)出過(guò)篩前后或粉碎前后XRPD圖譜不同，而其實(shí)際晶型并未發(fā)生變化,。因此,，針對(duì)不同合成工藝所得原料，應(yīng)先通過(guò)顯微鏡觀察其晶癖,，再測(cè)定粉碎或過(guò)篩前后XRPD,，避免發(fā)生過(guò)篩導(dǎo)致晶型變化的錯(cuò)誤判斷。此外,，在晶型特征峰分析時(shí),，更關(guān)注低角度的峰，因其表示了間距較大的晶面,，其衍射峰受干擾的概率較低,。總之,，判斷不同多晶型的XRPD圖譜,，其是否為同一...

用x射線照射固體時(shí)，由于光電效應(yīng),，原子的某一能級(jí)的電子被擊出物體之外,，此電子稱(chēng)為光電子。如果x射線光子的能量為hν,，電子在該能級(jí)上的結(jié)合能為eb,，射出固體后的動(dòng)能為ec，則它們之間的關(guān)系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數(shù),，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對(duì)它的吸引外,，還必須克服整個(gè)晶體對(duì)它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功,。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見(jiàn),，當(dāng)入射x射線能量一定后，若測(cè)出功函數(shù)和電子的動(dòng)能,，即可求出電子的結(jié)合能,。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測(cè)得的電子結(jié)合能必然反應(yīng)了表面化學(xué)成份的情況,。這正是光電子能譜儀的基本測(cè)試原理,。...

衍射（diffraction）又稱(chēng)為繞射，波遇到障礙物或小孔后通過(guò)散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象,。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象,，一切波都會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象,。 如果采用單色平行光，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果,。相干波在空間某處相遇后,，因位相不同，相互之間產(chǎn)生干涉作用,，引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋,，表示著衍射方向（角度）和強(qiáng)度,。 x射線照射晶體，電子受迫振動(dòng)產(chǎn)生相干散射,；同一原子內(nèi)各電子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶體內(nèi)各原子呈周期排列,，因而各原子散射波問(wèn)也存在固定的位相關(guān)系而產(chǎn)生干涉作用，在某些方向上發(fā)生相長(zhǎng)干涉,，即形成了衍射波．由此可知,，衍射的本質(zhì)是晶體中各原子相干散射波疊加...

X射線衍射儀的X射線管有三種常見(jiàn)的類(lèi)型： (1) 可拆式管——這種X射線管在動(dòng)真空下工作，配有真空系統(tǒng),，使用時(shí)需抽真空使管內(nèi)真空度達(dá)到10－5毫帕或更佳的真空度,。不同元素的靶可以隨時(shí)更換，燈絲損壞后也可以更換,。 (2) 密封式管——這是常使用的X射線管,，它的靶和燈絲密封在高真空的殼體內(nèi)。殼體上有對(duì)X射線“透明”的X射線出射“窗口”——鈹窗口,。這種管子使用方便,，但靶和燈絲不能更換。若燈絲燒斷后管子也就報(bào)廢了,，其壽命一般為1000—2000小時(shí),。 (3) 轉(zhuǎn)靶式管——這種管采用一種特殊的運(yùn)動(dòng)結(jié)構(gòu)以增強(qiáng)靶面的冷卻，即所謂旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極X射線管,，是目前實(shí)用的強(qiáng)度高X射線發(fā)生裝置,。管子的陽(yáng)極設(shè)計(jì)成圓柱體形，柱...

X射線衍射儀的用途： （1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,，需區(qū)分各成分所占比例,，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例,。 （2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度,。 （3）新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù),，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。 （4）產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂,、變形等失效現(xiàn)象,，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力,。 （5）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù),。采用X射線衍射線線寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。 X射線衍射儀使用注意事項(xiàng)： ...

衍射儀中XRD采用單色X射線為衍射源,，一般可以穿透固體,，從而驗(yàn)證其內(nèi)部結(jié)構(gòu)，因此XRD給出的是材料的體相結(jié)構(gòu)信息,。XRD多以定性物相分析為主,，但也可以進(jìn)行定量分析。通過(guò)待測(cè)樣品的X射線衍射譜圖與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的X射線衍射譜圖進(jìn)行對(duì)比,可以定性分析樣品的物相組成;通過(guò)對(duì)樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算,可以完成樣品物相組成的定量分析.根據(jù)XRD譜圖信息,，可以確定樣品是無(wú)定型還是晶體：無(wú)定型樣品為大包峰,，沒(méi)有精細(xì)譜峰結(jié)構(gòu)；晶體則有豐富的譜線特征,。把樣品中很強(qiáng)峰的強(qiáng)度和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的進(jìn)行對(duì)比,，可以定性知道樣品的結(jié)晶度。當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,，需區(qū)分各成分所占比例,，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例,。徐州...

X射線衍射法,，對(duì)樣品測(cè)試收費(fèi)要遠(yuǎn)高于紅外光譜的。如果你是單純想測(cè)量薄膜的精確厚度,，可以用紅外光譜法,精確度可達(dá)cm^(-1)量級(jí),。在紅外光譜范圍內(nèi)，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內(nèi)外層表面的反射光達(dá)到一定相位差時(shí)會(huì)引起干涉,，通過(guò)薄膜兩個(gè)表面對(duì)紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋,。干涉條紋有三四十個(gè)波峰-波谷之多，分布在一定的波長(zhǎng)范圍內(nèi),；根據(jù)測(cè)定結(jié)果,，利用公式計(jì)算出薄膜的厚度。該方法操作簡(jiǎn)便,測(cè)定速度快,應(yīng)用于實(shí)際樣品的無(wú)損測(cè)定,結(jié)果滿意,。X射線衍射儀,輕巧方便,安全系數(shù)高,。上海奧林巴斯XRD售價(jià)X射線衍射中，Kα,，Kβ具體代替...