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衍射出現(xiàn)在滿足布拉格條件的角度上，這可以理解,。但是,，X射線衍射是因?yàn)閄射線與原子發(fā)生彈性碰撞，原子向四面八方散射頻率相同的X射線,，書上講的衍射方向都是與入射方向夾角為2西塔,，難道就不可能在其他方向上（即入射角和反射角不相等）恰好滿足布拉格條件嗎？ 恰好滿足布拉格條件的就是2θ方向,。在其他方向（即入射角和反射角不相等）上的也有,，但都被許許多多散射光之間相互抵消、成為光強(qiáng)很弱甚至為0的圖案,、成為觀測區(qū)域內(nèi)的背景,。X射線衍射儀晶體取向分析，如晶體取向,、解理面及慣析面的 測定,。江蘇奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀生產(chǎn)廠家哪家好當(dāng)x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點(diǎn)陣晶格間距為d的晶面上時(shí),在...

“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難。所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù),。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu),。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu)。但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析,。 x射線粉末衍射可以 1,，判斷物質(zhì)是否為晶體,。 2，判斷是何種晶體物質(zhì),。 3,，判斷物質(zhì)的晶型。 4,，計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力,。 5，定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例,。 6,，計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。 7,，和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途,。奧林巴斯儀器使用透射幾何技術(shù)不是基于測角儀的傳統(tǒng)XRD儀器所使用的反射幾何技術(shù)。杭州衍射儀什么品牌比...

X射線衍射擴(kuò)展資料： 1,、晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象,，即入射光束出射時(shí)光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象,。絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì),，都能產(chǎn)生X射線衍射。 2,、晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長程的有序結(jié)構(gòu),。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息,。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖,。 3、因此,，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定,；通過對樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算，可以完成樣品物相組成的定量分析,。X-...

X射線衍射的方法有很多,。 按使用的樣品可分為：單晶法和多晶粉末法； 按記錄檢測方法可分有：照相法和衍射譜儀（計(jì)算器）法,。 基本的X射線衍射方法有三種：平板照相法,、旋晶法和多晶粉末法。 1,、平板照相法（平面底片法） 2、園筒底片法（又叫回轉(zhuǎn)照相法或旋晶法） （1）,、回轉(zhuǎn)照相法 （2）,、魏森堡（Weissenberg）照相法 （3）,、多晶粉末德拜-謝樂照相法 （4）、多晶粉末衍射儀法 （5）,、其它X射線衍射儀 a,、計(jì)算機(jī)自動控制的四圓單晶衍射儀 b、轉(zhuǎn)靶X射線衍射儀 c,、面探測器X射線衍射儀 d,、同步輻射衍射分析?！癤射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶體衍射儀",。浙江奧林巴斯Te...

X射線粉末衍射儀, 針對于測試樣品為粉末; X射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射,、高溫衍射儀等等 ! X射線衍射儀包含X射線粉末衍射儀! 由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù).單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu).粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析.X射線粉末衍射可以:1,判斷物質(zhì)是否為晶體.2,判斷是何種晶體物質(zhì).3,判斷物質(zhì)的晶型.4,計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力.5,定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例.6,計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù).7,和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途,。XRD分析儀方便的樣本制備。蕪湖衍射儀銷...

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一個(gè)小晶體衍射X射線，其衍射方向是與晶體的周期性（d）有關(guān)的,。一個(gè)衍射總可找到一個(gè)晶面族HKL,，使它與入射線在此面族上符合反射關(guān)系，就以此面族的符號HKL作為此衍射之指數(shù),。對于x射線衍射,，當(dāng)光程差等于波長的整數(shù)倍時(shí)，晶面的散射線將加強(qiáng),，此時(shí)滿足的條件為2dsinθ=nλ---布拉格方程,，其中，d為晶面間距,，θ為入射線,，反射線與反射晶面之間的夾角，λ為波長,，n為反射級數(shù),，布拉格方程是x射線在晶體產(chǎn)生衍射時(shí)的必要條件而非充分條件。有些情況下晶體雖然滿足布拉格方程,，但不一定出現(xiàn)衍射,，即所謂系統(tǒng)消光。衍射儀,，即X射線衍射儀,。麗水衍射儀價(jià)格表X射線衍射分析可以獲得哪些實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)? 通常做的是粉末衍射，可以...

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射,，對物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法,。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí),，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng),，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象,。衍射X射線滿足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長；θ是衍射角,；d是結(jié)晶面間隔,；n是整數(shù)。波長λ可用已知的X射線衍射角測定,，進(jìn)而求得面間隔,，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。將求出的衍射X射線強(qiáng)度和面間隔與已知的表對照,，即可確定試樣結(jié)晶的物質(zhì)結(jié)構(gòu),，此即定性分析。從衍射X射線強(qiáng)度的比較,，可進(jìn)行定量...

衍射儀,，即X射線衍射儀；特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波,，能穿透一定厚度的物質(zhì),，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光,、氣體電離,。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對應(yīng)的特定波長,，稱為特征X射線,。如銅靶對應(yīng)的X射線波長為0.154056 nm。 x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射,，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波,，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射,。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng),，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果,，便可獲得晶體結(jié)構(gòu),。以上是1912年德國物理學(xué)家...

X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽,。在一粒單晶體中原子或原子團(tuán)均是周期排列的,。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律,，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的,，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的,，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì)。粉末衍射儀要求樣品試片具有一個(gè)十分平整的平面,，而且對平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的,，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時(shí)又要求制作定向的試片）。晶體可以作...

x射線有哪些特點(diǎn),？各種衍射方法有何不同 1,、穿透作用。X射線因其波長短,，能量大,，照在物質(zhì)上時(shí)，只一部分被物質(zhì)所吸收,，大部分經(jīng)由原子間隙而透過,，表現(xiàn)出很強(qiáng)的穿透能力。X射線穿透物質(zhì)的能力與X射線光子的能量有關(guān),，X射線的波長越短,，光子的能量越大，穿透力越強(qiáng),。X射線的穿透力也與物質(zhì)密度有關(guān),，利用差別吸收這種性質(zhì)可以把密度不同的物質(zhì)區(qū)分開來。 2,、電離作用,。物質(zhì)受X射線照射時(shí)，可使核外電子脫離原子軌道產(chǎn)生電離,。利用電離電荷的多少可測定X射線的照射量,，根據(jù)這個(gè)原理制成了X射線測量儀器。在電離作用下,，氣體能夠?qū)щ?；某些物質(zhì)可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng)；在有機(jī)體內(nèi)可以誘發(fā)各種生物效應(yīng),。 3,、熒光作用。X射線波長很短不可...

單晶射線衍射儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器， 額定功率:50kv 40mA,。CCD探測器：62mm 4K CCD芯片,，Mo 光源增益>170電子/X光子； X-射線發(fā)生器：功率3kW,，Mo靶陶瓷X射線光管,； 三軸（ω,2θ,φ）測角儀:φ360o旋轉(zhuǎn)≤0.02o步長，角度重現(xiàn)性±0.0001o,； Kryo-Flex低溫系統(tǒng),。 該儀器主要用于單晶樣品晶胞參數(shù)，單晶結(jié)構(gòu)測定 ,，包括孿晶的有機(jī),、無機(jī)化合物分子的準(zhǔn)確三維立體結(jié)構(gòu)，并通過先進(jìn)的結(jié)構(gòu)解析軟件給出包括鍵長,、鍵角,、構(gòu)型、構(gòu)象乃至成鍵電子密度等分子參數(shù)及分子在晶格中的排列狀況,。X射線衍射方法具有不損傷樣品,、無污染、快捷,、測量精度高,、能得到有關(guān)晶...

衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析與特殊目的測量相結(jié)合的完善產(chǎn)品,。 硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的有效結(jié)合,，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要 高精度的衍射角度測量系統(tǒng),，獲取更準(zhǔn)確的測量結(jié)果 高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng),，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測量精度 各種功能附件滿足不同測試目的需要 程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),，操作簡便,、儀器外型更美觀 X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測試儀器： 未知樣品中一種和多種物相鑒定 混合樣品中已知相定量分析 晶體結(jié)構(gòu)解析（Rietveld結(jié)構(gòu)分析） 非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化（高溫、低溫條件下） 薄膜樣品分析,，包括薄膜物相,、多層膜厚度、表面粗糙...

晶體的X射線衍射圖像實(shí)質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細(xì)復(fù)雜的變換,，每種晶體的結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間都有著一一對應(yīng)的關(guān)系,，其特征X射線衍射圖譜不會因?yàn)樗N物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據(jù),。 制備各種標(biāo)準(zhǔn)單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化,，將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對照,，從而確定物質(zhì)的組成相，就成為物相定性分析的基本方法,。 鑒定出各個(gè)相后,，根據(jù)各相花樣的強(qiáng)度正比于改組分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可對各種組分進(jìn)行定量分析,。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜,，用“粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)合會（JCPDS）”負(fù)責(zé)編輯出版的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”進(jìn)行物相分析。X射線衍射儀開門時(shí)應(yīng)先...

X射線衍射法,，對樣品測試收費(fèi)要遠(yuǎn)高于紅外光譜的,。如果你是單純想測量薄膜的精確厚度，可以用紅外光譜法（IR),精確度可達(dá)cm^(-1)量級,。在紅外光譜范圍內(nèi)，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內(nèi)外層表面的反射光達(dá)到一定相位差時(shí)會引起干涉,，通過薄膜兩個(gè)表面對紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋,。干涉條紋有三四十個(gè)波峰-波谷之多，分布在一定的波長范圍內(nèi),；根據(jù)測定結(jié)果,，利用公式計(jì)算出薄膜的厚度。該方法操作簡便,測定速度快,應(yīng)用于實(shí)際樣品的無損測定,結(jié)果滿意,。 X射線衍射分析儀所使用的SwiftMin軟件簡潔直觀,。嘉興衍射儀代理價(jià)格晶體X射...

X射線衍射分析的應(yīng)用實(shí)例： 1、金屬樣品如塊狀,、板狀,、圓拄狀要求磨成一個(gè)平面，面積不小于10X10毫米,，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起,。 2、對于片狀,、圓拄狀樣品會存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向,，衍射強(qiáng)度異常。因此要求測試時(shí)合 理選擇響應(yīng)的方向平面,。 3,、對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測量殘余奧氏體,，要求樣品不能簡單粗磨,，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光,，消除表面應(yīng)變層,。 4,、粉末樣品要求磨成320目的粒度，約40微米,。粒度粗大衍射強(qiáng)度低,，峰形不好，分辨率低,。要了解樣品的物理化學(xué)性質(zhì),，如是否易燃，易潮解,，易腐蝕,、有毒、易揮發(fā),。 5,、粉末樣品要求在3克左右，如果太少也需5毫克,。奧林巴斯...

x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法,。雖然用x射線照射固體材料并測量由此引起的電子動能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道，但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測到光電子能譜上的實(shí)際光峰,。直到1958年,，以siegbahn為首的一個(gè)瑞典研究小組觀測到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài),，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）,。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。x射線粉末衍射...