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“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難,。所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù)。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu),。但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復雜的很難分析。 x射線粉末衍射可以 1,，判斷物質(zhì)是否為晶體,。 2，判斷是何種晶體物質(zhì),。 3,，判斷物質(zhì)的晶型。 4,，計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力,。 5，定量計算混合物質(zhì)的比例,。 6,，計算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。 7,，和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途,。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),。連云港衍射儀生產(chǎn)廠家X射線衍射儀工作原理是什么,？...

單晶射線衍射儀是一種用于化學領(lǐng)域的分析儀器， 額定功率:50kv 40mA,。CCD探測器：62mm 4K CCD芯片,，Mo 光源增益>170電子/X光子,； X-射線發(fā)生器：功率3kW，Mo靶陶瓷X射線光管,； 三軸（ω,2θ,φ）測角儀:φ360o旋轉(zhuǎn)≤0.02o步長,，角度重現(xiàn)性±0.0001o； Kryo-Flex低溫系統(tǒng),。 該儀器主要用于單晶樣品晶胞參數(shù),，單晶結(jié)構(gòu)測定 ，包括孿晶的有機,、無機化合物分子的準確三維立體結(jié)構(gòu),，并通過先進的結(jié)構(gòu)解析軟件給出包括鍵長、鍵角,、構(gòu)型,、構(gòu)象乃至成鍵電子密度等分子參數(shù)及分子在晶格中的排列狀況。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場,。臺州...

衍射（diffraction）又稱為繞射,，波遇到障礙物或小孔后通過散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象,，一切波都會發(fā)生衍射現(xiàn)象,。 如果采用單色平行光，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果,。相干波在空間某處相遇后,，因位相不同，相互之間產(chǎn)生干涉作用,，引起相互加強或減弱的物理現(xiàn)象,。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，表示著衍射方向（角度）和強度,。 x射線照射晶體,，電子受迫振動產(chǎn)生相干散射；同一原子內(nèi)各電子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶體內(nèi)各原子呈周期排列,，因而各原子散射波問也存在固定的位相關(guān)系而產(chǎn)生干涉作用,，在某些方向上發(fā)生相長干涉，即形成了衍射波．由此可知,，衍射的本質(zhì)是晶體中各原子相干散射波疊加...

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù),。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu),，包括點陣類型,、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā),，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標識X射線）,，晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析,，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析,，而測定譜線強度隨角度的變化關(guān)系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。X射線管的實質(zhì)是個真空二極管,，其陰極是鎢絲,，陽極為金屬片。浙江奧林巴斯BTX小型臺式XRD廠家哪家好X射線同無線...

分析電子衍射與x射線衍射有何異同： 相同點是兩者都是可以把晶體看做一個三維的光柵,，對不同位置的原子散射的波進行疊加求和,，反映的晶格的對稱性信息；不同點是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢場的散射,，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強烈一些,，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動力學效應(yīng)（多次散射）,，x射線是與核外電子發(fā)生作用,，與核外的電子分布情況相關(guān)。實用角度的答案,，在確定晶體對稱性上，通常是用x射線來定的,，因為動力學效應(yīng)很弱,，不會出現(xiàn)本來消光的斑點位置因為多次散射的原因又出現(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析,，另外很重要的一個原因是x射線的制樣更加容易,。測角儀是衍射儀的重要部分。湖州衍射儀...

分析電子衍射與x射線衍射有何異同,？ 多晶金屬材料經(jīng)機械加工,、熱處理等工藝，往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致,。這種晶體取向稱為擇優(yōu)取向或織構(gòu),，它引起X射線衍射花樣發(fā)生 變化，使得連續(xù)均勻的衍射環(huán)成不連續(xù),、強度加強的斑點或弧段,，而另一些晶面的衍射線強度變小甚至消失。測定織構(gòu)的方法有多種中,，但X射線方法具有準確,、全 面等特點，所以成為研究織構(gòu)主要的方法,。 在X射線衍射法中,，一般用“極圖”來表達織構(gòu),。X射線發(fā)生器主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成，它是產(chǎn)生X射線的裝置(產(chǎn)生X射線的裝置),，,。江蘇衍射儀大概多少錢X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進行物相分...

x射線粉末衍射儀, 針對于測試樣品為粉末; x射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射,、高溫衍射儀等等 ! x射線衍射儀包含x射線粉末衍射儀! 由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù).單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu).粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復雜的很難分析.x射線粉末衍射可以:1,判斷物質(zhì)是否為晶體.2,判斷是何種晶體物質(zhì).3,判斷物質(zhì)的晶型.4,計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力.5,定量計算混合物質(zhì)的比例.6,計算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù).7,和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途.X射線衍射儀已成為晶體結(jié)構(gòu)分析等工作的主...

根據(jù)布拉格公式說明為什么低衍射角區(qū)的眼射線強度高于高角區(qū)新回答 ,，這個問題是不正確的，請注意,，布拉格公式是衍射的幾何條件,，是衍射的必要條件，不是充分條件,！滿足其后,，還必須滿足結(jié)構(gòu)因子不為0（越大當然強，其他條件一樣的話）才能衍射,，才有強度,！事實上還和重復因子等有關(guān)，建議多看相關(guān)書籍,。 影響粉末x射線衍射圖效果的因素有： ⑴粉末樣品自身顆粒的大小對x射線衍射分析測試結(jié)果有比較大的影響,； ⑵樣品架裝填粉末樣品量不同對衍射結(jié)果有直接的影響； ⑶對于少量樣品或微量試樣采用橫式填樣法更加科學合理,。連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對稱性和進行晶體定向的勞埃法,。上海奧林巴斯BTX小型臺式XRD定制公司晶...

x射線衍射圖譜： 橫坐標：角度（度），是2θ 角,，是衍射譜儀掃描的角度,。 縱坐標：是檢測到的計數(shù)，單位：CPS-每秒計數(shù)counts per sec. 另外,，測試單上還會給出一系列數(shù)據(jù),，它們是： 一列數(shù)據(jù)，是2θ 角,，要除以2才是用到公式中的θ ,。 第二列數(shù)據(jù)，的d,單位是?,， 第三列數(shù)據(jù),，BG，可能是背景縮寫,； 第四列數(shù)據(jù),，峰高，計數(shù)值； 第五列數(shù)據(jù),，相對峰高（%）,，是把強峰作為歸一標準的相對強度值； 第六列數(shù)據(jù),，峰面積,； 第七列數(shù)據(jù)，相對峰面積（%）,； 第八列數(shù)據(jù),，F(xiàn)WHM-Full width at half maximum （脈沖）峰半高寬；一般用于計算的峰強度使用高度就可以了,，這是把...

使用粉末多晶衍射儀測量單晶體樣品時得到的X射線衍射譜,，相對于與所測單晶體同種類的多晶樣品的X射線衍射譜來說，它的譜圖特征可能是：衍射峰數(shù)量可能會變少,，峰強度會有變化:有的會變強,、有的會變?nèi)酰蝗绻麥y試時單晶樣品不旋轉(zhuǎn),，有些峰可能就根本不出現(xiàn),，因為其照射角派生的2θ滿足不了布拉格公式而發(fā)生衍射；其峰強弱依賴于單晶樣品在譜儀樣品架上的作固定安裝的立體角參數(shù),。 若將一束單色X射線照射到一粒靜止的單晶體上,，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射,。要使各晶面族都發(fā)生衍射,，常用的方法就是轉(zhuǎn)動晶體。轉(zhuǎn)動中各晶面族時刻改變著與入射線的交角,，會在某個時候符合布拉格...

X射線衍射法是一種研究晶體結(jié)構(gòu)的分析方法，而不是直接研究試樣內(nèi)含有元素的種類及含量的方法,。當X射線照射晶態(tài)結(jié)構(gòu)時,，將受到晶體點陣排列的不同原子或分子所衍射。X射線照射兩個晶面距為d的晶面時,，受到晶面的反射,，兩束反射X光程差2dsinθ使入射波長的整數(shù)倍時，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)）,，兩束光的相位一致,，發(fā)生相長干涉，這種干涉現(xiàn)象稱為衍射,，晶體對X射線的這種折射規(guī)則稱為布拉格規(guī)則,。θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。n相當于相干波之間的位相差，n=1,，2…時各稱0級,、1級、2級……衍射線,。反射級次不清楚時,，均以n=1求d。晶面間距一般為物質(zhì)的特有參數(shù),，對一個物質(zhì)若能測定數(shù)個d及與其...

X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分,。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。 （2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶,、粉末,、多晶或微晶的固體塊。 （3）射線檢測器　檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù),。 （4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有特用衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng), 它們的特點是自動化和智能化,。X射線衍射照相法的原理是什么？揚州衍射儀批發(fā)x射線衍射在金屬學中的應(yīng)用 x射...

X射線單晶體衍儀器要求： 基本要求 要按式⑷來求解晶體結(jié)構(gòu),，就要有盡可能多的衍射的FHKL,，而且其值要準確，這樣所得的ρ（x,y,z）分辨率就高,，求得的結(jié)構(gòu)就準確,。一粒小晶體衍射的X射線是射向整個空間的。具有大的HKL,，也即大θ或小d值的衍射的強度一般比較低,，不易測得。如何在三維空間測得盡可能多的,，盡可能準確的衍射線強度成為對X射線單晶體衍射儀的基本要求,。 實驗儀器 若將一束單色X射線射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ,，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射,。如何才能使各晶面族都發(fā)生衍射呢？常用的方法就是轉(zhuǎn)動晶體,。轉(zhuǎn)動中各晶面族時刻改變著與入射線的交角,，會...

X射線衍射分析的應(yīng)用實例： 1、金屬樣品如塊狀,、板狀,、圓拄狀要求磨成一個平面，面積不小于10X10毫米,，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起,。 2,、對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向,，衍射強度異常,。因此要求測試時合 理選擇響應(yīng)的方向平面。 3,、對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變）,，測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單粗磨,，要求制備成金相樣品,，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層,。 4,、粉末樣品要求磨成320目的粒度，約40微米,。粒度粗大衍射強度低,，峰形不好，分辨率低,。要了解樣品的物理化學性質(zhì),，如是否易燃，易潮解,，易腐蝕,、有毒、易揮發(fā),。 5,、粉末樣品要求在3克左右，如果太少也需5毫克,?！癤射線...

X射線單晶體衍儀器基本公式： 由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示,。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構(gòu)成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復得到,。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α,，β）所規(guī)定，這六個參數(shù)稱點陣參數(shù)或晶胞參數(shù),。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平行等距排列而成的,，這樣一族平面點陣稱為一個平面點陣族，常用符號HKL（HKL為整數(shù)）來表示,。一個三維空間點陣劃分為平面點陣族的方式是很多的,，其平面點陣的構(gòu)造和面間距d可以是不同的,。晶體結(jié)構(gòu)的周期性就可以由這一組dHKL來表示。X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù),?；茨涎苌?..

x射線衍射在金屬學中的應(yīng)用 x射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后，很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu),，出現(xiàn)了許多具有重大意義的結(jié)果,。如（a.westgren）(1922年)證明α、β和δ鐵都是立方結(jié)構(gòu),，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉(zhuǎn)變實質(zhì)上是由體心立方晶體轉(zhuǎn)變?yōu)槊嫘牧⒎骄w,，從而終否定了β-fe硬化理論。隨后,在用x射線測定眾多金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)的同時,，在相圖測定以及在固態(tài)相變和范性形變研究等領(lǐng)域中均取得了豐碩的成果,。XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種,。X射線衍射儀使用過程中應(yīng)隨時觀察循環(huán)冷卻水機組是否正常制冷,，水溫是...

單晶射線衍射儀是一種用于化學領(lǐng)域的分析儀器， 額定功率:50kv 40mA,。CCD探測器：62mm 4K CCD芯片,，Mo 光源增益>170電子/X光子； X-射線發(fā)生器：功率3kW,，Mo靶陶瓷X射線光管,； 三軸（ω,2θ,φ）測角儀:φ360o旋轉(zhuǎn)≤0.02o步長，角度重現(xiàn)性±0.0001o,； Kryo-Flex低溫系統(tǒng),。 該儀器主要用于單晶樣品晶胞參數(shù)，單晶結(jié)構(gòu)測定 ,，包括孿晶的有機,、無機化合物分子的準確三維立體結(jié)構(gòu)，并通過先進的結(jié)構(gòu)解析軟件給出包括鍵長,、鍵角,、構(gòu)型、構(gòu)象乃至成鍵電子密度等分子參數(shù)及分子在晶格中的排列狀況,。XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析,。衢州衍射儀哪個品牌好描...

X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度,。 （2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶,、粉末、多晶或微晶的固體塊,。 （3）射線檢測器　檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù),。 （4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有特用衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng), 它們的特點是自動化和智能化,。特征X射線用于進行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進行物相鑒定的粉末法。舟山衍射儀...

x射線衍射圖譜： 橫坐標：角度（度）,，是2θ 角,，是衍射譜儀掃描的角度。 縱坐標：是檢測到的計數(shù),，單位：CPS-每秒計數(shù)counts per sec. 另外,，測試單上還會給出一系列數(shù)據(jù)，它們是： 一列數(shù)據(jù),，是2θ 角,，要除以2才是用到公式中的θ 。 第二列數(shù)據(jù),，的d,單位是?,， 第三列數(shù)據(jù)，BG,，可能是背景縮寫,； 第四列數(shù)據(jù)，峰高,，計數(shù)值,； 第五列數(shù)據(jù)，相對峰高（%）,，是把強峰作為歸一標準的相對強度值,； 第六列數(shù)據(jù)，峰面積,； 第七列數(shù)據(jù),，相對峰面積（%）； 第八列數(shù)據(jù),，F(xiàn)WHM-Full width at half maximum （脈沖）峰半高寬,；一般用于計算的峰強度使用高度就可以了，這是把...

當x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點陣晶格間距為d的晶面上時,在符合上式的條件下,，將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線,。布拉格方程簡潔直觀地表達了衍射所必須滿足的條件。當 x射線波長λ已知時(選用固定波長的特征x射線),，采用細粉末或細粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中,，從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測出θ后，利用布拉格方程即可確定點陣晶面間距,、晶胞大小和類型;根據(jù)衍射線的強度,還可進一步確定晶胞內(nèi)原子的排布,。這便是x射線結(jié)構(gòu)分析中的粉末法或德拜-謝樂(debye—scherrer)法的理論基礎(chǔ)。而在測定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動（即θ不變）...

衍射又稱為繞射,，光線照射到物體邊沿后通過散射繼續(xù)在空間發(fā)射的現(xiàn)象,。如果采用單色平行光，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果,。相干波在空間某處相遇后,，因位相不同，相互之間產(chǎn)生干涉作用,，引起相互加強或減弱的物理現(xiàn)象,。 衍射的條件，一是相干波（點光源發(fā)出的波）,，二是光柵,。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，表示著衍射方向（角度）和強度,。根據(jù)衍射花紋可以反過來推測光源和光珊的情況,。 為了使光能產(chǎn)生明顯的偏向，必須使“光柵間隔”具有與光的波長相同的數(shù)量級,。用于可見光譜的光柵每毫米要刻有約500到500條線 ,。衍射儀的進展主要在三個方面：1 X 射線發(fā)生器，2,、 探測器,，3、 衍射幾何與光路,。蕪湖衍射儀一個小晶體衍射...

晶體X射線衍射： X射線在晶體中發(fā)生的衍射現(xiàn)象,。晶體具有點陣結(jié)構(gòu)，點陣結(jié)構(gòu)的周期（即晶胞邊長,，b,，c）與X射線的波長屬于同一數(shù)量級，X射線衍射現(xiàn)象是一種基于波疊加原理的干涉現(xiàn)象,，干涉的結(jié)果隨不同而有所不同（Δ為波程差,；λ為波長）。為整數(shù)的方向,，波的振幅得到大程度的加強,，稱為衍射，對應(yīng)的方 向為衍射方向 ,，而為半整數(shù)的方向,，波的振幅得到大程度的抵消。因此,，X射線通過晶體之后,，在某些方向（衍射方向）X射線的強度增強，而另一些方向X射線強度卻減弱甚至消失 ,，如果在晶體的背后放置一張感光底片,，將會得到X射線的衍射圖形,。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,，使用XRD可以快...

衍射（diffraction）又稱為繞射，波遇到障礙物或小孔后通過散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象,。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象,，一切波都會發(fā)生衍射現(xiàn)象。 如果采用單色平行光,，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果,。相干波在空間某處相遇后，因位相不同,，相互之間產(chǎn)生干涉作用,，引起相互加強或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋,，表示著衍射方向（角度）和強度,。 x射線照射晶體，電子受迫振動產(chǎn)生相干散射,；同一原子內(nèi)各電子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶體內(nèi)各原子呈周期排列,，因而各原子散射波問也存在固定的位相關(guān)系而產(chǎn)生干涉作用，在某些方向上發(fā)生相長干涉,，即形成了衍射波．由此可知,，衍射的本質(zhì)是晶體中各原子相干散射波疊加...

X射線衍射儀技術(shù)（XRD） X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction，XRD),。通過對材料進行X射線衍射,，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分,、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段,。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成,、晶型,、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型,、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜,。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染,、快捷,、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法,已逐步在各學科研究和生產(chǎn)中普...

X射線衍射照相法的原理是什么,？ 照相法以光源發(fā)出的特征X射線照射多晶樣品,，并用底片記錄衍射花樣。根據(jù)樣品與底片的相對位置,，照相法可以分為德拜法,、聚焦法其中德拜法應(yīng)用為普遍。 當一束單色X射線入射到晶體時,，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有 X射線衍射分析相同數(shù)量級,，故由不同原子散射的X射線相互干涉,，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度,，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),。這就是X射線衍射的基本原理。單晶射線衍射儀主要用于單晶樣品晶胞參數(shù),，單晶結(jié)構(gòu)測定 ,，包括孿晶的有機。金華衍射儀供應(yīng)商有哪些X射線衍射擴展資料： 1,、晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生...

分析電子衍射與x射線衍射有何異同,？ 多晶金屬材料經(jīng)機械加工、熱處理等工藝,，往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致,。這種晶體取向稱為擇優(yōu)取向或織構(gòu)，它引起X射線衍射花樣發(fā)生 變化,，使得連續(xù)均勻的衍射環(huán)成不連續(xù),、強度加強的斑點或弧段，而另一些晶面的衍射線強度變小甚至消失,。測定織構(gòu)的方法有多種中,，但X射線方法具有準確、全 面等特點,，所以成為研究織構(gòu)主要的方法,。 在X射線衍射法中，一般用“極圖”來表達織構(gòu),。連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對稱性和進行晶體定向的勞埃法,。安慶衍射儀多少錢X射線衍射儀技術(shù)（XRD）可為客戶解決的問題： （1）當材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例,，可使用X...

衍射儀,，即X射線衍射儀；特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì),，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光,、照相機乳膠感光、氣體電離,。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線,，它具有靶中元素相對應(yīng)的特定波長，稱為特征X射線,。如銅靶對應(yīng)的X射線波長為0.154056 nm,。 x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,，即一束X射線照射到物體上時,，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波,，這些波互相干涉,，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強,，在其他方向上減弱,。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu),。以上是1912年德國物理學家...

X射線衍射的方法有很多,。 按使用的樣品可分為：單晶法和多晶粉末法； 按記錄檢測方法可分有：照相法和衍射譜儀（計算器）法,。 基本的X射線衍射方法有三種：平板照相法,、旋晶法和多晶粉末法。 1,、平板照相法（平面底片法） 2,、園筒底片法（又叫回轉(zhuǎn)照相法或旋晶法） （1）、回轉(zhuǎn)照相法 （2）,、魏森堡（Weissenberg）照相法 （3）,、多晶粉末德拜-謝樂照相法 （4）、多晶粉末衍射儀法 （5）,、其它X射線衍射儀 a,、計算機自動控制的四圓單晶衍射儀 b、轉(zhuǎn)靶X射線衍射儀 c,、面探測器X射線衍射儀 d,、同步輻射衍射分析。探測器是用來記錄衍射譜的,，因而是多晶體衍射設(shè)備中不可或缺的重要部件之一,。寧波衍射儀品...

XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質(zhì)量很大振動忽略不計,。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長,、周相與入射光相同?；诰w結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射,。散射波周相一致相互加強的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。X射線對于晶體的衍射強度是由晶體晶胞中原子的元素種類,、數(shù)目及其排列方式?jīng)Q定的,。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質(zhì)進行非破壞性分析的儀器,由X射線發(fā)生器、測角儀,、X射線強度測量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集,、處理系統(tǒng)四大部分組成。X射線單晶體...

衍射出現(xiàn)在滿足布拉格條件的角度上,，這可以理解。但是,，X射線衍射是因為X射線與原子發(fā)生彈性碰撞,，原子向四面八方散射頻率相同的X射線，書上講的衍射方向都是與入射方向夾角為2西塔,，難道就不可能在其他方向上（即入射角和反射角不相等）恰好滿足布拉格條件嗎,？ 恰好滿足布拉格條件的就是2θ方向。在其他方向（即入射角和反射角不相等）上的也有,，但都被許許多多散射光之間相互抵消,、成為光強很弱甚至為0的圖案、成為觀測區(qū)域內(nèi)的背景,。X射線衍射儀應(yīng)用于各大,、專院校，科研院所及廠礦企業(yè),。寧波衍射儀工藝X射線衍射分析的粉末樣品時的要求是什么? 粉末樣品的制備 雖然很多固體樣品本身已處于微晶狀態(tài),，但通常卻是較粗糙的粉末顆粒或...