光譜共焦位移傳感器是基于共焦原理采用復色光為光源的傳感器,，其測扯精度能夠達到nm量級,，可用于表面呈漫反射或鏡反射的物體的測匱。此外,，光譜共焦位移傳感器還可以對透明物體進行單向厚度測量,。由于其在測量位 移方面具有高精度的特性，對千單層和多層透明物體,，除準確測量該物體的位移之外,，還可以單方向測量其厚度。本文將光譜共焦位移傳感器應用于位移測量中,，通過實驗驗證光譜共焦測量系統(tǒng)能夠滿足高精度的位移測蜇要求,，對今后將整個 小型化、產(chǎn)品化有著重要的意義,。光譜共焦厚度檢測系統(tǒng)可以實現(xiàn)厚度的非接觸式測量。龍巖高精度光譜共焦

光譜共焦測量原理通過使用多透鏡光學系統(tǒng)將多色白光聚焦到目標表面來工作,。透鏡的排列方式是通過控制色差（像差）將白光分散成單色光,。工廠校準為每個波長分配了一定的偏差（特定距離）。只有精確聚焦在目標表面或材料上的波長才能用于測量,。從目標表面反射的這種光通過共焦孔徑到達光譜儀,，該光譜儀檢測并處理光譜變化。漫反射表面和鏡面反射表面都可以使用共焦彩色原理進行測量,。共焦測量提供納米分辨率并且?guī)缀?span>與目標材料分開運行,。在傳感器的測量范圍內(nèi)實現(xiàn)了一個非常小的、恒定的光斑尺寸,。微型徑向和軸向共焦版本可用于測量鉆孔或鉆孔的內(nèi)表面,，以及測量窄孔、小間隙和空腔,。非接觸式光譜共焦推薦光譜共焦位移傳感器可以實現(xiàn)對材料的變形過程進行精確測量,，對于研究材料的變形行為具有重要意義。

光譜共焦技術是在共焦顯微術基礎上發(fā)展而來,，其無需軸向掃描,，直接由波長對應軸向距離信息，從而大幅提高測量速度,。而基于光譜共焦技術的傳感器是近年來出現(xiàn)的一種高精度,、非接觸式的新型傳感器，精度理論上可達 nm 量級,。由于光譜共焦傳感器對被測表面狀況要求低,，允許被測表面有更大的傾斜角，測量速度快,，實時性高,，迅速成為工業(yè)測量的熱門傳感器，大量應用于精密定位、薄膜厚度測量,、微觀輪廓精密測量等領域,。本文在論述光譜共焦技術原理的基礎上，列舉了光譜共焦傳感器在幾何量計量測試中的典型應用,，探討共焦技術在未來精密測量的進一步應用,，展望其發(fā)展前景。

采用對比測試方法,，首先對基于白光共焦光譜技術的靶丸外表面輪廓測量精度進行了考核,，圖5(a)是靶丸外表面輪廓的原子力顯微鏡輪廓儀和白光共焦光譜輪廓儀的測量曲線。為了便于比較,，將原子力顯微鏡輪廓儀的測量數(shù)據(jù)進行了偏移,。從圖中可以看出，二者的低階輪廓整體相似,，局部的輪廓信息存在一定的偏差,，原因在于二者在靶丸赤道附近的精確測量圓周輪廓結(jié)果不一致;此外，白光共焦光譜的信噪比較原子力低,，這表明白光共焦光譜適用于靶丸表面低階的輪廓誤差的測量,。圖5(b)是靶丸外表面輪廓原子力顯微鏡輪廓儀測量數(shù)據(jù)和白光共焦光譜輪廓儀測量數(shù)據(jù)的功率譜曲線，從圖中可以看出,，在模數(shù)低于100的功率譜范圍內(nèi),，兩種方法的測量結(jié)果一致性較好，當模數(shù)大于100時,，白光共焦光譜的測量數(shù)據(jù)大于原子力顯微鏡的測量數(shù)據(jù),，這也反應了白光共焦光譜儀在高頻段測量數(shù)據(jù)信噪比相對較差的特點。由于光譜傳感器Z向分辨率比原子力低一個量級,，同時,，受環(huán)境振動、光譜儀采樣率及樣品表面散射光等因素的影響,，共焦光譜檢測數(shù)據(jù)高頻隨機噪聲可達100nm左右,。光譜共焦技術可以在工業(yè)生產(chǎn)中發(fā)揮重要作用。

由于每一個波長都可以固定一個距離值,，因此,，通過將光譜山線峰值波長確定下來，就可以將精確的距離值推算出來,。假設傳感器與物體表面存在相對移動,，此時物體表面的中心點恰好處在單色光（A1）的像點處，可以作出光譜儀探測到的光譜曲線,。通過測量得到不同的波長值,，可以將物體表面不同點之間的相對位移值計算出來,。如果配上精細的掃描機構(gòu)，就可以對整體的二維表面輪廓及形貌進行精確的測量,。相比其他傳統(tǒng)的位移傳感器,，光譜共焦傳感器憑借獨特的測量原理，具有測量效率高,、精度高,、體積小、非接觸等特點,，在各個領域都得到了大量的應用,。線性色散設計的光譜共焦測量技術是一種新型的測量方法。漳州推薦光譜共焦

基于白光LED的光譜共焦位移傳感器是一種新型的傳感器,。龍巖高精度光譜共焦

硅片柵線的厚度測量方法我們還用創(chuàng)視智能TS-C系列光譜共焦傳感器和CCS控制器,，TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠?qū)崿F(xiàn)0.025 μm的重復精度，±0.02% of F.S.的線性精度,，10kHz的測量速度,，以及±60°的測量角度，能夠適應鏡面,、透明,、半透明,、膜層,、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面,，支持485,、USB、以太網(wǎng),、模擬量的數(shù)據(jù)傳輸接口,。。我們主要測量太陽能光伏板硅片刪線的厚度,，所以我們這次用單探頭在二維運動平臺上進行掃描測量,。柵線測量方法：首先我們將需要掃描測量的硅片選擇三個區(qū)域進行標記如圖1，用光譜共焦C1200單探頭單側(cè)測量,，柵線厚度是柵線高度-基底的高度差,。二維運動平臺掃描測量（由于柵線不是一個平整面，自身有一定的曲率,，對測量區(qū)域的選擇隨機性影響較大）龍巖高精度光譜共焦