維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列,，整合掃描狹縫式,、相機式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線,，為激光光束質量檢測提供全場景解決方案。 掃描狹縫式光斑分析儀刀口 / 狹縫雙模式切換技術,，覆蓋 190-2700nm 寬光譜，支持 2.5μm-10mm 光束直徑測量,。0.1μm 超高分辨率可捕捉亞微米級光斑細節(jié),，無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光，適用于激光加工,、醫(yī)療設備等高能量場景,。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,，支持 2D/3D 實時成像與動態(tài)分析,，可測量非高斯光束（如平頂,、貝塞爾光束）。獨特的六濾光片轉輪設計實現(xiàn)功率范圍擴展,，可拆卸結構支持科研成像功能拓展,。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品，通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(shù)（M2 因子,、發(fā)散角,、束腰位置等），結合 BeamHere 軟件實現(xiàn)一鍵生成報告,、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設計滿足光通信,、醫(yī)療,、工業(yè)等領域的光斑檢測需求，兼顧實驗室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景。光斑分析儀與M2測試模塊組合,，實現(xiàn)對光束傳播方向的發(fā)散角,、M2因子,、聚焦直徑等測量,。光斑位置光斑分析儀價格多少

使用維度光電BeamHere 光斑分析儀開展光斑與光束質量測量的流程 系統(tǒng)搭建：將 BeamHere 相機式光斑分析儀的傳感器置于激光束路徑,，通過支架調節(jié)位置確保光斑完整覆蓋 sensor。使用 USB 3.0 數(shù)據(jù)線連接設備與電腦,，安裝 BeamHere V3.2 軟件并完成驅動校準,。 數(shù)據(jù)采集：開啟半導體激光器至穩(wěn)定輸出狀態(tài)，軟件選擇 "連續(xù)采集" 模式,，設置曝光時間 50μs,，幀率 100fps，同步觸發(fā)激光器確保單脈沖捕捉,。 參數(shù)提?。很浖詣幼R別光斑區(qū)域,，計算 FWHM 直徑（XY 軸）、橢圓率,、能量集中度等 12 項基礎參數(shù),，同時基于 ISO 11146 標準算法生成 M2 因子、瑞利長度等光束質量指標,。 可視化分析：切換至 3D 視圖旋轉觀察能量分布,，通過 "刀邊法" 驗證光斑對稱性，標記異常區(qū)域進行局部放大分析。 報告輸出：點擊 "生成報告" 按鈕,，自動插入測試日期,、激光器參數(shù)、測量曲線等內容,，支持 PDF/A4 排版或自定義 LOGO 導出。維度光電自研光斑分析儀系統(tǒng)搭建國產(chǎn)光斑分析儀哪個好,？維度光電光斑分析儀全系列,。

在激光應用領域，高功率光束檢測一直是個難題。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏,，在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,，常規(guī)激光器功率遠超此強度,，不衰減光束不僅無法測量光斑信息，還可能損壞設備,。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng),。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制，可直接測量近 10W 的高功率激光,，無需額外衰減片,。在此基礎上，還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件,，可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng)。與合適衰減片搭配,，可測功率超 1000W,。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1，45° 傾斜設計,，取樣率 4% - 5%,，有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結構，能測量任意角度入射激光,；雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2，內部緊湊安裝兩片取樣透鏡,，取樣率 0.16% - 0.25%,，可應對 400W 功率光束，多面體結構有多個支撐安裝孔位,。組合安裝配件可進一步衰減更高功率激光,，大衰減程度達 10??。而且其緊湊結構的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求,，單次取樣 68mm,，雙次取樣 53mm，為各類激光應用場景的檢測提供了方案,。

光斑分析儀通過光學傳感器將光斑能量分布轉化為電信號，結合算法分析實現(xiàn)光束質量評估,。Dimension-Labs 產(chǎn)品采用雙技術路線：掃描狹縫式通過 0.1μm 超窄狹縫逐行掃描,，實現(xiàn) 2.5μm 至 10mm 光斑的高精度測量,；相機式則利用面陣傳感器實時成像，支持 200-2600nm 全光譜覆蓋,。全系標配 M2 因子測試模塊，結合 BeamHere 軟件,，可自動計算發(fā)散角,、橢圓率等參數(shù)，并生成符合 ISO 11146 標準的測試報告,。 產(chǎn)品優(yōu)勢： 滿足測試需求的全系列產(chǎn)品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設計的分析軟件 軟件真正做到交互友好,，簡單易用，一鍵輸出測試報告,。多光斑光束質量測量系統(tǒng)。

Dimension-Labs 針對高功率激光檢測難題推出 BeamHere 大功率光束取樣系統(tǒng),，突破傳統(tǒng)面陣傳感器在 10μW/cm2 飽和閾值的限制,，通過創(chuàng)新狹縫物理衰減機制實現(xiàn) 10W 級激光直接測量，配合可疊加的單次（DL-LBA-1）與雙次（DL-LBA-2）取樣配件形成多級衰減方案,，衰減達 10??，可測功率超 1000W,。該系統(tǒng)采用 45° 傾斜設計的單次取樣配件支持 4%-5% 取樣率,，雙次配件內置雙片透鏡實現(xiàn) 0.16%-0.25% 取樣率，均配備 C 口通用接口和鎖緊環(huán)結構,，支持任意角度入射光束檢測,。其優(yōu)化設計的 68mm（單次）和 53mm（雙次）取樣光程確保聚焦光斑完整投射至傳感器，解決傳統(tǒng)外搭光路光程不足問題,，緊湊結構減少 70% 空間占用,。系統(tǒng)覆蓋 190-2500nm 寬光譜范圍,，通過 CE/FCC 認證，可在 - 40℃至 85℃環(huán)境穩(wěn)定工作,，已成功應用于工業(yè)激光加工（熱影響區(qū)≤30μm）,、科研超快激光（皮秒脈沖分析）及醫(yī)療設備校準（能量均勻性誤差＜2%），幫助客戶提升 3 倍檢測效率并降** 30% 檢測成本,。光束質量M2怎么測量,？國產(chǎn)光斑分析儀是什么

光斑分析儀都有哪些類型,？光斑位置光斑分析儀價格多少

維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質量檢測解決方案,，涵蓋掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線： 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,，支持 190-2700nm 寬光譜范圍,，可測量 2.5μm-10mm 光束直徑，0.1μm 超高分辨率實現(xiàn)亞微米級光斑細節(jié)捕捉,。創(chuàng)新狹縫物理衰減機制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,，適用于激光加工等高能量場景,。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,，支持 2D/3D 實時成像與動態(tài)分析，可測量非高斯光束（如平頂,、貝塞爾光束）。獨特的六濾光片轉輪設計實現(xiàn)功率范圍擴展,，可拆卸結構支持科研成像功能拓展,。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品，通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(shù)（M2 因子,、發(fā)散角,、束腰位置等），結合 BeamHere 軟件實現(xiàn)一鍵生成報告,、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設計滿足光通信,、醫(yī)療,、工業(yè)等領域的光斑檢測需求，兼顧實驗室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景,。光斑位置光斑分析儀價格多少