維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質(zhì)量檢測解決方案,，涵蓋掃描狹縫式,、相機(jī)式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線： 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù),，支持 190-2700nm 寬光譜范圍,，可測量 2.5μm-10mm 光束直徑,，0.1μm 超高分辨率實(shí)現(xiàn)亞微米級光斑細(xì)節(jié)捕捉,。創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,，適用于激光加工等高能量場景,。 相機(jī)式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,，支持 2D/3D 實(shí)時成像與動態(tài)分析，可測量非高斯光束（如平頂,、貝塞爾光束）,。獨(dú)特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)功率范圍擴(kuò)展，可拆卸結(jié)構(gòu)支持科研成像功能拓展,。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品,，通過 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法測量光束傳播參數(shù)（M2 因子、發(fā)散角,、束腰位置等）,，結(jié)合 BeamHere 軟件實(shí)現(xiàn)一鍵生成報告,、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計(jì)滿足光通信,、醫(yī)療,、工業(yè)等領(lǐng)域的光斑檢測需求，兼顧實(shí)驗(yàn)室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景,。光斑分析儀培訓(xùn)服務(wù),？維度光電提供線上 + 線下技術(shù)培訓(xùn)，包教包會,。激光發(fā)散角光斑分析儀性能

維度光電針對當(dāng)前市場上的諸多行業(yè)痛點(diǎn),，隆重推出了光斑分析儀系列產(chǎn)品。在國內(nèi)激光光束質(zhì)量分析領(lǐng)域,，長期以來存在著一個的問題,，那就是缺乏能夠提供多樣化型號及定制化解決方案的光斑分析儀品牌。許多企業(yè)長期受限于國外設(shè)備的長周期交付和難以定制的缺陷,，這不僅影響了生產(chǎn)效率,，還增加了企業(yè)的運(yùn)營成本。 針對這一問題,，維度光電決定立項(xiàng)光斑分析儀系列產(chǎn)品，旨在解決這一行業(yè)難題,。我們深知,，只有通過自主和創(chuàng)新，才能打破國外設(shè)備的壟斷局面,，為國內(nèi)企業(yè)提供更加高效,、便捷的光束質(zhì)量分析解決方案。因此,，我們致力于打造國內(nèi)專業(yè),、多面的光束質(zhì)量分析儀品牌，以滿足不同企業(yè)的需求,。 我們的光斑分析儀系列產(chǎn)品不僅具備多樣化的型號,，還能夠根據(jù)客戶的實(shí)際需求進(jìn)行定制化設(shè)計(jì)。無論是激光加工,、激光醫(yī)療,、激光科研還是其他相關(guān)領(lǐng)域，我們的產(chǎn)品都能提供,、高效的光束質(zhì)量分析服務(wù),。我們相信，通過我們的努力,，能夠?yàn)閲鴥?nèi)激光行業(yè)的發(fā)展注入新的活力,，推動整個行業(yè)的進(jìn)步,。大功率光斑分析儀原廠光束發(fā)散角測量原理是什么？

在激光應(yīng)用領(lǐng)域,，高功率光束檢測一直是個難題,。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏，在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,，常規(guī)激光器功率遠(yuǎn)超此強(qiáng)度,，不衰減光束不僅無法測量光斑信息，還可能損壞設(shè)備,。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng),。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機(jī)制，可直接測量近 10W 的高功率激光,，無需額外衰減片,。在此基礎(chǔ)上，還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件,，可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng),。與合適衰減片搭配，可測功率超 1000W,。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1,，45° 傾斜設(shè)計(jì)，取樣率 4% - 5%,，有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結(jié)構(gòu),，能測量任意角度入射激光；雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2,，內(nèi)部緊湊安裝兩片取樣透鏡,，取樣率 0.16% - 0.25%，可應(yīng)對 400W 功率光束,，多面體結(jié)構(gòu)有多個支撐安裝孔位,。組合安裝配件可進(jìn)一步衰減更高功率激光，大衰減程度達(dá) 10??,。而且其緊湊結(jié)構(gòu)的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求,，單次取樣 68mm，雙次取樣 53mm,，為各類激光應(yīng)用場景的檢測提供了方案,。

Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列以國內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù)為，覆蓋 190-2700nm 全光譜,，可測 2.5μm 至 10mm 光束直徑,。其 0.1μm 超高分辨率突破傳統(tǒng)設(shè)備極限，捕捉亞微米級光斑細(xì)節(jié)。 技術(shù)優(yōu)勢： 雙模式智能適配：軟件自主切換刀口 / 狹縫模式,，解決 < 20μm 極小光斑與 10mm 大光斑的測量難題 高功率安全檢測：創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制,，無需外置衰減片即可直接測量近 10W 激光 超分辨率成像：基于狹縫掃描原理，完整還原光斑能量分布,，避免特征丟失 設(shè)備內(nèi)置正交狹縫轉(zhuǎn)動輪,，通過旋轉(zhuǎn)掃描同步采集 XY 軸數(shù)據(jù)，經(jīng)算法處理輸出 20 + 光束參數(shù),。緊湊模塊化設(shè)計(jì)適配工業(yè)與實(shí)驗(yàn)室場景,，通過 CE/FCC 認(rèn)證，在 - 40℃至 85℃環(huán)境穩(wěn)定工作,，應(yīng)用于激光加工,、醫(yī)療設(shè)備及科研領(lǐng)域，助力客戶提升檢測精度與效率,。光束質(zhì)量分析儀推薦,？維度光電 M2 因子測量模塊；

Dimension-Labs 光斑分析儀系列采用差異化設(shè)計(jì)：掃描狹縫式側(cè)重高功率場景（千萬級功率）,，通過物理衰減機(jī)制實(shí)現(xiàn)安全測量,，衰減級數(shù)達(dá) 10?:1，無需外置衰減片,；相機(jī)式則主打?qū)捁庾V（200-2600nm）與實(shí)時成像功能,，支持 100fps 高速連拍。相較于傳統(tǒng)設(shè)備,，其 0.1μm 分辨率提升 10 倍以上,，可解析直徑小于 5μm 的亞微米級光斑；M2 測試模塊支持光束傳播特性動態(tài)分析,，通過滑軌式掃描獲取 100 + 測量點(diǎn)數(shù)據(jù)。軟件集成 AI 算法,，可自動識別光斑模式,，率達(dá) 99.7%，將人工分析效率提升 90%,，單組數(shù)據(jù)處理時間從 20 分鐘縮短至 2 分鐘,。M2因子測量模塊，兼顧光斑與光束質(zhì)量一站式測試,。國產(chǎn)光斑分析儀費(fèi)用是多少

有沒有一體化的光斑分析儀和 M2 因子測量模塊產(chǎn)品,？激光發(fā)散角光斑分析儀性能

Dimension-Labs 維度光電相機(jī)式光斑分析儀系列覆蓋 400-1700nm 寬光譜范圍，實(shí)現(xiàn)可見光與近紅外波段光斑的實(shí)時檢測,。其優(yōu)勢包括： 動態(tài)分析能力 支持 2D 光斑實(shí)時成像與 3D 功率分布動態(tài)顯示,，高幀率（100fps）連續(xù)測量模式可捕捉光斑瞬態(tài)變化，3D 視圖支持任意角度旋轉(zhuǎn)分析,，為光學(xué)系統(tǒng)調(diào)試提供直觀數(shù)據(jù)支持,。 復(fù)雜光斑適應(yīng)性 基于面陣傳感器技術(shù),，可測量非高斯光束（如平頂、貝塞爾光束）及含高階橫模的復(fù)雜光斑,，突破傳統(tǒng)掃描式設(shè)備的局限性,。 功率調(diào)節(jié) 標(biāo)配 6 片不同衰減率的濾光片（0.1%-100%），通過轉(zhuǎn)輪結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)一鍵切換,，可測功率達(dá) 10W/cm2,，滿足從弱光器件到高功率激光的全量程需求。 科研級擴(kuò)展性 采用模塊化設(shè)計(jì),，相機(jī)與濾光片轉(zhuǎn)輪可分離使用,。拆卸后的相機(jī)兼容通用驅(qū)動軟件，支持科研成像,、光譜分析等擴(kuò)展應(yīng)用,，實(shí)現(xiàn)工業(yè)檢測與實(shí)驗(yàn)室的一機(jī)多用。激光發(fā)散角光斑分析儀性能