Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列采用國內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù)，覆蓋 190-2700nm 寬光譜,，可測 2.5μm-10mm 光束直徑,，0.1μm 超高分辨率突破傳統(tǒng)檢測極限,。其創(chuàng)新設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)三大優(yōu)勢： 雙模式自適應(yīng)檢測 通過軟件切換刀口 / 狹縫模式，分析 < 20μm 極小光斑形態(tài)或 10mm 大光斑能量分布,，全量程無盲區(qū),。 高功率直接測量 狹縫物理衰減機(jī)制允許單次通過狹縫區(qū)域光，無需外置衰減片即可安全測量近 10W 高功率激光,。 超分辨率成像 基于狹縫掃描原理實(shí)現(xiàn) 0.1μm 分辨率,，完整捕捉亞微米級光斑細(xì)節(jié)，避免能量分布特征丟失,。 設(shè)備內(nèi)置正交狹縫轉(zhuǎn)動(dòng)輪,，通過旋轉(zhuǎn)掃描同步采集 XY 軸功率數(shù)據(jù)，經(jīng)算法處理輸出光束直徑,、橢圓率等 20 + 參數(shù),。緊湊模塊化設(shè)計(jì)適配多場景安裝，通過 CE/FCC 認(rèn)證,，適用于激光加工,、醫(yī)療設(shè)備及科研領(lǐng)域，助力客戶提升光束質(zhì)量檢測精度與效率,。國產(chǎn)光斑分析儀廠家有哪些,？維度光電深耕18年。大靶面光斑分析儀光斑測試

Dimension-Labs 維度光電相機(jī)式與狹縫式光斑分析儀的選擇需基于應(yīng)用場景的光斑尺寸,、功率等級,、脈沖特性及形態(tài)復(fù)雜度。相機(jī)式基于面陣傳感器成像,，可測大10mm 光斑（受限于 sensor 尺寸）,，小光斑為 55μm（10 倍 5.5μm 像元），結(jié)合 6 片衰減片（BeamHere 標(biāo)配）實(shí)現(xiàn) 1W 功率測量,，適合大光斑,、脈沖激光（觸發(fā)模式同步捕獲單脈沖）及非高斯光束（如貝塞爾光束）檢測，通過面陣實(shí)時(shí)反饋保留復(fù)雜形態(tài)細(xì)節(jié),。狹縫式采用正交狹縫掃描,，刀口模式可測小 2.5μm 光斑，創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制允許直接測量近 10W 高功率激光,，適合亞微米光斑,、高功率及高斯光斑檢測，但需嚴(yán)格匹配掃描頻率與激光重頻以避免脈沖丟失,，且復(fù)雜光斑會(huì)因狹縫累加導(dǎo)致能量分布失真,。維度光電 BeamHere 系列提供雙技術(shù)方案，用戶可根據(jù)光斑尺寸（亞微米選狹縫,，大光斑選相機(jī)）,、功率等級（高功率選狹縫,，微瓦級選相機(jī)）及光斑類型（復(fù)雜形態(tài)選相機(jī)，高斯光斑選狹縫）靈活選擇,，實(shí)現(xiàn)光斑檢測全場景覆蓋,。準(zhǔn)直器生產(chǎn)光斑分析儀費(fèi)用是多少光斑分析儀多少錢？維度光電廠家直供,，型號齊全,，價(jià)格從 1.8 萬至 18 萬覆蓋全需求。

維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價(jià)比光束質(zhì)量檢測解決方案,，涵蓋掃描狹縫式,、相機(jī)式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線： 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù)，支持 190-2700nm 寬光譜范圍,，可測量 2.5μm-10mm 光束直徑,，0.1μm 超高分辨率實(shí)現(xiàn)亞微米級光斑細(xì)節(jié)捕捉。創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,，適用于激光加工等高能量場景,。 相機(jī)式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段，支持 2D/3D 實(shí)時(shí)成像與動(dòng)態(tài)分析,，可測量非高斯光束（如平頂,、貝塞爾光束）。獨(dú)特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)功率范圍擴(kuò)展,，可拆卸結(jié)構(gòu)支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品,，通過 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法測量光束傳播參數(shù)（M2 因子,、發(fā)散角、束腰位置等）,，結(jié)合 BeamHere 軟件實(shí)現(xiàn)一鍵生成報(bào)告,、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計(jì)滿足光通信,、醫(yī)療,、工業(yè)等領(lǐng)域的光斑檢測需求，兼顧實(shí)驗(yàn)室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景,。

如何使用光斑分析儀 Step 1 準(zhǔn)備設(shè)備 將 BeamHere 光斑分析儀固定在光具座上,，調(diào)整高度使激光束中心與 sensor 靶面重合。用 Type-C 線連接分析儀與電腦,，打開 BeamHere 軟件等待設(shè)備識別,。 Step 2 采集數(shù)據(jù) 開啟激光器預(yù)熱 10 分鐘，點(diǎn)擊軟件 "開始采集" 按鈕,。實(shí)時(shí)觀察 2D 成像界面,，確保光斑無過曝或欠曝,，可通過轉(zhuǎn)輪調(diào)節(jié)衰減片至合適狀態(tài)。 Step 3 分析參數(shù) 在 "高級分析" 模塊勾選所需參數(shù),，軟件自動(dòng)計(jì)算光斑尺寸（±0.5μm 精度）,、能量均勻性（CV 值）及光束質(zhì)量因子。3D 視圖支持手勢縮放,，便于觀察高階橫模分布,。 Step 4 驗(yàn)證結(jié)果 切換至 "歷史記錄" 對比多次測量數(shù)據(jù)，使用 "統(tǒng)計(jì)分析" 功能生成標(biāo)準(zhǔn)差曲線,。若發(fā)現(xiàn)異常,，可調(diào)用 "單點(diǎn)測量" 工具檢查特定位置能量值。 Step 5 導(dǎo)出報(bào)告 在 "報(bào)告模板" 中選擇 "科研版" 或 "工業(yè)版",，自動(dòng)生成帶水印的 PDF 報(bào)告,，包含光斑圖像、參數(shù)表格,、趨勢圖表及 QC 判定結(jié)果,。復(fù)雜或高階橫模的光斑測試系統(tǒng)怎么搭建？

Dimension-Labs 光斑分析儀系列采用差異化設(shè)計(jì)：掃描狹縫式側(cè)重高功率場景（千萬級功率）,，通過物理衰減機(jī)制實(shí)現(xiàn)安全測量,，衰減級數(shù)達(dá) 10?:1，無需外置衰減片,；相機(jī)式則主打?qū)捁庾V（200-2600nm）與實(shí)時(shí)成像功能,，支持 100fps 高速連拍。相較于傳統(tǒng)設(shè)備,，其 0.1μm 分辨率提升 10 倍以上,，可解析直徑小于 5μm 的亞微米級光斑；M2 測試模塊支持光束傳播特性動(dòng)態(tài)分析,，通過滑軌式掃描獲取 100 + 測量點(diǎn)數(shù)據(jù),。軟件集成 AI 算法，可自動(dòng)識別光斑模式,，率達(dá) 99.7%,，將人工分析效率提升 90%，單組數(shù)據(jù)處理時(shí)間從 20 分鐘縮短至 2 分鐘,。相機(jī)式光斑分析儀都有哪些廠家,？激光發(fā)散角光斑分析儀優(yōu)勢

掃描和狹縫光斑分析儀怎么選？大靶面光斑分析儀光斑測試

在激光應(yīng)用領(lǐng)域,，高功率光束檢測一直是個(gè)難題,。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏，在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會(huì)飽和,，常規(guī)激光器功率遠(yuǎn)超此強(qiáng)度,，不衰減光束不僅無法測量光斑信息,，還可能損壞設(shè)備。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng),。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機(jī)制,，可直接測量近 10W 的高功率激光，無需額外衰減片,。在此基礎(chǔ)上,，還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件，可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng),。與合適衰減片搭配,，可測功率超 1000W。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1,，45° 傾斜設(shè)計(jì),，取樣率 4% - 5%，有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結(jié)構(gòu),，能測量任意角度入射激光,；雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2，內(nèi)部緊湊安裝兩片取樣透鏡,，取樣率 0.16% - 0.25%,，可應(yīng)對 400W 功率光束，多面體結(jié)構(gòu)有多個(gè)支撐安裝孔位,。組合安裝配件可進(jìn)一步衰減更高功率激光,，大衰減程度達(dá) 10??。而且其緊湊結(jié)構(gòu)的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求,，單次取樣 68mm,，雙次取樣 53mm，為各類激光應(yīng)用場景的檢測提供了方案,。大靶面光斑分析儀光斑測試