Dimension-Labs 針對(duì)高功率激光檢測(cè)難題推出 BeamHere 大功率光束取樣系統(tǒng),，突破傳統(tǒng)面陣傳感器在 10μW/cm2 飽和閾值的限制,，通過(guò)創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制實(shí)現(xiàn) 10W 級(jí)激光直接測(cè)量，配合可疊加的單次（DL-LBA-1）與雙次（DL-LBA-2）取樣配件形成多級(jí)衰減方案,，衰減達(dá) 10??，可測(cè)功率超 1000W,。該系統(tǒng)采用 45° 傾斜設(shè)計(jì)的單次取樣配件支持 4%-5% 取樣率,，雙次配件內(nèi)置雙片透鏡實(shí)現(xiàn) 0.16%-0.25% 取樣率，均配備 C 口通用接口和鎖緊環(huán)結(jié)構(gòu),，支持任意角度入射光束檢測(cè),。其優(yōu)化設(shè)計(jì)的 68mm（單次）和 53mm（雙次）取樣光程確保聚焦光斑完整投射至傳感器，解決傳統(tǒng)外搭光路光程不足問(wèn)題,，緊湊結(jié)構(gòu)減少 70% 空間占用,。系統(tǒng)覆蓋 190-2500nm 寬光譜范圍，通過(guò) CE/FCC 認(rèn)證，可在 - 40℃至 85℃環(huán)境穩(wěn)定工作,，已成功應(yīng)用于工業(yè)激光加工（熱影響區(qū)≤30μm）,、科研超快激光（皮秒脈沖分析）及醫(yī)療設(shè)備校準(zhǔn)（能量均勻性誤差＜2%），幫助客戶提升 3 倍檢測(cè)效率并降** 30% 檢測(cè)成本,。發(fā)散較大,，怎么測(cè)量光束質(zhì)量？光斑分析儀測(cè)量

Dimension-Labs 推出 Beamhere 光束質(zhì)量分析系統(tǒng),，針對(duì)激光加工,、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域的光束質(zhì)量評(píng)估需求。該系列產(chǎn)品通過(guò)多維度檢測(cè)模塊,，可對(duì)光束能量分布進(jìn)行實(shí)時(shí)可視化分析,，同步獲取發(fā)散角、M2 因子等參數(shù),。支持光束整形效果驗(yàn)證,、聚焦光斑優(yōu)化及準(zhǔn)直系統(tǒng)校準(zhǔn)三大典型應(yīng)用場(chǎng)景，所有測(cè)試結(jié)果均符合 ISO11146 標(biāo)準(zhǔn),?？蛇x配的 M2 測(cè)試模塊可實(shí)現(xiàn)光束傳播特性的全程分析，終由軟件自動(dòng)生成量化評(píng)估報(bào)告,。 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)： 滿足測(cè)試需求的全系列產(chǎn)品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測(cè)試模塊 精心設(shè)計(jì)的分析軟件 軟件真正做到交互友好,，簡(jiǎn)單易用，一鍵輸出測(cè)試報(bào)告,。激光加工光斑分析儀價(jià)格多少光斑分析儀國(guó)產(chǎn)替代都有哪些廠家,？

如何使用光斑分析儀 Step 1 準(zhǔn)備設(shè)備 將 BeamHere 光斑分析儀固定在光具座上，調(diào)整高度使激光束中心與 sensor 靶面重合,。用 Type-C 線連接分析儀與電腦,，打開(kāi) BeamHere 軟件等待設(shè)備識(shí)別。 Step 2 采集數(shù)據(jù) 開(kāi)啟激光器預(yù)熱 10 分鐘,，點(diǎn)擊軟件 "開(kāi)始采集" 按鈕,。實(shí)時(shí)觀察 2D 成像界面，確保光斑無(wú)過(guò)曝或欠曝,，可通過(guò)轉(zhuǎn)輪調(diào)節(jié)衰減片至合適狀態(tài),。 Step 3 分析參數(shù) 在 "高級(jí)分析" 模塊勾選所需參數(shù)，軟件自動(dòng)計(jì)算光斑尺寸（±0.5μm 精度）,、能量均勻性（CV 值）及光束質(zhì)量因子,。3D 視圖支持手勢(shì)縮放，便于觀察高階橫模分布,。 Step 4 驗(yàn)證結(jié)果 切換至 "歷史記錄" 對(duì)比多次測(cè)量數(shù)據(jù),，使用 "統(tǒng)計(jì)分析" 功能生成標(biāo)準(zhǔn)差曲線。若發(fā)現(xiàn)異常，可調(diào)用 "單點(diǎn)測(cè)量" 工具檢查特定位置能量值,。 Step 5 導(dǎo)出報(bào)告 在 "報(bào)告模板" 中選擇 "科研版" 或 "工業(yè)版",，自動(dòng)生成帶水印的 PDF 報(bào)告，包含光斑圖像,、參數(shù)表格,、趨勢(shì)圖表及 QC 判定結(jié)果。

Dimension-Labs 維度光電相機(jī)式光斑分析儀系列覆蓋 400-1700nm 寬光譜范圍,，實(shí)現(xiàn)可見(jiàn)光與近紅外波段光斑的實(shí)時(shí)檢測(cè),。其優(yōu)勢(shì)包括： 動(dòng)態(tài)分析能力 支持 2D 光斑實(shí)時(shí)成像與 3D 功率分布動(dòng)態(tài)顯示，高幀率（100fps）連續(xù)測(cè)量模式可捕捉光斑瞬態(tài)變化,，3D 視圖支持任意角度旋轉(zhuǎn)分析,，為光學(xué)系統(tǒng)調(diào)試提供直觀數(shù)據(jù)支持。 復(fù)雜光斑適應(yīng)性 基于面陣傳感器技術(shù),，可測(cè)量非高斯光束（如平頂,、貝塞爾光束）及含高階橫模的復(fù)雜光斑，突破傳統(tǒng)掃描式設(shè)備的局限性,。 功率調(diào)節(jié) 標(biāo)配 6 片不同衰減率的濾光片（0.1%-100%）,，通過(guò)轉(zhuǎn)輪結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)一鍵切換，可測(cè)功率達(dá) 10W/cm2,，滿足從弱光器件到高功率激光的全量程需求,。 科研級(jí)擴(kuò)展性 采用模塊化設(shè)計(jì)，相機(jī)與濾光片轉(zhuǎn)輪可分離使用,。拆卸后的相機(jī)兼容通用驅(qū)動(dòng)軟件,，支持科研成像、光譜分析等擴(kuò)展應(yīng)用,，實(shí)現(xiàn)工業(yè)檢測(cè)與實(shí)驗(yàn)室的一機(jī)多用,。掃描狹縫光斑分析儀有國(guó)產(chǎn)的嗎？

維度光電作為全球激光測(cè)量領(lǐng)域解決商,，致力于打造 "三橫三縱" 產(chǎn)品矩陣： 橫向覆蓋： 光譜范圍：190-2700nm 全波段 光斑尺寸：0.1μm-10mm 全尺寸 功率等級(jí)：1μW-10W 全功率 縱向深度： 工業(yè)級(jí)：支持產(chǎn)線在線監(jiān)測(cè)與自動(dòng)化對(duì)接 醫(yī)療級(jí)：符合 ISO 13485 認(rèn)證,，保障臨床精度 科研級(jí)：開(kāi)放 API 接口支持自定義算法 差異化優(yōu)勢(shì)： 同時(shí)提供雙技術(shù)方案的廠商（狹縫式 + 相機(jī)式） AI 算法庫(kù)支持光束質(zhì)量預(yù)測(cè)性維護(hù) 模塊化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)設(shè)備功能動(dòng)態(tài)擴(kuò)展 適合各類(lèi)激光應(yīng)用中激光光束質(zhì)量測(cè)量與分析。如何利用光斑分析儀和 M2 因子測(cè)量模塊評(píng)估激光光束的質(zhì)量,？大功率光斑分析儀制造商

無(wú)干涉條紋的光斑質(zhì)量分析儀,。光斑分析儀測(cè)量

選擇適合特定應(yīng)用的 BeamHere 光斑分析儀需綜合考量光束特性、應(yīng)用場(chǎng)景及功能需求： 1. 光束特性分析 光斑尺寸：亞微米級(jí)光斑（如半導(dǎo)體加工）優(yōu)先選擇狹縫式（支持 2.5μm 精度）,，毫米級(jí)光斑（如激光焊接）推薦相機(jī)式（覆蓋 10mm 量程）。 功率等級(jí)：高功率激光（如工業(yè)切割）應(yīng)選狹縫式（直接測(cè)量近 10W）,，微瓦級(jí)弱光（如科研實(shí)驗(yàn)）可采用相機(jī)式（通過(guò) 6 片衰減片適配）,。 光束形態(tài)：高斯或規(guī)則光斑兩者均可（狹縫式更經(jīng)濟(jì)），非高斯光束（如貝塞爾光束）需相機(jī)式保留細(xì)節(jié)。 脈沖特性：?jiǎn)蚊}沖分析選相機(jī)式（觸發(fā)同步）,，連續(xù)或高頻脈沖適配狹縫式（需匹配掃描頻率）,。 2. 應(yīng)用場(chǎng)景適配 工業(yè)制造：高功率加工（>1W）選狹縫式，動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)與大光斑校準(zhǔn)選相機(jī)式,，組合方案可覆蓋全流程需求,。 醫(yī)療設(shè)備：眼科準(zhǔn)分子激光需相機(jī)式實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)能量分布，脈沖激光適配觸發(fā)模式,，確保手術(shù)精度,。 ：超短脈沖測(cè)量、復(fù)雜光束分析（如 M2 因子）依賴(lài)相機(jī)式,，材料加工優(yōu)化可結(jié)合狹縫式高精度掃描,。 光通信：光纖端面檢測(cè)選相機(jī)式分析光斑形態(tài)，激光器表征適配狹縫式高靈敏度測(cè)量,。光斑分析儀測(cè)量