1,、激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理,，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度,，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備,。2、X射線(xiàn)測(cè)厚儀利用X射線(xiàn)穿透被測(cè)材料時(shí),，X射線(xiàn)的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,，滄州歐譜從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器,。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為**,，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工,、冶金行業(yè)的板帶加工,。3、紙張測(cè)厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜,、紙張,、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。4,、薄膜測(cè)厚儀:用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度,，測(cè)量范圍寬,、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出,、任意位置置零,、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn),。5,、涂層測(cè)厚儀:用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.6、超聲波測(cè)厚儀:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度,。F50-EXR測(cè)厚范圍：20nm-250μm,；波長(zhǎng)：380-1700nm。導(dǎo)電膜膜厚儀聯(lián)系電話(huà)
F50 和 F60 的晶圓平臺(tái)提供不同尺寸晶圓平臺(tái),。
F50晶圓平臺(tái)- 100mm用于 2",、3" 和 4" 晶圓的 F50 平臺(tái)組件。
F50晶圓平臺(tái)- 200mm用于 4",、5",、 6" 和 200mm 晶圓的 F50 平臺(tái)組件。
F50晶圓平臺(tái)- 300mm用于 4",、5",、6"、200mm 和 300mm 晶圓的 F50 平臺(tái)組件,。
F50晶圓平臺(tái)- 450mmF50 夾盤(pán)組件實(shí)用于 4", 5", 6", 200mm, 300mm, 以及450mm毫米晶片,。
F50晶圓平臺(tái)- 訂制預(yù)訂 F50 的晶圓平臺(tái)，通常在四星期內(nèi)交貨,。
F60晶圓平臺(tái)- 200mm用于 4",、5",、6" 和 200mm 晶圓的 F60 平臺(tái)組件。
F60晶圓平臺(tái)- 300mm用于 4",、5",、6"、200mm 和 300mm 晶圓的 F60 平臺(tái)組件,。 晶片膜厚儀售后服務(wù)測(cè)量厚度: 15 — 780 μm (單探頭) ,； 3 mm (雙探頭總厚度測(cè)量)。
F20系列是世界上****的臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),，只需按下一個(gè)按鈕,，不到一秒鐘即可同時(shí)測(cè)量厚度和折射率。設(shè)置也非常簡(jiǎn)單,只需把設(shè)備連接到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)USB端口,并連接樣品平臺(tái)就可以了,。F20系列不同型號(hào)的選擇,，主要取決于您需要測(cè)量的薄膜厚度（確定所需的波長(zhǎng)范圍）。型號(hào)厚度范圍*波長(zhǎng)范圍F2015nm-70μm380-1050nmF20-EXR15nm-250μm380-1700nmF20-NIR100nm-250μm950-1700nmF20-UV1nm-40μm190-1100nmF20-UVX1nm-250μm190-1700nmF20-XTμm-450μm1440-1690nm*取決于薄膜種類(lèi)Filmetrics膜厚測(cè)試儀通過(guò)分析薄膜的反射光譜來(lái)測(cè)量薄膜的厚度,，通過(guò)非可見(jiàn)光的測(cè)量,，可以測(cè)量薄至1nm或厚至13mm的薄膜。測(cè)量結(jié)果可在幾秒鐘顯示：薄膜厚度,、顏色,、折射率甚至是表面粗糙度。1.有五種不同波長(zhǎng)選擇(波長(zhǎng)范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)2.比較大樣品薄膜厚度的測(cè)量范圍是：3nm～25um3.精度高于,、氧化物,、氮化物；,、Polyimides,；3.光電鍍膜應(yīng)用:硬化膜、抗反射膜,、濾波片,。1.光源有壽命，不用時(shí)請(qǐng)關(guān)閉2.光纖易損,，不要彎折,，不要頻繁插拔3.精密儀器。
電介質(zhì)成千上萬(wàn)的電解質(zhì)薄膜被用于光學(xué),，半導(dǎo)體,，以及其它數(shù)十個(gè)行業(yè), 而Filmetrics的儀器幾乎可以測(cè)量所有的薄膜。常見(jiàn)的電介質(zhì)有:二氧化硅 – **簡(jiǎn)單的材料之一, 主要是因?yàn)樗诖蟛糠止庾V上的無(wú)吸收性 (k=0),， 而且非常接近化學(xué)計(jì)量 (就是說(shuō),，硅：氧非常接近 1:2)。 受熱生長(zhǎng)的二氧化硅對(duì)光譜反應(yīng)規(guī)范,，通常被用來(lái)做厚度和折射率標(biāo)準(zhǔn),。 Filmetrics能測(cè)量3nm到1mm的二氧化硅厚度,。氮化硅 – 對(duì)此薄膜的測(cè)量比很多電介質(zhì)困難，因?yàn)楣瑁旱嚷释ǔ２皇?：4, 而且折射率一般要與薄膜厚度同時(shí)測(cè)量,。 更麻煩的是,，氧常常滲入薄膜，生成一定程度的氮氧化硅,，增大測(cè)量難度,。 但是幸運(yùn)的是，我們的系統(tǒng)能在幾秒鐘內(nèi) “一鍵” 測(cè)量氮化硅薄膜完整特征!測(cè)量方式: 紅外干涉(非接觸式),。
FSM 8018 VITE測(cè)試系列設(shè)備
VITE技術(shù)介紹：
VITE是傅里葉頻域技術(shù),，利用近紅外光源的相位剪切技術(shù)（Phase shear technology）
設(shè)備介紹
適用于所有可讓近紅外線(xiàn)通過(guò)的材料：硅、藍(lán)寶石,、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃、石 英,、聚合物…………
應(yīng)用:
襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)
平整度
厚度變化 (TTV)
溝槽深度
過(guò)孔尺寸,、深度,、側(cè)壁角度
粗糙度
薄膜厚度
不同半導(dǎo)體材料的厚度
環(huán)氧樹(shù)脂厚度
襯底翹曲度
晶圓凸點(diǎn)高度(bump height)
MEMS 薄膜測(cè)量
TSV 深度、側(cè)壁角度...
厚度范圍: 測(cè)量從 1nm 到 13mm 的厚度,。 測(cè)量 70nm 到 10um 薄膜的折射率,。Filmetrics F20膜厚儀**
測(cè)量SU-8 其它厚光刻膠的厚度有特別重要的應(yīng)用。導(dǎo)電膜膜厚儀聯(lián)系電話(huà)
F10-ARc:
走在前端 以較低的價(jià)格現(xiàn)在可以很容易地測(cè)量曲面樣品,，包括眼鏡和其他光學(xué)鏡片的防反射涂層, *需其他設(shè)備一小部分的的價(jià)格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測(cè)量. 您也可選擇升級(jí)薄膜厚度測(cè)量軟件, 操作上并不需要嚴(yán)格的訓(xùn)練, 您甚至可以直覺(jué)的藉由設(shè)定任何波長(zhǎng)范圍之比較大, **小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標(biāo)準(zhǔn).
容易設(shè)定. 易於維護(hù).只需將F10-ARc插上到您計(jì)算機(jī)的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc 幾乎不存在停機(jī)時(shí)間, 加上40,000小時(shí)壽命的光源和自動(dòng)板上波長(zhǎng)校準(zhǔn),，你不需擔(dān)心維護(hù)問(wèn)題。 導(dǎo)電膜膜厚儀聯(lián)系電話(huà)
岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司專(zhuān)注技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品研發(fā),，發(fā)展規(guī)模團(tuán)隊(duì)不斷壯大,。公司目前擁有較多的高技術(shù)人才，以不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力,，加快企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新,，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)健生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)。誠(chéng)實(shí),、守信是對(duì)企業(yè)的經(jīng)營(yíng)要求,，也是我們做人的基本準(zhǔn)則。公司致力于打造***的磁記錄,，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn),，測(cè)試儀器的批發(fā)。公司深耕磁記錄,，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn)，測(cè)試儀器的批發(fā),，正積蓄著更大的能量,，向更廣闊的空間、更寬泛的領(lǐng)域拓展,。