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超納輪廓儀美元報價

來源: 發(fā)布時間:2020-02-02

1)白光輪廓儀的典型應(yīng)用:

對各種產(chǎn)品,,不見和材料表面的平面度,粗糙度,,波溫度,,面型輪廓,表面缺 陷,,磨損情況,,腐蝕情況,,孔隙間隙,臺階高度,,完全變形情況,,加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。  

2)共聚焦顯微鏡方法 

共聚焦顯微鏡包括LED光源,、旋轉(zhuǎn)多***盤,、帶有壓電驅(qū)動器的物鏡和CCD相機。LED光源通過多***盤(MPD)和物鏡聚焦到樣品表面上,,從而反射光,。反射光通過MPD的***減小到聚焦的部分落在CCD相機上。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的圖像包含清晰和模糊的細節(jié),,但是在共焦圖像中,,通過多***盤的操作濾除模糊細節(jié)(未聚焦),只有來自聚焦平面的光到達CCD相機,。因此,,共聚焦顯微鏡能夠在納米范圍內(nèi)獲得高 分辨率。 每個共焦圖像是通過樣品的形貌的水平切片,,在不同的焦點高度捕獲圖像產(chǎn)生這樣的圖像的堆疊,,共焦顯微鏡通過壓電驅(qū)動器和物鏡的精確垂直位移來實現(xiàn)。200到400個共焦圖像通常在幾秒內(nèi)被捕獲,,之后軟件從共焦圖像的堆棧重建精確的三維高度圖像,。





儀器運用高性能內(nèi)部抗震設(shè)計,不受外部環(huán)境影響測量的準確性,。超納輪廓儀美元報價

我們的輪廓儀有什么優(yōu)勢呢

世界先進水平的產(chǎn)品技術(shù)

合理的產(chǎn)品價格

24小時到現(xiàn)場的本地化售后服務(wù)

無償產(chǎn)品技術(shù)培訓(xùn)和應(yīng)用技術(shù)支持

個性化的應(yīng)用軟件服務(wù)支持

合理的保質(zhì)期后產(chǎn)品服務(wù)

更佳的產(chǎn)品性價比和更優(yōu)解決方案


非接觸式輪廓儀(光學(xué)輪廓儀)是以白光干涉為原理制成的一款高精度微觀形貌測量儀器,,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,,從納米到微米級別工件的粗糙度,、平整度、微觀幾何輪廓,、曲率等,。(本段來自網(wǎng)絡(luò)) 湖北輪廓儀技術(shù)原理白光干涉系統(tǒng)基于無限遠顯微鏡系統(tǒng),通過干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,,使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮鎯x.

輪廓儀是一種兩坐標測量儀器,,儀器傳感器相對被測工件表而作勻速滑行,傳感器的觸針感受到被測表而的幾何變化,,在X和Z方向分別采樣,,并轉(zhuǎn)換成電信號,該電信號經(jīng)放大和處理,再轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號儲存在計算機系統(tǒng)的存儲器中,,計算機對原始表而輪廓進行數(shù)字濾波,,分離掉表而粗糙度成分后再進行計算,測量結(jié)果為計算出的符介某種曲線的實際值及其離基準點的坐標,,或放大的實際輪廓曲線,,測量結(jié)果通過顯示器輸出,也可由打印機輸出,。(來自網(wǎng)絡(luò))



輪廓儀在集成電路的應(yīng)用:

封**ump測量  

視場:72*96(um)物鏡:干涉50X 檢測位置:樣品局部

面減薄表面粗糙度分析

封裝:300mm硅片背面減薄表面粗糙度分析  面粗糙度分析:2D, 3D顯示,;線粗糙度分析:Ra, Ry,Rz,,…

器件多層結(jié)構(gòu)臺階高  MEMS 器件多層結(jié)構(gòu)分析,、工藝控制參數(shù)分析

激光隱形切割工藝控制  世界***的能夠?qū)崿F(xiàn)激光槽寬度、深度自動識別和數(shù)據(jù)自動生成,,**地縮

短了激光槽工藝在線檢測的時間,,避免人工操作帶來的一致性,可靠性問題


輪廓儀產(chǎn)品應(yīng)用

藍寶石拋光工藝表面粗糙度分析(粗拋與精拋比較)

高精密材料表面缺 陷超精密表面缺 陷分析,,核探測


Oled 特征結(jié)構(gòu)測量,表面粗糙度  

外延片表面缺 陷檢測

硅片外延表面缺 陷檢測

散熱材料表面粗糙度分析(粗糙度控制)


生物,、醫(yī)藥新技術(shù),,微流控器件

微結(jié)構(gòu)均勻性 缺 陷,表面粗糙度


移相算法的優(yōu)化和軟件系統(tǒng)的開發(fā) 本作品采用重疊平均移相干涉算法,,保證了亞納米量級的測量精度,;優(yōu)化軟件控制系統(tǒng),使每次檢測時間壓縮到10秒鐘以內(nèi),,同時完善的數(shù)據(jù)評價系統(tǒng)為用戶評價產(chǎn)品面形質(zhì)量提供了方便,。 共聚焦顯微鏡能夠在納米范圍內(nèi)獲得高 分辨率。

表面三維微觀形貌測量的意義

 在生產(chǎn)中,,表面三維微觀形貌對工程零件的許多技術(shù)性能的評家具有**直接的影響,,而且表面三維評定參數(shù)由于能更***,更真實的反應(yīng)零件表面的特征及衡量表面的質(zhì)量而越來越受到重視,,因此表面三維微觀形貌的測量就越顯重要,。通過兌三維形貌的測量可以比較***的評定表面質(zhì)量的優(yōu)劣,進而確認加工方法的好壞以及設(shè)計要求的合理性,,這樣就可以反過來通過知道加工,,優(yōu)化加工工藝以及加工出高質(zhì)量的表面,確保零件使用功能的實現(xiàn),。

 表面三位微觀形貌的此類昂方法非常豐富,,通常可分為接觸時和非接觸時兩種,其中以非接觸式測量方法為主,。


測量模式:移相干涉(PSI),,白光垂直掃描干涉(VSI),單色光垂直掃描干涉(CSI),。二維輪廓儀國內(nèi)代理

傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的圖像包含清晰和模糊的細節(jié).超納輪廓儀美元報價

輪廓儀在集成電路的應(yīng)用

封**ump測量  

視場:72*96(um)物鏡:干涉50X 檢測位置:樣品局部

面減薄表面粗糙度分析

封裝:300mm硅片背面減薄表面粗糙度分析  面粗糙度分析:2D, 3D顯示,;線粗糙度分析:Ra, Ry,Rz,,…

器件多層結(jié)構(gòu)臺階高  MEMS 器件多層結(jié)構(gòu)分析,、工藝控制參數(shù)分析

激光隱形切割工藝控制  世界***的能夠?qū)崿F(xiàn)激光槽寬度、深度自動識別和數(shù)據(jù)自動生成,,**地縮

短了激光槽工藝在線檢測的時間,,避免人工操作帶來的一致性,可靠性問題


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