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盒厚測量膜厚儀學(xué)校會用嗎

來源: 發(fā)布時間:2020-04-30

FSM 413SP

AND FSM 413C2C 紅外干涉測量設(shè)備

適用于所有可讓紅外線通過的材料:硅、藍寶石,、砷化鎵,、磷化銦,、碳化硅、玻璃、石  英、聚合物…………


應(yīng)用:

   襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)

   平整度

   厚度變化 (TTV)

   溝槽深度

   過孔尺寸,、深度,、側(cè)壁角度

   粗糙度

薄膜厚度

不同半導(dǎo)體材料的厚度

   環(huán)氧樹脂厚度

   襯底翹曲度

   晶圓凸點高度(bump height)

MEMS 薄膜測量

TSV 深度、側(cè)壁角度...

FSM413SP半自動機臺人工取放芯片

Wafer 厚度3D圖形

FSM413C2C Fully

automatic 全自動機臺人工取放芯片

可適配Cassette,、SMIF POD,、FOUP.

可見光可測試的深度,良好的厚樣以及多層樣品的局部應(yīng)力,。盒厚測量膜厚儀學(xué)校會用嗎

不管您參與對顯示器的基礎(chǔ)研究還是制造,,F(xiàn)ilmetrics 都能夠提供您所需要的...測量液晶層- 聚酰亞胺、硬涂層,、液晶、間隙測量有機發(fā)光二極管層- 發(fā)光,、電注入,、緩沖墊、封裝對于空白樣品,,我們建議使用 F20 系列儀器,。 對于圖案片,F(xiàn)ilmetrics的F40用于測量薄膜厚度已經(jīng)找到了顯示器應(yīng)用***使用,。

測量范例此案例中,,我們成功地測量了藍寶石和硼硅玻璃基底上銦錫氧化物薄膜厚度。與Filmetrics專有的ITO擴散模型結(jié)合的F10-RTA-EXR儀器,,可以很容易地在380納米到1700納米內(nèi)同時測量透射率和反射率以確定厚度,,折射率,消光系數(shù),。由于ITO薄膜在各種基底上不同尋常的的擴散,,這個擴展的波長范圍是必要的,。 膜厚儀膜厚儀應(yīng)用F20-XT膜厚范圍:0.2μm - 450μm;波長:1440-1690nm,。

    氚燈電腦要求60mb硬盤空間50mb空閑內(nèi)存usb接口電源要求100-240vac,50-60hz,a選配以下鏡頭,,就可在F20的基礎(chǔ)上升級為新一代的F70膜厚測量儀。鏡頭配件厚度范圍(Index=)精度光斑大小UPG-F70-SR-KIT15nm-50μmnm標配mm(可選配下至20μm)LA-CTM-VIS-1mm50μmmμm5μm150μmmμm10μm產(chǎn)品應(yīng)用,,在可測樣品基底上有了極大的飛躍:●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量,,即使是藥片,木材或紙張等粗糙的非透明基底,?!癫AЩ蛩芰系陌宀摹⒐艿篮腿萜??!窆鈱W(xué)鏡頭和眼科鏡片。Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右,。

Filmetrics 的技術(shù)Filmetrics 提供了范圍***的測量生物醫(yī)療涂層的方案:支架: 支架上很小的涂層區(qū)域通常需要顯微鏡類的儀器,。 我們的 F40 在幾十個實驗室內(nèi)得到使用,測量鈍化和/或藥 物輸送涂層,。我們有獨特的測量系統(tǒng)對整個支架表面的自動厚度測繪,,只需在測量時旋轉(zhuǎn)支架。植入件: 在測量植入器件的涂層時,,不規(guī)則的表面形狀通常是***挑戰(zhàn),。 Filmetrics 提供這一用途的全系列探頭。導(dǎo)絲和導(dǎo)引針: 和支架一樣,,這些器械常??梢杂孟?F40 這樣的顯微鏡儀器。導(dǎo)液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可見光譜不透明性決定了 F20-NIR 是這一用途方面全世界眾多實驗室內(nèi)很受歡迎的儀器,。F50-s980測厚范圍:4μm-1mm,;波長:960-1000nm。

F3-sX 系列:

F3-sX 系列能測量半導(dǎo)體與介電層薄膜厚度到3毫米,而這種較厚的薄膜與較薄的薄膜相比往往粗糙且均勻度較為不佳

波長選配F3-sX系列使用近紅外光來測量薄膜厚度,,即使有許多肉眼看來不透光(例如半導(dǎo)體),。 F3-s980 是波長為980奈米的版本,是為了針對成本敏銳的應(yīng)用而設(shè)計,F3-s1310是針對重摻雜硅片的**jia化設(shè)計,F3-s1550則是為了**厚的薄膜設(shè)計,。附件附件包含自動化測繪平臺,,一個影像鏡頭可看到量測點的位置以及可選配可見光波長的功能使厚度測量能力**薄至15奈米。 厚度變化 (TTV) ,;溝槽深度,;過孔尺寸、深度,、側(cè)壁角度,。臺積電膜厚儀可以免稅嗎

F30樣品層:分子束外延和金屬有機化學(xué)氣相沉積: 可以測量平滑和半透明的,,或輕度吸收的薄膜。盒厚測量膜厚儀學(xué)校會用嗎

硬涂層厚度測量Filmetrics 系統(tǒng)在汽車和航空工業(yè)得到廣泛應(yīng)用,,用于測量硬涂層和其他保護性薄膜的厚度,。F10-HC 是為彎曲表面和多層薄膜 (例如, 底涂/硬涂層) 而專門設(shè)計的,。

汽車前燈在汽車前燈組件的制造中需要進行多點測量,,因為涂層厚度對于品質(zhì)至關(guān)重要。 外側(cè)硬涂層和聚碳酸酯鏡頭內(nèi)側(cè)的防霧層以及反射器上的涂層的厚度都是很重要的,。 這些用途中的每一項是特殊的挑戰(zhàn),,而 Filmetrics 已經(jīng)開發(fā)出軟件、硬件和應(yīng)用知識以便為用戶提供正確的解決方案,。

測量范例帶HC選項的F10-AR收集測量厚度的反射率信息,。這款儀器采用光學(xué)接觸探頭,它的設(shè)計降低了背面反射,。接觸探頭安置在亞克力表明,。FILMeature軟件自動分析收集的光譜信息,給出涂層厚度,。在這個例子中,,亞克力板上還有一層與硬涂層折射率非常近似的底漆。 盒厚測量膜厚儀學(xué)校會用嗎

岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司致力于儀器儀表,,是一家其他型的公司,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)致力于為客戶提供良好的磁記錄,半導(dǎo)體,,光通訊生產(chǎn),,測試儀器的批發(fā),一切以用戶需求為中心,,深受廣大客戶的歡迎,。公司秉持誠信為本的經(jīng)營理念,在儀器儀表深耕多年,,以技術(shù)為先導(dǎo),以自主產(chǎn)品為重點,,發(fā)揮人才優(yōu)勢,,打造儀器儀表良好品牌。岱美儀器技術(shù)服務(wù)憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品,、專業(yè)的服務(wù),、眾多的成功案例積累起來的聲譽和口碑,讓企業(yè)發(fā)展再上新高,。