更可加裝至三個探頭,，同時測量三個樣品,，具紫外線區(qū)或標(biāo)準(zhǔn)波長可供選擇,。F40:這型號安裝在任何顯微鏡外，可提供*小5um光點(diǎn)(100倍放大倍數(shù))來測量微小樣品,。F50:這型號配備全自動XY工作臺,，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過快速掃瞄功能,，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping),。F70:*通過在F20基本平臺上增加鏡頭，使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測量法（CTM）,，把設(shè)備的測量范圍極大的拓展至,。F10-RT：在F20實(shí)現(xiàn)反射率跟穿透率的同時測量，特殊光源設(shè)計(jì)特別適用于透明基底樣品的測量,。PARTS：在垂直入射光源基礎(chǔ)上增加70o光源,，特別適用于超薄膜層厚度和n、k值測量,。**膜厚測量儀系統(tǒng)F20使用F20**分光計(jì)系統(tǒng)可以簡便快速的測量厚度和光學(xué)參數(shù)（n和k）,。您可以在幾秒鐘內(nèi)通過薄膜上下面的反射比的頻譜分析得到厚度、折射率和消光系數(shù),。任何具備基本電腦技術(shù)的人都能在幾分鐘內(nèi)將整個桌面系統(tǒng)組裝起來,。F20包括所有測量需要的部件：分光計(jì)、光源,、光纖導(dǎo)線,、鏡頭**和Windows下運(yùn)行的軟件。您需要的只是接上您的電腦,。膜層實(shí)例幾乎任何光滑,、半透明、低吸收的膜都能測,。包括：sio2（二氧化硅）sinx（氮化硅）dlc（類金剛石碳）photoresist,。采用Michaelson干涉方法，紅外波段的激光能更好的穿透被測物體,，準(zhǔn)確得到測試結(jié)果,。Filmetrics F3-SX膜厚儀現(xiàn)場服務(wù)

自動厚度測量系統(tǒng)幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪。人工加載或機(jī)器人加載均可,。

在線厚度測量系統(tǒng)監(jiān)測控制生產(chǎn)過程中移動薄膜厚度,。高達(dá)100 Hz的采樣率可以在多個測量位置得到。

附件Filmetrics 提供各種附件以滿足您的應(yīng)用需要,。

F20 系列世界上****的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)只需按下一個按鈕,，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。設(shè)置同樣簡單, 只需插上設(shè)備到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)計(jì)算機(jī)的USB端口, 并連接樣品平臺 , F20已在世界各地有成千上萬的應(yīng)用被使用. 事實(shí)上,，我們每天從我們的客戶學(xué)習(xí)更多的應(yīng)用.

選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）

測量復(fù)雜的有機(jī)材料典型的有機(jī)發(fā)光顯示膜包括幾層： 空穴注入層，空穴傳輸層,，以及重組/發(fā)光層,。所有這些層都有不尋常有機(jī)分子（小分子和/或聚合物）。雖然有機(jī)分子高度反常色散,，測量這些物質(zhì)的光譜反射充滿挑戰(zhàn),，但對Filmetrics卻不盡然。我們的材料數(shù)據(jù)庫覆蓋整個OLED的開發(fā)歷史,，能夠處理隨著有機(jī)分子而來的高折射散射和多種紫外光譜特征,。軟基底上的薄膜有機(jī)發(fā)光顯示器具有真正柔性顯示的潛力，要求測量像PET（聚乙烯）塑料這樣有高雙折射的基準(zhǔn),，這對托偏儀測量是個嚴(yán)重的挑戰(zhàn)： 或者模擬額外的復(fù)雜光學(xué),，或者打磨PET背面。 而這些對我們非偏振反射光譜來說都不需要,，極大地節(jié)約了人員培訓(xùn)和測量時間,。操作箱中測量有機(jī)發(fā)光顯示器材料對水和氧極度敏感。 很多科研小組都要求在控制的干燥氮?dú)獠僮飨渲袦y量,。 而我們體積小,，模塊化，光纖設(shè)計(jì)的儀器提供非密封,、實(shí)時“操作箱”測量,。

F54自動化薄膜測繪Filmetrics F54 系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米

可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點(diǎn).*需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方

F54 自動化薄膜測繪只需聯(lián)結(jié)設(shè)備到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)計(jì)算機(jī)的USB端口, 可在幾分鐘輕松設(shè)置

不同的型號主要是由厚度和波長范圍作為區(qū)別。通常較薄的膜需要較短波長作測量(如F54-UV) 用來測量較薄的膜,而較長的波長可以用來測量更厚,，更粗糙,，或更不透明的薄膜 可見光可測試的深度，良好的厚樣以及多層樣品的局部應(yīng)力,。

生物醫(yī)療器械應(yīng)用中的涂層生物醫(yī)療器械的制造和準(zhǔn)備方面會用到許多類型的涂層,。 有些涂層是為了保護(hù)設(shè)備免受腐蝕，而其他的則是為了預(yù)防組 織損傷,、***或者是排異反應(yīng),。 藥 物傳輸涂層也變得日益普通。 其它生物醫(yī)學(xué)器械,，如血管成型球囊,，具有**的隔膜，必須具有均勻和固定的厚度才能正常工作,。

測量范例：支架是塑料或金屬制成的插入血管防止收縮的小管,。很多時候,，這些支架用聚合物或藥 物涂層處理,，以提高功能和耐腐蝕,。F40配上20倍物鏡（25微米光斑），我們能夠測量沿不銹鋼支架外徑這些涂層的厚度,。這個功能強(qiáng)大的儀器提供醫(yī)療器械行業(yè)快速可靠,，非破壞性，無需樣品準(zhǔn)備的厚度測量,。 以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo),，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。美國膜厚儀24小時在線服務(wù)

F3-s980 是波長為980奈米的版本,，是為了針對成本敏銳的應(yīng)用而設(shè)計(jì),。Filmetrics F3-SX膜厚儀現(xiàn)場服務(wù)

參考材料

備用 BK7 和二氧化硅參考材料。

BG-Microscope顯微鏡系統(tǒng)內(nèi)取背景反射的小型抗反光鏡

BG-F10-RT平臺系統(tǒng)內(nèi)獲取背景反射的抗反光鏡

REF-Al-1mmSubstrate基底 - 高反射率鋁基準(zhǔn)

REF-Al-3mmSubstrate基底 - 高反射率鋁基準(zhǔn)

REF-BK71?" x 1?" BK7 反射基準(zhǔn),。

REF-F10RT-FusedSilica-2Side背面未經(jīng)處理的石英,，用于雙界面基準(zhǔn)。

REF-Si-22" 單晶硅晶圓

REF-Si-44" 單晶硅晶圓

REF-Si-66" 單晶硅晶圓

REF-Si-88" 單晶硅晶圓

REF-SS3-Al專為SS-3樣品平臺設(shè)計(jì)之鋁反射率基準(zhǔn)片

REF-SS3-BK7專為SS-3樣品平臺設(shè)計(jì)之BK7玻璃反射率基準(zhǔn)片

REF-SS3-Si專為SS-3樣品平臺設(shè)計(jì)之硅反射率基準(zhǔn)片 Filmetrics F3-SX膜厚儀現(xiàn)場服務(wù)

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司致力于儀器儀表,，是一家其他型的公司,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)致力于為客戶提供良好的磁記錄，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn),，測試儀器的批發(fā)，一切以用戶需求為中心,，深受廣大客戶的歡迎,。公司秉持誠信為本的經(jīng)營理念，在儀器儀表深耕多年,，以技術(shù)為先導(dǎo),，以自主產(chǎn)品為重點(diǎn)，發(fā)揮人才優(yōu)勢,，打造儀器儀表良好品牌,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專業(yè)的服務(wù),、眾多的成功案例積累起來的聲譽(yù)和口碑,，讓企業(yè)發(fā)展再上新高。