硬涂層厚度測量Filmetrics 系統(tǒng)在汽車和航空工業(yè)得到廣泛應(yīng)用,，用于測量硬涂層和其他保護性薄膜的厚度,。F10-HC 是為彎曲表面和多層薄膜 (例如,， 底涂/硬涂層) 而專門設(shè)計的,。

汽車前燈在汽車前燈組件的制造中需要進行多點測量，因為涂層厚度對于品質(zhì)至關(guān)重要,。 外側(cè)硬涂層和聚碳酸酯鏡頭內(nèi)側(cè)的防霧層以及反射器上的涂層的厚度都是很重要的,。 這些用途中的每一項是特殊的挑戰(zhàn)，而 Filmetrics 已經(jīng)開發(fā)出軟件,、硬件和應(yīng)用知識以便為用戶提供正確的解決方案,。

測量范例帶HC選項的F10-AR收集測量厚度的反射率信息。這款儀器采用光學(xué)接觸探頭,，它的設(shè)計降低了背面反射,。接觸探頭安置在亞克力表明。FILMeature軟件自動分析收集的光譜信息,，給出涂層厚度,。在這個例子中，亞克力板上還有一層與硬涂層折射率非常近似的底漆,。 系統(tǒng)測試應(yīng)力的精度小于15mpa (0.03cm-1) ,，全自動的200mm和300mm硅片檢查,，自動檢驗和聚焦的能力。銦錫氧化物膜厚儀推薦產(chǎn)品

    1,、激光測厚儀是利用激光的反射原理,，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器,。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接,，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。2,、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,，X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度,，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器,。它以PLC和工業(yè)計算機為**，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),，達到要求的軋制厚度,。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工,。3,、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張,、紙板以及其他片狀材料厚度的測量,。4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜,、薄片等材料的厚度,，測量范圍寬、測量精度高,，具有數(shù)據(jù)輸出,、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換,、自動斷電等特點,。5、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.6,、超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭,，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度,。山東膜厚儀試用F20-XT膜厚范圍：0.2μm - 450μm；波長：1440-1690nm,。

F54包含的內(nèi)容：

集成光譜儀/光源裝置

MA-Cmount 安裝轉(zhuǎn)接器 

顯微鏡轉(zhuǎn)接器光纖連接線BK7 

參考材料TS-Focus-SiO2-4-10000 

厚度標準 聚焦/厚度標準4", 6" and 200mm 

參考晶圓真空泵備用燈

型號厚度范圍*波長范圍

F54:20nm-40μm 380-850nm

F54-UV:4nm-30μm 190-1100nm

F54-NIR:40nm-100μm 950-1700nm

F54-EXR:20nm-100μm 380-1700nm

F54-UVX:4nm-100μm190-1700nm

*取決于材料與顯微鏡

額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃

濾光片整平光譜響應(yīng),。

ND#0.5 衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度 + ND#0.5 衰減整平濾波器.

ND#1 衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度 + ND#1 衰減整平濾波器.

ND#2 衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度 + ND#2 衰減整平濾波器.

420nm 高通濾波器.420nm 高通濾波器於濾波器架.

515nm 高通濾波器.515nm 高通濾波器於濾波器架.

520nm 高通濾波器 +ND1.520nm 高通濾波器 + ND#1 十倍衰減整平濾波器.

520nm 高通濾波器 + ND#2520nm 高通濾波器 + ND#2 一百倍衰減整平濾波器.

550nm 高通濾波器550nm 高通濾波器於濾波器架. 幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪,。人工加載或機器人加載均可。

測量眼科設(shè)備涂層厚度光譜反射率可用于測量眼鏡片減反射 (AR) 光譜和殘余顏色,，以及硬涂層和疏水層的厚度,。

減反涂層減反涂層用來減少眩光以及無涂層鏡片導(dǎo)致的眼睛疲勞。 減反鏡片的藍綠色彩也吸引了眾多消費者,。 因此,，測量和控制減反涂層及其色彩就變得越來越重要了。

FilmetricsF10-AR是專門為各類眼鏡片設(shè)計的,，配備多種獨特功能用于減反涂層檢測,。硬涂層硬涂層用來增加抗劃痕和抗紫外線的能力。 在鏡片上涂抹硬涂層,，就提供了這種保護,，而減反涂層則是不太柔軟的較硬鍍層。

FilmetricsF10-AR配備了硬涂層測量升級軟件,。 可以測量厚達15微米的一層或兩層硬涂層,。疏水層疏水涂層使減反鏡片具有對水和油排斥的屬性，使它們易于清潔,。 這些涂層都是特別薄的 – 只有一百個原子的數(shù)量級 – 因此需要短波 (紫外線) 光來精確測量,。 測量疏水層厚度的比較好儀器就是配備了UPG-F10-AR-d 和UPG-F10-RT-nk 升級軟件的 F10-AR-UV。鏡片的穿透率測量F10-AR可選購SS-Trans-Curved樣品臺用于測量鏡片的穿透率,。

測量SU-8 其它厚光刻膠的厚度有特別重要的應(yīng)用,。Filmetrics F40膜厚儀技術(shù)服務(wù)

厚度變化 (TTV) ；溝槽深度,；過孔尺寸,、深度、側(cè)壁角度,。銦錫氧化物膜厚儀推薦產(chǎn)品

FSM 413MOT 紅外干涉測量設(shè)備：

適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅,、藍寶石、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃,、石  英、聚合物…………

應(yīng)用:

   襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)

   平整度

   厚度變化 (TTV)

   溝槽深度

   過孔尺寸、深度,、側(cè)壁角度

   粗糙度

薄膜厚度

不同半導(dǎo)體材料的厚度

   環(huán)氧樹脂厚度

   襯底翹曲度

   晶圓凸點高度(bump height)

MEMS 薄膜測量

TSV 深度,、側(cè)壁角度...

如果您想了解更多關(guān)于FSM膜厚儀的技術(shù)問題,，請聯(lián)系我們岱美儀器。 銦錫氧化物膜厚儀推薦產(chǎn)品

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司致力于儀器儀表,，是一家其他型的公司,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)致力于為客戶提供良好的磁記錄，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn),，測試儀器的批發(fā)，一切以用戶需求為中心,，深受廣大客戶的歡迎,。公司秉持誠信為本的經(jīng)營理念，在儀器儀表深耕多年,，以技術(shù)為先導(dǎo),，以自主產(chǎn)品為重點，發(fā)揮人才優(yōu)勢,，打造儀器儀表良好品牌,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專業(yè)的服務(wù),、眾多的成功案例積累起來的聲譽和口碑,，讓企業(yè)發(fā)展再上新高。