F40 系列
包含的內(nèi)容:集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠程數(shù)據(jù)分析)MA-Cmount 安裝轉(zhuǎn)接器 顯微鏡轉(zhuǎn)接器光纖連接線BK7 參考材料TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標準 聚焦/厚度標準BG-Microscope (作為背景基準)
額外的好處:每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應用更超過數(shù)百種應用工程師可立刻提供幫助(周一 - 周五)網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃
如果需要了解更多的信息,,請訪問我們官網(wǎng)或者聯(lián)系我們,。 F30 系列是監(jiān)控薄膜沉積,,**強有力的工具。上海膜厚儀代理價格
更可加裝至三個探頭,,同時測量三個樣品,,具紫外線區(qū)或標準波長可供選擇。F40:這型號安裝在任何顯微鏡外,,可提供*小5um光點(100倍放大倍數(shù))來測量微小樣品,。F50:這型號配備全自動XY工作臺,由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可,。通過快速掃瞄功能,,可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。F70:*通過在F20基本平臺上增加鏡頭,,使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測量法(CTM),,把設備的測量范圍極大的拓展至。F10-RT:在F20實現(xiàn)反射率跟穿透率的同時測量,,特殊光源設計特別適用于透明基底樣品的測量,。PARTS:在垂直入射光源基礎上增加70o光源,特別適用于超薄膜層厚度和n,、k值測量,。**膜厚測量儀系統(tǒng)F20使用F20**分光計系統(tǒng)可以簡便快速的測量厚度和光學參數(shù)(n和k)。您可以在幾秒鐘內(nèi)通過薄膜上下面的反射比的頻譜分析得到厚度,、折射率和消光系數(shù),。任何具備基本電腦技術的人都能在幾分鐘內(nèi)將整個桌面系統(tǒng)組裝起來。F20包括所有測量需要的部件:分光計,、光源,、光纖導線、鏡頭**和Windows下運行的軟件,。您需要的只是接上您的電腦,。膜層實例幾乎任何光滑、半透明,、低吸收的膜都能測,。包括:sio2(二氧化硅)sinx(氮化硅)dlc(類金剛石碳)photoresist。浙江膜厚儀質(zhì)保期多久不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的,。
厚度測量產(chǎn)品:我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應用,。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。
單點厚度測量:
一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng),。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆。
大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。
F20全世界銷量**hao的薄膜測量系統(tǒng),。有各種不同附件和波長覆蓋范圍,。
微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當測量斑點只有1微米(μm)時,需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統(tǒng),。
1,、激光測厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,,是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器,。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設備,。2,、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,,滄州歐譜從而測定材料的厚度,,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為**,,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),,達到要求的軋制厚度。主要應用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工,、冶金行業(yè)的板帶加工,。3、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜,、紙張,、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。4,、薄膜測厚儀:用于測定薄膜,、薄片等材料的厚度,測量范圍寬,、測量精度高,,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零,、公英制轉(zhuǎn)換,、自動斷電等特點。5,、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.6、超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,,當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,,脈沖被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度,。F30測厚范圍:15nm-70μm,;波長:380-1050nm,。
F3-CS:
快速厚度測量可選配FILMeasure厚度測量軟件使厚度測量就像在平臺上放置你的樣品一樣容易, 軟件內(nèi)建所有常見的電介質(zhì)和半導體層(包括C,N和HT型聚對二甲苯)的光學常數(shù)(n和k),厚度結(jié)果會及時的以直覺的測量結(jié)果顯示對于進階使用者,,可以進一步以F3-CS測量折射率, F3-CS可在任何運行Windows XP到 Windows8 64位作業(yè)系統(tǒng)的計算機上運行, USB電纜則提供電源和通信功能.
包含的內(nèi)容:USB供電之光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件內(nèi)置樣品平臺BK7 參考材料四萬小時光源壽命
額外的好處:應用工程師可立刻提供幫助(周一 - 周五)網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng)) 系統(tǒng)測試應力的精度小于15mpa (0.03cm-1) ,,全自動的200mm和300mm硅片檢查,自動檢驗和聚焦的能力,。浙江膜厚儀質(zhì)保期多久
F50-EXR測厚范圍:20nm-250μm,;波長:380-1700nm。上海膜厚儀代理價格
F54包含的內(nèi)容:
集成光譜儀/光源裝置
MA-Cmount 安裝轉(zhuǎn)接器
顯微鏡轉(zhuǎn)接器光纖連接線BK7
參考材料TS-Focus-SiO2-4-10000
厚度標準 聚焦/厚度標準4", 6" and 200mm
參考晶圓真空泵備用燈
型號厚度范圍*波長范圍
F54:20nm-40μm 380-850nm
F54-UV:4nm-30μm 190-1100nm
F54-NIR:40nm-100μm 950-1700nm
F54-EXR:20nm-100μm 380-1700nm
F54-UVX:4nm-100μm190-1700nm
*取決于材料與顯微鏡
額外的好處:每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應用更超過數(shù)百種應用工程師可立刻提供幫助(周一 - 周五)網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃 上海膜厚儀代理價格
岱美儀器技術服務(上海)有限公司位于中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)加太路39號第五層六十五部位,。公司業(yè)務分為磁記錄,,半導體,光通訊生產(chǎn),,測試儀器的批發(fā)等,,目前不斷進行創(chuàng)新和服務改進,為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務,。公司注重以質(zhì)量為中心,,以服務為理念,秉持誠信為本的理念,,打造儀器儀表良好品牌,。岱美儀器技術服務憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專業(yè)的服務,、眾多的成功案例積累起來的聲譽和口碑,,讓企業(yè)發(fā)展再上新高。