AOI自動(dòng)光學(xué)檢測儀及其工作原理AOI視覺檢測設(shè)備功能：(1)AOI的光源由紅,、綠,、藍(lán)三種LED燈組成,，利用色彩的三基色原理來組合成不同的色彩,，結(jié)合光學(xué)原理中的鏡面反射,、漫反射,、斜面反射，將PCB上貼片元件及焊接狀況以圖像的方式顯示出來,。(2)權(quán)值成像數(shù)據(jù)差異分析系統(tǒng)是通過對(duì)一幅圖像柵格化,，分析各個(gè)像素顏色分布的位置坐標(biāo)、成像柵格之間（色彩）過度關(guān)系等成像細(xì)節(jié),，列出若干個(gè)函數(shù)式,，再通過對(duì)相同面積大小的若干幅相似圖片進(jìn)行數(shù)據(jù)提取，并分析計(jì)算,，將計(jì)算結(jié)果按軟件設(shè)定的權(quán)值關(guān)系及初圖像像素色彩,、坐標(biāo)進(jìn)行還原，形成一個(gè)虛擬的,、權(quán)值的數(shù)字圖像,，這個(gè)圖像稱為“權(quán)值圖像”，其主要數(shù)字信息包含了圖像的圖形輪廓,、色彩的分布,、允許變化的權(quán)值關(guān)系等，以便后面進(jìn)行分析和處理,。AOI經(jīng)過十幾年的發(fā)展,，技術(shù)水平仍處于高速發(fā)展階段,。目前國內(nèi)市場上可見的AOI設(shè)備品牌眾多，每種AOI檢測設(shè)備各有所長,；每個(gè)品牌的AOI優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)都取決于其不同的創(chuàng)新軟件算法,，通常采用的軟件算法有:模板比較、邊緣檢查,、灰度模型,、特征提取、固態(tài)建模,、矢量分析,、圖形配對(duì)和傅里葉氏分析等，盡管算法各異,，但是AOI的運(yùn)作原理基本相同,。

AOI自動(dòng)光學(xué)檢測逐漸取代傳統(tǒng)的人工目檢，被普遍應(yīng)用于LCD/TFT,、晶體管和PCB等工業(yè)過程中,。aoi光學(xué)檢測儀

SMT加工中AOI設(shè)備的用途自動(dòng)化光學(xué)檢測是一種利用光學(xué)捕捉PCB圖像的方法，以查看組件是否丟失,，是否在正確的位置,，以識(shí)別缺陷，并確保制造過程的質(zhì)量,。它可以檢查所有尺寸的組件,，如01005,0201，和0402s和包,，如BGAs,CSPs,LGAs,PoPs,，和QFNs。AOI的引入開啟了實(shí)時(shí)巡檢功能,。隨著高速,、大批量生產(chǎn)線的出現(xiàn)，一個(gè)不正確的機(jī)器設(shè)置,、在PCB上放置錯(cuò)誤的部件或?qū)R問題都可能導(dǎo)致大量的制造缺陷和隨后在短時(shí)間內(nèi)的返工,。當(dāng)初的AOI機(jī)器能夠進(jìn)行二維測量，如檢查板的特征和組件的特征,，以確定X和Y坐標(biāo)和測量,。3D系統(tǒng)在2D上進(jìn)行了擴(kuò)展，將高度維度添加到方程中,，從而提供X,、Y和Z坐標(biāo)和測量。注意:有些AOI系統(tǒng)實(shí)際上并不“測量”組件的高度。AOI在制造過程早期發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤,，并在板被移到下一個(gè)制造步驟之前保證工藝質(zhì)量,。AOI通過向生產(chǎn)線反饋并提供歷史數(shù)據(jù)和生產(chǎn)統(tǒng)計(jì)來幫助提高產(chǎn)量。確保質(zhì)量在整個(gè)過程中得到控制,，節(jié)省了時(shí)間和金錢,，因?yàn)椴牧侠速M(fèi)、修理和返工,、增加的制造勞動(dòng)力,、時(shí)間和費(fèi)用，更不用說所有設(shè)備故障的成本,。aoi光學(xué)檢測儀AOI檢測設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)具體有哪些呢,？

光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線,，光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,，轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號(hào)二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同,，依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,，灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種,，因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同,，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器,，電極所產(chǎn)生的電場推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器,。而CMOS采用了無機(jī)半導(dǎo)體加工工藝，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路,，每個(gè)像素都可以被定位，無需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì),，而且其對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片,，因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多，價(jià)格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低,。但其非常明顯的缺點(diǎn),，作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會(huì)有問題,，為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū),，域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片。

SMT中應(yīng)用的錫膏檢測技術(shù)的形式多種多樣,，但其中AOI的基本原理是相同的,，就是用光學(xué)原理獲取被測物品圖象，一般通過攝像機(jī)獲得檢測物的照明圖象然后數(shù)字化，再以某種方法進(jìn)行比較,、分析,、檢驗(yàn)和判斷，相當(dāng)于將人工目視檢測轉(zhuǎn)變?yōu)樽詣?dòng)化,、智能化,。AOI分析和判斷的算法可分為兩種，一種是設(shè)計(jì)規(guī)則檢驗(yàn)（矢量分析）,，一種是圖形識(shí)別檢驗(yàn),。矢量分析是按照固定的規(guī)則檢測圖形。一般是所有連線以焊點(diǎn)為端點(diǎn),，所有引線寬度,、間隔不小于某一規(guī)定值等規(guī)則檢測PCB電路圖形。AOI機(jī)器視覺檢測系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域視覺檢測自動(dòng)化設(shè)備的應(yīng)用范圍較廣,。

PCB缺陷可大致分為短路（包括基銅短路,、細(xì)線短路、電鍍斷路,、微塵短路,、凹坑短路、重復(fù)性短路,、污漬短路,、干膜短路、蝕刻不足短路,、鍍層過厚短路,、刮擦短路、褶皺短路等）,，開路（包括重復(fù)性開路,、刮擦開路、真空開路,、缺口開路等）和其他一些可能導(dǎo)致PCB報(bào)廢的缺陷（包括蝕刻過度,、電鍍燒焦、***),在PCB生產(chǎn)流程中,，基板的制作,、覆銅有可能產(chǎn)生一些缺陷，但主要缺陷在蝕刻之后產(chǎn)生,，AOI一般在蝕刻工序之后進(jìn)行檢測,，主要用來發(fā)現(xiàn)其上缺少的部分和多余的部分。在PCB檢測中,，圖像對(duì)比算法應(yīng)用較多,，且以2D檢測為主,，其主要包括數(shù)據(jù)處理類（對(duì)輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行初步處理，過濾小的***和殘留銅及不需檢測的孔等）,，測量類（對(duì)輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取,，記錄的特征代碼、尺寸和位置并與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比）和拓?fù)漕悾ㄓ糜跈z測增加或丟失的特征）,，圖1為特征提取法示意圖,，（a）為標(biāo)準(zhǔn)版和被檢板二值圖，（b）為數(shù)學(xué)形態(tài)分析后的特征圖,。AOI一般可以發(fā)現(xiàn)大部分缺陷,，存在少量的漏檢問題，不過主要影響其可靠性的還是誤檢問題,。PCB加工過程中的粉塵,、沾污和一部分材料的反射性差都可能造成虛假報(bào)警，因此目前在使用AOI檢測出缺陷后,，必須進(jìn)行人工驗(yàn)證,。AOI檢測設(shè)備對(duì)SMT貼片加工的重要性。aoi自動(dòng)光學(xué)檢測儀廠家

AOI自動(dòng)光學(xué)檢測儀及其工作原理是什么呢,？aoi光學(xué)檢測儀

AOI設(shè)備的原理1.焊錫表面具有光的平面鏡反射性質(zhì),，因此照射在焊錫表面的光，遵循入射角=反映射角方向進(jìn)行反射,。2.光源設(shè)計(jì)通過“紅色,、綠色、藍(lán)色”不同角度的光源照射,，反映被造物體的曲面的變化情況,。從而達(dá)到檢測元件焊接弧度的目的。3.不同的曲面弧度上,，顏色反映了弧度的變化特性,。“紅光”“綠光”“藍(lán)光”的亮度強(qiáng)弱比例,，是保證這一檢測原理的關(guān)鍵,。①紅色：上錫角度相對(duì)較低時(shí)，紅光反射回像機(jī),。（1°-25°）②綠色：上錫角度相對(duì)高一些時(shí)綠光反射回像機(jī),。（25°-45°）③藍(lán)色：上錫角度較高時(shí),，藍(lán)光反射回像機(jī),。（45°以上）aoi光學(xué)檢測儀