XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時(shí),，可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足,，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因。通常,，測量結(jié)晶度的方法包括密度,，熱分析，NMR,、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實(shí)例。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號(hào)來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號(hào)面積的比值：EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實(shí)驗(yàn)室X射線衍射的2D檢測器。上海進(jìn)口XRD衍射儀檢測

對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序）,，通過漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言，D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。深圳購買XRD衍射儀推薦咨詢在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測量，對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響（圖1）,。另外，如果衍射簡單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品,，無法利用整個(gè)樣品的體積，衍射信號(hào)弱。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜，不適合單晶外延膜,。

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn),。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動(dòng)同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí),。除此之外，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2,，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度，與布魯克大量組件,、光學(xué)器件和探測器完全兼容,。

所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應(yīng)用場合，它都是您的可選的探測器：高的計(jì)數(shù)率,、動(dòng)態(tài)范圍和能量分辨率,，峰位精度布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976c）整個(gè)角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證，面向未來的多用途采用了開放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì),，布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換,。該系統(tǒng)無需人工干預(yù)，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品,、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換,，且無需人工干預(yù),，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇,。根據(jù)應(yīng)用需求,，調(diào)節(jié)探測器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續(xù)變化,、支持自動(dòng)對光,。廣州購買XRD衍射儀配件

而有了UMC樣品臺(tái)的加持，D8 DISCOVER更是成為了電動(dòng)位移和重量能力方面的同類較好,。上海進(jìn)口XRD衍射儀檢測

EIGER2R具有多模式功能（0D-1D-2D,、快照和掃描模式），覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法,。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油，而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的**,。其可實(shí)現(xiàn)無吸收測量的動(dòng)態(tài)范圍,、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍，都為多模式探測器樹立了新標(biāo)準(zhǔn),。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測器技術(shù),，整合了布魯克的軟件和硬件，可為您帶來無縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。上海進(jìn)口XRD衍射儀檢測

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