納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度，進而控制X射線在薄膜中的穿透深度，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）。深圳原位分析XRD衍射儀檢測

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術(shù)的發(fā)展,，薄膜厚度越來越薄,。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術(shù)節(jié)點的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一,。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度，XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。深圳全新XRD衍射儀推薦咨詢D8D對地質(zhì)構(gòu)造研究,，借助μXRD,，哪怕是很小的包裹體定性相分析和結(jié)構(gòu)測定都不在話下。

API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質(zhì)量控制技術(shù)和方法指導(dǎo)原則”：指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時,，應(yīng)使用“優(yōu)勢藥物晶型物質(zhì)狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,，以保證藥品臨床有效性、安全性與質(zhì)量可控性,。說明目前藥物行業(yè)對晶型的重視,。晶型，特別是API晶型對藥物的功能有直接關(guān)心,，同一API的不同晶型在溶解度,、熔點、溶出度,、生物有效性等方便可能會有不同,。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD,。

蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物,。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石,。根據(jù)中國藥典，蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應(yīng)用場合,，它都是值得您選擇的探測器：高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內(nèi)的準直保證,。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）從過程開發(fā)到質(zhì)量控制,，D8 DISCOVER可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結(jié)構(gòu)表征。

獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用，該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,，可在多達6種不同的光束幾何之間進行自動切換,。系統(tǒng)無需人工干預(yù)，即可在三個光路之間切換：用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進行分析,，其中包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）,。無論面對何種應(yīng)用,，DIFFRAC.DAVINCI都會指引用戶選擇較好的儀器配置。珠海布魯克XRD衍射儀檢測

利用布魯克樣品臺,，能精確地操縱樣品,。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺和落地式樣品臺。深圳原位分析XRD衍射儀檢測

XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時,，可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常，測量結(jié)晶度的方法包括密度，熱分析,，NMR,、IR以及XRD方法。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實例,。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值：深圳原位分析XRD衍射儀檢測