信號完整性和低功耗在蜂窩電話設(shè)計(jì)中是特別關(guān)鍵的考慮因素,，EP諧波吸收裝置有助三階諧波頻率輕易通過,，并將失真和抖動減小至幾乎檢測不到的水平。隨著集成電路輸出開關(guān)速度提高以及PCB板密度增加,，信號完整性已經(jīng)成為高速數(shù)字PCB設(shè)計(jì)必須關(guān)心的問題之一,。元器件和PCB板的參數(shù),、元器件在PCB板上的布局,、高速信號的布線等因素,，都會引起信號完整性問題，導(dǎo)致系統(tǒng)工作不穩(wěn)定,，甚至完全不工作,。 如何在PCB板的設(shè)計(jì)過程中充分考慮到信號完整性的因素，并采取有效的控制措施,，已經(jīng)成為當(dāng)今PCB設(shè)計(jì)業(yè)界中的一個(gè)熱門課題,。信號接口一致性高速信號完整性測試；江蘇信號完整性測試聯(lián)系方式

改變兩條有插入損耗波谷影響的傳輸線之間的間距,。虛擬實(shí)驗(yàn)之一是改變線間距,。當(dāng)跡線靠近或遠(yuǎn)離時(shí)，一條線的插入損耗上的諧振吸收波谷會出現(xiàn)什么情況,？圖35所示為簡單的兩條耦合線模型中一條線上模擬的插入損耗,，間距分別為50、75,、100,、125和150密耳。紅色圓圈為單端跡線測得的插入損耗,。每條線表示不同間距下插入損耗的模擬響應(yīng),。頻率諧振比較低的跡線間距為50密耳，之后是75密耳,，排后是150密耳,。隨著間距增加，諧振頻率也增加,，這差不多與直覺相反,。大多數(shù)諧振效應(yīng)的頻率會隨著尺寸增加而降低。然而,，在這個(gè)效應(yīng)中,，諧振頻率卻隨著尺寸和間距的增加而增加。要不是前文中我們已經(jīng)確認(rèn)模擬數(shù)據(jù)和實(shí)測數(shù)據(jù)之間非常一致,，我們可能會對模擬結(jié)果產(chǎn)生懷疑,。波谷顯然不是諧振效應(yīng)，其起源非常微妙,，但與遠(yuǎn)端串?dāng)_密切相關(guān),。在頻域中，當(dāng)正弦波進(jìn)入排前條線的前端時(shí),，它會與第二條線耦合,。在傳播中,，所有的能量會在一個(gè)頻率點(diǎn)從排前條線耦合到相鄰線，導(dǎo)致排前條線上沒有任何能量,，因此出現(xiàn)一個(gè)波谷,。自動化信號完整性測試代理品牌克勞德實(shí)驗(yàn)室數(shù)字信號完整性測試進(jìn)行分析；

1,、什么是信號完整性“0”,、“1”碼是通過電壓或電流波形來傳遞的，盡管信息是數(shù)字的,，但承載這些信息的電壓或者電流波形確實(shí)模擬的,，噪聲、損耗,、供電的不穩(wěn)定等多種因素都會使電壓或者電流發(fā)生畸變,，如果畸變嚴(yán)重到一定程度，接收器就可能錯誤判斷發(fā)送器輸出的“0”,、“1}碼,，這就是信號完整性問題。廣義上講,，信號完整性（SignalIntegrity,，SI）包括由于互連、電源,、器件等引起的所有信號質(zhì)量及延時(shí)等問題,。

2、SI問題的根源：頻率提高,、上升時(shí)間減小,、擺幅降低、互連通道不理想,、供電環(huán)境惡劣,、通道之間延時(shí)不一致等都可能導(dǎo)致信號完整性問題；但其根源主要是信號上升時(shí)間減小,。注：上升時(shí)間越小,，信號包含的高頻成分就越多，高頻分量和通道間相互作用就可能使信號產(chǎn)生嚴(yán)重的畸變,。

轉(zhuǎn)換成頻域的TDR/TDT響應(yīng)：回波損耗/插入損耗,。藍(lán)線是參考直通的插入損耗。當(dāng)然,，如果有一個(gè)完美直通的話,，每個(gè)頻率分量將無衰減傳播，接收的信號幅度與入射信號的幅度相同,。插入損耗的幅度始終為1,，用分貝表示的話,，就是0分貝。這個(gè)損耗在整個(gè)20GHz的頻率范圍內(nèi)都是平坦的,。黃線始于低頻率下的約-30分貝,，是同一傳輸線的回波損耗，即頻域中的S11,。綠線是此傳輸線的插入損耗,，或S21,。這個(gè)屏幕只顯示了S參數(shù)的幅度,，相位信息是有的，但沒有顯示的必要,?；夭〒p耗始于相對較低的值，接近-30分貝,，然后向上爬升到達(dá)-10分貝范圍,，約超過12GHz。這個(gè)值是對此傳輸線的阻抗失配和兩端的50歐姆連接的衡量,。插入損耗具有直接有用的信息,。在高速串行鏈路中，發(fā)射機(jī)和接收機(jī)共同工作,，以發(fā)射并接收高比特率信號,。在簡單的CMOS驅(qū)動器中，一個(gè)顯示誤碼率之前可能可以接受-3分貝的插入損耗,。對于簡單的SerDes芯片而言,，可以接受-10分貝的插入損耗，而對于先進(jìn)的高級SerDes芯片而言,，則可以接受-20分貝,。如果我們知道特定的SerDes技術(shù)可接受的插入損耗，那就可以直接從屏幕上測量互連能提供的比較大比特率,?？藙诘聦?shí)驗(yàn)室提供信號完整性測試軟件報(bào)告；

8英寸長均勻微帶線的ADS建模,，所示簡單模型的帶寬為~12GHz,。所示為描述傳輸線的較好簡單模型，是基板上的一條單一跡線,，長度為8英寸,，電介質(zhì)厚度為60密耳，線寬為125密耳,。這些參數(shù)都是直接從物理互連上測得的,。較好初我們不知道疊層的總體介電常數(shù)和體積耗散因數(shù),。我們有測得的插入損耗。所示為測得的互連插入損耗,，用紅圈標(biāo)出,。這與前文中在TDR屏幕上顯示的數(shù)據(jù)完全一樣。分析中也采用相位響應(yīng),，但不在此顯示,。在這個(gè)簡單的模型中有兩個(gè)未知參數(shù)，即介電常數(shù)和耗散因數(shù),，我們使用ADS內(nèi)置的優(yōu)化器在所有參數(shù)空間內(nèi)搜索這兩個(gè)參數(shù)的比較好擬合值,，以匹配測得的插入損耗響應(yīng)與模擬的插入損耗響應(yīng)。中的藍(lán)線是使用4.43的介電常數(shù)值和0.025的耗散因數(shù)值模擬的插入損耗的較好終值,。我們可以看到,，測得的插入損耗和模擬的插入損耗一致性非常高，達(dá)到約12GHz,。這是該模型的帶寬,。相位的一致性更高，但不在此圖中顯示,。通過建立簡單的模型并將參數(shù)值擬合到模型中,，以及利用ADS內(nèi)置的二維邊界元場解算器和優(yōu)化工具，我們能夠從TDR/TDT測量值中提取疊層材料特性的準(zhǔn)確值,。我們還能證明,，此互連實(shí)際上很合理。傳輸線沒有異常,，沒有不明原因的特性,，至少在12GHz以下不會出現(xiàn)任何意外情況?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室信號完整性考慮的問題,？設(shè)備信號完整性測試維修電話

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ADC位數(shù)和小分辨率模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)是確保示波器自身信號完整性的關(guān)鍵技術(shù),。ADC位數(shù)與示波器的分辨率成正比,。理論上講，10位ADC示波器的分辨率比8位ADC示波器高4倍,。同理,，12位ADC示波器相對于10位ADC示波器也是如此。圖2以10位ADCIn?niiumS系列示波器為例,，實(shí)際驗(yàn)證了上述結(jié)論,。

多數(shù)示波器都是采用8位ADC,而S系列示波器采用的是40GSa/s10位ADC,分辨率提升了四倍。分辨率是指由示波器中的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)所決定的小量化電平,。8位ADC可將模擬輸入信號編碼為28=256個(gè)電平,，即量化電平或Q電平,。ADC在示波器量程內(nèi)工作，因此在電流和電壓測量中,，量化電平的步長與示波器的量程設(shè)置有關(guān),。如果垂直設(shè)置為100mV/格，則量程等于800mV(8格x100mV/格),，量級電平分辨率就是3.125mV(即,，800mV除以256個(gè)量化電平）。 江蘇信號完整性測試聯(lián)系方式