USB4.0的接收容限測試

對于USB4.0的接收端來說，主要進(jìn)行的是接收容限測試,，用于驗(yàn)證接收端在壓力信號(StressedElectricalSignal)下的表現(xiàn),。具體的測試項(xiàng)目包括壓力信號的誤碼率測試(BER)、突發(fā)誤碼率測試(MultiError-Burst),、頻率偏差(FrequencyVariations),、回波損耗(ReturnLoss)等。

誤碼率的測試要在壓力信號下進(jìn)行,，因此需要先用高速誤碼儀的碼型發(fā)生器產(chǎn)生帶預(yù)加重,、正弦抖動(PJ)、隨機(jī)抖動(RJ),、擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC),、共模噪聲(ACCM)的信號，并用高帶寬示波器進(jìn)行壓力信號校準(zhǔn),。校準(zhǔn)完成后再把壓力信號注入被測件,，在不同的正弦抖動幅度和頻率下進(jìn)行誤碼率測試。在USB4.0的接收容限測試中,，需要做兩種場景的測試：Casel的測試中沒有插入U(xiǎn)SB電纜,，模擬鏈路損耗小的情況；Case2的測試中要插入2m 克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室USB標(biāo)準(zhǔn)測試方案,；DDR測試USB測試USB測試

USB4.0 的 規(guī)范 是 2021 年 5 月份發(fā) 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”,；測 試 規(guī) 范 是 2021 年 7 月 份 發(fā) 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因?yàn)?USB4.0 需要支持有源電纜和無源電纜兩種應(yīng)用場景,，  針對 的測試點(diǎn)分別是 TP2 和TP3,，  即通俗講的近端測試和遠(yuǎn)端測試。 在進(jìn)行遠(yuǎn)端測試時(shí),，需要考慮無源電纜的影響,。因?yàn)橐桓鶎?shí)體的 無源電纜很難完整的表征所有惡劣的場景,，  包括插入損耗、回 波損耗,、串?dāng)_等,，為了保證測試的一致性和可重復(fù)性，發(fā)動端測 試都是用軟件的算法,，  利用示波器嵌入 S 參數(shù) / 傳遞函數(shù)的方式,， 實(shí)現(xiàn)參考鏈路的模擬,。同時(shí),，  為了保證測試精度，  USB4.0 要求示 波器在進(jìn)行信號捕獲前,，需要通過去嵌 (De-embedded) 的方式去除 測試電纜的影響,。 DDR測試USB測試USB測試USB3.0一致性測試環(huán)境；

USB測試

基本介紹隨著USB技術(shù)在消費(fèi)電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用,，USB性能規(guī)范和符合性測試變得越來越重要,。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認(rèn)證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品,，例如電腦,、手機(jī)、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進(jìn)行USB測試,。北測是獲得認(rèn)可的測試實(shí)驗(yàn)室,，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認(rèn)證,，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志,。測試服務(wù)USB測試服務(wù)包括：高速、全速,、低速USB設(shè)備測試·外部裝置·主機(jī)內(nèi)插卡·集線器·系統(tǒng)·集成電路·電線組件·連接器·USBOTG

USB2.0技術(shù)已被的市場接受,，它將資料處理速率提升了40倍。資料處理量的增加為許多新型產(chǎn)品打開新天地,，包括全動態(tài)視訊至輔助性的,、只有錢包大小的硬盤機(jī)。但是,，隨著資料速率的急速升高,，也出現(xiàn)了新的測試和量測方面的挑戰(zhàn)。

資料速率增加40倍后雖然帶來了許多好處,，但也給USB2.0兼容性裝置供應(yīng)商帶來了各種新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn),。特別是在訊號品質(zhì)問題方面，如電路板的布局,、抖動,、上升和下降時(shí)間,、電磁場干擾、噪聲,，和接地噪聲等,，都已成為需待解決的設(shè)計(jì)問題。保持訊號質(zhì)量是保證USB2.0裝置合乎規(guī)格,，并獲得USB2.0「認(rèn)證」標(biāo)志的關(guān)鍵之一,。訊號質(zhì)量測試包括:?眼圖測試?信號速率?數(shù)據(jù)包結(jié)束寬度?交叉電壓范圍（適用于低速和全速）?JK抖動?KJ抖動?連續(xù)抖動?單調(diào)測試（適用于高速）?漲落時(shí)間 USB4.0一致性測試環(huán)境；示波器,、測試軟件,、夾具；

USB接口測試USB3.0測試USB-IF標(biāo)準(zhǔn)隨著USB技術(shù)在消費(fèi)電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用,，USB性能規(guī)范和符合性測試變得越來越重要,。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認(rèn)證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品,，例如電腦,、手機(jī)、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進(jìn)行USB測試,。是獲得認(rèn)可的測試實(shí)驗(yàn)室,，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認(rèn)證,，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志,。為滿足行業(yè)發(fā)展的需要，提供的USB測試服務(wù),，包括USB一致性測試,、USB性能測試以及USB產(chǎn)品調(diào)試實(shí)驗(yàn)室租賃服務(wù)。

測試服務(wù)USB測試服務(wù)包括：高速,、全速,、低速USB設(shè)備測試外部裝置主機(jī)內(nèi)插卡集線器系統(tǒng)集成電路電線組件連接器USBOTG USB2.0一致性測試環(huán)境；數(shù)字信號USB測試熱線

USB3.0的總線架構(gòu)展示,？DDR測試USB測試USB測試

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出,，都考慮到了對前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持,。比如USB3.2的X2模式,、USB4.0的20Gbps速率、更強(qiáng)的供電能力及對多協(xié)議的支持等,，都只能在新型的Type-C連接器上實(shí)現(xiàn),。由于USB總線的信號速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜,，所以給設(shè)計(jì)和測試驗(yàn)證工作帶來了挑戰(zhàn),，對于測試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大,。下面將詳細(xì)介紹其相關(guān)的電氣性能測試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多,，為了避免混淆,，我們將把USB3.0、USB3.1,、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開介紹,。DDR測試USB測試USB測試