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信號(hào)完整性測(cè)試DDR3測(cè)試協(xié)議測(cè)試方法

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-05-25

重復(fù)步驟6至步驟9,設(shè)置Memory器件U101、U102,、U103和U104的模型為 模型文件中的Generic器件,。

在所要仿真的時(shí)鐘網(wǎng)絡(luò)中含有上拉電阻(R515和R518),在模型賦置界面中找到 這兩個(gè)電阻,其Device Type都是R0402 47R,可以選中R0402 47R對(duì)這類模型統(tǒng)一進(jìn)行設(shè)置, 

(12) 選中R0402 47R后,選擇Create ESpice Model...按鈕,在彈出的界面中單擊OK按 鈕,在界面中設(shè)置電阻模型后,,單擊OK按鈕賦上電阻模型,。

同步驟11、步驟12,將上拉電源處的電容(C583)賦置的電容模型,。

上拉電源或下拉到地的電壓值可以在菜單中選擇LogicIdentify DC Nets..來設(shè)置,。 DDR3一致性測(cè)試是否適用于非服務(wù)器計(jì)算機(jī)?信號(hào)完整性測(cè)試DDR3測(cè)試協(xié)議測(cè)試方法

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常見的信號(hào)質(zhì)量包括閾值電平,、Overshoot,、Undershoot、Slew Rate> tDVAC等,,DDRx 信號(hào)質(zhì)量的每個(gè)參數(shù)JEDEC都給出了明確的規(guī)范,。比如DDR3要求Overshoot和Undershoot 分別為0.4V,也就是說信號(hào)幅值P?P值應(yīng)該在-0.4-1.9V,但在實(shí)際應(yīng)用中由于不適合信號(hào) 端接使DDR信號(hào)質(zhì)量變差,通過仿真就可以找出合適端接,,使信號(hào)質(zhì)量滿足JEDEC規(guī)范,。 下面以DDR3 1066Mbps信號(hào)為例,通過一個(gè)實(shí)際案例說明DDR3信號(hào)質(zhì)量仿真,。

在本案例中客戶反映實(shí)測(cè)CLK信號(hào)質(zhì)量不好,。CLK信號(hào)從CUP (U100)出來經(jīng)過4片 DDR3 (U101、U102,、U103,、U104),在靠近控制芯片接收端顆粒(近的顆粒)的信號(hào)很 差,系統(tǒng)工作不到DDR3 1066Mbpso在對(duì)時(shí)鐘信號(hào)做了終端上拉匹配后,,可以正常工作,。 通信DDR3測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)是否可以在已通過一致性測(cè)試的DDR3內(nèi)存模塊之間混搭?

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容量與組織:DDR規(guī)范還涵蓋了內(nèi)存模塊的容量和組織方式,。DDR內(nèi)存模塊的容量可以根據(jù)規(guī)范支持不同的大小,,如1GB、2GB,、4GB等,。DDR內(nèi)存模塊通常以多個(gè)內(nèi)存芯片排列組成,其中每個(gè)內(nèi)存芯片被稱為一個(gè)芯粒(die),,多個(gè)芯??梢越M成密集的內(nèi)存模塊。電氣特性:DDR規(guī)范還定義了內(nèi)存模塊的電氣特性,,包括供電電壓,、電流消耗、輸入輸出電平等,。這些電氣特性對(duì)于確保DDR內(nèi)存模塊的正常工作和兼容性至關(guān)重要,。兼容性:DDR規(guī)范還考慮了兼容性問題,,確保DDR內(nèi)存模塊能夠與兼容DDR接口的主板和控制器正常配合。例如,,保留向后兼容性,,允許支持DDR接口的控制器工作在較低速度的DDR模式下。

DDR(Double Data Rate)是一種常見的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)技術(shù),,它提供了較高的數(shù)據(jù)傳輸速度和帶寬。以下是DDR系統(tǒng)的概述:

架構(gòu):DDR系統(tǒng)由多個(gè)組件組成,,包括主板,、內(nèi)存控制器、內(nèi)存槽和DDR內(nèi)存模塊,。主板上的內(nèi)存控制器負(fù)責(zé)管理和控制DDR內(nèi)存模塊的讀寫操作,。數(shù)據(jù)傳輸方式:DDR采用雙倍數(shù)據(jù)傳輸率,即在每個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)進(jìn)行兩次數(shù)據(jù)傳輸,,相比于單倍數(shù)據(jù)傳輸率(SDR),,DDR具有更高的帶寬。在DDR技術(shù)中,,數(shù)據(jù)在上升沿和下降沿時(shí)都進(jìn)行傳輸,,從而實(shí)現(xiàn)雙倍數(shù)據(jù)傳輸。速度等級(jí):DDR技術(shù)有多個(gè)速度等級(jí),,如DDR-200,、DDR-400、DDR2-800,、DDR3-1600等,。速度等級(jí)表示內(nèi)存模塊的速度和帶寬,通常以頻率來表示(例如DDR2-800表示時(shí)鐘頻率為800 MHz),。不同的速度等級(jí)對(duì)應(yīng)著不同的數(shù)據(jù)傳輸速度和性能,。 DDR3內(nèi)存的一致性測(cè)試是否適用于特定應(yīng)用程序和軟件環(huán)境?

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DDR3信號(hào)質(zhì)量問題及仿真解決案例隨著DDR信號(hào)速率的升高,,信號(hào)電平降低,,信號(hào)質(zhì)量問題也會(huì)變得突出。比如DDR1的數(shù)據(jù)信號(hào)通常用在源端加上匹配電阻來改善波形質(zhì)量,;DDR2/3/4會(huì)將外部電阻變成內(nèi)部ODT,;對(duì)于多負(fù)載的控制命令信號(hào),DDR1/2/3可以在末端添加VTT端接,,而DDR4則將采 用VDD的上拉端接,。在CLK的差分端接及控制芯片驅(qū)動(dòng)能力的選擇等方面,可以通過仿真 來得到正確驅(qū)動(dòng)和端接,,使DDR工作時(shí)信號(hào)質(zhì)量改善,,從而增大DDRI作時(shí)序裕量,。DDR3內(nèi)存的一致性測(cè)試是否需要長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行?信號(hào)完整性測(cè)試DDR3測(cè)試協(xié)議測(cè)試方法

何時(shí)需要將DDR3內(nèi)存模塊更換為新的,?信號(hào)完整性測(cè)試DDR3測(cè)試協(xié)議測(cè)試方法

重復(fù)以上步驟,,分別對(duì)Meml?Mem4分配模型并建立總線時(shí)序關(guān)系,置完其中一個(gè),,單擊0K按鈕并在彈出窗口單擊Copy按鈕,,將會(huì)同時(shí)更新其他Memory 模塊。

3.分配互連模型有3種方法可設(shè)置互連部分的模型:第1種是將已有的SPICE電路模型或S參數(shù)模型分配給相應(yīng)模塊,;第2種是根據(jù)疊層信息生成傳輸線模型,;第3種是將互連模塊與印制電路板或封裝板關(guān)聯(lián),利用模型提取工具按需提取互連模型,。對(duì)前兩種方法大家比較熟悉,,這里以第3種方法為例介紹其使用過程。 信號(hào)完整性測(cè)試DDR3測(cè)試協(xié)議測(cè)試方法