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重慶半導(dǎo)體晶圓10寸

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-07-25

    氣泡內(nèi)氣體或蒸汽的溫度不需要冷卻至室溫或清洗液的溫度,。它可以是高于室溫或清洗液溫度的一定溫度。較佳地,,該溫度是明顯低于內(nèi)爆溫度ti,。根據(jù)公式(8)和(9),如果已知(δt-δt),,可以計(jì)算出內(nèi)爆時(shí)間τi,。但通常情況下,(δt-δt)不太容易被計(jì)算出或直接得到,。然而可以憑經(jīng)驗(yàn)直接得到τi的值,。圖7e揭示了根據(jù)經(jīng)驗(yàn)得出內(nèi)爆時(shí)間τi值的流程圖。在步驟7210中,,基于表1,選擇五個(gè)不同的時(shí)間段τ1作為實(shí)驗(yàn)設(shè)定(doe)的條件,。在步驟7220中,,選擇至少是τ1十倍的時(shí)間段τ2,在***次測(cè)試時(shí)**好是100倍的τ1,。在步驟7230中,,使用確定的功率水平p0運(yùn)行以上五種條件來(lái)分別清洗具有圖案結(jié)構(gòu)的晶圓,。此處,p0是在如圖6a所示的連續(xù)不間斷模式(非脈沖模式)下確定會(huì)對(duì)晶圓的圖案結(jié)構(gòu)造成損傷的功率水平,。在步驟7240中,,使用掃描電鏡(sem)或晶圓圖案損傷查看工具來(lái)檢查以上五種晶圓的損壞程度,如應(yīng)用材料的semvision或日立is3000,,然后內(nèi)爆時(shí)間τi可以被確定在某一范圍,。損傷特征的百分比可以通過(guò)由掃描電鏡檢查出的損傷特征總數(shù)除以圖案結(jié)構(gòu)特征的總數(shù)。也可以通過(guò)其它方法計(jì)算得出損傷特征百分比,。例如,,**終晶圓的成品率可以用來(lái)表征損傷特征的百分比。成都8寸半導(dǎo)體晶圓厚度多少,?重慶半導(dǎo)體晶圓10寸

    用振幅隨著時(shí)間變化的電源的功率水平p來(lái)代替如圖7a及圖7d中步驟7040所示的恒定的功率水平p1,。在一個(gè)實(shí)施例中,如圖8a所示,,在時(shí)間段τ1內(nèi),,電源的功率振幅p增大。在另一個(gè)實(shí)施例中,,如圖8b所示,,在時(shí)間段τ1內(nèi),電源的功率振幅p減小,。在又一個(gè)實(shí)施例中,,如圖8c所示,在時(shí)間段τ1內(nèi),,電源的功率振幅p先減小后增大,。在如圖8d所示的實(shí)施例中,在時(shí)間段τ1內(nèi),,電源的功率振幅p先增大后減小,。圖9a至圖9d揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)實(shí)施例的聲波晶圓清洗工藝。在該聲波晶圓清洗工藝中,,電源的頻率隨著時(shí)間變化,,而這個(gè)工藝中的其他方面與圖7a至圖7d中所示的保持一樣,在該實(shí)施例中,,用隨著時(shí)間變化的電源的頻率來(lái)代替如圖7a及圖7d中步驟7040所示的恒定的頻率f1,。如圖9a所示,在一個(gè)實(shí)施例中,,在時(shí)間段τ1內(nèi),電源的頻率先設(shè)置為f1后設(shè)置為f3,f1高于f3,。如圖9b所示,,在一個(gè)實(shí)施例中,在時(shí)間段τ1內(nèi),,電源的頻率先設(shè)置為f3后增大至f1,。如圖9c所示,在一個(gè)實(shí)施例中,,在時(shí)間段τ1內(nèi),,電源的頻率從f3變化至f1再變回f3。如圖9d所示,,在一個(gè)實(shí)施例中,,在時(shí)間段τ1內(nèi),電源的頻率從f1變?yōu)閒3再變回f1,。與圖9c所示的清洗工藝相似,,在一個(gè)實(shí)施例中,在時(shí)間段τ1內(nèi),,電源的頻率先設(shè)置為f1,。河北半導(dǎo)體晶圓銷售廠西安怎么樣半導(dǎo)體晶圓?

    在步驟1550之后,可以獲得圖3,、圖8a或圖8b所示的基板結(jié)構(gòu)300或800,。在步驟1550之后,流程可以前往可選的步驟1570,。在一實(shí)施例當(dāng)中,,還可以前往步驟1580??蛇x的步驟1570:涂布樹酯層,。為了形成如圖4、5a,、5b,、9、10a與10b所示的基板結(jié)構(gòu)400,、500,、900與1000,可以在步驟1550之后執(zhí)行本步驟1570,。圖16h~j所示的實(shí)施例,,分別是在圖16e~g所示實(shí)施例的金屬層上涂布樹酯層之后的結(jié)果。步驟1580:后續(xù)的封裝,。步驟1580可以包含多個(gè)子步驟,,例如將晶圓貼上膠膜(通常是藍(lán)色pvc膠膜)進(jìn)行保護(hù)。接著,打印芯片卷標(biāo),,用于標(biāo)示芯片的制造商、芯片型號(hào),、制造批號(hào),、制造廠、制造日期等,。然后,,進(jìn)行芯片的切割,以及后續(xù)的上托盤(tray)或卷帶(tapeandreel)的包裝步驟等,。如果前述的步驟1520~1570是施作在芯片上時(shí),,則步驟1580可以包含打印芯片卷標(biāo)以及上托盤(tray)或卷帶(tapeandreel)的包裝步驟,省略了切割晶圓已得到芯片的步驟,。本申請(qǐng)所提供的晶圓制作方法1500,,可以對(duì)晶圓的所有芯片同時(shí)進(jìn)行施工,以便讓晶圓的所有芯片都能夠具有前述的基板結(jié)構(gòu)之一,。而無(wú)須針對(duì)每一片芯片個(gè)別進(jìn)行施工,,可以節(jié)省施作時(shí)間,減少成本,。根據(jù)本申請(qǐng)的一實(shí)施例,。

    在其他區(qū)域利用較厚的樹酯層540替換部分的金屬層510的金屬,以便適應(yīng)不同的半導(dǎo)體元器件所需要的基板結(jié)構(gòu)電阻值,。在制作方面,,雖然樹酯層540的深度、形狀與位置有所變化,,但由于制作樹酯層540的工序都是一樣,,所以成本只和金屬用量的多少有關(guān)而已。請(qǐng)參考圖8a所示,,其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)800的一剖面示意圖,。該結(jié)構(gòu)800依序包含半導(dǎo)體組件層130、晶圓層820與金屬層810,。和圖3所示的結(jié)構(gòu)300相比,,除了晶圓層820外緣的邊框之外,在晶圓層820的**,,也有加強(qiáng)用的內(nèi)框結(jié)構(gòu),。在圖8a當(dāng)中,可以看到兩個(gè)內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822,。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解到,,內(nèi)框結(jié)構(gòu)可以增進(jìn)晶圓層820的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度。但需要注意的是,安排在內(nèi)框結(jié)構(gòu)上方的半導(dǎo)體元器件,,其所適用基板結(jié)構(gòu)的電阻值就會(huì)比其他區(qū)域的電阻值來(lái)得高,。因此,可以盡量不要安排需要較低基板結(jié)構(gòu)電阻值的半導(dǎo)體元器件在這些內(nèi)框結(jié)構(gòu)的上方,。雖然在圖8a所示的實(shí)施例當(dāng)中,,只示出兩個(gè)內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822,且該內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822相對(duì)于邊框的距離是相同的,。但本申請(qǐng)并不限定內(nèi)框結(jié)構(gòu)的數(shù)量,、位置、形狀等配置的參數(shù),。請(qǐng)參考圖8b所示,,其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)800的一剖面示意圖。國(guó)內(nèi)哪家做半導(dǎo)體晶圓比較好,?

    本發(fā)明涉及半導(dǎo)體晶圓清洗領(lǐng)域,,更具體地,涉及采用可控聲能的濕法清洗方法和裝置,。背景技術(shù):半導(dǎo)體器件是在半導(dǎo)體晶圓上采用一系列的處理步驟來(lái)制造晶體管和互連元件,。近來(lái),晶體管的建立由兩維到三維,,例如鰭型場(chǎng)效應(yīng)晶體管,。互連元件包括導(dǎo)電的(例如金屬)槽,、通孔等形成在介質(zhì)材料中,。為了形成這些晶體管和互連元件,半導(dǎo)體晶圓經(jīng)過(guò)多次掩膜,、蝕刻和沉積工藝以形成半導(dǎo)體器件所需的結(jié)構(gòu),。例如,多層掩膜和等離子體刻蝕步驟可以在半導(dǎo)體晶圓上的電介質(zhì)層中形成作為鰭型場(chǎng)效應(yīng)晶體管的鰭的凹進(jìn)區(qū)域和互連元件的槽和通孔,。為了去除刻蝕或光刻膠灰化后在鰭結(jié)構(gòu)和/或槽和通孔內(nèi)的顆粒和污染物,,必須進(jìn)行濕法清洗。然而,,濕法過(guò)程中使用的化學(xué)液可能會(huì)導(dǎo)致側(cè)壁損失,。當(dāng)器件制造節(jié)點(diǎn)不斷接近或小于14或16nm,鰭和/或槽和通孔的側(cè)壁損失是維護(hù)臨界尺寸的關(guān)鍵,。為了減少或消除側(cè)壁損失,,應(yīng)當(dāng)使用溫和的或稀釋的化學(xué)液,有時(shí)甚至只使用去離子水,。然而,,溫和的或稀釋的化學(xué)液或去離子水通常不能有效去除鰭結(jié)構(gòu)和/或槽和通孔內(nèi)的微粒,,因此,需要使用機(jī)械力來(lái)有效去除這些微粒,,例如超聲波/兆聲波,。超聲波/兆聲波會(huì)產(chǎn)生氣穴振蕩來(lái)為晶圓結(jié)構(gòu)的清洗提供機(jī)械力。然而,。國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體晶圓廠家哪家好,?德陽(yáng)半導(dǎo)體晶圓制造工序

國(guó)外半導(dǎo)體晶圓產(chǎn)品品質(zhì)怎么樣?重慶半導(dǎo)體晶圓10寸

    為了盡可能地利用晶圓的面積來(lái)制作不同芯片,,其中該半導(dǎo)體晶圓當(dāng)中預(yù)定切割出一第二芯片區(qū)域,包含如該***芯片區(qū)域相同的該基板結(jié)構(gòu),,該***芯片區(qū)域與該第二芯片區(qū)域的形狀不同,。在一實(shí)施例中,為了使用晶圓級(jí)芯片制造技術(shù)來(lái)加速具有上述基板結(jié)構(gòu)的芯片制作,,其中該半導(dǎo)體晶圓當(dāng)中預(yù)定切割出多個(gè)芯片區(qū)域,,該多個(gè)芯片區(qū)域當(dāng)中的每一個(gè)都包含如該***芯片區(qū)域相同的該基板結(jié)構(gòu),該多個(gè)芯片區(qū)域當(dāng)中的每一個(gè)芯片區(qū)域和該***芯片區(qū)域的形狀都相同,。根據(jù)本申請(qǐng)的一實(shí)施例,,提供一種晶圓制造方法,其特征在于,,包含:據(jù)所欲切割的多個(gè)芯片區(qū)域的大小與圖樣,,在一晶圓層的一第二表面上涂布屏蔽層,在該多個(gè)芯片區(qū)域其中的一***芯片區(qū)域,,包含該屏蔽層未覆蓋的一中心凹陷區(qū)域與該屏蔽層覆蓋的一邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域,,該中心凹陷區(qū)域位于該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域當(dāng)中,該邊框結(jié)構(gòu)區(qū)域環(huán)繞在該第二表面周圍,;蝕刻該中心凹陷區(qū)域的該晶圓層,;去除該屏蔽層;以及在該第二表面上制造金屬層,。在一實(shí)施例中,,為了彌補(bǔ)較薄晶圓層的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度,其中該***芯片區(qū)域更包含該屏蔽層未覆蓋的一***環(huán)狀凹陷區(qū)域與該屏蔽層覆蓋的一***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域,,該***環(huán)狀凹陷區(qū)域包圍該***內(nèi)框結(jié)構(gòu)區(qū)域,。重慶半導(dǎo)體晶圓10寸

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