石墨化度分析引言石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),,應(yīng)用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結(jié)構(gòu)的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點(diǎn)陣參數(shù),石墨化度就愈高,。這種X射線源可提供高亮度光束,,對(duì)mm大小的樣品研究,或使用μm大小光束進(jìn)行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇,。四川全新XRD衍射儀對(duì)于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,,通常...
D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,其應(yīng)用范圍,、數(shù)據(jù)質(zhì)量,、靈活性和可升級(jí)性毫不打折扣。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,,適用于所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用,。與D8ADVANCE完全兼容,它具有面向未來的所有靈活性,。面對(duì)新應(yīng)用,,您隨時(shí)都能對(duì)它輕松完成升級(jí),從而適應(yīng)未來實(shí)驗(yàn)室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應(yīng)用需求:相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射(GID)X射線反射分析(XRR)小角X射線散射(SAXS)對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析可在數(shù)秒內(nèi),,輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn),,從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,同事縮短重新匹配的時(shí)間,。浙江全新XRD衍射...
制劑中微量API的晶型檢測(cè)引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,,往往還需要經(jīng)過溶解、研磨、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國(guó)內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對(duì)藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,,特別是API含量非常少的制劑樣品,,檢測(cè)更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,,配合高性能的先進(jìn)檢測(cè)器,,為制劑中微量API的晶型檢測(cè)提供了有利工具。樣品臺(tái)的卡口座允許在測(cè)角儀上快速準(zhǔn)確地更換整...
EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-2D,、快照和掃描模式),,覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測(cè)量方法。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,,而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)用戶。其可實(shí)現(xiàn)無吸收測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍,、用于超快粉末測(cè)量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,,都為多模式探測(cè)器樹立了新標(biāo)準(zhǔn)。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測(cè)器技術(shù),,整合了布魯克的軟件和硬件,,可為您帶來無縫易用的解決方案。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,??装搴统练e樣品在反射和透射中的高通量篩選。第三方檢測(cè)...
X射線粉末衍射(XRPD)技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,,您將能簡(jiǎn)單地實(shí)施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,,并測(cè)定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸、微應(yīng)變,、無序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析指標(biāo)化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修,,由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。在DIFFRAC.LEPTOS中,,對(duì)多層樣品進(jìn)行XRR分析,,測(cè)定其薄膜厚度、...
BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,,是分析誤差的重要來源,。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,將樣品制備問題可視化,,如粒徑或擇優(yōu)取向,。避免就統(tǒng)計(jì)而言沒有代表性的測(cè)量結(jié)果。運(yùn)營(yíng)成本低不消耗水硅條帶探測(cè)器技術(shù),,無需使用探測(cè)器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗(650W)布魯克與水泥業(yè)密切合作,,不斷改進(jìn)其分析解決方案。在D2PHASER方面,,我們針對(duì)水泥業(yè)提供了一個(gè)軟件包,,其中包括針對(duì)10多種原材料、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應(yīng)用的測(cè)量和數(shù)據(jù)評(píng)估方法,,可有效控制窯爐以及工廠的礦物學(xué)。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運(yùn)...
XRD檢測(cè)納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān),,而X射線衍射是測(cè)定納米材料晶尺寸的有效方法之一,。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個(gè)完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計(jì)算Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:hkl晶面的bragg角度λ:入射X光的波長(zhǎng),,一般Cu靶為1.54埃K:常數(shù)(晶粒近似為球形,,K=0.89;其他K=1)ADVANCE采用了開放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),,將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì)在DIFFRAC.EVA中,,進(jìn)行半定量分析,,以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度。湖...
LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,,著實(shí)出色,,是市面上性能的熒光過濾器探測(cè)器系統(tǒng)。借助它,您可在零強(qiáng)度損失下對(duì)由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100%過濾,,而且無需金屬濾波片,,因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影,如殘余K?和吸收邊,。同樣,,也無需用到會(huì)消除強(qiáng)度的二級(jí)單色器。布魯克提供獨(dú)有的LYNXEYEXE-T探測(cè)器保證:交貨時(shí)保證無壞道,!LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器,,適用于所有波長(zhǎng)(從Cr到Ag),,具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。配備了UMC樣品臺(tái)的DISCOVER,,優(yōu)勢(shì)...
石油和天然氣D2PHASER是一種移動(dòng)式的臺(tái)式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質(zhì)樣品中的塊狀和黏土礦物,。此外,,X射線衍射(XRD)是分析頁(yè)巖層所必不可少的技術(shù),可進(jìn)行礦物學(xué)定性和定量表征,。X射線衍射在石化業(yè):使用D2PHASER識(shí)別膨脹性粘土(PDF)X射線衍射在石化業(yè):使用D2PHASER對(duì)頁(yè)巖層進(jìn)行井場(chǎng)礦物學(xué)分析(PDF)無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,,在峰...
二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)不活潑,且具有高熔點(diǎn),、高電阻率,、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì),使它成為重要的耐高溫材料,、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑,。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型:?jiǎn)涡毕唷⑺姆较嘁约傲⒎较?。不同晶體結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的物理化學(xué)性質(zhì)有較大區(qū)別,,X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一。同時(shí)利用先進(jìn)的Rietveld方法可對(duì)二氧化鋯多晶型樣品進(jìn)行快速定量分析。實(shí)例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖:微量的二氧化鋯單斜相右插圖:二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析:掠入射衍射,、X射線反射率測(cè)量,。湖南原位分析XRD...
波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學(xué)性能,比如凝結(jié)性能和強(qiáng)度變化等,,不光是由化學(xué)組成所決定的,,而主要是由其礦物組成所決定的。傳統(tǒng)的熟料物相分析采用BOGUE計(jì)算方法或熟料顯微鏡分析方法,。這些方法的缺點(diǎn)是眾所周知的,。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結(jié)合??梢源_定孰料中的C3S,、C2S、C3A,、C4AF等主要礦相的含量,,還可以得到C3S、C2S,、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量,。UMCy樣品臺(tái)在樣品重量和大小方面具有獨(dú)特的承載能力。廣州原位分析XRD衍射儀RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單...
D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,,是重要的材料研究工具之一,。D8DISCOVER就是布魯克推出的、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過的組件,,可為您帶來較好的性能和充分的靈活性,同時(shí)讓研究人員對(duì)材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征:定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測(cè)定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描D8D對(duì)地質(zhì)構(gòu)造研究,,借助μXRD,,哪怕是很小的包裹體定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定都不在話下。合肥GaN檢測(cè)分析D8DISCOVE...
D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對(duì)臺(tái)式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計(jì),,十分便于移動(dòng),您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺(tái),,也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,,然后花費(fèi)幾分鐘的時(shí)間,,即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨(dú)特的LYNXEYEXE-T探測(cè)器,已然成為同類更好的選擇,!小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,,可有效去除——不必要的輻射,如樣品熒光,,Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,,而不會(huì)明顯降低檢測(cè)速度。D8 DISCOVER配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦...
石墨化度分析引言石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),,應(yīng)用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結(jié)構(gòu)的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點(diǎn)陣參數(shù),石墨化度就愈高,。在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同不,,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果。蘇州熟料礦相檢測(cè)分析二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)...
API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質(zhì)量控制技術(shù)和方法指導(dǎo)原則”:指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時(shí),,應(yīng)使用“優(yōu)勢(shì)藥物晶型物質(zhì)狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,,以保證藥品臨床有效性、安全性與質(zhì)量可控性,。說明目前藥物行業(yè)對(duì)晶型的重視,。晶型,特別是API晶型對(duì)藥物的功能有直接關(guān)心,,同一API的不同晶型在溶解度,、熔點(diǎn)、溶出度,、生物有效性等方便可能會(huì)有不同。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD,。D8D對(duì)地質(zhì)構(gòu)造研究,,借助μXRD,哪怕是很小的包裹體定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定都不在話下,。合肥薄膜略入射測(cè)試檢測(cè)分析藥物:從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),,D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持...
X射線粉末衍射(XRPD)技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,,您將能簡(jiǎn)單地實(shí)施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測(cè)定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸,、微應(yīng)變,、無序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修,,由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。D8D對(duì)地質(zhì)構(gòu)造研究,借助μXRD,,哪怕是很小的包裹體定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定都...
介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu),,具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容,,而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,,有利于它在溫度較高、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,,因此在催化,、分離、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景,。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián),,而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞較大,,其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,,這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號(hào)。目前,,隨著衍射儀的發(fā)展,,動(dòng)態(tài)光路對(duì)的設(shè)計(jì)很好的解決了這類問題。實(shí)例SBA-15小角度XRD圖譜,,五個(gè)衍射峰分別對(duì)應(yīng)(100),、(110)、(200),、(300...
D8ADVANCEECO是一款功能齊全的D8ADVANCE衍射儀的經(jīng)濟(jì)型版本,,是D8衍射儀系列平臺(tái)的入門款。隨著采購(gòu)和維護(hù)X射線分析的資源愈發(fā)有限,,人們對(duì)準(zhǔn)確性,、精度和速度的要求也達(dá)到了前所未有的高度,。D8ADVANCEECO即理想的解決方案:較小的生態(tài)足跡、易用性和出色的分析性能是其突出的特點(diǎn),。得益于精簡(jiǎn)的儀器配置,,不論預(yù)算如何,它都是您的理想之選,。與D8ADVANCE系列其他產(chǎn)品一樣,,D8ADVANCEECO覆蓋所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用,包括典型的X射線粉末衍射(XRD)對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,。更換光學(xué)期間...
XRD檢測(cè)聚合物結(jié)晶度測(cè)定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時(shí),可以通過評(píng)估結(jié)晶度來確定剛度不足,,裂紋,,發(fā)白和其他缺陷的原因。通常,,測(cè)量結(jié)晶度的方法包括密度,,熱分析,NMR,、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測(cè)定結(jié)晶度的方法的說明以及實(shí)例。結(jié)晶度對(duì)于含有非晶態(tài)的聚合物,,其散射信號(hào)來源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號(hào)面積的比值:UMC樣品臺(tái)通常用于分析大塊樣品、掃描測(cè)量應(yīng)用和涂層分析,,也能測(cè)量多個(gè)小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實(shí)驗(yàn),。湖北購(gòu)買XRD衍射儀薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,...
介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu),,具有更大的孔徑,、更厚的孔壁和更高的孔容,而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,,有利于它在溫度較高,、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,因此在催化,、分離,、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián),,而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一,。由于SBA-15的晶胞較大,其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,,這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號(hào),。目前,隨著衍射儀的發(fā)展,,動(dòng)態(tài)光路對(duì)的設(shè)計(jì)很好的解決了這類問題,。實(shí)例SBA-15小角度XRD圖譜,五個(gè)衍射峰分別對(duì)應(yīng)(100),、(110),、(200)、(300...
石油和天然氣D2PHASER是一種移動(dòng)式的臺(tái)式X射線衍射儀(XRD),,可用于鑒定地質(zhì)樣品中的塊狀和黏土礦物,。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁(yè)巖層所必不可少的技術(shù),,可進(jìn)行礦物學(xué)定性和定量表征,。X射線衍射在石化業(yè):使用D2PHASER識(shí)別膨脹性粘土(PDF)X射線衍射在石化業(yè):使用D2PHASER對(duì)頁(yè)巖層進(jìn)行井場(chǎng)礦物學(xué)分析(PDF)無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具,、免準(zhǔn)直,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,,在峰...
BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,,是分析誤差的重要來源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,,將樣品制備問題可視化,,如粒徑或擇優(yōu)取向。避免就統(tǒng)計(jì)而言沒有代表性的測(cè)量結(jié)果,。運(yùn)營(yíng)成本低不消耗水硅條帶探測(cè)器技術(shù),,無需使用探測(cè)器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗(650W)布魯克與水泥業(yè)密切合作,,不斷改進(jìn)其分析解決方案。在D2PHASER方面,,我們針對(duì)水泥業(yè)提供了一個(gè)軟件包,,其中包括針對(duì)10多種原材料、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應(yīng)用的測(cè)量和數(shù)據(jù)評(píng)估方法,,可有效控制窯爐以及工廠的礦物學(xué),。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運(yùn)...
D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,,帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對(duì)從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì)。應(yīng)用范圍:1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法、掠入射衍射(GID),、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD,、GISAXS,、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS)4.總散射分析:Bragg衍射、對(duì)分布函數(shù)(PDF),、小角X射線散射(SAXS)新結(jié)構(gòu)測(cè)定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,,對(duì)此,,D8 DISCOVER具有高通量篩選功能,。云南...
殘余應(yīng)力分析::在DIFFRAC.LEPTOS中,,使用sin2psi法,用Cr輻射進(jìn)行測(cè)量,,對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。使用了2D檢測(cè)器的μXRD:使用DIFFRAC.EVA,測(cè)定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性。通過積分2D圖像,,進(jìn)行1D掃描,,來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析。定性相分析:候選材料鑒別(PMI)為常見,,這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,,而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn)。高通量篩選(HTS):在DIFFRAC.EVA中,,進(jìn)行半定量分析,,以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD:在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同步,然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。小角X射線散射(SAXS)...
D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對(duì)臺(tái)式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計(jì),,十分便于移動(dòng),您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺(tái),,也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,,然后花費(fèi)幾分鐘的時(shí)間,,即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨(dú)特的LYNXEYEXE-T探測(cè)器,,已然成為同類更好的選擇,!小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,可有效去除——不必要的輻射,,如樣品熒光,,Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,而不會(huì)明顯降低檢測(cè)速度,。從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,,用于評(píng)估晶體質(zhì)量...
X射線粉末衍射(XRPD)技術(shù)是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,,直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡(jiǎn)單地實(shí)施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測(cè)定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸,、微應(yīng)變,、無序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修,,由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS)。湖北全...
LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,,著實(shí)出色,,是市面上性能的熒光過濾器探測(cè)器系統(tǒng),。借助它,,您可在零強(qiáng)度損失下對(duì)由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100%過濾,,而且無需金屬濾波片,因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影,,如殘余K?和吸收邊。同樣,,也無需用到會(huì)消除強(qiáng)度的二級(jí)單色器,。布魯克提供獨(dú)有的LYNXEYEXE-T探測(cè)器保證:交貨時(shí)保證無壞道,!LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器,,適用于所有波長(zhǎng)(從Cr到Ag),,具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。新結(jié)構(gòu)測(cè)定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟...
納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,,進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,,可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實(shí)例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測(cè)試由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)...
制劑中微量API的晶型檢測(cè)引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,,往往還需要經(jīng)過溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,,進(jìn)而可能影響到藥物的療效。國(guó)內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對(duì)藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,特別是API含量非常少的制劑樣品,,檢測(cè)更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,,配合高性能的先進(jìn)檢測(cè)器,為制劑中微量API的晶型檢測(cè)提供了有利工具,。安裝在標(biāo)準(zhǔn)陶瓷X射線管前面,,可多達(dá)6種不同的...
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析,、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),,著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜),。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。憑借RapidRSM技術(shù),,能在 短的時(shí)間內(nèi),,測(cè)量大面積倒易空間。在DIFFRAC...