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波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學(xué)性能，比如凝結(jié)性能和強(qiáng)度變化等，不光是由化學(xué)組成所決定的，而主要是由其礦物組成所決定的。傳統(tǒng)的熟料物相分析采用BOGUE計算方法或熟料顯微鏡分析方法,。這些方法的缺點是眾所周知的。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結(jié)合?？梢源_定孰料中的C3S、C2S,、C3A,、C4AF等主要礦相的含量，還可以得到C3S,、C2S,、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量。X射線反射法,、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD,、GISAXS,、GI應(yīng)力分析、晶體取向分析,。廣州物相定量分析XRD衍射儀推薦咨詢X射線粉末衍射（XR...

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm。為實際石墨試樣（002）晶面間距,，nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標(biāo)物,，加入待測石墨樣品中，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點，應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的...

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm。為實際石墨試樣（002）晶面間距,，nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標(biāo)物，加入待測石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,，應(yīng)用于冶金,、化工、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的...

D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點X射線源，其能耗極低,，無需外設(shè)水冷,，對實驗室基礎(chǔ)設(shè)施亦無特殊要求。您只需準(zhǔn)備家用壁式插座即可,。因此,，您將能簡單快捷地完成安裝和定位。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下,，將擁有成本和立式XRD儀器的生態(tài)足跡降至。插件分析：無需外設(shè)水冷：每年可節(jié)約高達(dá)1.700m3的自來水耗電減少50％左右需單相電源,，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀...

材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器,，主要用于研究和質(zhì)控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結(jié)構(gòu),、研究快速可靠的SAXS測量的納米結(jié)構(gòu)或研究微觀結(jié)構(gòu)（微晶尺寸）,。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑（PDF）Er-Melilite的晶體結(jié)構(gòu)（PDF）陽極焦炭（LC值）分析（PDF）DIFFRAC.DQUANT：對殘余奧氏體進(jìn)行合規(guī)量化（PDF）布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進(jìn)的解決方案，旨在以可靠的方式,，支持地質(zhì)學(xué)家和礦產(chǎn)勘探者隨時隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作,。新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟，對此,，D8 DISCOVER具有高通量篩選功能,。蘇州x射線衍射檢...

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測量,，對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見,，這是因為其對原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中,，進(jìn)行半定量分析，以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果。小角X射線散射（SAXS）...

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,，因此擴(kuò)展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進(jìn)行電動移動：X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制，Psi傾斜度在-5°到95°之間，可用于應(yīng)力,、織構(gòu)和外延薄膜分析,。另外，它還具有真空多用途通孔,，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,，將樣品固定在適當(dāng)位置。二者均可用于溫控樣品臺,，進(jìn)行非環(huán)境分析,。另外，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),，輕松更換樣品臺,。這種X射線...

石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀（XRD），可用于鑒定地質(zhì)樣品中的塊狀和黏土礦物,。此外,，X射線衍射（XRD）是分析頁巖層所必不可少的技術(shù)，可進(jìn)行礦物學(xué)定性和定量表征,。X射線衍射在石化業(yè)：使用D2PHASER識別膨脹性粘土（PDF）X射線衍射在石化業(yè)：使用D2PHASER對頁巖層進(jìn)行井場礦物學(xué)分析（PDF）無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰...

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術(shù)的發(fā)展,，薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm,。在該技術(shù)節(jié)點的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,，XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣...

粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,，是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細(xì)灰，粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物,。粉煤灰是我國當(dāng)前排量較大的工業(yè)廢渣之一,。大量的粉煤灰不加處理，就會產(chǎn)生揚塵,，污染大氣,；若排入水系會造成河流淤塞，而其中的有毒化學(xué)物質(zhì)還會對人體和生物造成危害,。所以,，粉煤灰的再利用一直都是關(guān)注的熱點。比如,，已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等,。要合理高效的利用粉煤灰，則需要對其元素和礦相組成有詳細(xì)的了解,。粉煤灰的礦相主要莫來石,、石英以及大量的非晶態(tài)。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以精確的計算非晶相物質(zhì)的含量,。在實驗室中這個方法是可行的,，但在實際生產(chǎn)和快速檢測過程中，這...

粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,，是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細(xì)灰,，粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物。粉煤灰是我國當(dāng)前排量較大的工業(yè)廢渣之一,。大量的粉煤灰不加處理,，就會產(chǎn)生揚塵，污染大氣,；若排入水系會造成河流淤塞,，而其中的有毒化學(xué)物質(zhì)還會對人體和生物造成危害。所以,，粉煤灰的再利用一直都是關(guān)注的熱點,。比如，已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等,。要合理高效的利用粉煤灰,，則需要對其元素和礦相組成有詳細(xì)的了解。粉煤灰的礦相主要莫來石、石英以及大量的非晶態(tài),。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以精確的計算非晶相物質(zhì)的含量,。在實驗室中這個方法是可行的，但在實際生產(chǎn)和快速檢測過程中,，這...

BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,，是分析誤差的重要來源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,，將樣品制備問題可視化,，如粒徑或擇優(yōu)取向。避免就統(tǒng)計而言沒有代表性的測量結(jié)果,。運營成本低不消耗水硅條帶探測器技術(shù),，無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗（650W）布魯克與水泥業(yè)密切合作，不斷改進(jìn)其分析解決方案,。在D2PHASER方面,，我們針對水泥業(yè)提供了一個軟件包，其中包括針對10多種原材料,、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應(yīng)用的測量和數(shù)據(jù)評估方法，可有效控制窯爐以及工廠的礦物學(xué),。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運...

D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,，是重要的材料研究工具之一。D8DISCOVER就是布魯克推出的,、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過的組件，可為您帶來較好的性能和充分的靈活性,，同時讓研究人員對材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征：定性相分析和結(jié)構(gòu)測定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描X射線反射法,、掠入射衍射（GID）、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD,、GISAXS、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析,。蘇州X射線衍射儀檢...

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力。蘇州D2 PHASER檢測...

汽車和航空航天：配備了UMC樣品臺的D8D的一大優(yōu)勢就是可以對大型機(jī)械零件進(jìn)行殘余應(yīng)力和結(jié)構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。半導(dǎo)體與微電子：從過程開發(fā)到質(zhì)量控制，D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征,。制藥業(yè)篩選：新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,，對此,，D8D具有高通量篩選功能。儲能/電池：使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料，直接了當(dāng)?shù)墨@取不斷變化的儲能材料的晶體結(jié)構(gòu)和相組方面的信息,。使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性。通過積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描,，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析。江蘇檢測XRD衍射儀石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的...

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計,，十分便于移動，您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺,，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整，只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,，然后花費幾分鐘的時間,，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器,，已然成為同類更好的選擇,！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式，可有效去除——不必要的輻射,，如樣品熒光,，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射，而不會明顯降低檢測速度,。從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,，用于評估晶體質(zhì)量...

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計，十分便于移動,，您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,，只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,，然后花費幾分鐘的時間，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器,，已然成為同類更好的選擇！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,，可有效去除——不必要的輻射,，如樣品熒光，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,，而不會明顯降低檢測速度,。LYNXEYE XE-T主要用于0D、1D和2D數(shù)據(jù)采集,，具...

二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)不活潑,，且具有高熔點、高電阻率,、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨特的物理化學(xué)性質(zhì),，使它成為重要的耐高溫材料、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑,。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型：單斜相,、四方相以及立方相。不同晶體結(jié)構(gòu)對應(yīng)的物理化學(xué)性質(zhì)有較大區(qū)別,，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時利用先進(jìn)的Rietveld方法可對二氧化鋯多晶型樣品進(jìn)行快速定量分析。實例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,，包括高性能X射線源,、定制版光學(xué)器件、定制版樣品臺和多模式探測器,。廣東進(jìn)口XRD衍射儀檢測那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可...

對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,，通常需要進(jìn)行殘余應(yīng)力和織構(gòu)測量。通過消除樣品表面的拉應(yīng)力或引起壓應(yīng)力,，可延長其功能壽命,。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成。構(gòu)成塊狀樣品的微晶的取向,，決定了裂紋的生長方式,。而通過在材料中形成特定的織構(gòu),，可顯著增強(qiáng)其特性。這兩種技術(shù)在優(yōu)化制造法（例如增材制造）領(lǐng)域也占有一席之地,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。PATHFINDERPlus光學(xué)器件有一個確保測得強(qiáng)度的線性的自動吸收器，并可在以下之間切換：電動狹縫,，分光晶體,。深圳原位分析XRD衍射儀哪里好二氧化鋯多晶型分析引言...

LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率，著實出色,，是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng),。借助它，您可在零強(qiáng)度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100％過濾,，而且無需金屬濾波片,，因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影，如殘余K?和吸收邊,。同樣，也無需用到會消除強(qiáng)度的二級單色器,。布魯克提供獨有的LYNXEYEXE-T探測器保證：交貨時保證無壞道,！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。憑借RapidRSM技術(shù)，能在 短的時間內(nèi)...

藥用滑石粉中石棉的測定引言滑石粉主要成分是滑石（含水的硅酸鎂）,?；塾糜卺t(yī)藥、食品行業(yè)的添加劑,。在滑石成礦過程中,，常伴生有其他礦石，如角閃石和蛇紋石等石棉成分,。石棉為物質(zhì),。而根據(jù)中國藥典，藥用滑石粉中,，石棉應(yīng)“不得檢出”,。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰,，在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準(zhǔn)直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SR...

制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,，特別是API含量非常少的制劑樣品，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,，配合高性能的先進(jìn)檢測器，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。根據(jù)應(yīng)用需求,，調(diào)節(jié)探測器的位置和方向，包括0...

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度,，進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）...

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品，因此擴(kuò)展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進(jìn)行電動移動：X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間，可用于應(yīng)力,、織構(gòu)和外延薄膜分析,。另外，它還具有真空多用途通孔,，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,，將樣品固定在適當(dāng)位置。二者均可用于溫控樣品臺,，進(jìn)行非環(huán)境分析,。另外，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),，輕松更換樣品臺,。XRD可研...

布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動發(fā)散狹縫,、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時,。除此之外,，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上的一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag）,，具有準(zhǔn)確的計數(shù)率和角分辨率，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像，進(jìn)行1D掃描,，來進(jìn)行定性相分析...

獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用，該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,，可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動切換,。系統(tǒng)無需人工干預(yù)，即可在三個光路之間切換：用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細(xì)管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進(jìn)行分析,，其中包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）,?？装搴统练e樣品在反射和透射中的高通量篩選。上海XRD衍射儀單價X射線反射率測定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflec...

基于的D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準(zhǔn)直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方...

汽車和航空航天：配備了UMC樣品臺的D8D的一大優(yōu)勢就是可以對大型機(jī)械零件進(jìn)行殘余應(yīng)力和結(jié)構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。半導(dǎo)體與微電子：從過程開發(fā)到質(zhì)量控制，D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征,。制藥業(yè)篩選：新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,，對此，D8D具有高通量篩選功能,。儲能/電池：使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,，直接了當(dāng)?shù)墨@取不斷變化的儲能材料的晶體結(jié)構(gòu)和相組方面的信息。支持全新技術(shù)進(jìn)行定制，包括高性能X射線源,、定制版光學(xué)器件,、定制版樣品臺和多模式探測器。深圳XRD衍射儀推薦咨詢材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地...

蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物,。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石。根據(jù)中國藥典,，蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應(yīng)用場合，它都是值得您選擇的探測器：高的計數(shù)率,、動態(tài)范圍和能量分辨率,。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品的薄膜厚度,、界面粗糙...

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm。為實際石墨試樣（002）晶面間距,，nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標(biāo)物，加入待測石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,，應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展，進(jìn)一步加大了石墨材料的...