由于每對數(shù)據(jù)線和參考時(shí)鐘都是差分的,,所以主 板的測試需要同時(shí)占用4個(gè)示波器通道,也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測試時(shí)示波器能夠 4個(gè)通道同時(shí)工作且達(dá)到25GHz帶寬,。而對于插卡的測試來說,,只需要把差分的數(shù)據(jù)通道 引入示波器進(jìn)行測試就可以了,示波器能夠2個(gè)通道同時(shí)工作并達(dá)到25GHz帶寬即可,。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機(jī)信號質(zhì)量測試環(huán)境,。無論是對于發(fā)射機(jī)測試,還是對于后面要介紹到的接收機(jī)容限測試來說,,在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中,都需要用到ISI板,。ISI板上的Trace線有幾十對,,每相鄰線對 間的插損相差0.5dB左右。由于測試中用戶使用的電纜,、連接器的插損都可...
(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時(shí)鐘模式,,還提供了收發(fā)端采用參考時(shí)鐘模式的支持。通過各種信號處理技術(shù)的結(jié)合,,PCIe組織總算實(shí)現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插 件的基礎(chǔ)上,,每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率,。但同時(shí)收/發(fā)芯片會變 得更加復(fù)雜,,系統(tǒng)設(shè)計(jì)的難度也更大,。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性, 就成為設(shè)計(jì)和測試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn),。PCI-E測試信號完整性測試解決方案,;山東PCI-E測試調(diào)試在之前的PCIe規(guī)范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參...
首先來看一下惡劣信號的定義,,不是隨便一個(gè)信號就可以,,且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復(fù)性。通常把用于接收端容限測試的這個(gè)惡劣信號叫作Stress Eye,即壓 力眼圖,,實(shí)際上是借鑒了光通信的叫法,。這個(gè)信號是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個(gè)純凈的 帶特定預(yù)加重的信號,然后在這個(gè)信號上疊加精確控制的隨機(jī)抖動(RJ),、周期抖動(SJ),、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個(gè)成分的大小都符合規(guī)范的要求,,測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號進(jìn)行校準(zhǔn),。其中,ISI抖動是由PCIe協(xié)會提供的測試 夾具產(chǎn)生,,其夾具上會模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號的影響,。在PCIe3.0的 CB...
PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外,還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式,,以提供更多的連接靈 活性,。在CC時(shí)鐘模式下,主板會給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考,。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差,,同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時(shí)鐘的抖動可以互 相抵消,所以對于參考時(shí)鐘的抖動要求可以稍寬松一些如果被測件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,,如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析,?中國澳門PCI-E測試DDR...
簡單總結(jié)一下,PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術(shù)上的相同點(diǎn)和不同點(diǎn)有:(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率,;(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式,;(3)發(fā)送端都采用3階預(yù)加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡;(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強(qiáng)制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸,,多1個(gè)連接器,,更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應(yīng)對鏈路損耗以及不同鏈路的情況,新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都...
規(guī)范中規(guī)定了共11種不同的Preshoot和De-emphasis的組合,,每種組合叫作一個(gè) Preset,實(shí)際應(yīng)用中Tx和Rx端可以在Link Training階段根據(jù)接收端收到的信號質(zhì)量協(xié)商 出一個(gè)比較好的Preset值,。比如P4沒有任何預(yù)加重,P7強(qiáng)的預(yù)加重。圖4.3是 PCIe3.0和4.0標(biāo)準(zhǔn)中采用的預(yù)加重技術(shù)和11種Preset的組合(參考資料:PCI Express@ Base Specification4 .0) ,。對于8Gbps,、16Gbps 以及32Gbps信號來說,采用的預(yù)加重技術(shù)完 全一樣,,都是3階的預(yù)加重和11種Preset選擇,。PCI-E 3.0及信號完整性測試方法;...
在測試通道數(shù)方面,傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法,,即需要 把被測的一條通道和參考時(shí)鐘RefClk同時(shí)接入示波器測試,。由于測試通道和RefClk都是 差分通道,所以在用電纜直接連接測試時(shí)需要用到4個(gè)示波器通道(雖然理論上也可以用2個(gè) 差分探頭實(shí)現(xiàn)連接,,但是由于會引入額外的噪聲,,所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點(diǎn)是可以比較方便地計(jì)算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中,,對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法,,即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試,這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個(gè)示波器通道,。圖4.23...
在物理層方面,,PCIe總線采用多對高速串行的差分信號進(jìn)行雙向高速傳輸,每對差分 線上的信號速率可以是第1代的2 . 5Gbps,、第2代的5Gbps,、第3代的8Gbps、第4代的 16Gbps,、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接,、背板連接、芯片直接互連以及電 纜連接等,。根據(jù)不同的總線帶寬需求,,其常用的連接位寬可以選擇x1、x4,、x8,、x16等。如 果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率,,理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬,。 另外,2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù),,單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo) 準(zhǔn)規(guī)范也在討論過程中,。列出了PCI...
首先來看一下惡劣信號的定義,不是隨便一個(gè)信號就可以,,且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復(fù)性,。通常把用于接收端容限測試的這個(gè)惡劣信號叫作Stress Eye,即壓 力眼圖,,實(shí)際上是借鑒了光通信的叫法。這個(gè)信號是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個(gè)純凈的 帶特定預(yù)加重的信號,,然后在這個(gè)信號上疊加精確控制的隨機(jī)抖動(RJ),、周期抖動(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI),。為了確定每個(gè)成分的大小都符合規(guī)范的要求,測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號進(jìn)行校準(zhǔn),。其中,,ISI抖動是由PCIe協(xié)會提供的測試 夾具產(chǎn)生,其夾具上會模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號的影響,。在PCIe3.0的 CB...
在2010年推出PCle3.0標(biāo)準(zhǔn)時(shí),,為了避免10Gbps的電信號傳輸帶來的挑戰(zhàn),PCI-SIG 終把PCle3.0的數(shù)據(jù)傳輸速率定在8Gbps,并在PCle3.0及之后的標(biāo)準(zhǔn)中把8b/10b編碼 更換為更有效的128b/130b編碼,,以提高有效的數(shù)據(jù)傳輸帶寬,。同時(shí),為了保證數(shù)據(jù)傳輸 密度和直流平衡,,還采用了擾碼的方法,,即數(shù)據(jù)傳輸前先和一個(gè)多項(xiàng)式進(jìn)行異或,這樣傳輸 鏈路上的數(shù)據(jù)就看起來比較有隨機(jī)性,,可以保證數(shù)據(jù)的直流平衡并方便接收端的時(shí)鐘恢復(fù),。 擾碼后的數(shù)據(jù)到了接收端會再用相同的多項(xiàng)式把數(shù)據(jù)恢復(fù)出來。PCI-e的軟件編程接口;眼圖測試PCI-E測試銷售價(jià)格PCIe5.0物理層技術(shù)PCI...
PCIe5.0物理層技術(shù)PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對PCIe5.0芯片設(shè)計(jì)的Base規(guī)范,,針對板卡設(shè)計(jì)的CEM規(guī)范也在2021年制定完成,,同時(shí)支持PCIe5.0的服務(wù)器產(chǎn)品也在2021年開始上市發(fā)布。對于PCIe5.0測試來說,,其鏈路的拓?fù)淠P团cPCIe4.0類似,,但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB,、連接器的損耗更大,,整個(gè)鏈路的損耗達(dá)到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預(yù)算的模型,。為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣,?山西PC...
克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標(biāo),??藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器,、誤碼儀,、協(xié)議分析儀,、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具,。堅(jiān)持以專業(yè)的技術(shù)人員,,嚴(yán)格按照行業(yè)測試規(guī)范,配備高性能的權(quán)能測試設(shè)備,,提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù),。克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認(rèn)證測試,、預(yù)認(rèn)證測試及錯(cuò)誤排除信號完整性測試,、多端口矩陣測試、HDMI測試,、USB測試,,PCI-E測試等...
SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供,會對信號進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù),、均衡以及眼圖,、抖 動的分析。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個(gè)不同幅度的CTLE均衡,,而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整,,所以SigTest軟件會遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化,并 根據(jù)眼高,、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值,。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號質(zhì)量測試 結(jié)果。SigTest需要用戶手動設(shè)置示波器采樣,、通道嵌入,、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析,測試效率 比較低,,而且對于不熟練的測試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測試結(jié)果的不一致,,測試項(xiàng)目 也主要限于信號質(zhì)量與Preset相關(guān)的項(xiàng)目。為了提高PCIe測試的效率和...
PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的 特點(diǎn)進(jìn)行了重新設(shè)計(jì),,上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似,,典型 的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) ,。早 期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴(kuò)展出來的,,根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部, 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部,,成為CPU重要的外部擴(kuò)展總線,。PCIe 總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。一種PCIE通道帶寬的測試方法;山西PCI-E測試市場...
是用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行鏈路標(biāo)定的典型連接,,具體的標(biāo)定步驟非常多,,在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細(xì)描述,,這里不做展開。 在硬件連接完成,、測試碼型切換正確后,,就可以對信號進(jìn)行捕獲和信號質(zhì)量分析。正式 的信號質(zhì)量分析之前還需要注意的是:為了把傳輸通道對信號的惡化以及均衡器對信號的 改善效果都考慮進(jìn)去,,PCIe3.0及之后標(biāo)準(zhǔn)的測試中對其發(fā)送端眼圖,、抖動等測試的參考點(diǎn) 從發(fā)送端轉(zhuǎn)移到了接收端。也就是說,,測試中需要把傳輸通道對信號的惡化的影響以及均 衡器對信號的改善影響都考慮進(jìn)去,。 為什么沒有PCIE轉(zhuǎn)DP或hdmi?HDMI測試PCI-E測試一致性測...
P5 ,、8Gbps P6 ,、8Gbps P7 ,、8Gbps P8 ,、8GbpsP9 、8Gbps P10 ,、16GbpsP0 ,、16GbpsPl 、16Gbps P2 ,、16Gbps P3 ,、16Gbps P4 、16Gbps P5 ,、16Gbps P6 ,、16GbpsP7 、16Gbps P8 ,、16Gbps P9,、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點(diǎn)是,,由于在8Gbps和16Gbps下都有11種 Preset值,,測試過程中應(yīng)明確當(dāng)前測試的是哪一個(gè)Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 ,、Presetl ,、...
在物理層方面,PCIe總線采用多對高速串行的差分信號進(jìn)行雙向高速傳輸,,每對差分 線上的信號速率可以是第1代的2 . 5Gbps,、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps,、第4代的 16Gbps,、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接,、背板連接、芯片直接互連以及電 纜連接等,。根據(jù)不同的總線帶寬需求,,其常用的連接位寬可以選擇x1、x4,、x8,、x16等。如 果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率,,理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬,。 另外,2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù),,單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo) 準(zhǔn)規(guī)范也在討論過程中,。列出了PCI...
其中,電氣(Electrical) ,、協(xié)議(Protocol) ,、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為,這些要求合在一起稱為Base規(guī)范,,用于指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì),;基于Base規(guī)范,PCI-SIG還會 再定義對于板卡設(shè)計(jì)的要求,,比如板卡的機(jī)械尺寸,、電氣性能要求,這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范,,用以指導(dǎo)服務(wù)器,、計(jì)算機(jī)和插卡等系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的開 發(fā)。除了針對金手指連接類型的板卡,,針對一些新型的連接方式,,如M.2、U.2等,,也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布,。走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎?校準(zhǔn)PCI-E測試服務(wù)熱線...
PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測試中,,為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出,,PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似,,也是包含了CLB板,、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到對應(yīng)位寬的CLB板,;插卡的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到CBB板,;而在接收容限測試中,,由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn),整套夾具都可能會使用到,。21是PCIe5.0的測試夾具組成,。pcie物理層面檢測,pcie時(shí)序測試;黑龍江PCI-E測試安裝測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬:41.2...
如前所述,,在PCle4.0的主板和插卡測試中,,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測試通道,,而對端接收芯片封裝對信號的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的,。測試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測試軟件把這個(gè)S參數(shù)文件的影響加到被測波形上。 PCIe4.0信號質(zhì)量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動分析,,另一種是使用示波器廠商提供的軟件進(jìn)行自動測試,。 pcie 有幾種類型,哪個(gè)速度快?測量PCI-E測試產(chǎn)品介紹PCIe4.0的物理層技術(shù)PCIe標(biāo)準(zhǔn)自從推出以來,1代和2代標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)...
當(dāng)鏈路速率不斷提升時(shí),,給接收端留的信號裕量會越來越小,。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義,信號經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_(dá)接收端,,并經(jīng)均衡器調(diào)整以后的小眼高允許15mV, 小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps,。在這么小 的鏈路裕量下,,必須仔細(xì)調(diào)整預(yù)加重和均衡器的設(shè)置才能得到比較好的誤碼率結(jié)果,。但是,預(yù) 加重和均衡器的組合也越來越多,。比如PCIe4.0中發(fā)送端有11種Preset(預(yù)加重的預(yù)設(shè)模 式),而接收端的均衡器允許CTLE在-6~ - 12dB范圍內(nèi)以1dB的分辨率調(diào)整,,并且允許 2階DFE分別在±30mV和±20mV范圍內(nèi)調(diào)整。綜合考慮以上...
首先來看一下惡劣信號的定義,,不是隨便一個(gè)信號就可以,,且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復(fù)性。通常把用于接收端容限測試的這個(gè)惡劣信號叫作Stress Eye,即壓 力眼圖,,實(shí)際上是借鑒了光通信的叫法,。這個(gè)信號是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個(gè)純凈的 帶特定預(yù)加重的信號,然后在這個(gè)信號上疊加精確控制的隨機(jī)抖動(RJ),、周期抖動(SJ),、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個(gè)成分的大小都符合規(guī)范的要求,,測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號進(jìn)行校準(zhǔn),。其中,ISI抖動是由PCIe協(xié)會提供的測試 夾具產(chǎn)生,,其夾具上會模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號的影響,。在PCIe3.0的 CB...
需要注意的是,,每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣,特別是CBB的 變化比較大,,所以測試中需要加以注意,。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件,主要包括1塊CBB4測試夾具,、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具,、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中,,CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準(zhǔn),; CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準(zhǔn);可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的,,無論是哪種測試,,ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中,,要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響,,用于模擬實(shí)際主板或插...
PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的 特點(diǎn)進(jìn)行了重新設(shè)計(jì),上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似,,典型 的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) ,、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) 。早 期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴(kuò)展出來的,,根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部,, 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部,成為CPU重要的外部擴(kuò)展總線,。PCIe 總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容,。PCI-e的軟件編程接口;甘肅PCI-E測試廠家現(xiàn)貨P...
PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測試中,為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出,,PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專門的PCIe5.0測試夾具,。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似,也是包含了CLB板,、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板,。主板的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到對應(yīng)位寬的CLB板;插卡的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到CBB板,;而在接收容限測試中,,由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn),整套夾具都可能會使用到,。21是PCIe5.0的測試夾具組成,。為什么PCI-E3.0開始重視接收端的容限測試?青海信號完整性測試PCI-E測試 綜上所述,PCIe4.0的信號測試需要25G...
·項(xiàng)目2.6Add-inCardLaneMarginingat16GT/s:驗(yàn)證插卡能通過LaneMargining功能反映接收到的信號質(zhì)量,,針對16Gbps速率,。·項(xiàng)目2.7SystemBoardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證主板發(fā)送信號質(zhì)量,,針對2.5Gbps,、5Gbps、8Gbps,、16Gbps速率,。·項(xiàng)目2.8SystemBoardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確,,針對8Gbps和16Gbps速率,。·項(xiàng)目2.9SystemBoardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:...
PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的 特點(diǎn)進(jìn)行了重新設(shè)計(jì),,上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似,,典型 的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) ,。早 期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴(kuò)展出來的,,根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部, 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部,,成為CPU重要的外部擴(kuò)展總線,。PCIe 總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。PCIe如何解決PCI體系結(jié)構(gòu)存在的問題的呢,?江西PC...
·項(xiàng)目2.6Add-inCardLaneMarginingat16GT/s:驗(yàn)證插卡能通過LaneMargining功能反映接收到的信號質(zhì)量,,針對16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.7SystemBoardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證主板發(fā)送信號質(zhì)量,,針對2.5Gbps,、5Gbps,、8Gbps、16Gbps速率,?!ろ?xiàng)目2.8SystemBoardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確,針對8Gbps和16Gbps速率,?!ろ?xiàng)目2.9SystemBoardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:...
由于每對數(shù)據(jù)線和參考時(shí)鐘都是差分的,所以主 板的測試需要同時(shí)占用4個(gè)示波器通道,,也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測試時(shí)示波器能夠 4個(gè)通道同時(shí)工作且達(dá)到25GHz帶寬,。而對于插卡的測試來說,只需要把差分的數(shù)據(jù)通道 引入示波器進(jìn)行測試就可以了,示波器能夠2個(gè)通道同時(shí)工作并達(dá)到25GHz帶寬即可,。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機(jī)信號質(zhì)量測試環(huán)境,。無論是對于發(fā)射機(jī)測試,還是對于后面要介紹到的接收機(jī)容限測試來說,,在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中,,都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對,,每相鄰線對 間的插損相差0.5dB左右,。由于測試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可...
簡單總結(jié)一下,,PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術(shù)上的相同點(diǎn)和不同點(diǎn)有:(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率,;(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式;(3)發(fā)送端都采用3階預(yù)加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡,;(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強(qiáng)制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸,,多1個(gè)連接器,更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應(yīng)對鏈路損耗以及不同鏈路的情況,,新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都...