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CP測試內(nèi)容和測試方法：1、SCAN,，SCAN用于檢測芯片邏輯功能是否正確,。DFT設(shè)計時,，先使用DesignCompiler插入ScanChain，再利用ATPG（Automatic Test Pattern Generation）自動生成SCAN測試向量,。SCAN測試時，先進入Scan Shift模式，ATE將pattern加載到寄存器上,，再通過Scan Capture模式，將結(jié)果捕捉,。再進入下次Shift模式時,，將結(jié)果輸出到ATE進行比較。2,、Boundary SCAN,，Boundary SCAN用于檢測芯片管腳功能是否正確。與SCAN類似,，Boundary SCAN通過在IO管腳間插入邊...

本發(fā)明在另一實施例中公開一種芯片測試機的測試方法,。該測試方法包括以下步驟：將多個待測試芯片放置于多個tray盤中，每一個tray盤中放置多個待測試芯片,，將多個tray盤放置于自動上料裝置,，并在自動下料裝置及不良品放置臺上分別放置一個空tray盤；移載裝置從自動上料裝置的tray盤中取出待測試芯片移載至測試裝置進行測試,；芯片測試完成后,，移載裝置將測試合格的芯片移載至自動下料裝置的空tray盤中，將不良品移載至不良品放置臺的空tray盤中,；當(dāng)自動上料裝置的一個tray盤中的待測試芯片全部完成測試,，且自動下料裝置的空tray盤中放滿測試合格的芯片后，移載裝置將自動上料裝置的空tray盤移載至自動下料...

本發(fā)明在另一實施例中公開一種芯片測試機的測試方法,。該測試方法包括以下步驟：將多個待測試芯片放置于多個tray盤中,，每一個tray盤中放置多個待測試芯片,，將多個tray盤放置于自動上料裝置，并在自動下料裝置及不良品放置臺上分別放置一個空tray盤,；移載裝置從自動上料裝置的tray盤中取出待測試芯片移載至測試裝置進行測試,；芯片測試完成后，移載裝置將測試合格的芯片移載至自動下料裝置的空tray盤中,，將不良品移載至不良品放置臺的空tray盤中,；當(dāng)自動上料裝置的一個tray盤中的待測試芯片全部完成測試，且自動下料裝置的空tray盤中放滿測試合格的芯片后,，移載裝置將自動上料裝置的空tray盤移載至自動下料...

測試項目流程：目前量產(chǎn)的是BLE的SOC產(chǎn)品,，里面包含了eflash、AD/DA,、 LDO/BUCK,、RF等很多模塊，為了提供給客戶品質(zhì)高的產(chǎn)品,，我們針對每個模塊都有詳細(xì)的測試,，下面是我們的大概的項目測試流程：Open/Short Test: 檢查芯片引腳中是否有開路或短路。DC TEST: 驗證器件直流電流和電壓參數(shù),。Eflash TEST: 測試內(nèi)嵌flash的功能及性能,，包含讀寫擦除動作及功耗和速度等各種參數(shù)。Function TEST: 測試芯片的邏輯功能,。AC Test: 驗證交流規(guī)格,，包括交流輸出信號的質(zhì)量和信號時序參數(shù)。Mixed Signal Test: 驗證DUT數(shù)?；旌想娐?..

本發(fā)明的芯片測試機還包括加熱裝置,，部分型號的芯片在測試前可能需要進行高溫加熱或低溫冷卻。當(dāng)待測試芯片移載至測試裝置后,，可以通過頭一移動機構(gòu)帶動高溫加熱頭移動至測試裝置的上方,，然后由下壓機構(gòu)帶動高溫加熱頭向下移動，并由高溫加熱頭對芯片進行高溫加熱或低溫冷卻,，滿足對芯片高溫加熱或低溫冷卻的要求,。加熱裝置還包括預(yù)加熱緩存機構(gòu)，當(dāng)芯片需要進行高溫測試的時候,，為了提高加熱效率,，可以先將多個待測試芯片移動至預(yù)加熱工作臺的多個預(yù)加熱工位進行預(yù)加熱，在測試的時候,，可以減少高溫加熱頭加熱的時間,，提高測試效率。芯片測試機包括測試頭和測試座來測試芯片,。CPU芯片測試機廠家供應(yīng)為了實現(xiàn)待測試芯片的自動上料,，自動上料裝...

在本發(fā)明的描述中,，需要理解的是，術(shù)語“上”,、“下”,、“前”、“后”,、“左”,、“右”、“豎直”,、“水平”,、“中”、“內(nèi)”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系,，只是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位,、以特定的方位構(gòu)造和操作,，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。此外,，術(shù)語“頭一”,、“第二”等只用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量,。由此,，限定有“頭一”、“第二”等的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特征,。在本發(fā)明的描述中,，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定,，術(shù)語“安裝”,、“相連”、“連接”應(yīng)...

當(dāng)芯片需要進行高溫加熱時,，可以先將多個待測試芯片移動至預(yù)加熱工作臺95的多個預(yù)加熱工位96進行預(yù)加熱,，在測試的時候，可以減少高溫加熱頭71的加熱時間,，提高測試效率,。當(dāng)自動上料裝置40上的來料芯片的放置方向與測試裝置30測試時需要放置的芯片的方向不一致時，需要首先對待測試芯片進行預(yù)定位,，故本實施例在機架10上還設(shè)置有預(yù)定位裝置100,。預(yù)定位裝置100包括預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101、預(yù)定位底座102及轉(zhuǎn)向定位底座103,，預(yù)定位底座102與預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101相連,，預(yù)定位底座102位于預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101與轉(zhuǎn)向定位底座103之間,，轉(zhuǎn)向定位底座103上開設(shè)有凹陷的預(yù)定位槽104,。芯片測試機可用于快速排除芯片...

DC/AC Test,，DC測試包括芯片Signal PIN的Open/Short測試，電源PIN的PowerShort測試,，以及檢測芯片直流電流和電壓參數(shù)是否符合設(shè)計規(guī)格,。AC測試檢測芯片交流信號質(zhì)量和時序參數(shù)是否符合設(shè)計規(guī)格,。RF Test，對于無線通信芯片,，RF的功能和性能至關(guān)重要,。CP中對RF測試來檢測RF模塊邏輯功能是否正確。FT時還要對RF進行更進一步的性能測試,。其他Function Test,，芯片其他功能測試，用于檢測芯片其他重要的功能和性能是否符合設(shè)計規(guī)格,。CP測試的目的就是在封裝前就把壞的芯片篩選出來,，以節(jié)省封裝的成本。同時可以更直接的知道Wafer 的良率,。CP測試可檢查fa...

IC測試的設(shè)備,，由于IC的生產(chǎn)量通常非常巨大，因此向萬用表,、示波器一類手工測試一起一定是不能勝任的,，目前的測試設(shè)備通常都是全自動化、多功能組合測量裝置,，并由程序控制,，你基本上可以認(rèn)為這些測試設(shè)備就是一臺測量專門使用工業(yè)機器人。IC的測試是IC生產(chǎn)流程中一個非常重要的環(huán)節(jié),，在目前大多數(shù)的IC中,，測試環(huán)節(jié)所占成本常常要占到總成本的1/4到一半。同時,，芯片測試也可以發(fā)現(xiàn)芯片制造工藝存在的問題和不足之處,，幫助優(yōu)化芯片設(shè)計和制造工藝。較終,，芯片測試結(jié)果可用于評估芯片產(chǎn)品的競爭力,、商業(yè)價值和市場前景。芯片測試機可以檢測芯片的性能和缺陷,。江蘇晶圓芯片測試機市價如圖13,、圖14所示，本實施例的移載裝置20包括...

下壓機構(gòu)73包括下壓氣缸支座731,、下壓氣缸座732及下壓氣缸733,，下壓氣缸支座731固定于頭一移動固定底板722上,，下壓氣缸座732固定于下壓氣缸支座731上，下壓氣缸733固定于下壓氣缸座732上,，下壓氣缸733與一個高溫頭支架734相連,，高溫加熱頭71固定于高溫頭支架734上。當(dāng)芯片需要進行高溫加熱或低溫冷卻時,，首先選擇由頭一移動氣缸724驅(qū)動頭一移動固定底板722移動,，頭一移動固定底板722帶動下壓機構(gòu)73及高溫加熱頭71移動至測試裝置30的上方。然后由下壓氣缸733帶動高溫加熱頭71向下移動,，并由高溫加熱頭71對芯片進行高溫加熱或低溫冷卻,，滿足對芯片高溫加熱或低溫冷卻的要求。芯片測...

芯片測試設(shè)備利用基于數(shù)字信號處理（DSP）的測試技術(shù)來測試混合信號芯片與傳統(tǒng)的測試技術(shù)相比有許多優(yōu)勢,。芯片測試設(shè)備由于能并行地進行參數(shù)測試,，所以能減少測試時間；由于能把各個頻率的信號分量區(qū)分開來（也就是能把噪聲和失真從測試頻率或者其它頻率分量中分離出來）,，所以能增加測試的精度和可重復(fù)性,。由于擁有很多陣列處理函數(shù)，比如說求平均數(shù)等,，這對混合信號測試非常有用,。芯片測試設(shè)備運行原理如上所示,，為了測試大規(guī)模的芯片以及集成電路,，用戶需要對芯片測試設(shè)備的運行原理了解清楚更有利于芯片測試設(shè)備的選擇。芯片測試機能夠快速產(chǎn)生測試結(jié)果,。江蘇推拉力芯片測試機價位測試項目流程：目前量產(chǎn)的是BLE的SOC產(chǎn)品,，里面包含...

伺服電機43、行星減速機44均固定于頭一料倉41或第二料倉51的底部,，滾珠絲桿45,、頭一移動底板46、第二移動底板47及兩個導(dǎo)向軸48均固定于頭一料倉41或第二料倉51的內(nèi)部,，伺服電機43的驅(qū)動主軸與行星減速機44相連,，行星減速機44通過聯(lián)軸器與滾珠絲桿45相連。頭一料倉41,、第二料倉51的上方設(shè)有絲桿固定板49,，滾珠絲桿45的底部通過絲桿固定座451固定于頭一料倉41或第二料倉51的底板上，滾珠絲桿45的頂部通過絲桿固定座451固定于絲桿固定板49上,。兩個導(dǎo)向軸48的底部也固定于頭一料倉41或第二料倉51的底板上,，兩個導(dǎo)向軸48的頂部也固定于絲桿固定板49上。滾珠絲桿45及兩個導(dǎo)向軸48分別...

芯片的工作原理是將電路制造在半導(dǎo)體芯片表面上從而進行運算與處理的,。晶體管有開和關(guān)兩種狀態(tài),分別用1和0表示,多個晶體管能夠產(chǎn)生多個1和0信號,這種信號被設(shè)定為特定的功能來處理這些字母和圖形等,。在加電后,芯片會產(chǎn)生一個啟動指令,之后芯片就會開始啟動,接著就會不斷的被接受新的數(shù)據(jù)和指令來不斷完成,。芯片是一種集成電路,由大量的晶體管構(gòu)成。不同的芯片有不同的集成規(guī)模,大到幾億;小到幾十,、幾百個晶體管,。晶體管有兩種狀態(tài),開和關(guān),用1、0來表示,。芯片測試機能夠進行電氣特性測試,。黑龍江芯片測試機供應(yīng)商第二z軸移動組件24包括轉(zhuǎn)矩電機240、高扭矩時規(guī)皮帶241,、兩個同步帶輪242,、直線導(dǎo)軌243。轉(zhuǎn)矩電機2...

s4：當(dāng)自動上料裝置40的一個tray盤中的待測試芯片全部完成測試,，且自動下料裝置50的空tray盤中放滿測試合格的芯片后,，移載裝置20將自動上料裝置40的空tray盤移載至自動下料裝置50。當(dāng)自動上料裝置40的位于較上方的tray盤中的50個芯片全部完成測試后,，且該50個芯片全部都是合格品,，則此時自動下料裝置50的tray盤中放滿50個測試合格的芯片。則通過移載裝置20將自動上料裝置40的孔的tray盤移載至自動下料裝置50上,，且將該tray盤放置于自動下料裝置50的放置有50個芯片的tray盤的上方,。芯片測試機能夠快速識別芯片的問題，并提供快速修復(fù)方案,。湖南CPU芯片測試機哪家好芯片測試座...

動態(tài)測試測試方法：準(zhǔn)備測試向量如下（以8個pin腳為例）在上面示例的向量運行時,，頭一個信號管腳在第2個周期測試，當(dāng)測試機管腳驅(qū)動電路關(guān)閉,，動態(tài)電流負(fù)載單元開始通過VREF將管腳電壓向+3V拉升,，如果VDD的保護二極管工作，當(dāng)電壓升至約+0.65V時它將導(dǎo)通,，從而將VREF的電壓鉗制住,，同時從可編程電流負(fù)載的IOL端吸收越+400uA的電流。這時候進行輸出比較的結(jié)果將是pass,，因為+0.65V在VOH（+1.5V）和VOL（+0.2V）之間,，即屬于“Z態(tài)”。如果短路,，輸出比較將檢測到0V,；如果開路，輸出端將檢測到+3V,，它們都會使整個開短路功能測試結(jié)果為fail,。注：走Z測試的目的更主要的是檢...

多功能推拉力測試機普遍用于LED封裝測試，IC半導(dǎo)體封裝測試、TO封裝測試,，IGBT功率模塊封裝測試,，光電子元器件封裝測試，汽車領(lǐng)域,，航天航空領(lǐng)域,，產(chǎn)品測試，研究機構(gòu)的測試及各類院校的測試研究等應(yīng)用,。設(shè)備功能介紹：1.設(shè)備整體結(jié)構(gòu)采用五軸定位控制系統(tǒng),，X軸和Y軸行程100mm,Z軸行程80mm,結(jié)合人體學(xué)的設(shè)計，保護措施,，左右霍爾搖桿控制XYZ平臺的自由移動,，讓操作更加簡單、方便并更加人性化,。2.可達(dá)200KG的堅固機身設(shè)計,，Y軸測試力值100KG，Z軸測試力值20KG3.智能工位自動更換系統(tǒng),，減少手工更換模塊的繁瑣性,，同時更好提升了測試的效率及便捷性4.高精密的動態(tài)傳感結(jié)合的力學(xué)算法，使各傳...

設(shè)計公司主要目標(biāo)是根據(jù)市場需求來進行芯片研發(fā),，在整個設(shè)計過程中,，需要一直考慮測試相關(guān)的問題，主要有下面幾個原因：1） 隨著芯片的復(fù)雜度原來越高,，芯片內(nèi)部的模塊越來越多,，制造工藝也是越來越先進，對應(yīng)的失效模式越來越多,，而如何能完整有效地測試整個芯片,，在設(shè)計過程中需要被考慮的比重越來越多,。2） 設(shè)計,、制造、甚至測試本身,，都會帶來一定的失效,，如何保證設(shè)計處理的芯片達(dá)到設(shè)計目標(biāo)，如何保證制造出來的芯片達(dá)到要求的良率,，如何確保測試本身的質(zhì)量和有效,，從而提供給客戶符合產(chǎn)品規(guī)范的、質(zhì)量合格的產(chǎn)品,，這些都要求必須在設(shè)計開始的頭一時間就要考慮測試方案,。3） 成本的考量。越早發(fā)現(xiàn)失效，越能減少無謂的浪費,；設(shè)計和制...

如果輸出結(jié)果符合標(biāo)準(zhǔn),，則表示芯片的性能符合要求；如果輸出結(jié)果不符合標(biāo)準(zhǔn),，則表示芯片的性能存在問題,。推拉力測試機的原理基于力學(xué)原理，即力與位移之間的關(guān)系,。推拉力測試機通過施加推力或拉力于測試樣品,，并測量該力對樣品造成的位移，從而確定樣品的強度和耐久性,。推拉力測試機的工作原理主要由以下幾部分組成：1,、傳動機構(gòu)：用于生成施加在樣品上的推力或拉力。2,、傳感器：用于測量樣品產(chǎn)生的位移,。3、控制系統(tǒng)：負(fù)責(zé)設(shè)置測試參數(shù),，控制測試過程,，并記錄和分析數(shù)據(jù)。4,、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)：負(fù)責(zé)處理和分析測試數(shù)據(jù),，以評估樣品的強度和性能。芯片測試機包括測試頭和測試座來測試芯片,。浙江PD芯片測試機定制如何進行一個產(chǎn)品的測試開發(fā),，各...

動態(tài)測試原理（或者叫功能測試或叫跑pattern方式），使用動態(tài)測試法進行開短路測試比之前介紹的靜態(tài)測試法更快,，成本也更低,，適合管腳比較多的芯片，減少測試時間,。使用測試機動態(tài)電流負(fù)載單元為前端偏置的 VDD 保護二極管提供電流,，通過輸出比較電平確定PASS區(qū)域（中間態(tài)或“Z”態(tài)）。兩種測量方法對比：利用功能測試進行開短路測試的優(yōu)點是速度相對比較快,；不利之處在于datalog所能顯示的結(jié)果信息有限,，當(dāng)fail產(chǎn)生，我們無法直接判斷失效的具體所在和產(chǎn)生原因,。通常在測試中因為芯片引腳不多,，對時間影響不明顯，大部分選擇靜態(tài)（DC測試）方法.芯片測試機能夠檢測到芯片的缺陷并提供反饋,。廣東集成電路芯片測試...

Probe Card---乃是Tester與wafer上的DUT之間其中一個連接介面,，目的在連接Tester Channel 與待測DUT。大部分為鎢銅或鈹銅，也有鈀等其他材質(zhì),；材質(zhì)的選擇需要強度高,、導(dǎo)電性及不易氧化等特性，樣子如下面所示,。當(dāng) probe card 的探針正確接觸wafer內(nèi)一顆 die的每個bond pads后, 送出start信號通過Interface給tester開始測試, tester完成測試送回分類訊號 ( End of test) 給Prober, 量產(chǎn)時必須 tester 與 prober 做連接(docking) 才能測試,。較終測試(FT,或者封裝測試)：就是在...

設(shè)備軟件：1.中英文軟件界面，三級操作權(quán)限,，各級操作權(quán)限可自由設(shè)定力值單位Kg,、g、N,，可根據(jù)測試需要進行選擇,。2.軟件可實時輸出測試結(jié)果的直方圖、力值曲線,，測試數(shù)據(jù)實時保存與導(dǎo)出功能,，測試數(shù)據(jù)并可實時連接MES系統(tǒng)軟件可設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)值并直接輸出測試結(jié)果并自動對測試結(jié)果進行判定。3.SPC數(shù)據(jù)導(dǎo)出自帶當(dāng)前導(dǎo)出數(shù)據(jù)值,、較小值,、平均值及CPK計算。傳感器精度：傳感器精度±0.003％,；綜合測試精度±0.25％測試傳感器量程自動切換,。測試精度：多點位線性精度校正，并用標(biāo)準(zhǔn)法碼進行重復(fù)性測試,，保證傳感器測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性,。軟件參數(shù)設(shè)置：根據(jù)各級權(quán)限可對合格力值、剪切高度,、測試速度等參數(shù)進行調(diào)節(jié),。測試平臺：真空...

芯片測試設(shè)備結(jié)果及配件：1、電源測試儀,。電源測試儀能夠?qū)π酒M行電源供應(yīng)的測試,。一般來說，電源測試儀包括直流電源和交流電源兩種類型,。直流電源一般用于芯片測試中,，控制電路使用,。而交流電源則常用于通信協(xié)議的測試,。2、 邏輯分析儀,。邏輯分析儀是一種常用的數(shù)字電路測試工具,。通過連接到芯片的引腳，邏輯分析儀可以捕捉芯片輸出的數(shù)字信號，并將其轉(zhuǎn)換成可視化的波形,。這可以幫助測試人員判斷芯片是否工作正常,，并排查故障。3. 聲學(xué)顯微鏡,，聲學(xué)顯微鏡可以用來檢測芯片中的缺陷,。聲學(xué)顯微鏡會將聲音轉(zhuǎn)換為光信號，這樣測試人員可以通過觀察芯片表面上的光反射來檢測芯片中的缺陷,。芯片測試機還可以進行邏輯測試以測試操作錯誤,。河南...

芯片測試的目的及原理介紹，測試在芯片產(chǎn)業(yè)價值鏈上的位置,，如下面這個圖表,，一顆芯片較終做到終端產(chǎn)品上，一般需要經(jīng)過芯片設(shè)計,、晶圓制造,、晶圓測試、封裝,、成品測試,、板級封裝等這些環(huán)節(jié)。在整個價值鏈中,，芯片公司需要主導(dǎo)的環(huán)節(jié)主要是芯片設(shè)計和測試,，其余的環(huán)節(jié)都可以由相應(yīng)的partner來主導(dǎo)或者完成。所以,，測試本身就是設(shè)計,，這個是需要在較初就設(shè)計好了的，對于設(shè)計公司來說,，測試至關(guān)重要,，不亞于電路設(shè)計本身。RF Test: 測試芯片里面RF模塊的功能及性能參數(shù),。芯片測試機可以提供定制化的測試方案,，以滿足工程師的需求。安徽芯片測試機怎么樣芯片測試設(shè)備采樣用于把信號從連續(xù)信號（模擬信號）轉(zhuǎn)換到離散信號（數(shù)字信...

測試相關(guān)的各種名詞：ATE-----------Automatic Test Equipment,自動化測試設(shè)備,，是一個高性能計算機控制的設(shè)備的集中,，可以實現(xiàn)自動化的測試。Tester---------測試機,，是由電子系統(tǒng)組成,，這些系統(tǒng)產(chǎn)生信號，建立適當(dāng)?shù)臏y試模式,，正確地按順序設(shè)置,，然后使用它們來驅(qū)動芯片本身,，并抓取芯片的輸出反饋，或者進行記錄,，或者和測試機中預(yù)期的反饋進行比較,，從而判斷好品和壞品。Test Program---測試程序,，測試機通過執(zhí)行一組稱為測試程序的指令來控制測試硬件,。DUT-----------Device Under Test,等待測試的器件，我們統(tǒng)稱已經(jīng)放在測試系統(tǒng)中...

DC/AC Test,，DC測試包括芯片Signal PIN的Open/Short測試,，電源PIN的PowerShort測試，以及檢測芯片直流電流和電壓參數(shù)是否符合設(shè)計規(guī)格,。AC測試檢測芯片交流信號質(zhì)量和時序參數(shù)是否符合設(shè)計規(guī)格,。RF Test，對于無線通信芯片,，RF的功能和性能至關(guān)重要,。CP中對RF測試來檢測RF模塊邏輯功能是否正確。FT時還要對RF進行更進一步的性能測試,。其他Function Test,，芯片其他功能測試，用于檢測芯片其他重要的功能和性能是否符合設(shè)計規(guī)格,。CP測試的目的就是在封裝前就把壞的芯片篩選出來,，以節(jié)省封裝的成本。同時可以更直接的知道Wafer 的良率,。CP測試可檢查fa...

第二z軸移動組件24包括轉(zhuǎn)矩電機240,、高扭矩時規(guī)皮帶241、兩個同步帶輪242,、直線導(dǎo)軌243,。轉(zhuǎn)矩電機240固定于吸嘴基板232上，兩個同步帶輪242分別相對設(shè)置于吸嘴基板232的上下兩側(cè),，兩個同步帶輪242通過高扭矩時規(guī)皮帶241相連,，轉(zhuǎn)矩電機240與其中一個同步帶輪242相連。直線導(dǎo)軌243固定于吸嘴基板232上,，真空吸嘴26通過滑塊固定于直線導(dǎo)軌243上,，滑塊與高扭機時規(guī)皮帶相連。轉(zhuǎn)矩電機240驅(qū)動其中同步帶輪242轉(zhuǎn)動,，同步帶輪242帶動高扭矩時規(guī)皮帶241轉(zhuǎn)動,，高扭矩時規(guī)皮帶241通過滑塊帶動真空吸嘴26在直線導(dǎo)軌243上上下移動。芯片測試機提供了可靠的測試跟蹤,，幫助工程師快速定...

在本發(fā)明的描述中,，需要理解的是,，術(shù)語“上”,、“下”,、“前”、“后”,、“左”,、“右”、“豎直”,、“水平”,、“中”、“內(nèi)”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系,，只是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述,，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作,，因此不能理解為對本發(fā)明的限制,。此外，術(shù)語“頭一”,、“第二”等只用于描述目的,，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此,，限定有“頭一”,、“第二”等的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特征。在本發(fā)明的描述中,，需要說明的是,，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”,、“相連”,、“連接”應(yīng)...

頭一移動機構(gòu)72固定于機架10的上頂板上，頭一移動機構(gòu)72包括兩個頭一移動固定塊721,、頭一移動固定底板722,、兩個相對設(shè)置的頭一移動導(dǎo)軌723、頭一移動氣缸724,。兩個頭一移動固定塊721相對設(shè)置于機架10的上頂板上,，兩個頭一移動導(dǎo)軌723分別固定于兩個頭一移動固定塊721上，頭一移動固定底板722通過滑塊分別與兩個頭一移動導(dǎo)軌723相連,。頭一移動氣缸724與頭一移動固定底板722相連,，頭一移動氣缸724通過氣缸固定板與機架10的上頂板相連。芯片測試機可以進行集成電路的質(zhì)量檢測,。云南全自動芯片測試機IC測試的設(shè)備,，由于IC的生產(chǎn)量通常非常巨大,，因此向萬用表、示波器一類手工測試一起一定是不能勝...

O/S測試有兩種測試方法：靜態(tài)測（也可以叫DC測試法）,，測試方法為：首先,，所有的信號管腳需要預(yù)置為“0”，這可以通過定義所有管腳為輸入并由測試機施加 VIL來實現(xiàn),， 所有的電源管腳給0V, VSS連接到地（Ground）,，已上圖測試PIN1為例，從PIN1端Force 電流I1 約 -100ua,，PIN1對GND端的二極管導(dǎo)通,，此時可量測到PIN1端的電壓為二極管壓降-0.65V左右。如果二極管壓降在-0.2V~-1.5V之間為PASS,大于1.5v為Open,，小于0.2V為Short,。同樣從PIN1端Force 電流I2 約 100ua，PIN1對VDD端的二極管導(dǎo)通,，此時可量測到PIN1端...

如圖13,、圖14所示，本實施例的移載裝置20包括y軸移動組件21,、x軸移動組件22,、頭一z軸移動組件23、第二z軸移動組件24,、真空吸盤25及真空吸嘴26,。x軸移動組件22與y軸移動組件21相連，頭一z軸移動組件23,、第二z軸移動組件24分別與x軸移動組件22相連,，真空吸盤25與頭一z軸移動組件23相連，真空吸嘴26與第二z軸移動組件24相連,。y軸移動組件21固定于機架10的上頂板上,，y軸移動組件21包括y軸移動導(dǎo)軌210、y軸拖鏈211,、y軸伺服電缸212及y軸移動底板213,，y軸導(dǎo)軌與y軸拖鏈211相對設(shè)置，y軸移動底板213通過滑塊分別與y軸移動導(dǎo)軌210及y軸伺服電缸212相連,。x軸移...