硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)組件裝夾完成后,，通過校正X,Y和Z方向的偏差來進(jìn)行的初始光功率耦合,，圖像處理軟件能自動(dòng)測(cè)量出各項(xiàng)偏差,，然后軟件驅(qū)動(dòng)運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)和運(yùn)動(dòng)平臺(tái)來補(bǔ)償偏差，以及給出提示,，繼續(xù)手動(dòng)調(diào)整角度滑臺(tái),。當(dāng)三個(gè)器件完成初始定位，同時(shí)確認(rèn)其在Z軸方向的相對(duì)位置關(guān)系后,，這時(shí)需要確認(rèn)輸入光纖陣列和波導(dǎo)器件之間光的耦合對(duì)準(zhǔn),。點(diǎn)擊找初始光軟件會(huì)將物鏡聚焦到波導(dǎo)器件的輸出端面。通過物鏡及初始光CCD照相機(jī),，可以將波導(dǎo)輸出端各通道的近場(chǎng)圖像投射出來,，進(jìn)行適當(dāng)耦合后，圖像會(huì)被投射到顯示器上,。硅光芯片耦合測(cè)試能夠高精度的測(cè)量待測(cè)試樣的三維或二維的全場(chǎng)測(cè)量,。分路器硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)

硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)的面向硅光芯片的光模塊封裝結(jié)構(gòu)及方法,封裝結(jié)構(gòu)包括硅光芯片,電路板和光纖陣列,硅光芯片放置在基板上,基板和電路板通過連接件相連,并且在連接件的作用下實(shí)現(xiàn)硅光芯片與電路板的電氣連通;光纖陣列的端面與硅光芯片的光端面耦合形成輸入輸出光路;基板所在平面與電路板所在平面之間存在一個(gè)夾角,使得光纖陣列的尾纖出纖方向與光模塊的輸入和/或輸出通道的光軸的夾角為銳角。本發(fā)明避免光纖陣列尾纖彎曲半徑過小的問題,提高了封裝的可靠性,。分路器硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)通過高精度移動(dòng)平臺(tái),、隔振系統(tǒng)、亞 微米級(jí)人工智能算法識(shí)別旋轉(zhuǎn)中心,從而提高測(cè)試精確度和效率 ,。

根據(jù)產(chǎn)業(yè)鏈劃分,，芯片從設(shè)計(jì)到出廠的中心環(huán)節(jié)主要包括6個(gè)部分：（1）設(shè)計(jì)軟件，芯片設(shè)計(jì)軟件是芯片公司設(shè)計(jì)芯片結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵工具,，目前芯片的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)主要依靠EDA（電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化）軟件來完成,；（2）指令集體系，從技術(shù)來看,，CPU只是高度聚集了上百萬個(gè)小開關(guān),，沒有高效的指令集體系，芯片沒法運(yùn)行操作系統(tǒng)和軟件,；（3）芯片設(shè)計(jì),，主要連接電子產(chǎn)品、服務(wù)的接口,；（4）制造設(shè)備,，即生產(chǎn)芯片的設(shè)備；（5）圓晶代工,，圓晶代工廠是芯片從圖紙到產(chǎn)品的生產(chǎn)車間,，它們決定了芯片采用的納米工藝等性能指標(biāo)；（6）封裝測(cè)試,，是芯片進(jìn)入銷售前的結(jié)尾一個(gè)環(huán)節(jié),，主要目的是保證產(chǎn)品的品質(zhì)，對(duì)技術(shù)需求相對(duì)較低,。應(yīng)用到芯片的領(lǐng)域比如我們的硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng),。

只要在確認(rèn)耦合不過的前提下,，可依次排除B殼天線、KB板和同軸線的故障進(jìn)行維修,。若以上一一排除,，則是主板參數(shù)校準(zhǔn)的問題，或者說是主板硬件存在故障,。耦合天線的種類比較多,，有塔式、平板式,、套筒式,，常用的是自動(dòng)硅光芯片硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)。為防止外部環(huán)境的電磁干擾搭載屏蔽箱,，來提高耦合直通率,。硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)是比較關(guān)鍵的，我們的客戶非常關(guān)注此工位測(cè)試的嚴(yán)謹(jǐn)性,，硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)主要控制“信號(hào)弱”,，“易掉話”，“找網(wǎng)慢或不找網(wǎng)”,，“不能接聽”等不良機(jī)流向市場(chǎng),。一般模擬用戶環(huán)境對(duì)設(shè)備EMC干擾的方法與實(shí)際使用環(huán)境存在較大差異，所以“信號(hào)類”返修量一直占有較大的比例,?？梢姡韫庑酒詈蠝y(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)需要嚴(yán)謹(jǐn)?shù)年P(guān)鍵崗位,。硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)硅光芯片的好處：在一個(gè)指令周期內(nèi)可完成一次乘法和一次加法,。

硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)中硅光芯片與激光器的封裝結(jié)構(gòu),封裝結(jié)構(gòu)包括基座,基座設(shè)置與硅光芯片連接的基座貼合面,與激光器芯片和一體化反射鏡透鏡連接的基座上表面;基座設(shè)置通孔,通孔頂部開口與一體化反射鏡透鏡的出光面連接,通孔底部開口與硅光芯片的光柵耦合器表面連接;激光器芯片靠近一體化反射鏡透鏡的入光面的一端設(shè)置高斯光束出口;激光器芯片的高斯光束方向水平射入一體化反射鏡透鏡的入光面,經(jīng)一體化反射鏡透鏡的反射面折射到一體化反射鏡透鏡的出光面,穿過通孔聚焦到光柵耦合器表面;基座貼合面與基座上表面延伸面的夾角為a1。通過對(duì)基座的底部進(jìn)行加工形成斜角,角度的設(shè)計(jì)滿足耦合光柵的較佳入射角,。耦合封裝與光芯片的設(shè)計(jì)密切相關(guān),也需要結(jié)合EIC的封裝整體考慮,。天津振動(dòng)硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)加工廠家

光通信的一個(gè)發(fā)展趨勢(shì)是實(shí)現(xiàn)集成化，類似于集成電路,，將光通信系統(tǒng)集成在單一光電子芯片,。分路器硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)

基于設(shè)計(jì)版圖對(duì)硅光芯片進(jìn)行光耦合測(cè)試的方法及系統(tǒng)進(jìn)行介紹,該方法包括:讀取并解析設(shè)計(jì)版圖,得到用于構(gòu)建芯片圖形的坐標(biāo)簇?cái)?shù)據(jù),驅(qū)動(dòng)左側(cè)光纖對(duì)準(zhǔn)第1測(cè)試點(diǎn),獲取與第1測(cè)試點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)圖形的第1選中信息,驅(qū)動(dòng)右側(cè)光纖對(duì)準(zhǔn)第二測(cè)試點(diǎn),獲取與第二測(cè)試點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)圖形的第二選中信息,獲取與目標(biāo)測(cè)試點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)圖形的第三選中信息,通過測(cè)試點(diǎn)圖形與測(cè)試點(diǎn)的對(duì)應(yīng)關(guān)系確定目標(biāo)測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo),以驅(qū)動(dòng)左或右側(cè)光纖到達(dá)目標(biāo)測(cè)試點(diǎn),進(jìn)行光耦合測(cè)試;該系統(tǒng)包括上位機(jī),電機(jī)控制器,電機(jī),夾持載臺(tái)及相機(jī)等;本發(fā)明具有操作簡單,耗時(shí)短,對(duì)用戶依賴程度低等優(yōu)點(diǎn),能夠極大提高硅光芯片光耦合測(cè)試的便利性。分路器硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)

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