半自動(dòng)型：chuck尺寸800mm/600mm；X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mm,；chuck粗調(diào)升降9mm,，微調(diào)升降16mm；可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡,；針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆,；顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"；可搭配Probecard測試,；適用領(lǐng)域：8寸/6寸Wafer,、IC測試之產(chǎn)品。電動(dòng)型：chuck尺寸1200mm,，平坦度土1u（不銹鋼或鍍金）,；X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程300mmx300mm；chuck粗調(diào)升降9mm,，微調(diào)升降16mm,，微調(diào)精度土1u,；可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡；針座擺放個(gè)數(shù)8～12顆,；顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2“x2”x2“,；材質(zhì)：花崗巖臺(tái)面+不銹鋼；可搭配Probecard測試,；適用領(lǐng)域：12寸Wafer,、IC測試之產(chǎn)品。隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層,，接觸電阻減小而電流流動(dòng)迅速開始,。浙江半自動(dòng)探針臺(tái)多少錢

錸鎢探針指的是采用含錸3%的錸鎢合金絲打造而成的探針。中鎢在線提供好的錸鎢探針產(chǎn)品,。鎢作為一種硬度強(qiáng),、耐高溫的金屬材料，常被用于燈絲,、電極,、熱電偶或者探測針等等，但鎢本身存在易脆和可塑性低的問題,，這減小了其使用過程中的壽命,。為降低鎢的脆性以及提高其可塑性，傳統(tǒng)的方法通過在鎢內(nèi)添加稀有金屬形成鎢基合金增加其性能,。在鎢內(nèi)添加錸,，可以發(fā)生“錸塑化效應(yīng)”，增加鎢的可塑性,。錸鎢合金具有高熔點(diǎn),、厲害度、高硬度,、高塑性,、高再結(jié)晶溫度、高電阻率,，低蒸氣壓,、低電子逸出功和低塑性脆性轉(zhuǎn)變溫度等一系列優(yōu)良性能。重慶芯片測試探針臺(tái)生產(chǎn)定子是基礎(chǔ)平臺(tái),，動(dòng)子和定子間有一層氣墊,，動(dòng)子浮于氣墊上。

晶圓級(jí)半自動(dòng)面內(nèi)磁場探針臺(tái)詳細(xì)參數(shù)：垂直或面內(nèi)磁場探針臺(tái),，通用性設(shè)計(jì),；容納12寸晶圓，且向下兼容8寸、6寸,、碎片,；兼容4組探針（RF或DC測試）；提供Z軸探針平臺(tái)快速升降功能,，實(shí)現(xiàn)高效測試,；磁場強(qiáng)度≥330mT;直流探針（4組）或微波探針（4組）；XY電控行程±150mm,，調(diào)節(jié)精度2μm,；T軸手動(dòng)調(diào)節(jié)±5°，小至調(diào)節(jié)精度5’,。晶圓級(jí)半自動(dòng)二維磁場探針臺(tái)：詳細(xì)參數(shù)可對(duì)晶圓施加垂直或面內(nèi)磁場,，兼容性設(shè)計(jì)；容納12寸晶圓,，且向下兼容8寸,、6寸、碎片,；兼容4組探針（RF或DC測試）,；提供Z軸探針平臺(tái)快速升降功能，實(shí)現(xiàn)高效測試,；磁場強(qiáng)度≥0.7T,；直流探針（4組）或微波探針（4組）,；XY電控行程±150mm,，調(diào)節(jié)精度2μm；T軸手動(dòng)調(diào)節(jié)±5°,，小到調(diào)節(jié)精度5’,。

探針臺(tái)可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測物,。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中,，并使用顯微鏡將探針尖銳端放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針尖銳端都被設(shè)置在正確的位置,，就可以對(duì)待測物進(jìn)行測試,。對(duì)于帶有多個(gè)芯片的晶圓，使用者可以抬起壓盤,，壓盤將探針頭與芯片分開,，然后將工作臺(tái)移到下一個(gè)芯片上，使用顯微鏡找到精確的位置,，壓板降低后下一個(gè)芯片可以進(jìn)行測試,。半自動(dòng)和全自動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)使用機(jī)械化工作臺(tái)和機(jī)器視覺來自動(dòng)化這個(gè)移動(dòng)過程，提高了探針臺(tái)生產(chǎn)率,。如果是不合格的芯片,，打點(diǎn)器立刻對(duì)這個(gè)不合格的芯片打點(diǎn),。

探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上,，從而可以與測試儀器/半導(dǎo)體測試系統(tǒng)配合來測試芯片/半導(dǎo)體器件,。這些測試可以很簡單，例如連續(xù)性或隔離檢查,，也可以很復(fù)雜,，包括微電路的完整功能測試?？梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測試,。在晶圓級(jí)別的測試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測試芯片器件，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入終端產(chǎn)品的信息,。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯,，這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還可以用于研發(fā),、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析應(yīng)用,。上海勤確科技有限公司本上海勤確科技有限公司經(jīng)營理念，將心比心,，誠信經(jīng)營,，質(zhì)量為先。浙江半自動(dòng)探針臺(tái)多少錢

探針臺(tái)是半導(dǎo)體（包括集成電路,、分立器件,、光電器件、傳感器）行業(yè)重要的檢測裝備之一,。浙江半自動(dòng)探針臺(tái)多少錢

探針臺(tái)是半導(dǎo)體（包括集成電路,、分立器件、光電器件,、傳感器）行業(yè)重要的檢測裝備之一,，其普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量,，旨在確保質(zhì)量及可靠性,，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。探針臺(tái)用于晶圓加工之后,、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié),，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測試,。在半導(dǎo)體器件與集成電路制造工藝中,，從單晶硅棒的制取到終器件制造的完成需經(jīng)過復(fù)雜的工序，可分為前道工序與后道工序，探針臺(tái)是檢測半導(dǎo)體芯片的電參數(shù),、光參數(shù)的關(guān)鍵設(shè)備,。經(jīng)過檢測，探針臺(tái)將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來,，在進(jìn)入后序工序前予以剔除,，降低器件的制造成本。浙江半自動(dòng)探針臺(tái)多少錢