其實(shí),，在我們的身邊隨處都可以看到半導(dǎo)體的身影,。例如你的電腦,、電視,，智能手機(jī)，亦或是汽車等,。半導(dǎo)體像人類大腦一樣,，擔(dān)當(dāng)著記憶數(shù)據(jù)，計(jì)算數(shù)值的功能,。探針臺從操作上來區(qū)分有手動,，半自動，全自動從功能上來區(qū)分有高溫探針臺,，低溫探針臺,，RF探針臺，LCD平板探針臺,，霍爾效應(yīng)探針臺,，表面電阻率探針臺。一,、探針的用途,。電流或電壓信號通過探針的傳輸來測試線路板的開路（Open）或短路（Short）I=U/R，如果是開路（Open）電阻＝∝：如果是短路（Short）電阻≌0,。探針臺可以把卡上的線路和芯片的結(jié)合焊盤連起來,。甘肅溫控探針臺服務(wù)

錸鎢探針指的是采用含錸3%的錸鎢合金絲打造而成的探針,。中鎢在線提供好的錸鎢探針產(chǎn)品,。鎢作為一種硬度強(qiáng)、耐高溫的金屬材料,，常被用于燈絲,、電極、熱電偶或者探測針等等,，但鎢本身存在易脆和可塑性低的問題,，這減小了其使用過程中的壽命。為降低鎢的脆性以及提高其可塑性,，傳統(tǒng)的方法通過在鎢內(nèi)添加稀有金屬形成鎢基合金增加其性能,。在鎢內(nèi)添加錸，可以發(fā)生“錸塑化效應(yīng)”,，增加鎢的可塑性,。錸鎢合金具有高熔點(diǎn)、厲害度、高硬度,、高塑性,、高再結(jié)晶溫度、高電阻率,，低蒸氣壓,、低電子逸出功和低塑性脆性轉(zhuǎn)變溫度等一系列優(yōu)良性能。甘肅溫控探針臺服務(wù)某些針尖壓痕太長,，超出PAD范圍,，使PAD周圍的鋁線短路。

通常,，參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件（DUT）,，然后測量該器件對于此輸入信號的響應(yīng)。這些信號的路徑為：從測試儀通過電纜束至測試頭,，再通過測試頭至探針卡,，然后通過探針至芯片上的焊點(diǎn)，到達(dá)被測器件,，并后沿原路徑返回測試儀器,。如果獲得的結(jié)果不盡如人意，問題可能是由測量儀器或軟件所致,，也可能是其它原因造成,。通常情況下，測量儀器引進(jìn)一些噪聲或測量誤差,。而更可能導(dǎo)致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件,，其中之一可能是接觸電阻，它會受探針參數(shù)的影響,，如探針的材料,、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì),、觸點(diǎn)壓力,、以及探針臺的平整度。此外,，探針尖磨損和污染也會對測試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響,。

為什么要射頻探測？由于器件小形化及高頻譜的應(yīng)用,，電路尺寸不斷縮小,，類似微帶線及PCB版本Pad的測試沒有物理接口，使得儀表本身無法與待測物進(jìn)行直接連接,，如果人為的焊接射頻接口難免會引入不確定的誤差,，所以射頻探針的使用完美的解決了這個(gè)問題,。射頻探頭和校準(zhǔn)基板允許工程師進(jìn)行精確、重復(fù)的測量與校準(zhǔn),。且任何受過一定訓(xùn)練的工程師都可以進(jìn)行探針臺的架設(shè)與儀表的校準(zhǔn),，以分鐘為單位進(jìn)行測量。同樣一個(gè)Pad測試點(diǎn),，如果通過探針測量與通過焊接SMA接口引出測量線的方法進(jìn)行測試對比會發(fā)現(xiàn),，探針的精度是高于焊接Cable的精度。有數(shù)據(jù)表明探針測試臺的故障中有半數(shù)以上是工作臺的故障,。

主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè),、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試,。探針臺從操作上來區(qū)分有：手動,，半自動，全自動從功能上來區(qū)分有：溫控探針臺,，真空探針臺(低溫探針臺),，RF探針臺，LCD平板探針臺,，霍爾效應(yīng)探針臺,，表面電阻率探針臺。普遍應(yīng)用于復(fù)雜,、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本,。自動探針測試臺在功能及組成上大同小異,，即主要由x-y向工作臺，可編程承片臺,、探卡/探卡支架,、打點(diǎn)器、探邊器,、操作手柄等組成,，并配有與測試儀(TESTER)相連的通訊接口,。但如果按其x-y工作臺結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類,。探針臺需要特別注意的是在未加壓縮空氣時(shí)不可強(qiáng)行拉動動子，以免造成定子及動子的損傷,。上海射頻探針臺多少錢

探針臺是半導(dǎo)體行業(yè),、光電行業(yè)、集成電路以及封裝等行業(yè)的測試設(shè)備,。甘肅溫控探針臺服務(wù)

針尖有鋁粉:測大電流時(shí),，針尖上要引起多AL粉,，使電流測不穩(wěn)，所以需要經(jīng)常用灑精清洗探針并用氮?dú)獯蹈?，同時(shí)測試時(shí)邊測邊吹氮?dú)?，以減少針尖上的AL粉。針尖有墨跡:測試時(shí)打點(diǎn)器沒有調(diào)整好,，尼龍絲碰到針尖上,，針尖上沾上墨跡,然后針尖與壓點(diǎn)接觸時(shí)，壓點(diǎn)窗口上墨跡沾污,，使片子與AL層接觸不良,，參數(shù)通不過，還有對后續(xù)封裝壓焊有影響,，使芯片與封裝后成品管腳焊接質(zhì)量差,，所以平時(shí)裝打點(diǎn)器時(shí)，不要把打點(diǎn)器裝得太前或太后和太高或太低,，而應(yīng)該使尼龍絲與硅片留有一定距離,，然后靠表面漲力使墨水打到管芯中心，如已經(jīng)沾上墨跡,，要立即用酒精擦干凈,，并用氮?dú)獯蹈伞８拭C溫控探針臺服務(wù)