探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓,、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè),。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途,。探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上，在顯微鏡配合下,，X-Y移動(dòng)器件,，找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕,，控制前部探針(射頻或直流探針),，精確扎到被測(cè)點(diǎn)，從而使其訊號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通,，通過(guò)測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù),。探針臺(tái)由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損，使用壽命長(zhǎng),。湖北高溫探針臺(tái)廠家

平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái)：平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成,，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開(kāi)，定子是基礎(chǔ)平臺(tái),，動(dòng)子和定子間有一層氣墊,，動(dòng)子浮于氣墊上，而可編程承片臺(tái)則安裝在動(dòng)子之上,。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái),，由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損，使用壽命長(zhǎng),。而定子在加工過(guò)程中生產(chǎn)廠家根據(jù)不同的設(shè)計(jì)要求如分辨力等,，用機(jī)加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個(gè)線槽,，線槽間的距離即稱為平面電機(jī)的齒距，而定子則按不同的細(xì)分控制方式,，按編制好的運(yùn)行程序借助于平面定子和動(dòng)子之間的氣墊才能實(shí)現(xiàn)步進(jìn)運(yùn)動(dòng),。山東溫控探針臺(tái)廠家探針臺(tái)可編程承片臺(tái)則安裝在動(dòng)子之上。

探針臺(tái)需要特別注意的是在未加壓縮空氣時(shí)不可強(qiáng)行拉動(dòng)動(dòng)子,，以免造成定子及動(dòng)子的損傷,。平面電機(jī)應(yīng)使用在環(huán)境溫度15～25℃，相對(duì)濕度小于50％的環(huán)境中,，其所需的壓縮空氣必須經(jīng)過(guò)干燥過(guò)濾處理且與環(huán)境空氣溫度差值小于5℃,，氣壓為0．4±0．04MPa。相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái),，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜,，工作臺(tái)由上層（x向）及下層（y向）兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x,、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng),，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。

如何判斷探針卡的好壞：1.可以用扎五點(diǎn)來(lái)判斷,，即上中下左右,，五點(diǎn)是否扎在壓點(diǎn)內(nèi)，且針跡清楚,又沒(méi)出氧化層,針跡圓而不長(zhǎng)且不開(kāi)叉.2.做接觸檢查,每根針與壓點(diǎn)接觸電阻是否小于0.5歐姆.3.通過(guò)看實(shí)際測(cè)試參數(shù)來(lái)判斷,探針與被測(cè)IC沒(méi)有接觸好,，測(cè)試值接近于0,。總之,，操作工只要了解了探針卡故障的主要原因：1.探針氧化.2.針尖有異物(鋁粉,，墨跡，塵埃).3.針尖高度差.4.針尖異常(開(kāi)裂,，折斷,，彎曲，破損),。.5.針尖磨平.6.探針卡沒(méi)焊好.7.背面有突起物,，焊錫線頭.8.操作不當(dāng)。平時(shí)操作時(shí)應(yīng)注意:1.保護(hù)好探針卡,卡應(yīng)放到氮?dú)夤裰?2.做好探針卡的管理工作.3.規(guī)范操作,針尖不要碰傷任何東西,。同時(shí)加強(qiáng)操作人員的技能培訓(xùn),。有利于提工作效率和提高質(zhì)量。一般,，信號(hào)路徑電阻被用來(lái)替代接觸電阻,，而且它在眾多情況下更加相關(guān)。

探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的分類：縱觀國(guó)內(nèi)外的自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異,，即主要由x-y向工作臺(tái),，可編程承片臺(tái),、探卡/探卡支架、打點(diǎn)器,、探邊器,、操作手柄等組成，并配有與測(cè)試儀（TESTER）相連的通訊接口,。但如果按其x-y工作臺(tái)結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類,，即：平面電機(jī)型x-y工作臺(tái)（又叫磁性氣浮工作臺(tái)）自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和以采用精密滾珠絲杠副和直線導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)型自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)。由于x-y工作臺(tái)的結(jié)構(gòu)差別很大,，所以其使用維護(hù)保養(yǎng)不可一概而論，應(yīng)區(qū)別對(duì)待,。探針尖磨損和污染都會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響,。吉林溫控探針臺(tái)服務(wù)

探針卡使芯片與封裝后成品管腳焊接質(zhì)量差，容易引起短路,。湖北高溫探針臺(tái)廠家

手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域：Failureanalysis集成電路失效分析,；Waferlevelreliability晶元可靠性認(rèn)證；Devicecharacterization元器件特性量測(cè),；Processmodeling塑性過(guò)程測(cè)試(材料特性分析),；ICProcessmonitoring制成監(jiān)控；PackagepartprobingIC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試,；Flatpanelprobing液晶面板的特性測(cè)試,；PCboardprobingPC主板的電性測(cè)試；ESD&TDRtestingESD和TDR測(cè)試,；Microwaveprobing微波量測(cè)(高頻),；Solar太陽(yáng)能領(lǐng)域檢測(cè)分析；LED,、OLED,、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析。湖北高溫探針臺(tái)廠家