晶圓探針臺(tái)還可以在晶圓劃片線上執(zhí)行任何測(cè)試電路,。一些公司從這些劃線測(cè)試結(jié)構(gòu)中獲得大部分有關(guān)器件性能的信息,。當(dāng)特定芯片的所有測(cè)試圖案都通過時(shí),，它的位置會(huì)被記住,，以便以后在IC封裝過程中使用。有時(shí),，芯片有內(nèi)部備用資源可用于修復(fù)（即閃存IC）,；如果它沒有通過某些測(cè)試模式，則可以使用這些備用資源,。如果故障管芯的冗余是不可能的,，則管芯被認(rèn)為有故障并被丟棄。未通過電路通常在芯片中間用一個(gè)小墨水點(diǎn)標(biāo)記,，或者通過/未通過信息存儲(chǔ)在一個(gè)名為wafermap的文件中,。該地圖通過使用bins對(duì)通過和未通過的die進(jìn)行分類。然后將bin定義為好或壞的裸片,。PCB生產(chǎn)完畢后,，直接對(duì)PCB進(jìn)行測(cè)試。湖北溫控探針臺(tái)廠家

x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：無(wú)論是全自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)還是自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái),，x-y向工作臺(tái)都是其很重心的部分,。有數(shù)據(jù)表明探針測(cè)試臺(tái)的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺(tái)的故障，而工作臺(tái)故障有許多是對(duì)其維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)或盲目調(diào)整造成的,，所以對(duì)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要?，F(xiàn)在只對(duì)自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)作一介紹,。平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成,，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開，定子是基礎(chǔ)平臺(tái),，動(dòng)子和定子間有一層氣墊,，動(dòng)子浮于氣墊上，而可編程承片臺(tái)則安裝在動(dòng)子之上,。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái),，由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損，使用壽命長(zhǎng),。湖北溫控探針臺(tái)廠家上海勤確科技有限公司管理嚴(yán)格,，服務(wù)超值。

探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè),、光電行業(yè),、集成電路以及封裝的測(cè)試。普遍應(yīng)用于復(fù)雜,、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本,。探針臺(tái)分類：探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng),，半自動(dòng),，全自動(dòng)。從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái),，真空探針臺(tái)（低溫探針臺(tái)）,，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái),，霍爾效應(yīng)探針臺(tái),，表面電阻率探針臺(tái)。經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型根據(jù)客戶需求定制：chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選）,；X-Y移動(dòng)行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選）,；chuckZ軸方向升降10mm（選項(xiàng)）方便探針與樣品快速分離；顯微鏡：金相顯微鏡,、體式顯微鏡,、單筒顯微鏡（可選）；顯微鏡移動(dòng)方式：立柱環(huán)繞型,、移動(dòng)平臺(tái)型,、龍門結(jié)構(gòu)型（可選）；探針座：有0.7um,、2um,、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開關(guān),；可搭配Probecard測(cè)試,；適用領(lǐng)域：晶圓廠、研究所,、高校等,。

探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓,、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè),。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,，抽查測(cè)試等用途。探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,，在顯微鏡配合下，X-Y移動(dòng)器件,，找到需要探測(cè)的位置,。接下來(lái)測(cè)試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕，控制前部探針(射頻或直流探針)，準(zhǔn)確扎到被測(cè)點(diǎn),，從而使其訊號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通,，通過測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。圓片移動(dòng)到下一個(gè)芯片的位置,，這種方法可以讓圓片上的每一個(gè)芯片都經(jīng)過測(cè)試,。

主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè),、集成電路以及封裝的測(cè)試,。探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng),，全自動(dòng)從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái),，真空探針臺(tái)(低溫探針臺(tái))，RF探針臺(tái),，LCD平板探針臺(tái),，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái),。普遍應(yīng)用于復(fù)雜,、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性,，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本,。自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái),，可編程承片臺(tái),、探卡/探卡支架、打點(diǎn)器,、探邊器,、操作手柄等組成,，并配有與測(cè)試儀(TESTER)相連的通訊接口,。但如果按其x-y工作臺(tái)結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類。如果發(fā)現(xiàn)問題,，就需要復(fù)雜的診斷過程和人工分析,，才能找到問題的原因。湖北溫控探針臺(tái)廠家

一般,，信號(hào)路徑電阻被用來(lái)替代接觸電阻,，而且它在眾多情況下更加相關(guān)。湖北溫控探針臺(tái)廠家

盡管半導(dǎo)體測(cè)試探針國(guó)產(chǎn)化迫在眉睫,，但從技術(shù)的角度來(lái)看,，要想替代進(jìn)口產(chǎn)品卻并不容易。業(yè)內(nèi)人士指出，國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體測(cè)試探針還只能用于要求不高的測(cè)試需求,，比如可靠性測(cè)試國(guó)產(chǎn)探針可以替代很多,，但功能性測(cè)試和性能測(cè)試還有待突破。彈簧測(cè)試探針主要的技術(shù)是精微加工和組裝能力,，涉及精微加工設(shè)備,、經(jīng)驗(yàn)、工藝能力缺一不可,。值得注意的是,，由于半導(dǎo)體測(cè)試探針市場(chǎng)一直被國(guó)外廠商占據(jù)，同時(shí)也實(shí)施了技術(shù)封鎖,，國(guó)內(nèi)并沒有相應(yīng)的技術(shù)人才,，包括生產(chǎn)人員和設(shè)計(jì)人員都缺乏。國(guó)內(nèi)大部分測(cè)試探針廠商基本不具備全自動(dòng)化生產(chǎn)制造能力,。湖北溫控探針臺(tái)廠家