接觸探頭測(cè)量彎曲和難測(cè)的表面

CP-1-1.3測(cè)量平面或球形樣品,，結(jié)實(shí)耐用的不銹鋼單線圈。

CP-1-AR-1.3可以抑 制背面反射,，對(duì) 1.5mm 厚的基板可抑 制 96%,。 鋼制單線圈外加PVC涂層,，比較大可測(cè)厚度 15um。

CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,，直徑 17.5mm,。

CP-C6-1.3探測(cè)直徑小至 6mm 的圓柱形和球形樣品外側(cè)。

CP-C12-1.3用于直徑小至 12mm 圓柱形和球形樣品外側(cè),。

CP-C26-1.3用于直徑小至 26mm 圓柱形和球形樣品外側(cè),。

CP-BendingRod-L350-2彎曲長(zhǎng)度 300mm，總長(zhǎng)度 350mm 的接觸探頭,。 用于難以到達(dá)的區(qū)域,，但不會(huì)自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)表面。

CP-ID-0to90Deg-2用于食品和飲料罐頭內(nèi)壁的接觸探頭,。

CP-RA-3mmDia-200mmL-2直徑**小的接觸探頭,，配備微型直角反射鏡，用來(lái)測(cè)量小至直徑 3mm 管子的內(nèi)壁,，不能自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)表面,。

CP-RA-10mmHigh-2配備微型直角反射鏡，可以在相隔 10mm 的兩個(gè)平坦表面之間進(jìn)行測(cè)量,。 F30樣品層:分子束外延和金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積: 可以測(cè)量平滑和半透明的,，或輕度吸收的薄膜。反射率膜厚儀國(guó)內(nèi)代理

F10-HC輕而易舉而且經(jīng)濟(jì)有效地分析單層和多層硬涂層F10-HC 以 Filmetrics F20 平臺(tái)為基礎(chǔ),，根據(jù)光譜反射數(shù)據(jù)分析快速提供薄膜測(cè)量結(jié)果,。 F10-HC 先進(jìn)的模擬算法是為測(cè)量聚碳酸酯和其它單層和多層硬涂層(例如，底涂/硬涂層)專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的,。

全世界共有數(shù)百臺(tái) F10-HC 儀器在工作,，幾乎所有主要汽車(chē)硬涂層公司都在使用它們。

像我們所有的臺(tái)式儀器一樣,，F(xiàn)10-HC 可以連接到您裝有 Windows 計(jì)算機(jī)的 USB 端口并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)定,。

包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3 探頭BK7 參考材料TS-Hardcoat-4um 厚度標(biāo)準(zhǔn)備用燈

額外的好處：應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級(jí)計(jì)劃 美國(guó)進(jìn)口膜厚儀當(dāng)?shù)貎r(jià)格F3-sX系列使用近紅外光來(lái)測(cè)量薄膜厚度,，即使有許多肉眼看來(lái)不透光(例如半導(dǎo)體),。

    光刻膠）polyerlayers（高分子聚合物層）polymide（聚酰亞胺）polysilicon（多晶硅）amorphoussilicon（非晶硅）基底實(shí)例：對(duì)于厚度測(cè)量,，大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底,。對(duì)于光學(xué)常數(shù)測(cè)量,，需要一塊平整的鏡面反射基底；如果基底是透明的,，基底背面需要進(jìn)行處理使之不能反射,。包括：silicon（硅）glass（玻璃）aluminum（鋁）gaas（砷化鎵）steel（鋼）polycarbonate（聚碳酸脂）polymerfilms（高分子聚合物膜）應(yīng)用半導(dǎo)體制造液晶顯示器光學(xué)鍍膜photoresist光刻膠oxides氧化物nitrides氮化物cellgaps液晶間隙polyimide聚酰亞胺ito納米銦錫金屬氧化物hardnesscoatings硬鍍膜anti-reflectioncoatings增透鍍膜filters濾光f20使用**仿真活動(dòng)來(lái)分析光譜反射率數(shù)據(jù)。標(biāo)準(zhǔn)配置和規(guī)格F20-UVF20F20-NIRF20-EXR只測(cè)試厚度1nm~40μm15nm~100μm100nm~250μm15nm~250μm測(cè)試厚度和n&k值50nmandup100nmandup300nmandup100nmandup波長(zhǎng)范圍200-1100nm380-1100nm950-1700nm380-1700nm準(zhǔn)確度大于％或2nm精度1A2A1A穩(wěn)定性光斑大小20μm至可選樣品大小1mm至300mm及更大探測(cè)器類(lèi)型1250-元素硅陣列512-元素砷化銦鎵1000-元素硅&512-砷化銦鎵陣列光源鎢鹵素?zé)簟?/p>

測(cè)量眼科設(shè)備涂層厚度光譜反射率可用于測(cè)量眼鏡片減反射 (AR) 光譜和殘余顏色,，以及硬涂層和疏水層的厚度,。

測(cè)量范例：

F10-AR系統(tǒng)配備HC升級(jí)選擇通過(guò)反射率信息進(jìn)行硬涂層厚度測(cè)量。這款儀器儀器采用接觸探頭,，從而降低背面反射影響,，并可測(cè)凹凸表面。接觸探頭安置在鏡頭表面,。FILMeasure軟件自動(dòng)分析采集的光譜信息以確定鏡頭是否滿足指定的反射規(guī)格,。可測(cè)平均反射率,，指定點(diǎn)**小比較大反射率,，以抵消硬涂層的存在。如果這個(gè)鏡頭符合要求,，系統(tǒng)操作人員將得到清晰的“很好”指示,。 產(chǎn)品型號(hào)：FSM 413EC, FSM 413MOT，F(xiàn)SM 413SA DP FSM 413C2C, FSM 8108 VITE C2C,。

銦錫氧化物與透明導(dǎo)電氧化物液晶顯示器,，有機(jī)發(fā)光二極管變異體，以及絕大多數(shù)平面顯示器技術(shù)都依靠透明導(dǎo)電氧化物 (TCO) 來(lái)傳輸電流,，并作每個(gè)發(fā)光元素的陽(yáng)極,。 和任何薄膜工藝一樣，了解組成顯示器各層物質(zhì)的厚度至關(guān)重要,。 對(duì)于液晶顯示器而言,，就需要有測(cè)量聚酰亞胺和液晶層厚度的方法，對(duì)有機(jī)發(fā)光二極管而言,，則需要測(cè)量發(fā)光,、電注入和封裝層的厚度。

在測(cè)量任何多個(gè)層次的時(shí)候,，諸如光譜反射率和橢偏儀之類(lèi)的光學(xué)技術(shù)需要測(cè)量或建模估算每一個(gè)層次的厚度和光學(xué)常數(shù) (反射率和 k 值),。

不幸的是，使得氧化銦錫和其他透明導(dǎo)電氧化物在顯示器有用的特性，同樣使這些薄膜層難以測(cè)量和建模,，從而使測(cè)量在它們之上的任何物質(zhì)變得困難,。Filmetrics 的氧化銦錫解決方案Filmetrics 已經(jīng)開(kāi)發(fā)出簡(jiǎn)便易行而經(jīng)濟(jì)有效的方法，利用光譜反射率精確測(cè)量氧化銦錫,。 將新型的氧化銦錫模式和 F20-EXR, 很寬的 400-1700nm 波長(zhǎng)相結(jié)合,，從而實(shí)現(xiàn)氧化銦錫可靠的“一鍵”分析,。 氧化銦錫層的特性一旦得到確定,，剩余顯示層分析的關(guān)鍵就解決了。

紅外干涉測(cè)量技術(shù), 非接觸式測(cè)量。反射率膜厚儀國(guó)內(nèi)代理

    1,、激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理,，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器,。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。2,、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測(cè)定材料的厚度,，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器,。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為**，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),，達(dá)到要求的軋制厚度,。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工,。3,、紙張測(cè)厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張,、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量,。4、薄膜測(cè)厚儀:用于測(cè)定薄膜,、薄片等材料的厚度,，測(cè)量范圍寬,、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出,、任意位置置零,、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn),。5,、涂層測(cè)厚儀:用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.6、超聲波測(cè)厚儀:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),，脈沖被反射回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度,。反射率膜厚儀國(guó)內(nèi)代理

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司致力于儀器儀表,，是一家其他型公司。公司業(yè)務(wù)分為磁記錄,，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn)，測(cè)試儀器的批發(fā)等,，目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn),，為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力,，努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識(shí),，遵守行業(yè)規(guī)范，植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)秉承“客戶為尊,、服務(wù)為榮、創(chuàng)意為先,、技術(shù)為實(shí)”的經(jīng)營(yíng)理念,，全力打造公司的重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力。