平臺(tái)和平臺(tái)附件標(biāo)準(zhǔn)和**平臺(tái),。

CS-1可升級(jí)接觸式SS-3樣品臺(tái)，可測(cè)波長(zhǎng)范圍190-1700nm

SS-36“×6” 樣品平臺(tái),，F(xiàn)20 系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置,。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度，103 mm 進(jìn)深,。 適用所有波長(zhǎng)范圍,。

SS-3-88“×8” 樣品平臺(tái)?？烧{(diào)節(jié)鏡頭高度,，139mm 進(jìn)深。 適用所有波長(zhǎng)范圍,。

SS-3-24F20 的 24“×24” 樣品平臺(tái),。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，550mm 進(jìn)深,。 適用所有波長(zhǎng)范圍,。

SS-56" x 6" 吋樣品臺(tái)，具有可調(diào)整焦距的反射光學(xué)配件,，需搭配具有APC接頭的光纖,，全波長(zhǎng)范圍使用

樣品壓重-SS-3-50

樣品壓重 SS-3 平臺(tái), 50mm x 50mm

樣品壓重-SS-3-110

樣品壓重 SS-3 平臺(tái), 110mm x 110mm

FSM拉曼的應(yīng)用：局部應(yīng)力； 局部化學(xué)成分,；局部損傷,。臺(tái)積電膜厚儀質(zhì)量怎么樣

F10-AR易于使用而且經(jīng)濟(jì)有效地分析減反涂層和鏡頭上的硬涂層F10-AR 是測(cè)試眼科減反涂層設(shè)計(jì)的儀器。 雖然價(jià)格**低于當(dāng)今絕大多數(shù)同類儀器,，應(yīng)用幾項(xiàng)技術(shù),， F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，就可以進(jìn)行厚度測(cè)量,。

在用戶定義的任何波長(zhǎng)范圍內(nèi)都能進(jìn)行比較低,、比較高和平均反射測(cè)試。

我們有專門的算法對(duì)硬涂層的局部反射失真進(jìn)行校正,。 我們獨(dú)有的 AutoBaseline 能極大地增加基線間隔,，提供比其它光纖探頭反射儀高出五倍的精確度。

利用可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級(jí)能測(cè)量 0.25-15um 的硬涂層厚度,。 在減反層存在的情況下也能對(duì)硬涂層厚度進(jìn)行測(cè)量,。 授權(quán)膜厚儀售后服務(wù)幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動(dòng)測(cè)繪。人工加載或機(jī)器人加載均可,。

    氚燈電腦要求60mb硬盤空間50mb空閑內(nèi)存usb接口電源要求100-240vac,50-60hz,a選配以下鏡頭,，就可在F20的基礎(chǔ)上升級(jí)為新一代的F70膜厚測(cè)量?jī)x。鏡頭配件厚度范圍(Index=)精度光斑大小UPG-F70-SR-KIT15nm-50μmnm標(biāo)配mm(可選配下至20μm)LA-CTM-VIS-1mm50μmmμm5μm150μmmμm10μm產(chǎn)品應(yīng)用,，在可測(cè)樣品基底上有了極大的飛躍：●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測(cè)量,，即使是藥片，木材或紙張等粗糙的非透明基底,?！癫ＡЩ蛩芰系陌宀摹⒐艿篮腿萜??！窆鈱W(xué)鏡頭和眼科鏡片。Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右,。

    更可加裝至三個(gè)探頭,，同時(shí)測(cè)量三個(gè)樣品，具紫外線區(qū)或標(biāo)準(zhǔn)波長(zhǎng)可供選擇,。F40:這型號(hào)安裝在任何顯微鏡外,，可提供*小5um光點(diǎn)(100倍放大倍數(shù))來測(cè)量微小樣品,。F50:這型號(hào)配備全自動(dòng)XY工作臺(tái)，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可,。通過快速掃瞄功能,，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。F70:*通過在F20基本平臺(tái)上增加鏡頭,，使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測(cè)量法（CTM）,，把設(shè)備的測(cè)量范圍極大的拓展至。F10-RT：在F20實(shí)現(xiàn)反射率跟穿透率的同時(shí)測(cè)量,，特殊光源設(shè)計(jì)特別適用于透明基底樣品的測(cè)量,。PARTS：在垂直入射光源基礎(chǔ)上增加70o光源，特別適用于超薄膜層厚度和n,、k值測(cè)量,。**膜厚測(cè)量?jī)x系統(tǒng)F20使用F20**分光計(jì)系統(tǒng)可以簡(jiǎn)便快速的測(cè)量厚度和光學(xué)參數(shù)（n和k）。您可以在幾秒鐘內(nèi)通過薄膜上下面的反射比的頻譜分析得到厚度,、折射率和消光系數(shù),。任何具備基本電腦技術(shù)的人都能在幾分鐘內(nèi)將整個(gè)桌面系統(tǒng)組裝起來。F20包括所有測(cè)量需要的部件：分光計(jì),、光源,、光纖導(dǎo)線、鏡頭**和Windows下運(yùn)行的軟件,。您需要的只是接上您的電腦,。膜層實(shí)例幾乎任何光滑、半透明,、低吸收的膜都能測(cè),。包括：sio2（二氧化硅）sinx（氮化硅）dlc（類金剛石碳）photoresist?？蓽y(cè)量的層數(shù): 通常能夠測(cè)量薄膜堆內(nèi)的三層**薄膜,。 在某些情況下，能夠測(cè)量到十幾層,。

F30包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置光斑尺寸10微米的單點(diǎn)測(cè)量平臺(tái)FILMeasure 8反射率測(cè)量軟件Si 參考材料FILMeasure **軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)

額外的好處：每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級(jí)計(jì)劃

型號(hào)厚度范圍*波長(zhǎng)范圍

F3-s 980:10μm - 1mm  960-1000nm

F3-s1310:15μm - 2mm 1280-1340nm 

F3-s1550:25μm - 3mm 1520-1580nm

*取決于薄膜種類 適用于所有可讓紅外線通過的材料 硅,、藍(lán)寶石、砷化鎵,、磷化銦,、碳化硅、玻璃,、石 英,、聚合物等。Profilm3D膜厚儀美元價(jià)

厚度變化 (TTV) ,；溝槽深度,；過孔尺寸,、深度、側(cè)壁角度,。臺(tái)積電膜厚儀質(zhì)量怎么樣

參考材料

備用 BK7 和二氧化硅參考材料,。

BG-Microscope顯微鏡系統(tǒng)內(nèi)取背景反射的小型抗反光鏡

BG-F10-RT平臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)獲取背景反射的抗反光鏡

REF-Al-1mmSubstrate基底 - 高反射率鋁基準(zhǔn)

REF-Al-3mmSubstrate基底 - 高反射率鋁基準(zhǔn)

REF-BK71?" x 1?" BK7 反射基準(zhǔn)。

REF-F10RT-FusedSilica-2Side背面未經(jīng)處理的石英,，用于雙界面基準(zhǔn),。

REF-Si-22" 單晶硅晶圓

REF-Si-44" 單晶硅晶圓

REF-Si-66" 單晶硅晶圓

REF-Si-88" 單晶硅晶圓

REF-SS3-Al專為SS-3樣品平臺(tái)設(shè)計(jì)之鋁反射率基準(zhǔn)片

REF-SS3-BK7專為SS-3樣品平臺(tái)設(shè)計(jì)之BK7玻璃反射率基準(zhǔn)片

REF-SS3-Si專為SS-3樣品平臺(tái)設(shè)計(jì)之硅反射率基準(zhǔn)片 臺(tái)積電膜厚儀質(zhì)量怎么樣

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司致力于儀器儀表，是一家其他型的公司,。公司自成立以來，以質(zhì)量為發(fā)展,，讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié),，公司旗下磁記錄，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn),，測(cè)試儀器的批發(fā)深受客戶的喜愛。公司從事儀器儀表多年,，有著創(chuàng)新的設(shè)計(jì),、強(qiáng)大的技術(shù)，還有一批**的專業(yè)化的隊(duì)伍,，確保為客戶提供良好的產(chǎn)品及服務(wù),。岱美儀器技術(shù)服務(wù)憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專業(yè)的服務(wù),、眾多的成功案例積累起來的聲譽(yù)和口碑,，讓企業(yè)發(fā)展再上新高。