2.2解決相移誤差的新技術

      PMP技術中另一個主要的基礎條件就是對于相移誤差的控制,。相移法通過對投影光柵相位場進行移相來增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來求解相位場。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息,，所以可以得到更高精度的結果,。傳統(tǒng)的方式都依靠機械移動來實現(xiàn)相移。為達到精確的相移,，都使用了比較高精度的馬達,，如通過陶瓷壓電馬達（PZT），線性馬達加光柵尺等方式,。并通過大量的算法來減少相移的誤差,。

      可編程結構光柵因為其正弦光柵是通過軟件編程實現(xiàn)的，所以其在相移時也是通過軟件來實現(xiàn),，通過此種技術可以使相移誤差趨向于“0”,，提高了量測精度。并且此技術不需要機械部件,，減少了設備的故障幾率,，降低機械成本與維修成本。 使用在線型3D-SPI（3D錫膏檢測機）的重要意義,?；葜葑詣踊疭PI檢測設備價格行情

PCBA工藝常見檢測設備

ATE檢測：Automatic Test Equipment

      集成電路(IC)自動測試機，用于檢測集成電路功能之完整性,，為集成電路生產制造之終流程,，以確保集成電路生產制造之品質。在所有的電子元器件(Device)的制造工藝里面,，存在著去偽存真的需要,，這種需要實際上是一個試驗的過程。為了實現(xiàn)這種過程,，就需要各種試驗設備,，這類設備就是所謂的ATE(AutomaticTestEquipment)。

      這里所說的電子元器件DUT(DeviceUnderTest),，當然包括IC類別,，此外，還包括分立的元件,，器件,。ATE存在于前道工序(FrontEnd)和后道工序(BackEnd)的各個環(huán)節(jié)，具體的取決于工藝(Process)設計的要求,。在元器件的工藝流程中,，根據(jù)工藝的需要,，存在著各種需要測試的環(huán)節(jié)。目的是為了篩選殘次品,，防止進入下一道的工序,，減少下一道工序中的冗余的制造費用。這些環(huán)節(jié)需要通過各種物理參數(shù)來把握,，這些參數(shù)可以是現(xiàn)實物理世界中的光,，電，波,，力學等各種參量,，但是，目前大多數(shù)常見的是電子信號的居多,。ATE設計工程師們要考慮的較多的,，還是電子部分的參數(shù)比如，時間,，相位,，電壓電流，等等基本的物理參數(shù),。就是電子學所說的，信號處理,。 清遠半導體SPI檢測設備功能SPI錫膏檢查機可以檢查出那些錫膏印刷不良,？

SPI能查出哪些不良

      在SMT加工過程中，SPI錫膏檢測機主要應用于錫膏檢查,，這種錫膏檢測機類似我們常見擺放于smt爐后AOI光學識別裝置,，同樣利用光學影像來檢查品質，下面就簡單介紹一下SPI錫膏檢測機能測出不良有哪些,。

1,、錫膏印刷是否偏移；

2,、錫膏印刷是否高度偏差,；

3、錫膏印刷是否架橋,；

4,、錫膏印刷是否空白或缺少。

     在SMT貼片生產中,，SPI錫膏檢測是較重要的環(huán)節(jié)之一,，檢測判定上錫的好壞直接影響到后面元器件的貼裝是否符合規(guī)范。

SPI 導入帶來的收益在線型 3D 錫膏檢測設備(SPI)

1)據(jù)統(tǒng)計,，SPI 的導入可將原先成品PCB 不合格率有效降低85%以上,；返修,、報廢成本大幅降低90%以上，出廠產品質量顯著提高,。SPI 與AOI 聯(lián)合使用,，通過對SMT 生產線實時反饋與優(yōu)化，可使生產質量更趨平穩(wěn),，大幅縮短新產品導入時必須經歷的不穩(wěn)定試產階段,，相應成本損耗更為節(jié)省。

2)可大幅降低AOI關于焊錫的誤判率,，從而提高直通率,，有效節(jié)約人為糾錯的人力、時間成本,。據(jù)統(tǒng)計,，當前成品PCB中74%的不合格處與焊錫有直接關系，13%有間接關系,。SPI通過3D檢測手段有效彌補了傳統(tǒng)檢測方法的不足

3)部分PCB上元器件如BGA,、CSP、PLCC芯片等,，由于自身特性所帶來的光線遮擋,，貼片回流后AOI無法對其進行檢測。而SPI通過過程控制,，極大程度減少了爐后這些器件的不良情況,。

4)伴隨電子產品日益精密化與焊錫無鉛化的趨勢，貼片元件越來越微型,，因此,，焊錫膏印刷質量正變得越來越重要。SPI能有效確保良好的錫膏印刷質量,，大幅減少可能存在的成品不良率,。

5)作為質量過程控制的手段，能在回流焊接前及時發(fā)現(xiàn)質量隱患,，因此幾乎沒有返修成本與報廢的可能,有效節(jié)約了成本 應用于3DSPI/AOI領域的DLP結構光投影模塊編碼結構光光源蓄勢待發(fā)在2D視覺時代,，光源主要起到什么作用？

光電轉化攝影系統(tǒng)

      指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng),。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線,，光能轉化產生電荷，轉化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,，傳輸形成電壓模擬信號二極管吸收光線強度不同時生成的模擬電壓大小不同,，依次輸出的模擬電壓值被轉化為數(shù)字灰階0-255值，灰階值反映了物體反射光的強弱,，進而實現(xiàn)識別不同被檢測物體的目的光電轉化器可以分為CCD和CMOS兩種,，

      因為制作工藝與設計不同,，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導體加工工藝，并設置了垂直和水平移位寄存器,，電極所產生的電場推動電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉換器,。而CMOS采用了無機半導體加工工藝，每像素設計了額外的電子電路,，每個像素都可以被定位,，無需CCD中那樣的電荷移位設計，而且其對圖像信息的讀取速度遠遠高于CCD芯片,，因光暈和拖尾等過度曝光而產生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多,，價格和功耗相較CCD光電轉化器也低。但其非常明顯的缺點,，作為半導體工藝制作的像素單元缺陷多,，靈敏度會有問題，為每個像素電子電路提供所需的額外空間不會作為光敏區(qū),，域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片 SMT中的檢測設備AOI和SPI區(qū)別主要區(qū)別是什么呢,？深圳直銷SPI檢測設備服務

8種常見SMT產線檢測技術，歡迎查看詳情,?；葜葑詣踊疭PI檢測設備價格行情

DLP結構光投影儀在3D SPI / AOI領域的應用

1.SPI分類

從檢測原理上來分SPI主要分為兩個大類，線激光掃描式與面結構光柵PMP技術,。

1.1 激光掃描式的SPI

通過三角量測的原理計算出錫膏的高度,。此技術因為原理比較簡單，技術比較成熟,，但是因為其本身的技術局限性如激光的掃描寬度偏長，單次取樣,，雜訊干擾等,，所以比較多的運用在對精度與重復性要求不高的錫厚測試儀，桌上型SPI等,。在此不做過多敘述,。

1.2結構光柵型SPI

PMP又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學三維面形測量技術。通過獲取全場條紋的空間信息與一個條紋周期內相移條紋的時序信息,，來完成物體三維信息的重建,。由于其具有全場性、速度快,、高精度,、自動化程度高等特點，這種技術已在工業(yè)檢測,、機器視覺,、逆向工程等領域獲得廣泛應用,。目前大部分的在線SPI設備都已經升級到此種技術。

但是它采用的離散相移技術要求有精確的正弦結構光柵與精確的相移,，在實際系統(tǒng)中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化,，相移誤差與隨機誤差，它將導致計算位相和重建面形的誤差,。雖然已經出現(xiàn)了不少算法能降低線性相移誤差,，但要解決相移過程中的隨機相移誤差問題，還存在一定的困難,。 惠州自動化SPI檢測設備價格行情

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