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x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：無(wú)論是全自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)還是自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái),，x-y向工作臺(tái)都是其很重心的部分,。有數(shù)據(jù)表明探針測(cè)試臺(tái)的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺(tái)的故障，而工作臺(tái)故障有許多是對(duì)其維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)或盲目調(diào)整造成的，所以對(duì)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要?，F(xiàn)在...

隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,，對(duì)于精密微小(納米級(jí))的微電子器件,，表筆點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無(wú)能為力了,。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,，利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來(lái)，便于其電性測(cè)試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對(duì)此測(cè)試,、分析,。探針臺(tái)執(zhí)行機(jī)構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成...

探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓,、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè),。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,，抽查測(cè)試等用途。探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上，...

半自動(dòng)型：chuck尺寸800mm/600mm,；X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mm,；chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm,；可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡,；針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆；顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2",；可搭配P...

據(jù)SEMI數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),，2020年及2021年，全球半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)規(guī)?；?qū)⒎謩e達(dá)到52.2億美元及56.1億美元,。隨著國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，多個(gè)晶圓廠及實(shí)驗(yàn)室的建立,，國(guó)內(nèi)探針臺(tái)市場(chǎng)規(guī)模2019年約為10.25億元,，2022年將增長(zhǎng)到15.69億元。隨著半導(dǎo)體行...

平臺(tái)阻尼需要進(jìn)行各種測(cè)試,，對(duì)其厚度/面積的比值進(jìn)行優(yōu)化,。更大面積的平臺(tái)（邊長(zhǎng)至少為10英尺或3米）具有厚度為12.2英寸（310毫米）的標(biāo)準(zhǔn)厚度，這樣可以提高穩(wěn)定性,。對(duì)于更小面積的平臺(tái),，厚度可以是8.3英寸（210毫米）或12.2英寸（310毫米），也可定制更...

不要把精密大理石檢測(cè)平臺(tái)放在磁場(chǎng)附近,，例如磨床的磁性作業(yè)臺(tái)上,，避免感磁.發(fā)現(xiàn)有不正常景象時(shí)，如表面不平,、有毛刺,、有銹斑以及刻度禁絕,、尺身曲折變形、活動(dòng)不靈活等等,，使用者不應(yīng)當(dāng)自行拆修,，更不應(yīng)該自行用榔頭敲、銼刀銼,、砂布打磨等粗糙方法修理,，避免反而增大誤差。發(fā)現(xiàn)...

光學(xué)平臺(tái)系列產(chǎn)品具有抗振性強(qiáng),安裝孔多等優(yōu)點(diǎn),主要用于在試驗(yàn)室搭建光路或固定儀器,也多用于工業(yè),做為工作臺(tái)使用.根據(jù)不同臺(tái)面尺寸,不同材料,不同結(jié)構(gòu)分為數(shù)個(gè)系列,同時(shí)備有光學(xué)平臺(tái)支架供您選擇,。大型光學(xué)隔振平臺(tái)外框采用剛性強(qiáng),變形小,焊接性能好的好的中碳鋼板;隔...

探針臺(tái)為研究和工程實(shí)驗(yàn)室在測(cè)試運(yùn)行期間移動(dòng)通過(guò)多個(gè)溫度點(diǎn)時(shí),，提供前所未有的自動(dòng)化水平。這種新技術(shù)使探針系統(tǒng)能夠感知,，學(xué)習(xí)和反應(yīng)以多溫度和特征的極其復(fù)雜的環(huán)境,。隨著集成電路產(chǎn)品不斷進(jìn)入汽車(chē)應(yīng)用等更高發(fā)熱量的環(huán)境，在越來(lái)越寬的溫度范圍內(nèi)表征器件性能和耐用性變得越來(lái)...

探針臺(tái)是半導(dǎo)體（包括集成電路,、分立器件,、光電器件、傳感器）行業(yè)重要的檢測(cè)裝備之一,，其普遍應(yīng)用于復(fù)雜,、高速器件的精密電氣測(cè)量，旨在確保質(zhì)量及可靠性,，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本,。探針臺(tái)用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié),，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位,，使晶...

探針（探針卡）：待測(cè)芯片需要測(cè)試探針的連接，才能與測(cè)試儀器建立連接,。常見(jiàn)的有普通DC測(cè)試探針,、同軸DC測(cè)試探針、有源探針和微波探針等,。探針頭插入單個(gè)探針臂并安裝在操縱器上,。探針尖銳端尺寸和材料取決于被探測(cè)特征的尺寸和所需的測(cè)量類型。探針尖直接接觸被測(cè)件,，探針臂...

平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái)：平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成,，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開(kāi)，定子是基礎(chǔ)平臺(tái),，動(dòng)子和定子間有一層氣墊,，動(dòng)子浮于氣墊上，而可編程承片臺(tái)則安裝在動(dòng)子之上。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái),，由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損,，使用壽命長(zhǎng)。而...

探針臺(tái)由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損,，使用壽命長(zhǎng),。而定子在加工過(guò)程中生產(chǎn)廠家根據(jù)不同的設(shè)計(jì)要求如分辨力等，用機(jī)加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個(gè)線槽,，線槽間的距離即稱為平面電機(jī)的齒距,，而定子則按不同的細(xì)分控制方式，按編制好的運(yùn)行程序借助于平面定子和...

光學(xué)平臺(tái)從功能上分為固定式和可調(diào)式,；被動(dòng)或主動(dòng)式,。光學(xué)平臺(tái)普遍應(yīng)用于光學(xué)、電子,、精密機(jī)械制造,、冶金、航天,、航空,、航海、精密化工和無(wú)損檢測(cè)等領(lǐng)域,，以及其他機(jī)械行業(yè)的精密試驗(yàn)儀器、設(shè)備振動(dòng)隔離的關(guān)鍵裝置中,。主要構(gòu)成標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)平臺(tái)基本組件包括：1,、頂板；2,、底板,；3、...

不要把精密大理石檢測(cè)平臺(tái)放在磁場(chǎng)附近,，例如磨床的磁性作業(yè)臺(tái)上,，避免感磁.發(fā)現(xiàn)有不正常景象時(shí)，如表面不平,、有毛刺,、有銹斑以及刻度禁絕、尺身曲折變形,、活動(dòng)不靈活等等,，使用者不應(yīng)當(dāng)自行拆修，更不應(yīng)該自行用榔頭敲,、銼刀銼,、砂布打磨等粗糙方法修理，避免反而增大誤差。發(fā)現(xiàn)...

探針臺(tái)市場(chǎng)占有率及行業(yè)分析：針對(duì)于電學(xué)量測(cè)分析設(shè)備,，探針臺(tái)則是眾多量測(cè)設(shè)備之一,，探針臺(tái)也是不可或缺的一部分，就目前國(guó)內(nèi)探針臺(tái)設(shè)備的占有率來(lái)講,，好的型產(chǎn)品主要集中在歐美以及日本品牌,，中端設(shè)備主要集中在品牌，而對(duì)于量測(cè)精度而言,，產(chǎn)設(shè)備具有一定的優(yōu)勢(shì),，我公司探針臺(tái)系...

探針卡沒(méi)焊好：1．探針卡針焊得不到位；2．基板上銅箔剝落,，針焊接不牢固,，或焊錫沒(méi)有焊好而造成針虛焊；3．探針卡布線斷線或短路,；背面有突起物,，焊錫線頭針尖磨平：1.針在使用很長(zhǎng)時(shí)間后尖正常損耗；2.操作工用過(guò)粗的砂子,；3.砂針尖時(shí)用力過(guò)猛,；4.砂得時(shí)間過(guò)長(zhǎng)；針尖...

探針臺(tái)可以將電探針,、光學(xué)探針或射頻探針?lè)胖迷诠杈?，從而可以與測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來(lái)測(cè)試芯片/半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單,，例如連續(xù)性或隔離檢查,，也可以很復(fù)雜，包括微電路的完整功能測(cè)試,?？梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允...

探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng),，半自動(dòng),，全自動(dòng)。從功能上來(lái)區(qū)分有：高溫探針臺(tái),，低溫探針臺(tái),，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái),，霍爾效應(yīng)探針臺(tái),，表面電阻率探針臺(tái)?？v觀國(guó)內(nèi)外的自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異,，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡／探卡支架,、打點(diǎn)...

探針臺(tái)如何工作：探針臺(tái)可以固定晶圓或芯片,，并精確定位待測(cè)物。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中,，并使用顯微鏡將探針尖銳端放置到待測(cè)物上的正確位置,。一旦所有探針尖銳端都被設(shè)置在正確的位置，就可以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試,。對(duì)于帶有多個(gè)芯片的晶圓,，使用者可以抬起...

探針臺(tái)市場(chǎng)逐年增長(zhǎng)：半導(dǎo)體測(cè)試對(duì)于良率和品質(zhì)控制至關(guān)重要，是必不可少的環(huán)節(jié),，主要涉及兩種測(cè)試（CP測(cè)試,、FT測(cè)試等）、三種設(shè)備（探針臺(tái),、測(cè)試機(jī),、分選機(jī)等）。根據(jù)半導(dǎo)體產(chǎn)線投資配置規(guī)律,，測(cè)試設(shè)備在半導(dǎo)體設(shè)備投資的占比約為8%,，次于晶圓制造裝備，其中測(cè)試機(jī),、分選機(jī)...

晶圓探針測(cè)試臺(tái)是半導(dǎo)體工藝線上的中間測(cè)試設(shè)備,，與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)集成電路及各種晶體管芯電參數(shù)和功能的測(cè)試,。隨著對(duì)高性能,、多功能、高速度,、低功耗、小型化,、低價(jià)格的電子產(chǎn)品的需求日益增長(zhǎng),，這就要求在一個(gè)芯片中集成更多的功能并進(jìn)一步縮小尺寸，從而大片徑和高...

探針臺(tái)需要特別注意的是在未加壓縮空氣時(shí)不可強(qiáng)行拉動(dòng)動(dòng)子,，以免造成定子及動(dòng)子的損傷,。平面電機(jī)應(yīng)使用在環(huán)境溫度15～25℃，相對(duì)濕度小于50％的環(huán)境中,，其所需的壓縮空氣必須經(jīng)過(guò)干燥過(guò)濾處理且與環(huán)境空氣溫度差值小于5℃,，氣壓為0．4±0．04MPa。相對(duì)于平面電機(jī)工...

探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè),。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,，抽查測(cè)試等用途。探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,，...

晶圓測(cè)試基本的一點(diǎn)就是：晶圓測(cè)試必須能夠辨別芯片的好壞，并使合格芯片繼續(xù)進(jìn)入下面的封裝工藝,。為了確保芯片功能和成品率的有效測(cè)試,，封裝廠商和設(shè)備制造者需要不斷探索，進(jìn)而找到高精度,、高效率和低成本的測(cè)試方法,，并運(yùn)用新的組裝工藝要求對(duì)晶圓片進(jìn)行探測(cè)，這些要求將引起設(shè)...

盡管半導(dǎo)體測(cè)試探針國(guó)產(chǎn)化迫在眉睫,，但從技術(shù)的角度來(lái)看,，要想替代進(jìn)口產(chǎn)品卻并不容易。業(yè)內(nèi)人士指出,，國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體測(cè)試探針還只能用于要求不高的測(cè)試需求,，比如可靠性測(cè)試國(guó)產(chǎn)探針可以替代很多，但功能性測(cè)試和性能測(cè)試還有待突破,。彈簧測(cè)試探針主要的技術(shù)是精微加工和組裝能力,，涉...

手動(dòng)探針臺(tái)：普遍應(yīng)用于，科研單位研發(fā)測(cè)試,、院校教學(xué)操作,、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域。一般使用于研發(fā)測(cè)試階段,，批量不是很大的情況,，大批量的重復(fù)測(cè)試推薦使用探卡。主要功能：搭配外接測(cè)試測(cè)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀,、示波器,、網(wǎng)分等測(cè)試源表，量測(cè)半導(dǎo)體器件IVCV脈沖/動(dòng)態(tài)I...

探針臺(tái)市場(chǎng)占有率及行業(yè)分析：針對(duì)于電學(xué)量測(cè)分析設(shè)備,，探針臺(tái)則是眾多量測(cè)設(shè)備之一,，探針臺(tái)也是不可或缺的一部分，就目前國(guó)內(nèi)探針臺(tái)設(shè)備的占有率來(lái)講,，好的型產(chǎn)品主要集中在歐美以及日本品牌,，中端設(shè)備主要集中在品牌，而對(duì)于量測(cè)精度而言,，產(chǎn)設(shè)備具有一定的優(yōu)勢(shì),，我公司探針臺(tái)系...

在設(shè)備方面,，生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試探針的相關(guān)設(shè)備價(jià)格較高，國(guó)內(nèi)廠商沒(méi)有足夠的資金實(shí)力,，采購(gòu)日本廠商的設(shè)備,。另一方面，對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)備而言,，產(chǎn)業(yè)鏈各個(gè)環(huán)節(jié)均會(huì)采購(gòu)定制化的設(shè)備,，客戶提出自身需求和配置，上游設(shè)備廠商通過(guò)與大型客戶合作開(kāi)發(fā),，生產(chǎn)出經(jīng)過(guò)優(yōu)化的適合該客戶的設(shè)備,。因...

滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高,、摩擦力矩小,，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3℃,，濕度≤70％,，無(wú)有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠,、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油,，但不可過(guò)多，值得指...