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在硅光芯片領(lǐng)域,,芯片耦合封裝問(wèn)題是硅光子芯片實(shí)用化過(guò)程中的關(guān)鍵問(wèn)題,,芯片性能的測(cè)試也是至關(guān)重要的一步驟,現(xiàn)有的硅硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)是將硅光芯片的輸入輸出端硅光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動(dòng)微調(diào)架轉(zhuǎn)軸進(jìn)行調(diào)硅光,,并依靠對(duì)輸出硅光的硅光功率進(jìn)行監(jiān)控,,再反饋到微...
硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)主要工作可以分為四個(gè)部分(1)從波導(dǎo)理論出發(fā),分析了條形波導(dǎo)以及脊型波導(dǎo)的波導(dǎo)模式特性,分析了硅光芯片的良好束光特性。(2)針對(duì)倒錐型耦合結(jié)構(gòu),分析在耦合過(guò)程中,耦合結(jié)構(gòu)的尺寸對(duì)插入損耗,耦合容差的影響,優(yōu)化耦合結(jié)構(gòu)并開(kāi)發(fā)出行之有效的耦合工...
針對(duì)不同的硅光芯片結(jié)構(gòu),我們提出并且實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了兩款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均勻光柵的垂直耦合器,在實(shí)驗(yàn)中,我們得到了超過(guò)60%的光纖-波導(dǎo)耦合效率,。此外,我們還開(kāi)發(fā)了一款用以實(shí)現(xiàn)硅條形波導(dǎo)和狹縫波導(dǎo)之間高效耦合的新型耦合器應(yīng)用的系統(tǒng)主要是...
目前,基于SOI(絕緣體上硅)材料的波導(dǎo)調(diào)制器成為當(dāng)前的研究熱點(diǎn),也取得了許多的進(jìn)展,但在硅光芯片調(diào)制器的產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程中,面臨著一系列的問(wèn)題,波導(dǎo)芯片與光纖的有效耦合就是難題之一,。從懸臂型耦合結(jié)構(gòu)出發(fā),模擬設(shè)計(jì)了懸臂型倒錐耦合結(jié)構(gòu),通過(guò)開(kāi)發(fā)相應(yīng)的有效地耦合工藝來(lái)...
硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)這些有視覺(jué)輔助地初始光耦合的步驟是耦合工藝的一部分。在此工藝過(guò)程中,,輸入及輸出光纖陣列和波導(dǎo)輸入及輸出端面的距離大約是100~200微米,,以便通過(guò)使用機(jī)器視覺(jué)精密地校準(zhǔn)預(yù)粘接間隙的測(cè)量,為后面必要的旋轉(zhuǎn)耦合留出安全的空間,。旋轉(zhuǎn)耦合技術(shù)的原理...
此在確認(rèn)硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)耦合不過(guò)的前提下,,可依次排除B殼天線、KB板和同軸線等內(nèi)部結(jié)構(gòu)的故障進(jìn)行維修,。若以上一一排除,,則是主板參數(shù)校準(zhǔn)的問(wèn)題,或者說(shuō)是主板硬件存在故障,。耦合天線的種類比較多,,有塔式、平板式,、套筒式,,常用的是自動(dòng)硅光芯片硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)系...
測(cè)試是硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)的主要作用,硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)主要是用整機(jī)模擬一個(gè)實(shí)際使用的環(huán)境,測(cè)試設(shè)備在無(wú)線環(huán)境下的射頻性能,重點(diǎn)集中在天線附近一塊,,即檢測(cè)天線與主板之間的匹配性,。因?yàn)樵谔炀€硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)之前(SMT段)已經(jīng)做過(guò)相應(yīng)的測(cè)試,所以可認(rèn)為主板...
硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)中硅光芯片與激光器的封裝結(jié)構(gòu),封裝結(jié)構(gòu)包括基座,基座設(shè)置與硅光芯片連接的基座貼合面,與激光器芯片和一體化反射鏡透鏡連接的基座上表面;基座設(shè)置通孔,通孔頂部開(kāi)口與一體化反射鏡透鏡的出光面連接,通孔底部開(kāi)口與硅光芯片的光柵耦合器表面連接;激光器...
光學(xué)平臺(tái)平面度,,對(duì)于隔振性能,,沒(méi)有任何影響,甚至若為了追求高平面度,,往往會(huì)去除掉光學(xué)平臺(tái)的隔振性能,,原因如下:我們知道,光學(xué)平臺(tái)臺(tái)面,,若為達(dá)到高平面度,,通常需要反復(fù)磨削,在加工過(guò)程中,,多次磨削容易使材料產(chǎn)生形變,,為了減少形變,通常要加厚臺(tái)面,,但我們通過(guò)振動(dòng)恢復(fù)...
隨著半導(dǎo)體行業(yè)的迅速發(fā)展,,半導(dǎo)體產(chǎn)品的加工面積成倍縮小,復(fù)雜程度與日俱增,,生產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的制造設(shè)備需要綜合運(yùn)用機(jī)械,、光學(xué),、物理、化學(xué)等學(xué)科技術(shù),,具有技術(shù)壁壘高,、制造難度大及研發(fā)投入高等特點(diǎn)。探針臺(tái)屬于重要的半導(dǎo)體測(cè)試裝備,,在整個(gè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的多個(gè)環(huán)節(jié)起著重要...
平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái):平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成,,它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開(kāi),定子是基礎(chǔ)平臺(tái),,動(dòng)子和定子間有一層氣墊,,動(dòng)子浮于氣墊上,而可編程承片臺(tái)則安裝在動(dòng)子之上,。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái),,由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損,使用壽命長(zhǎng),。而...
探針臺(tái)市場(chǎng)占有率及行業(yè)分析:針對(duì)于電學(xué)量測(cè)分析設(shè)備,,探針臺(tái)則是眾多量測(cè)設(shè)備之一,探針臺(tái)也是不可或缺的一部分,,就目前國(guó)內(nèi)探針臺(tái)設(shè)備的占有率來(lái)講,,好的型產(chǎn)品主要集中在歐美以及日本品牌,中端設(shè)備主要集中在品牌,,而對(duì)于量測(cè)精度而言,產(chǎn)設(shè)備具有一定的優(yōu)勢(shì),,我公司探針臺(tái)系...
隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,,對(duì)于精密微小(納米級(jí))的微電子器件,表筆點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無(wú)能為力了,。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,,利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來(lái),便于其電性測(cè)試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對(duì)此測(cè)試,、分析,。探針臺(tái)執(zhí)行機(jī)構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成...
探針臺(tái)是檢測(cè)芯片的重要設(shè)備,在芯片的設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段,,主要工作是檢測(cè)芯片設(shè)計(jì)的功能是否能夠達(dá)到芯片的技術(shù)指標(biāo),,在檢測(cè)過(guò)程中會(huì)對(duì)芯片樣品逐一檢查,只有通過(guò)設(shè)計(jì)驗(yàn)證的產(chǎn)品型號(hào)才會(huì)量產(chǎn),。晶圓測(cè)試一般在晶圓廠,、封測(cè)廠或?qū)iT的測(cè)試代工廠進(jìn)行,主要用到的設(shè)備為測(cè)試機(jī)和探針臺(tái),。...
探針臺(tái)由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損,,使用壽命長(zhǎng),。而定子在加工過(guò)程中生產(chǎn)廠家根據(jù)不同的設(shè)計(jì)要求如分辨力等,用機(jī)加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個(gè)線槽,,線槽間的距離即稱為平面電機(jī)的齒距,,而定子則按不同的細(xì)分控制方式,按編制好的運(yùn)行程序借助于平面定子和...
晶圓探針器是用于測(cè)試集成電路的機(jī)器(自動(dòng)測(cè)試設(shè)備),。對(duì)于電氣測(cè)試,,一組稱為探針卡的微觀觸點(diǎn)或探針被固定在適當(dāng)?shù)奈恢茫瑫r(shí)真空安裝在晶圓卡盤上的晶圓被移動(dòng)到電接觸狀態(tài),。當(dāng)一個(gè)管芯(或管芯陣列)經(jīng)過(guò)電氣測(cè)試后,,探針臺(tái)將晶片移動(dòng)到下一個(gè)管芯(或管芯),下一個(gè)測(cè)試就可...
如何判斷探針卡的好壞:1.可以用扎五點(diǎn)來(lái)判斷,,即上中下左右,,五點(diǎn)是否扎在壓點(diǎn)內(nèi),且針跡清楚,又沒(méi)出氧化層,針跡圓而不長(zhǎng)且不開(kāi)叉.2.做接觸檢查,每根針與壓點(diǎn)接觸電阻是否小于0.5歐姆.3.通過(guò)看實(shí)際測(cè)試參數(shù)來(lái)判斷,探針與被測(cè)IC沒(méi)有接觸好,,測(cè)試值接近于0,。總之...
如何判斷探針卡的好壞:1.可以用扎五點(diǎn)來(lái)判斷,,即上中下左右,,五點(diǎn)是否扎在壓點(diǎn)內(nèi),且針跡清楚,又沒(méi)出氧化層,針跡圓而不長(zhǎng)且不開(kāi)叉.2.做接觸檢查,每根針與壓點(diǎn)接觸電阻是否小于0.5歐姆.3.通過(guò)看實(shí)際測(cè)試參數(shù)來(lái)判斷,探針與被測(cè)IC沒(méi)有接觸好,,測(cè)試值接近于0,。總之...
探針臺(tái)為研究和工程實(shí)驗(yàn)室在測(cè)試運(yùn)行期間移動(dòng)通過(guò)多個(gè)溫度點(diǎn)時(shí),,提供前所未有的自動(dòng)化水平,。這種新技術(shù)使探針系統(tǒng)能夠感知,學(xué)習(xí)和反應(yīng)以多溫度和特征的極其復(fù)雜的環(huán)境,。隨著集成電路產(chǎn)品不斷進(jìn)入汽車應(yīng)用等更高發(fā)熱量的環(huán)境,,在越來(lái)越寬的溫度范圍內(nèi)表征器件性能和耐用性變得越來(lái)...
高性能密閉微暗室有效屏蔽:腔體采用導(dǎo)電的處理工藝,確保了各零件之間的導(dǎo)通狀態(tài)從而達(dá)到全屏蔽的效果,,降低系統(tǒng)噪聲,,有效屏蔽外界干擾,并提供低漏電流保護(hù),,為微弱電信號(hào)測(cè)試提供了合理的測(cè)試環(huán)境,;同時(shí)也注意零件配合以及裝配的同時(shí),保證內(nèi)部的密封性,。對(duì)于一些特殊的器件/...
探針臺(tái)可以固定晶圓或芯片,,并精確定位待測(cè)物。手動(dòng)探針臺(tái)的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中,,并使用顯微鏡將探針尖銳端放置到待測(cè)物上的正確位置,。一旦所有探針尖銳端都被設(shè)置在正確的位置,,就可以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試。對(duì)于帶有多個(gè)芯片的晶圓,,使用者可以抬起壓盤,,壓盤將探針...
其實(shí),在我們的身邊隨處都可以看到半導(dǎo)體的身影,。例如你的電腦,、電視,智能手機(jī),,亦或是汽車等,。半導(dǎo)體像人類大腦一樣,擔(dān)當(dāng)著記憶數(shù)據(jù),,計(jì)算數(shù)值的功能,。探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有手動(dòng),半自動(dòng),,全自動(dòng)從功能上來(lái)區(qū)分有高溫探針臺(tái),,低溫探針臺(tái),RF探針臺(tái),,LCD平板探針臺(tái),,霍爾...
手動(dòng)探針臺(tái):普遍應(yīng)用于,科研單位研發(fā)測(cè)試,、院校教學(xué)操作,、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域。一般使用于研發(fā)測(cè)試階段,,批量不是很大的情況,,大批量的重復(fù)測(cè)試推薦使用探卡。主要功能:搭配外接測(cè)試測(cè)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀,、示波器,、網(wǎng)分等測(cè)試源表,,量測(cè)半導(dǎo)體器件IVCV脈沖/動(dòng)態(tài)I...
探針臺(tái)是檢測(cè)芯片的重要設(shè)備,,在芯片的設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段,主要工作是檢測(cè)芯片設(shè)計(jì)的功能是否能夠達(dá)到芯片的技術(shù)指標(biāo),,在檢測(cè)過(guò)程中會(huì)對(duì)芯片樣品逐一檢查,,只有通過(guò)設(shè)計(jì)驗(yàn)證的產(chǎn)品型號(hào)才會(huì)量產(chǎn)。晶圓測(cè)試一般在晶圓廠,、封測(cè)廠或?qū)iT的測(cè)試代工廠進(jìn)行,,主要用到的設(shè)備為測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)。...
探針臺(tái)工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x,、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng),,導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌,。由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件,所以具有傳動(dòng)效率高,、摩擦力矩小,,使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3℃,,濕度≤70%,,無(wú)有害氣體的環(huán)境中,...
探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè),、光電行業(yè),、集成電路以及封裝的測(cè)試。普遍應(yīng)用于復(fù)雜,、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),,旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本,。探針臺(tái)分類:探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),,半自動(dòng),全自動(dòng),。從功能上來(lái)區(qū)分有:溫控探針臺(tái),,真空探...
探針臺(tái)的作用是什么?探針臺(tái)可以將電探針,、光學(xué)探針或射頻探針?lè)胖迷诠杈?,從而可以與測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來(lái)測(cè)試芯片/半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單,,例如連續(xù)性或隔離檢查,,也可以很復(fù)雜,包括微電路的完整功能測(cè)試,??梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試...
探針臺(tái)市場(chǎng)占有率及行業(yè)分析:針對(duì)于電學(xué)量測(cè)分析設(shè)備,探針臺(tái)則是眾多量測(cè)設(shè)備之一,,探針臺(tái)也是不可或缺的一部分,,就目前國(guó)內(nèi)探針臺(tái)設(shè)備的占有率來(lái)講,好的型產(chǎn)品主要集中在歐美以及日本品牌,,中端設(shè)備主要集中在品牌,,而對(duì)于量測(cè)精度而言,產(chǎn)設(shè)備具有一定的優(yōu)勢(shì),,我公司探針臺(tái)系...
硅硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)中硅光耦合結(jié)構(gòu)需要具備:硅光半導(dǎo)體元件,在其上表面具有發(fā)硅光受硅光部,且在下表面?zhèn)缺话惭b于基板;硅光傳輸路,其具有以規(guī)定的角度與硅光半導(dǎo)體元件的硅光軸交叉的硅光軸,且與基板的安裝面分離配置;以及硅光耦合部,其變換硅光半導(dǎo)體元件與硅光傳輸路...
安裝高速照明板安裝好高速照明板,垂直安裝氣浮光學(xué)平臺(tái)頂部架子,并準(zhǔn)備好對(duì)應(yīng)的偏光鏡可直接選擇光線是否充足,偏光鏡是否需要進(jìn)行更換,發(fā)光二極管至需要注意光線是否充足,。先說(shuō)說(shuō)發(fā)光二極管的安裝說(shuō)起發(fā)光二極管,大家有興趣可以去看看《發(fā)光二極管安裝攻略》、《發(fā)光二極管全...