多層膜XRR引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效無損檢測手段,。由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具,、免準(zhǔn)直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVA...
RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄,,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,,X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,,這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,,導(dǎo)致薄膜的信號會受到襯底的影響(圖1),。另外,如果衍射簡單較高,,那么X射線只能輻射到部分樣品,,無法利用整個樣品的體積,衍射信號弱,。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,,同時增加衍射顆粒的數(shù)...
粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,,是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細(xì)灰,粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物,。粉煤灰是我國當(dāng)前排量較大的工業(yè)廢渣之一,。大量的粉煤灰不加處理,就會產(chǎn)生揚塵,,污染大氣,;若排入水系會造成河流淤塞,而其中的有毒化學(xué)物質(zhì)還會對人體和生物造成危害,。所以,,粉煤灰的再利用一直都是關(guān)注的熱點。比如,,已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等,。要合理高效的利用粉煤灰,則需要對其元素和礦相組成有詳細(xì)的了解,。粉煤灰的礦相主要莫來石,、石英以及大量的非晶態(tài)。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以精確的計算非晶相物質(zhì)的含量,。在實驗室中這個方法是可行的,,但在實際生產(chǎn)和快速檢測過程中,,這...
納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,,進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,,可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具、免準(zhǔn)直,,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)...
XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān),而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一,。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算Dhkl:晶粒尺寸,,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:hkl晶面的bragg角度λ:入射X光的波長,一般Cu靶為1.54埃K:常數(shù)(晶粒近似為球形,,K=0.89,;其他K=1)ADVANCE采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,,這就是布魯克DAVINCI設(shè)計D8測角儀巨有市場超前地精確度,為布魯克獨有的準(zhǔn)直保證奠定了基礎(chǔ),。湖南微...
藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨,、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,,進(jìn)而可能影響到藥物的療效。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,,特別是API含量非常少的制劑樣品,檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,,配合高性能的先進(jìn)檢測器,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,,對此,D8 DISCOVER具...
EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-2D,、快照和掃描模式),,覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,,而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)用戶,。其可實現(xiàn)無吸收測量的動態(tài)范圍、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,,都為多模式探測器樹立了新標(biāo)準(zhǔn),。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測器技術(shù),整合了布魯克的軟件和硬件,,可為您帶來無縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,,與布魯克...
D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS)XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,,是重要的材料研究工具之一。D8DISCOVER就是布魯克推出的,、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過的組件,可為您帶來較好的性能和充分的靈活性,,同時讓研究人員對材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征:定性相分析和結(jié)構(gòu)測定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描憑借RapidRSM技術(shù),,能在 短的時間內(nèi),測量大面積倒易空間,。在DIFFRAC.LEPTOS中,,進(jìn)行倒易點陣轉(zhuǎn)換和分析。...
XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時,,可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足,,裂紋,發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常,,測量結(jié)晶度的方法包括密度,熱分析,,NMR,、IR以及XRD方法。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實例,。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,,其散射信號來源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值:利用布魯克樣品臺,,能精確地操縱樣品,。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺和落地式樣品臺。進(jìn)口XRD衍射儀哪里好BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過...
D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計,,十分便于移動,您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺,,也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,,然后花費幾分鐘的時間,,即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器,,已然成為同類更好的選擇,!小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,可有效去除——不必要的輻射,,如樣品熒光,,Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,而不會明顯降低檢測速度,??稍跀?shù)秒內(nèi),輕松從先焦點切換到點焦點,,從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,同事...
嬰兒爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妝品常見的有各種潤膚粉,、美容粉,、爽身粉等。因滑石粉具有阻隔紅外線的作用,,能增強(qiáng)這類化妝品的防曬和抗紅外線的性能,。所以,,在日常生活中使用。由于石棉是滑石的伴生礦物,,滑石粉中可能含有石棉,。石棉纖維被人體吸入到肺會引起石棉肺惡性疾病,我國已明確把石棉列為化妝品禁用物質(zhì),,用于化妝品生產(chǎn)的滑石粉必須經(jīng)過檢測不含石棉成分方可使用,。判斷滑石中是否存在石棉通常采用偏光或電子顯微鏡和X射線衍射相結(jié)合的辦法。而石棉的定量分析一直是石棉分析中的一個難點,,主要采用X射線衍射法,。石棉定量采用基底修正法,具體操作步驟請參考:?SN/T2549.2-2010:進(jìn)出口化妝品中石...
那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]:式中:0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,,nm;0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,,nm,。為實際石墨試樣(002)晶面間距,nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位,,需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn)。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,,用硅作為內(nèi)標(biāo)物,,加入待測石墨樣品中,在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,,進(jìn)一步加大了石墨材料的...
D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,,其應(yīng)用范圍、數(shù)據(jù)質(zhì)量,、靈活性和可升級性毫不打折扣,。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,適用于所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用,。與D8ADVANCE完全兼容,,它具有面向未來的所有靈活性。面對新應(yīng)用,您隨時都能對它輕松完成升級,,從而適應(yīng)未來實驗室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應(yīng)用需求:相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射(GID)X射線反射分析(XRR)小角X射線散射(SAXS)對分布函數(shù)(PDF)分析候選材料鑒別(PMI) 為常見,,這是因為對其原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn),。四川檢...
D8ADVANCEECO是一款功能齊全的D8ADVANCE衍射儀的經(jīng)濟(jì)型版本,,是D8衍射儀系列平臺的入門款。隨著采購和維護(hù)X射線分析的資源愈發(fā)有限,,人們對準(zhǔn)確性,、精度和速度的要求也達(dá)到了前所未有的高度。D8ADVANCEECO即理想的解決方案:較小的生態(tài)足跡,、易用性和出色的分析性能是其突出的特點,。得益于精簡的儀器配置,不論預(yù)算如何,,它都是您的理想之選,。與D8ADVANCE系列其他產(chǎn)品一樣,D8ADVANCEECO覆蓋所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用,,包括典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,。更換光學(xué)期間...
汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺的D8D的一大優(yōu)勢就是可以對大型機(jī)械零件進(jìn)行殘余應(yīng)力和結(jié)構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。半導(dǎo)體與微電子:從過程開發(fā)到質(zhì)量控制,,D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征,。制藥業(yè)篩選:新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,對此,,D8D具有高通量篩選功能,。儲能/電池:使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,直接了當(dāng)?shù)墨@取不斷變化的儲能材料的晶體結(jié)構(gòu)和相組方面的信息,。在DIFFRAC.EVA中,,對塑料薄膜進(jìn)行WAXS測量分析。然后塑料纖維的擇優(yōu)取向便顯而易見了,。福建全新XRD衍射儀藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,,往往還需要經(jīng)過溶解、...
不論您的預(yù)算如何,,D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能,。由于降低了對水和電力等資源的需求,其運營成本降低,。出色的儀器質(zhì)量為可靠性提供了保證,,同時布魯克還為之提供組件質(zhì)量保證。無外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本,,無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質(zhì)量保證:D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質(zhì)量保證:測角儀采用免維護(hù)的堅固設(shè)計,,可為您帶來機(jī)械強(qiáng)度和較長的使用壽命,,因此能夠為您提供好的數(shù)據(jù)質(zhì)量,。其中,,布魯克提供10年保修。儀器準(zhǔn)直保證探測器質(zhì)量保證LYNXEYE XE-T主要用于0D,、1D和2D數(shù)據(jù)采集,,具有始終有效的出...
藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨,、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,,進(jìn)而可能影響到藥物的療效。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,特別是API含量非常少的制劑樣品,,檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,配合高性能的先進(jìn)檢測器,,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。利用布魯克樣品臺,能精確地操縱樣品,。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安...
布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn),。馬達(dá)驅(qū)動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,,可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時,。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,,LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,,適用于所有波長(從Cr到Ag),具有準(zhǔn)確的計數(shù)率和角分辨率,,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。在DIFFRAC.LEPTOS中,,對多層樣品進(jìn)行XRR分析,測定其薄膜厚度,、晶格失配和混合晶體濃...
D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計,十分便于移動,,您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺,也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,,只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,,然后花費幾分鐘的時間,即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器,,已然成為同類更好的選擇!小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,,可有效去除——不必要的輻射,,如樣品熒光,Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,,而不會明顯降低檢測速度,。樣品臺的卡口座允許在測角儀上快速準(zhǔn)確地更換整個樣品臺,較大限...
超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術(shù)的發(fā)展,,薄膜厚度越來越薄,。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術(shù)節(jié)點的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一,。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具,、免準(zhǔn)直,,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣...
不論您的預(yù)算如何,,D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能,。由于降低了對水和電力等資源的需求,,其運營成本降低。出色的儀器質(zhì)量為可靠性提供了保證,,同時布魯克還為之提供組件質(zhì)量保證,。無外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本,無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質(zhì)量保證:D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質(zhì)量保證:測角儀采用免維護(hù)的堅固設(shè)計,,可為您帶來機(jī)械強(qiáng)度和較長的使用壽命,,因此能夠為您提供好的數(shù)據(jù)質(zhì)量。其中,,布魯克提供10年保修。儀器準(zhǔn)直保證探測器質(zhì)量保證D8D在金屬樣品檢測中,,殘余奧氏體,、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測是其中小部分,目的在...
藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,,往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,,特別是API含量非常少的制劑樣品,,檢測更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,,配合高性能的先進(jìn)檢測器,,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具。安裝在標(biāo)準(zhǔn)陶瓷X射線管前面,,可多達(dá)6種不同的光束幾何之間自動地進(jìn)行電動切換...
藥物:從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),,D8D為藥品的整個生命周期提供支持,其中包括結(jié)構(gòu)測定,、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試。地質(zhì)學(xué):D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選,。借助μXRD,,哪怕是對小的包裹體進(jìn)行定性相分析和結(jié)構(gòu)測定也不在話下,。金屬:在常見的金屬樣品檢測技術(shù)中。殘余奧氏體,、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測不過是其中的一小部分,,檢測目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求。薄膜計量:從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù)。專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計。布魯克XRD衍射儀推...
X射線粉末衍射(XRPD)技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,,您將能簡單地實施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸、微應(yīng)變,、無序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析指標(biāo)化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修,由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,,是 重要的材料研究工具之一。深圳原位分析X...
D8DISCOVER特點:微焦源IμS配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦源可提供小X射線束,,非常適合小范圍或小樣品的研究,。1.毫米大小的光束:高亮度和很低背景2.綠色環(huán)保設(shè)計:低功耗、無耗水,、使用壽命延長3.MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度4.與布魯克大量組件,、光學(xué)器件和探測器完全兼容。5.提供各種技術(shù)前列的全集成X射線源,,用于產(chǎn)生X射線,。6.工業(yè)級金屬陶瓷密封管,可實現(xiàn)線焦斑或點焦斑,。7.專業(yè)的TWIST-TUBE(旋轉(zhuǎn)光管)技術(shù),,可快速簡便地切換線焦斑和點焦斑。8.微焦斑X射線源(IμS)可提高極小焦斑面積上的X射線通量,,而功耗卻很低,。9.TURBOX射線源(TXS)旋轉(zhuǎn)陽極...
D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,,帶有諸多前沿技術(shù)組件。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計。應(yīng)用范圍:1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法、掠入射衍射(GID),、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD、GISAXS,、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)4.總散射分析:Bragg衍射,、對分布函數(shù)(PDF),、小角X射線散射(SAXS)UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力。南京結(jié)構(gòu)精修檢測分析薄膜和涂層分析采用的原...
對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),,它基于Bragg衍射以及漫散射(“總散射”),,提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中,,您可以通過Bragg衍射峰,,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長程有序),通過漫散射,,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序),。就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀,。EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實驗室X射線衍射的2D檢測器,。廣州物相定量分析XRD衍射儀推薦咨詢D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2P...
D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計,。應(yīng)用范圍:1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法、掠入射衍射(GID),、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD、GISAXS,、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS)4.總散射分析:Bragg衍射、對分布函數(shù)(PDF),、小角X射線散射(SAXS)涉及高通量篩選(HTS)和大區(qū)域掃描分析時,,D8 DISCOVER是較好解決方案。廣州全新XRD...
不論您的預(yù)算如何,,D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能,。由于降低了對水和電力等資源的需求,其運營成本降低,。出色的儀器質(zhì)量為可靠性提供了保證,,同時布魯克還為之提供組件質(zhì)量保證。無外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本,,無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質(zhì)量保證:D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質(zhì)量保證:測角儀采用免維護(hù)的堅固設(shè)計,,可為您帶來機(jī)械強(qiáng)度和較長的使用壽命,因此能夠為您提供好的數(shù)據(jù)質(zhì)量,。其中,,布魯克提供10年保修。儀器準(zhǔn)直保證探測器質(zhì)量保證涉及高通量篩選(HTS)和大區(qū)域掃描分析時,,D8 DISCOVER是較好解...
X射線反射率測定引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)是一種表面表征技術(shù),,是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度,、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)。XRR的特點:1無損檢測2對樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒有要求,,不論是單晶膜,、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測試3XRR適用于納米薄膜,要求厚度小于500nm4晶面膜,,表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,,用于評估晶體質(zhì)量、薄膜厚度、成分外延排列和應(yīng)變松弛技術(shù),。廣州微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀D8ADVANC...