絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)在***的電力電子領(lǐng)域中已經(jīng)得到廣泛的應(yīng)用,，在實際使用中除IGBT自身外,，IGBT 驅(qū)動器的作用對整個換流系統(tǒng)來說同樣至關(guān)重要。驅(qū)動器的選擇及輸出功率的計算決定了換流系統(tǒng)的可靠性,。驅(qū)動器功率不足或選擇錯誤可能會直接導(dǎo)致 IGBT 和驅(qū)動器損壞,。以下總結(jié)了一些關(guān)于IGBT驅(qū)動器輸出性能的計算方法以供選型時參考。圖2IGBT 的開關(guān)特性主要取決于IGBT的門極電荷及內(nèi)部和外部的電阻,。圖1是IGBT 門極電容分布示意圖,，其中CGE 是柵極-發(fā)射極電容、CCE 是集電極-發(fā)射極電容,、CGC 是柵極-集電極電容或稱米勒電容（Miller Capacitor）,。盡量遠(yuǎn)離有腐蝕性氣體或灰塵較多的場合;松江區(qū)銷售IGBT模塊銷售廠家

對于大功率IGBT，選擇驅(qū)動電路基于以下的參數(shù)要求：器件關(guān)斷偏置,、門極電荷,、耐固性和電源情況等。門極電路的正偏壓VGE負(fù)偏壓-VGE和門極電阻RG的大小,，對IGBT的通態(tài)壓降,、開關(guān)時間、開關(guān)損耗,、承受短路能力以及dv/dt電流等參數(shù)有不同程度的影響,。門極驅(qū)動條件與器件特性的關(guān)系見表1。柵極正電壓 的變化對IGBT的開通特性,、負(fù)載短路能力和dVcE/dt電流有較大影響,，而門極負(fù)偏壓則對關(guān)斷特性的影響比較大。在門極電路的設(shè)計中,，還要注意開通特性,、負(fù)載短路能力和由dVcE/dt 電流引起的誤觸發(fā)等問題(見表1),。松江區(qū)哪里IGBT模塊供應(yīng)商80年代初期，用于功率MOSFET制造技術(shù)的DMOS(雙擴(kuò)散形成的金屬-氧化物-半導(dǎo)體)工藝被采用到IGBT中來,。

圖1（a）所示為一個N 溝道增強型絕緣柵雙極晶體管結(jié)構(gòu),， N+ 區(qū)稱為源區(qū)，附于其上的電極稱為源極,。N基 區(qū)稱為漏區(qū),。器件的控制區(qū)為柵區(qū),，附于其上的電極稱為柵極,。溝道在緊靠柵區(qū)邊界形成。在漏,、源之間的P 型區(qū)（包括P+ 和P-區(qū)）（溝道在該區(qū)域形成）,，稱為亞溝道區(qū)（ Subchannel region ）。而在漏區(qū)另一側(cè)的P+ 區(qū)稱為漏注入?yún)^(qū)（ Drain injector ）,，它是IGBT 特有的功能區(qū),，與漏區(qū)和亞溝道區(qū)一起形成PNP 雙極晶體管，起發(fā)射極的作用,，向漏極注入空穴,，進(jìn)行導(dǎo)電調(diào)制，以降低器件的通態(tài)電壓,。附于漏注入?yún)^(qū)上的電極稱為漏極,。

N溝型的 IGBT工作是通過柵極－發(fā)射極間加閥值電壓VTH以上的（正）電壓，在柵極電極正下方的p層上形成反型層（溝道）,，開始從發(fā)射極電極下的n-層注入電子,。該電子為p+n-p晶體管的少數(shù)載流子，從集電極襯底p+層開始流入空穴,，進(jìn)行電導(dǎo)率調(diào)制（雙極工作）,，所以可以降低集電極－發(fā)射極間飽和電壓。在發(fā)射極電極側(cè)形成n+pn－寄生晶體管,。若n+pn－寄生晶體管工作,，又變成p+n－ pn+晶閘管。電流繼續(xù)流動,，直到輸出側(cè)停止供給電流,。通過輸出信號已不能進(jìn)行控制。一般將這種狀態(tài)稱為閉鎖狀態(tài),。此時,，仍然是由N漂移區(qū)中的耗盡層承受外部施加的電壓。

基片的應(yīng)用在管體的P+和N+ 區(qū)之間創(chuàng)建了一個J1結(jié),。當(dāng)正柵偏壓使柵極下面反演P基區(qū)時,，一個N溝道形成,，同時出現(xiàn)一個電子流，并完全按照功率MOSFET的方式產(chǎn)生一股電流,。如果這個電子流產(chǎn)生的電壓在0.7V范圍內(nèi),，那么，J1將處于正向偏壓,，一些空穴注入N-區(qū)內(nèi),，并調(diào)整陰陽極之間的電阻率，這種方式降低了功率導(dǎo)通的總損耗,，并啟動了第二個電荷流,。***的結(jié)果是，在半導(dǎo)體層次內(nèi)臨時出現(xiàn)兩種不同的電流拓?fù)洌阂粋€電子流(MOSFET 電流),；空穴電流（雙極）,。 [4]uGE大于開啟電壓UGE(th)時，MOSFET內(nèi)形成溝道,，為晶體管提供基極電流,，IGBT導(dǎo)通。 [2]這時,，如果集電極與發(fā)射極間存在高電壓,，則有可能使IGBT發(fā)熱及至損壞。靜安區(qū)進(jìn)口IGBT模塊聯(lián)系人

因此因靜電而導(dǎo)致柵極擊穿是IGBT失效的常見原因之一,。松江區(qū)銷售IGBT模塊銷售廠家

IGBT是強電流,、高壓應(yīng)用和快速終端設(shè)備用垂直功率MOSFET的自然進(jìn)化。MOSFET由于實現(xiàn)一個較高的擊穿電壓BVDSS需要一個源漏通道,，而這個通道卻具有很高的電阻率,，因而造成功率MOSFET具有RDS(on)數(shù)值高的特征，IGBT消除了現(xiàn)有功率MOSFET的這些主要缺點,。雖然***一代功率MOSFET器件大幅度改進(jìn)了RDS(on)特性,，但是在高電平時，功率導(dǎo)通損耗仍然要比IGBT 高出很多,。IGBT較低的壓降,，轉(zhuǎn)換成一個低VCE(sat)的能力，以及IGBT的結(jié)構(gòu),，與同一個標(biāo)準(zhǔn)雙極器件相比,，可支持更高電流密度，并簡化 IGBT驅(qū)動器的原理圖,。 [1]松江區(qū)銷售IGBT模塊銷售廠家

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