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來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-05-15

1979年,,MOS柵功率開(kāi)關(guān)器件作為IGBT概念的先驅(qū)即已被介紹到世間,。這種器件表現(xiàn)為一個(gè)類(lèi)晶閘管的結(jié)構(gòu)(P-N-P-N四層組成),其特點(diǎn)是通過(guò)強(qiáng)堿濕法刻蝕工藝形成了V形槽柵,。80年代初期,用于功率MOSFET制造技術(shù)的DMOS(雙擴(kuò)散形成的金屬-氧化物-半導(dǎo)體)工藝被采用到IGBT中來(lái),。[2]在那個(gè)時(shí)候,,硅芯片的結(jié)構(gòu)是一種較厚的NPT(非穿通)型設(shè)計(jì)。后來(lái),,通過(guò)采用PT(穿通)型結(jié)構(gòu)的方法得到了在參數(shù)折衷方面的一個(gè)***改進(jìn),,這是隨著硅片上外延的技術(shù)進(jìn)步,,以及采用對(duì)應(yīng)給定阻斷電壓所設(shè)計(jì)的n+緩沖層而進(jìn)展的[3]。幾年當(dāng)中,,這種在采用PT設(shè)計(jì)的外延片上制備的DMOS平面柵結(jié)構(gòu),,其設(shè)計(jì)規(guī)則從5微米先進(jìn)到3微米。在冬天特別干燥的地區(qū),,需用加濕機(jī)加濕;金山區(qū)如何IGBT模塊銷(xiāo)售廠家

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這次從穿通(PT)型技術(shù)先進(jìn)到非穿通(NPT)型技術(shù),,是**基本的,也是很重大的概念變化,。這就是:穿通(PT)技術(shù)會(huì)有比較高的載流子注入系數(shù),,而由于它要求對(duì)少數(shù)載流子壽命進(jìn)行控制致使其輸運(yùn)效率變壞。另一方面,,非穿通(NPT)技術(shù)則是基于不對(duì)少子壽命進(jìn)行殺傷而有很好的輸運(yùn)效率,,不過(guò)其載流子注入系數(shù)卻比較低。進(jìn)而言之,,非穿通(NPT)技術(shù)又被軟穿通(LPT)技術(shù)所代替,,它類(lèi)似于某些人所謂的“軟穿通”(SPT)或“電場(chǎng)截止”(FS)型技術(shù),這使得“成本—性能”的綜合效果得到進(jìn)一步改善,。1996年,,CSTBT(載流子儲(chǔ)存的溝槽柵雙極晶體管)使第5代IGBT模塊得以實(shí)現(xiàn)[6],它采用了弱穿通(LPT)芯片結(jié)構(gòu),,又采用了更先進(jìn)的寬元胞間距的設(shè)計(jì),。包括一種“反向阻斷型”(逆阻型)功能或一種“反向?qū)ㄐ汀?逆導(dǎo)型)功能的IGBT器件的新概念正在進(jìn)行研究,以求得進(jìn)一步優(yōu)化,。虹口區(qū)選擇IGBT模塊設(shè)計(jì)一般保存IGBT模塊的場(chǎng)所,,應(yīng)保持常溫常濕狀態(tài),不應(yīng)偏離太大,。

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由于IGBT模塊為MOSFET結(jié)構(gòu),,IGBT的柵極通過(guò)一層氧化膜與發(fā)射極實(shí)現(xiàn)電隔離。由于此氧化膜很薄,,其擊穿電壓一般達(dá)到20~30V,。因此因靜電而導(dǎo)致柵極擊穿是IGBT失效的常見(jiàn)原因之一。 因此使用中要注意以下幾點(diǎn):1. 在使用模塊時(shí),,盡量不要用手觸摸驅(qū)動(dòng)端子部分,,當(dāng)必須要觸摸模塊端子時(shí),要先將人體或衣服上的靜電用大電阻接地進(jìn)行放電后,,再觸摸;2. 在用導(dǎo)電材料連接模塊驅(qū)動(dòng)端子時(shí),,在配線未接好之前請(qǐng)先不要接上模塊;3. 盡量在底板良好接地的情況下操作。

IGBT的開(kāi)關(guān)作用是通過(guò)加正向柵極電壓形成溝道,,給PNP 晶體管提供基極電流,,使IGBT 導(dǎo)通,。反之,加反向門(mén)極電壓消除溝道,,切斷基極電流,,使IGBT 關(guān)斷。IGBT 的驅(qū)動(dòng)方法和MOSFET 基本相同,,只需控制輸入極N一溝道MOSFET ,,所以具有高輸入阻抗特性。當(dāng)MOSFET 的溝道形成后,,從P+ 基極注入到N 一層的空穴(少子),,對(duì)N 一層進(jìn)行電導(dǎo)調(diào)制,減小N 一層的電阻,,使IGBT 在高電壓時(shí),,也具有低的通態(tài)電壓,。IGBT驅(qū)動(dòng)電路是驅(qū)動(dòng)IGBT模塊以能讓其正常工作,,并同時(shí)對(duì)其進(jìn)行保護(hù)的電路。這時(shí),,如果集電極與發(fā)射極間存在高電壓,,則有可能使IGBT發(fā)熱及至損壞。

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Cies : IGBT的輸入電容(Cies 可從IGBT 手冊(cè)中找到)如果IGBT數(shù)據(jù)手冊(cè)中已經(jīng)給出了正象限的門(mén)極電荷曲線,,那么只用Cies 近似計(jì)算負(fù)象限的門(mén)極電荷會(huì)更接近實(shí)際值:門(mén)極電荷 QG ≈ QG(on) + ΔUGE · Cies · 4.5 = QG(on) + [ 0 - VG(off) ] · Cies · 4.5-- 適用于Cies 的測(cè)試條件為 VCE = 25 V, VGE = 0 V, f= 1 MHz 的IGBT門(mén)極電荷 QG ≈ QG(on) + ΔUGE · Cies · 2.2 = QG(on) + [ 0 - VG(off) ] · Cies · 2.2-- 適用于Cies 的測(cè)試條件為 VCE = 10 V, VGE = 0 V, f= 1 MHz 的IGBT當(dāng)為各個(gè)應(yīng)用選擇IGBT驅(qū)動(dòng)器時(shí),,必須考慮下列細(xì)節(jié):IGBT的驅(qū)動(dòng)原理與電力MOSFET基本相同,通斷由柵射極電壓uGE決定,。松江區(qū)哪里IGBT模塊銷(xiāo)售價(jià)格

IGBT的閉鎖電流IL為額定電流(直流)的3倍以上,。金山區(qū)如何IGBT模塊銷(xiāo)售廠家

通常為達(dá)到更好的驅(qū)動(dòng)效果,IGBT開(kāi)通和關(guān)斷可以采取不同的驅(qū)動(dòng)速度,,分別選取 Rgon和Rgoff(也稱(chēng) Rg+ 和 Rg- )往往是很必要的,。IGBT驅(qū)動(dòng)器有些是開(kāi)通和關(guān)斷分別輸出控制,只要分別接上Rgon和Rgoff就可以了,。有些驅(qū)動(dòng)器只有一個(gè)輸出端,,這就要在原來(lái)的Rg 上再并聯(lián)一個(gè)電阻和二極管的串聯(lián)網(wǎng)絡(luò),用以調(diào)節(jié)2個(gè)方向的驅(qū)動(dòng)速度,。3,、在IGBT的柵射極間接上Rge=10-100K 電阻,防止在未接驅(qū)動(dòng)引線的情況下,,偶然加主電高壓,,通過(guò)米勒電容燒毀IGBT。所以用戶(hù)比較好再在IGBT的柵射極或MOSFET柵源間加裝Rge,。金山區(qū)如何IGBT模塊銷(xiāo)售廠家

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