硅光芯片耦合測試系統(tǒng)的應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域,公開了光子集成芯片的新型測試系統(tǒng)及方法,包括測試設(shè)備和集成芯片放置設(shè)備,測試設(shè)備包括電耦合測試設(shè)備和光耦合測試設(shè)備中的一種或兩種,電耦合測試設(shè)備和光耦合測試設(shè)備可拆卸安裝在集成芯片放置機(jī)構(gòu)四周,電耦合測試設(shè)備包括單探針耦合模塊和探針卡耦合模塊,光耦合測試設(shè)備包括陣列光纖耦合模塊和光纖耦合模塊;該通過改進(jìn)結(jié)構(gòu),形成電耦合測試機(jī)構(gòu)和光耦合測試設(shè)備,通過搭配組裝可靈活對待測試集成芯片進(jìn)行光耦合測試和電耦合測試,安裝方便快捷,成本低,。IC測試架可以用來測試IC在不同工作條件下的性能,。廣東多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)供應(yīng)

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)組件裝夾完成后，通過校正X,Y和Z方向的偏差來進(jìn)行的初始光功率耦合,，圖像處理軟件能自動測量出各項偏差,，然后軟件驅(qū)動運(yùn)動控制系統(tǒng)和運(yùn)動平臺來補(bǔ)償偏差，以及給出提示，繼續(xù)手動調(diào)整角度滑臺,。當(dāng)三個器件完成初始定位,，同時確認(rèn)其在Z軸方向的相對位置關(guān)系后，這時需要確認(rèn)輸入光纖陣列和波導(dǎo)器件之間光的耦合對準(zhǔn),。點(diǎn)擊找初始光軟件會將物鏡聚焦到波導(dǎo)器件的輸出端面,。通過物鏡及初始光CCD照相機(jī)，可以將波導(dǎo)輸出端各通道的近場圖像投射出來,，進(jìn)行適當(dāng)耦合后,，圖像會被投射到顯示器上。廣東多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)供應(yīng)硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片的好處：具有在單周期內(nèi)操作的多個硬件地址產(chǎn)生器,。

只要在確認(rèn)耦合不過的前提下,，可依次排除B殼天線、KB板和同軸線的故障進(jìn)行維修,。若以上一一排除,，則是主板參數(shù)校準(zhǔn)的問題，或者說是主板硬件存在故障,。耦合天線的種類比較多,，有塔式、平板式,、套筒式,，常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)。為防止外部環(huán)境的電磁干擾搭載屏蔽箱,，來提高耦合直通率,。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是比較關(guān)鍵的，我們的客戶非常關(guān)注此工位測試的嚴(yán)謹(jǐn)性,，硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要控制“信號弱”,，“易掉話”，“找網(wǎng)慢或不找網(wǎng)”,，“不能接聽”等不良機(jī)流向市場,。一般模擬用戶環(huán)境對設(shè)備EMC干擾的方法與實際使用環(huán)境存在較大差異，所以“信號類”返修量一直占有較大的比例,?？梢姡韫庑酒詈蠝y試系統(tǒng)是一個需要嚴(yán)謹(jǐn)?shù)年P(guān)鍵崗位,。

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)這些有視覺輔助地初始光耦合的步驟是耦合工藝的一部分,。在此工藝過程中，輸入及輸出光纖陣列和波導(dǎo)輸入及輸出端面的距離大約是100~200微米,，以便通過使用機(jī)器視覺精密地校準(zhǔn)預(yù)粘接間隙的測量,，為后面必要的旋轉(zhuǎn)耦合留出安全的空間,。旋轉(zhuǎn)耦合技術(shù)的原理。大體上來講,，旋轉(zhuǎn)耦合是通過使用線性偏移測量及旋轉(zhuǎn)移動相結(jié)合的方法，將輸出光纖陣列和波導(dǎo)的的第1個及結(jié)尾一個通道進(jìn)行耦合,，并作出必要的更正調(diào)整,。輸出光纖陣列的第1個及結(jié)尾一個通道和兩個光探測器相聯(lián)接。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)為工業(yè)客戶和院?？蛻籼峁┙?jīng)濟(jì)有效的系統(tǒng)解決方案,。

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要工作可以分為四個部分(1)從波導(dǎo)理論出發(fā),分析了條形波導(dǎo)以及脊型波導(dǎo)的波導(dǎo)模式特性,分析了硅光芯片的良好束光特性。(2)針對倒錐型耦合結(jié)構(gòu),分析在耦合過程中,耦合結(jié)構(gòu)的尺寸對插入損耗,耦合容差的影響,優(yōu)化耦合結(jié)構(gòu)并開發(fā)出行之有效的耦合工藝,。(3)理論分析了硅光芯片調(diào)制器的載流子色散效應(yīng),分析了調(diào)制器的基本結(jié)構(gòu)MZI干涉結(jié)構(gòu),并從光學(xué)結(jié)構(gòu)和電學(xué)結(jié)構(gòu)兩方面對光調(diào)制器進(jìn)行理論分析與介紹,。(4)利用開發(fā)出的耦合封裝工藝,對硅光芯片調(diào)制器進(jìn)行耦合封裝并進(jìn)行性能測試。分析并聯(lián)MZI型硅光芯片調(diào)制器的調(diào)制特性,針對調(diào)制過程,建立數(shù)學(xué)模型,從數(shù)學(xué)的角度出發(fā),總結(jié)出調(diào)制器的直流偏置電壓的快速測試方法,。并通過調(diào)制器眼圖分析調(diào)制器中存在的問題,為后續(xù)研發(fā)提供改進(jìn)方向,。將硅光芯片的發(fā)射端通過硅光線連接到硅光譜儀，就可以測試硅光芯片的硅光譜等,。廣東多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)供應(yīng)

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)的優(yōu)勢：可視化杜瓦,，可實現(xiàn)室溫~4.2K變溫環(huán)境下光學(xué)測試根據(jù)測試。廣東多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)供應(yīng)

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)中應(yīng)用到的硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路,，主要由光源,、調(diào)制器、探測器,、無源波導(dǎo)器件等組成,，將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高,、成本低,、傳輸帶寬更高等特點(diǎn)，因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底,，所以能集成更多的光器件,；在光模塊里面，光芯片的成本非常高,，但隨著大規(guī)模生產(chǎn)的實現(xiàn),，硅光芯片的低成本成了巨大優(yōu)勢；硅光芯片的傳輸性能好,，因為硅光材料折射率差更大,，可以實現(xiàn)高密度的波導(dǎo)和同等面積下更高的傳輸帶寬。廣東多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)供應(yīng)