絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)在***的電力電子領(lǐng)域中已經(jīng)得到廣泛的應(yīng)用,，在實(shí)際使用中除IGBT自身外，IGBT 驅(qū)動器的作用對整個(gè)換流系統(tǒng)來說同樣至關(guān)重要,。驅(qū)動器的選擇及輸出功率的計(jì)算決定了換流系統(tǒng)的可靠性。驅(qū)動器功率不足或選擇錯誤可能會直接導(dǎo)致 IGBT 和驅(qū)動器損壞,。以下總結(jié)了一些關(guān)于IGBT驅(qū)動器輸出性能的計(jì)算方法以供選型時(shí)參考,。圖2IGBT 的開關(guān)特性主要取決于IGBT的門極電荷及內(nèi)部和外部的電阻,。圖1是IGBT 門極電容分布示意圖,，其中CGE 是柵極-發(fā)射極電容,、CCE 是集電極-發(fā)射極電容,、CGC 是柵極-集電極電容或稱米勒電容（Miller Capacitor）,。IGBT的開關(guān)速度低于MOSFET,，但明顯高于GTR。徐匯區(qū)質(zhì)量IGBT模塊報(bào)價(jià)

當(dāng)柵極和發(fā)射極短接并在集電極端子施加一個(gè)正電壓時(shí),，P/NJ3結(jié)受反向電壓控制,。此時(shí)，仍然是由N漂移區(qū)中的耗盡層承受外部施加的電壓,。 [2]閂鎖IGBT在集電極與發(fā)射極之間有一個(gè)寄生PNPN晶閘管,。在特殊條件下，這種寄生器件會導(dǎo)通,。這種現(xiàn)象會使集電極與發(fā)射極之間的電流量增加,，對等效MOSFET的控制能力降低，通常還會引起器件擊穿問題,。晶閘管導(dǎo)通現(xiàn)象被稱為IGBT閂鎖,，具體地說，這種缺陷的原因互不相同,，與器件的狀態(tài)有密切關(guān)系,。通常情況下，靜態(tài)和動態(tài)閂鎖有如下主要區(qū)別：松江區(qū)進(jìn)口IGBT模塊銷售價(jià)格IGBT的閉鎖電流IL為額定電流（直流）的3倍以上,。

IGBT的開關(guān)作用是通過加正向柵極電壓形成溝道,，給PNP 晶體管提供基極電流，使IGBT 導(dǎo)通,。反之,，加反向門極電壓消除溝道，切斷基極電流,，使IGBT 關(guān)斷,。IGBT 的驅(qū)動方法和MOSFET 基本相同,，只需控制輸入極N一溝道MOSFET ，所以具有高輸入阻抗特性,。當(dāng)MOSFET 的溝道形成后，從P+ 基極注入到N 一層的空穴（少子）,，對N 一層進(jìn)行電導(dǎo)調(diào)制，減小N 一層的電阻,，使IGBT 在高電壓時(shí),，也具有低的通態(tài)電壓。IGBT驅(qū)動電路是驅(qū)動IGBT模塊以能讓其正常工作,，并同時(shí)對其進(jìn)行保護(hù)的電路,。

IGBT的觸發(fā)和關(guān)斷要求給其柵極和基極之間加上正向電壓和負(fù)向電壓，柵極電壓可由不同的驅(qū)動電路產(chǎn)生,。當(dāng)選擇這些驅(qū)動電路時(shí),，必須基于以下的參數(shù)來進(jìn)行：器件關(guān)斷偏置的要求、柵極電荷的要求,、耐固性要求和電源的情況,。因?yàn)镮GBT柵極- 發(fā)射極阻抗大，故可使用MOSFET驅(qū)動技術(shù)進(jìn)行觸發(fā),，不過由于IGBT的輸入電容較MOSFET為大,，故IGBT的關(guān)斷偏壓應(yīng)該比許多MOSFET驅(qū)動電路提供的偏壓更高,。IGBT的開關(guān)速度低于MOSFET,，但明顯高于GTR。IGBT在關(guān)斷時(shí)不需要負(fù)柵壓來減少關(guān)斷時(shí)間,，但關(guān)斷時(shí)間隨柵極和發(fā)射極并聯(lián)電阻的增加而增加,。IGBT的開啟電壓約3～4V，和MOSFET相當(dāng),。IGBT導(dǎo)通時(shí)的飽和壓降比MOSFET低而和GTR接近,，飽和壓降隨柵極電壓的增加而降低。電導(dǎo)調(diào)制效應(yīng)使電阻RN減小,，使通態(tài)壓降小,。

測量靜態(tài)測量:把萬用表放在乘100檔,測量黑表筆接1端子,、紅表筆接2端子,顯示電阻應(yīng)為無窮大; 表筆對調(diào),顯示電阻應(yīng)在400歐左右.用同樣的方法,測量黑表筆接3端子、紅表筆接1端子, 顯示電阻應(yīng)為無窮大;表筆對調(diào),顯示電阻應(yīng)在400歐左右.若符合上述情況表明此IGBT的兩個(gè)單元沒有明顯的故障. 動態(tài)測試: 把萬用表的檔位放在乘10K檔,用黑表筆接4端子,紅表筆接5端子,此時(shí)黑表筆接3端子紅表筆接1端子, 此時(shí)電阻應(yīng)為300-400歐,把表筆對調(diào)也有大約300-400歐的電阻表明此IGBT單元是完好的. 用同樣的方法測試1,、2端子間的IGBT,若符合上述的情況表明該IGBT也是完好的,。 在溫度發(fā)生急劇變化的場所IGBT模塊表面可能有結(jié)露水的現(xiàn)象，因此IGBT模塊應(yīng)放在溫度變化較小的地方;徐匯區(qū)質(zhì)量IGBT模塊報(bào)價(jià)

一般散熱片底部安裝有散熱風(fēng)扇,，當(dāng)散熱風(fēng)扇損壞中散熱片散熱不良時(shí)將導(dǎo)致IGBT模塊發(fā)熱,，而發(fā)生故障。徐匯區(qū)質(zhì)量IGBT模塊報(bào)價(jià)

當(dāng)晶閘管全部導(dǎo)通時(shí),，靜態(tài)閂鎖出現(xiàn),。只在關(guān)斷時(shí)才會出現(xiàn)動態(tài)閂鎖。這一特殊現(xiàn)象嚴(yán)重地限制了安全操作區(qū),。為防止寄生NPN和PNP晶體管的有害現(xiàn)象,，有必要采取以下措施：一是防止NPN部分接通，分別改變布局和摻雜級別,。二是降低NPN和PNP晶體管的總電流增益,。此外，閂鎖電流對PNP和NPN器件的電流增益有一定的影響,，因此,，它與結(jié)溫的關(guān)系也非常密切；在結(jié)溫和增益提高的情況下,，P基區(qū)的電阻率會升高,，破壞了整體特性。因此,，器件制造商必須注意將集電極最大電流值與閂鎖電流之間保持一定的比例,，通常比例為1：5。 [2]徐匯區(qū)質(zhì)量IGBT模塊報(bào)價(jià)

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