相對于平面電機工作臺,，絲杠導軌結(jié)構(gòu)的工作臺結(jié)構(gòu)組成較復雜,，工作臺由上層(x向)及下層(y向)兩部分組成。工作臺由兩個步進電機分別驅(qū)動x,、y向精密滾珠絲杠副帶動工作臺運動,，導向部分采用精密直線滾動導軌。由于運動部分全部采用滾動功能部件,，所以具有傳動效率高,、摩擦力矩小，使用壽命長等特點,。這種結(jié)構(gòu)的工作臺應放置在溫度23±3℃,，濕度≤70%，無有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠,、直線導軌應定期加精密儀表油,，但不可過多，值得指出的是,，這種結(jié)構(gòu)的工作臺在裝配過程中,，從直線導軌的直線性，上下層工作臺之間的垂直度以及工作臺的重復性,。上海勤確科技有限公司以滿足客戶要求為重點,。湖北芯片探針臺供應

探針臺需要特別注意的是在未加壓縮空氣時不可強行拉動動子，以免造成定子及動子的損傷,。平面電機應使用在環(huán)境溫度15～25℃,，相對濕度小于50％的環(huán)境中，其所需的壓縮空氣必須經(jīng)過干燥過濾處理且與環(huán)境空氣溫度差值小于5℃,，氣壓為0．4±0．04MPa,。相對于平面電機工作臺，絲杠導軌結(jié)構(gòu)的工作臺結(jié)構(gòu)組成較復雜,，工作臺由上層（x向）及下層（y向）兩部分組成,。工作臺由兩個步進電機分別驅(qū)動x、y向精密滾珠絲杠副帶動工作臺運動,，導向部分采用精密直線滾動導軌,。江蘇自動探針臺加工廠家從功能上來區(qū)分有：高溫探針臺，低溫探針臺,，RF探針臺,，LCD平板探針臺，表面電阻率探針臺,。

從功能上來區(qū)分有：高溫探針臺，低溫探針臺,，RF探針臺,，LCD平板探針臺，霍爾效應探針臺,，表面電阻率探針臺,。縱觀國內(nèi)外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異,，即主要由x-y向工作臺,，可編程承片臺、探卡／探卡支架,、打點器,、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀（TESTER）相連的通訊接口,。但如果按其x-y工作臺結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類,，即：平面電機型x-y工作臺（又叫磁性氣浮工作臺）自動探針測試臺和以采用精密滾珠絲杠副和直線導軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺型自動探針測試臺。由于x-y工作臺的結(jié)構(gòu)差別很大,，所以其使用維護保養(yǎng)不可一概而論,，應區(qū)別對待。

手動探針臺規(guī)格描述（以實驗室常見的儀準ADVANCED八寸,，六寸探針臺為例）：探針臺載物臺平整度：5μm探針臺右側(cè)標配顯微鏡升降機構(gòu),，可抬高顯微鏡，便于更換鏡頭和換待測物探針臺左側(cè)標配升降器,可快速升降臺面8mm,，并具備鎖定功能探針臺右下方標配精調(diào)旋轉(zhuǎn)輪,，可微調(diào)控制臺面升降范圍25mm（客戶有特殊需求，可以增大范圍）,，精度1μm6英寸或者8英寸載物盤可選,，卡盤平整度：5μm，采用真空吸附方式,，中心孔徑250μm-1mm定制卡盤可0-360度旋轉(zhuǎn),，旋轉(zhuǎn)角度可微調(diào)，微調(diào)精度為0.1度,，標配角度鎖定旋鈕大螺母可控制載物盤X-Y方向的移動,，移動范圍為150mmor200mm，移動精度為1μm載物臺具備快速導入導出功能,。上海勤確科技有限公司優(yōu)良的服務隊伍,、完善的服務網(wǎng)絡及強大的合作伙伴。

探針臺是半導體（包括集成電路,、分立器件,、光電器件、傳感器）行業(yè)重要的檢測裝備之一,，其普遍應用于復雜,、高速器件的精密電氣測量，旨在確保質(zhì)量及可靠性,，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本,。通過與測試儀器的配合，探針臺將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來,，在進入后序工序前予以剔除,，極大降低器件的制造成本。探針臺主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測,、芯片研發(fā)和故障分析等應用,。半導體測試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗證測試,、晶圓測試測試、封裝檢測,。晶圓檢測環(huán)節(jié)需要使用測試儀和探針臺,，測試儀/機用于檢測芯片功能和性能，探針臺實現(xiàn)被測芯片與測試機的連接,，通過探針臺和測試機的配合使用對晶圓上的裸芯片進行功能和電參數(shù)測試或射頻測試,，可以對芯片的良品、不良品的進行篩選,。上海勤確科技有限公司團隊從用戶需求出發(fā),。江蘇自動探針臺加工廠家

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探針臺的作用是什么,？探針臺可以將電探針,、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器/半導體測試系統(tǒng)配合來測試芯片/半導體器件,。這些測試可以很簡單,，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以很復雜,，包括微電路的完整功能測試,。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試,。在晶圓級別的測試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測試芯片器件,，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入終端產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯,，這在封裝成本相對于器件成本高的應用中很重要,。探針臺還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析應用,。湖北芯片探針臺供應